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内藤　賀公
Naitou Yoshitaka
内藤　賀公
Naitou Yoshitaka
工学研究科　物理学系専攻，講師

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経歴 2

  1. 2001年 ～ 2002年
    オーフス大学（デンマーク） 博士研究員

  2. 2000年 ～ 2001年
    科学技術振興事業団 戦略的基礎研究推進事業 「量子効果等の物理現象」博士研究員

学歴 3

  1. 東京工業大学　総合理工学研究科　材料物理科学

    ～ 2000年

  2. 東京工業大学

    ～ 2000年

  3. 東京工業大学　理学部　物理学

    ～ 1995年

所属学会 1

  1. 日本物理学会

研究内容・専門分野 1

  1. ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性 /

論文 51

  1. Nanoscale optical imaging with photoinduced force microscopy in heterodyne amplitude modulation and heterodyne frequency modulation modes

    Junsuke Yamanishi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

    Journal of Photochemistry and Photobiology C: Photochemistry Reviews　Vol. 52　p. 100532-100532　2022年9月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：Elsevier BV

  2. Local spectroscopic imaging of a single quantum dot in photoinduced force microscopy

    Junsuke Yamanishi, Hidemasa Yamane, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

    Applied Physics Letters　Vol. 120　No. 16　p. 161601-161601　2022年4月18日　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：AIP Publishing

  3. Study of high–low KPFM on a pn-patterned Si surface

    Ryo Izumi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

    Microscopy　Vol. 71　No. 2　p. 98-103　2022年4月1日　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：Oxford University Press (OUP)

  4. Optical force mapping at the single-nanometre scale

    Junsuke Yamanishi, Hidemasa Yamane, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Nobuhiko Yokoshi, Tatsuya Kameyama, Seiya Koyama, Tsukasa Torimoto, Hajime Ishihara, Yasuhiro Sugawara

    NATURE COMMUNICATIONS　Vol. 12　No. 1　2021年6月　研究論文（学術雑誌）

  5. Atomic-scale elastic property probed by atomic force microscopy

    Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

    Comprehensive Nanoscience and Nanotechnology　Vol. 1-5　p. 33-52　2019年1月1日　論文集(書籍)内論文

    出版者・発行元：Elsevier

  6. Direct visualization of Oxygen Reaction with Paired Hydroxyl on TiO2(110) Surface at 78 K by Atomic Force Microscopy

    Huan Fei Wen, Quanzhen Zhang, Yuuki Adachi, Masato Miyazaki, Yoshitaka Naitoh, Y. J. Li, Yasuhiro Sugawara

    Direct visualization of Oxygen Reaction with Paired Hydroxyl on TiO2(110) Surface at 78 K by Atomic Force Microscopy　Vol. 122　p. 17395-17399　2018年7月　研究論文（学術雑誌）

  7. Stable Contrast Mode on TiO2(110) Surface with Metal-Coated Tips Using AFM

    Yanjun Li, Huanfei Wen, Q. Zhang, Y. Adachi, Eiji Arima, Yukinori Kinoshita, Hikaru Nomura, Zongmin Ma, Lili Kou, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara, Rui Xu, Zhihai Cheng

    Ultramicroscopy　Vol. 191　p. 51-55　2018年4月　研究論文（学術雑誌）

  8. KPFM/AFM imaging on TiO2(110) surface in O2 gas

    Eiji Arima, Huanfei Wen, Yoshitaka Naitoh, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara

    Nanotechnology　Vol. 29　p. 105504(1)-105504(8)　2018年2月　研究論文（学術雑誌）

  9. Photoinduced force microscopy imaging using heterodyne-FM technique

    Junsuke Yamanishi, Masaaki Tsujii, Yoshitaka Naitoh, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara

    Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering　Vol. 10712　2018年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

    出版者・発行元：SPIE

  10. Separation of atomic-scale spin contrast on NiO(001) by magnetic resonance force microscopy

    Eiji Arima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

    JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER　Vol. 29　No. 40　2017年10月　研究論文（学術雑誌）

  11. Subatomic-scale force vector mapping above a Ge(001) dimer using bimodal atomic force microscopy

    Yoshitaka Naitoh, Robert Turansky, Jan Brndiar, Yan Jun Li, Ivan Stich, Yasuhiro Sugawara

    NATURE PHYSICS　Vol. 13　No. 7　p. 663-+　2017年7月　研究論文（学術雑誌）

  12. Heterodyne technique in photoinduced force microscopy with photothermal effect

    J. Yamanishi, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara

    APPLIED PHYSICS LETTERS　Vol. 110　No. 12　2017年3月　研究論文（学術雑誌）

  13. Investigation of tunneling current and local contact potential difference on the TiO2(110) surface by AFM/KPFM at 78 K

    Huan Fei Wen, Yan Jun Li, Eiji Arima, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara, Rui Xu, Zhi Hai Cheng

    Nanotechnology　Vol. 28　No. 10　2017年2月6日　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：Institute of Physics Publishing

  14. Investigation of the surface potential of TiO2 (110) by frequency-modulation Kelvin probe force microscopy

    Lili Kou, Yan Jun Li, Takeshi Kamijyo, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

    NANOTECHNOLOGY　Vol. 27　No. 50　2016年12月　研究論文（学術雑誌）

  15. Promoting Atoms into Delocalized Long-Living Magnetically Modified State Using Atomic Force Microscopy

    Y. Kinoshita, R. Turansky, J. Brndiar, Y. Naitoh, Y. J. Li, L. Kantorovich, Y. Sugawara, I. Stich

    NANO LETTERS　Vol. 16　No. 12　p. 7490-7494　2016年12月　研究論文（学術雑誌）

  16. Development of low temperature atomic force microscopy with an optical beam deflection system capable of simultaneously detecting the lateral and vertical forces

    Eiji Arima, Huanfei Wen, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　Vol. 87　No. 9　2016年9月　研究論文（学術雑誌）

  17. Growth models of coexistingp(2 × 1) andc(6 × 2) phases on an oxygen-terminated Cu(110) surface studied by noncontact atomic force microscopy at 78 K

    Yan Jun Li, Seung Hwan Lee, Yukinori Kinoshita, Zong Min Ma, Huanfei Wen, Hikaru Nomura, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

    Nanotechnology　Vol. 27　No. 20　p. 205702-205702　2016年5月20日　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：IOP Publishing

  18. Distance dependence of atomic-resolution near-field imaging on alpha-Al2O3 (0001) surface with respect to surface photovoltage of silicon probe tip

    Junsuke Yamanishi, Takashi Tokuyama, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

    NANO RESEARCH　Vol. 9　No. 2　p. 530-536　2016年2月　研究論文（学術雑誌）

  19. 原子レベルで表面磁性を可視化する強磁性共鳴を用いた磁気交換力顕微鏡の開発

    有馬 英司, 内藤 賀公, 李 艶君, 菅原 康弘

    表面科学　Vol. 37　No. 9　p. 416-421　2016年

    出版者・発行元：公益社団法人 日本表面科学会

  20. Atomic force microscopy identification of Al-sites on ultrathin aluminum oxide film

    Yan Jun Li, J Brndiar, Y Naitoh, Y Sugawara, I Štich

    Nanotechnology　Vol. 26　p. 505704 (1)-505704 (5)　2015年10月　研究論文（学術雑誌）

  21. Surface potential imaging with atomic resolution by frequency-modulation Kelvin probe force microscopy without bias voltage feedback

    Lili Kou, Zongmin Ma, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masaharu Komiyama, Yasuhiro Sugawara

    NANOTECHNOLOGY　Vol. 26　No. 19　2015年5月　研究論文（学術雑誌）

  22. Magnetic force microscopy using tip magnetization modulated by ferromagnetic resonance

    Eiji Arima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Satoru Yoshimura, Hitoshi Saito, Hikaru Nomura, Ryoichi Nakatani, Yasuhiro Sugawara

    Nanotechnology　Vol. 26　2015年4月　研究論文（学術雑誌）

  23. 原子レベルでの表面磁性を可視化する新規SPM計測法の開発

    菅原 康弘, 有馬 英司, 内藤 賀公, 李 艶君

    表面科学学術講演会要旨集　Vol. 35　p. 27-27　2015年

    出版者・発行元：公益社団法人 日本表面科学会

  24. Vertical atomic manipulation with dynamic atomic-force microscopy without tip change via a multi-step mechanism

    J. Bamidele, S. H. Lee, Y. Kinoshita, R. Turansky, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara, I. Stich, L. Kantorovich

    NATURE COMMUNICATIONS　Vol. 5　2014年7月　研究論文（学術雑誌）

  25. Image formation and contrast inversion in noncontact atomic force microscopy imaging of oxidized Cu(110) surfaces

    J. Bamidele, Y. Kinoshita, R. Turansky, S. H. Lee, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara, I. Stich, L. Kantorovich

    PHYSICAL REVIEW B　Vol. 90　No. 3　2014年7月　研究論文（学術雑誌）

  26. The stray capacitance effect in Kelvin probe force microscopy using FM, AM and heterodyne AM modes

    Zong Min Ma, Lili Kou, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

    NANOTECHNOLOGY　Vol. 24　No. 22　2013年6月　研究論文（学術雑誌）

  27. Quantification of Atomic-Scale Elasticity on Ge(001)-c(4 x 2) Surfaces via Noncontact Atomic Force Microscopy with a Tungsten-Coated Tip

    Y. Naitoh, T. Kamijo, Y. J. Li, Y. Sugawara

    PHYSICAL REVIEW LETTERS　Vol. 109　No. 21　2012年11月　研究論文（学術雑誌）

  28. Chemical tip fingerprinting in scanning probe microscopy of an oxidized Cu(110) surface

    J. Bamidele, Y. Kinoshita, R. Turansky, S. H. Lee, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara, I. Stich, L. Kantorovich

    PHYSICAL REVIEW B　Vol. 86　No. 15　2012年10月　研究論文（学術雑誌）

  29. Force mapping of the NaCl(100)/Cu(111) surface by atomic force microscopy at 78K

    Yan Jun Li, Yukinori Kinoshita, Keita Tenjin, Zong Min Ma, Li Li Kou, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

    Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 51　No. 3　2012年3月　研究論文（学術雑誌）

  30. Complex design of dissipation signals in non-contact atomic force microscopy

    J. Bamidele, Y. J. Li, S. Jarvis, Y. Naitoh, Y. Sugawara, L. Kantorovich

    PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS　Vol. 14　No. 47　p. 16250-16257　2012年　研究論文（学術雑誌）

  31. Fabrication of sharp tungsten-coated tip for atomic force microscopy by ion-beam sputter deposition

    Yukinori Kinoshita, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　Vol. 82　No. 11　2011年11月　研究論文（学術雑誌）

  32. Switching surface polarization of atomic force microscopy probe utilizing photoisomerization of photochromic molecules

    Yoshihiro Aburaya, Hikaru Nomura, Masami Kageshima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　Vol. 109　No. 6　2011年3月　研究論文（学術雑誌）

  33. High force sensitivity in Q-controlled phase-modulation atomic force microscopy

    Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

    APPLIED PHYSICS LETTERS　Vol. 97　No. 1　2010年7月　研究論文（学術雑誌）

  34. Step response measurement of AFM cantilever for analysis of frequency-resolved viscoelasticity

    Tatsuya Ogawa, Shinkichi Kurachi, Masami Kageshima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

    Ultramicroscopy　Vol. 110　No. 6　p. 612-617　2010年5月　研究論文（学術雑誌）

  35. Multifrequency high-speed phase-modulation atomic force microscopy in liquids

    Yan Jun Li, Kouhei Takahashi, Naritaka Kobayashi, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 110　No. 6　p. 582-585　2010年5月　研究論文（学術雑誌）

  36. Development of high-speed actuator for scanning probe microscopy

    Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima

    Next-Generation Actuators Leading Breakthroughs　p. 45-54　2010年　論文集(書籍)内論文

    出版者・発行元：Springer London

  37. Simultaneous observation of surface topography and elasticity at atomic scale by multifrequency frequency modulation atomic force microscopy

    Yoshitaka Naitoh, Zongmin Ma, Yan Jun Li, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

    Journal of Vacuum Science and Technology B:Nanotechnology and Microelectronics　Vol. 28　No. 6　p. 1210-1214　2010年　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：AVS Science and Technology Society

  38. Effect of Surface Stress around the SA Step of Si(001) on the Dimer Structure Determined by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5 K

    Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Hikaru Nomura, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

    JOURNAL OF THE PHYSICAL SOCIETY OF JAPAN　Vol. 79　No. 1　2010年1月　研究論文（学術雑誌）

  39. The influence of a Si cantilever tip with/without tungsten coating on noncontact atomic force microscopy imaging of a Ge(001) surface

    Yoshitaka Naitoh, Yukinori Kinoshita, Yan Jun Li, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

    Nanotechnology　Vol. 20　No. 26　2009年　研究論文（学術雑誌）

  40. Development of atomic force microscope with wide-band magnetic excitation for study of soft matter dynamics

    Masami Kageshima, Takuma Chikamoto, Tatsuya Ogawa, Yoshiki Hirata, Takahito Inoue, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

    Review of Scientific Instruments　Vol. 80　No. 2　2009年　研究論文（学術雑誌）

  41. 極低温環境における原子分解能非接触原子間力顕微鏡計測技術

    菅原 康弘, 内藤 賀公, 影島 賢巳, 李 艶君

    真空　Vol. 51　No. 12　p. 789-795　2008年12月20日

    出版者・発行元：The Vacuum Society of Japan

  42. Atomic-Scale Imaging of B/Si(111) √3 x √3 Surface by Noncontact Aromic Force Microscopy

    Masaharu KINOSHITA, Yoshitaka NAITOH, Y. J. Li, Masami KAGESHIMA, Yasuhiro SUGAWARA

    Jpn. J. Appl. Phys.　Vol. 47　No. 10　p. 8218-8220　2008年10月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics

  43. High-speed Phase-Modulation Atomic Force Microscopy (PM-AFM) in Constant-Amplitude (CA) Mode Capable of Simultaneous Measurement of Topography and Energy Dissipation

    Y. J. Li, Naritaka Kobayashi, Hikaru Nomura, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

    Jpn. J. Appl. Phys.47(7)　Vol. 47　No. 7　p. 6121-6124　2008年7月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics

  44. Study of oxidized Cu(110) surface using noncontact atomic force microscopy

    Shohei Kishimoto, Masami Kageshima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

    Surface Science　Vol. 602　No. 13　p. 2175-2182　2008年7月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：Elsevier BV

  45. Phase modulation atomic force microscopy in constant excitation mode capable of simultaneous imaging of topography and energy dissipation

    Yan Jun Li, Naritaka Kobayashi, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

    APPLIED PHYSICS LETTERS　Vol. 92　No. 12　2008年3月　研究論文（学術雑誌）

  46. Theoretical investigation on force sensitivity in Q-controlled phase-modulation atomic force microscopy in constant-amplitude mode

    Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　Vol. 103　No. 5　2008年3月　研究論文（学術雑誌）

  47. Elimination of instabilities in phase shift curves in phase-modulation atomic force microscopy in constant-amplitude mode

    Yasuhiro Sugawara, Naritaka Kobayashi, Masayo Kawakami, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima

    APPLIED PHYSICS LETTERS　Vol. 90　No. 19　2007年5月　研究論文（学術雑誌）

  48. Dissipative force modulation Kelvin probe force microscopy applying doubled frequency ac bias voltage

    Hikaru Nomura, Kenichiro Kawasaki, Takuma Chikamoto, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

    Applied Physics Letters　Vol. 90　No. 3　2007年　研究論文（学術雑誌）

  49. High-sensitivity force detection by phase-modulation atomic force microscopy

    Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS　Vol. 45　No. 29-32　p. L793-L795　2006年8月　研究論文（学術雑誌）

  50. Origin of p (2 × 1) Phase on Si(001) by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5 K

    Yan Jun Li, Hikaru Nomura, Naoyuki Ozaki, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara, Chris Hobbs, Lev Kantorovich

    Physical Review Letters　Vol. 96　No. 10　2006年3月16日　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：American Physical Society

  51. Wideband and hysteresis-free regulation of piezoelectric actuator based on induced current for high-speed scanning probe microscopy

    Masami Kageshima, Shinsuke Togo, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

    Review of Scientific Instruments　Vol. 77　No. 10　2006年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

MISC 1

  1. Q値制御法による位相変調方式原子間力顕微鏡の感度向上

    小林 成貴, 李 艶君, 内藤 賀公, 影島 賢巳, 菅原 康弘

    表面科学 = Journal of The Surface Science Society of Japan　Vol. 28　No. 9　p. 532-535　2007年9月10日

    出版者・発行元：公益社団法人 日本表面科学会