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西　竜治
Nishi Ryuji
西　竜治
Nishi Ryuji
機関リポジトリ
超高圧電子顕微鏡センター，特任教授

keyword 電子計測，電子光学，電子顕微鏡

機関リポジトリ

経歴 6

  1. 2020年4月 ～ 継続中
    大阪大学　超高圧電子顕微鏡センター　特任教授

  2. 2020年4月 ～ 継続中
    福井工業大学　工学部 電気電子工学科　教授

  3. 2007年4月 ～ 2020年3月
    大阪大学　超高圧電子顕微鏡センター　准教授

  4. 2003年4月 ～ 2007年3月
    大阪大学　工学研究科 原子分子イオン制御理工学センター　助手

  5. 1998年4月 ～ 2003年3月
    大阪大学　工学研究科 電子工学専攻　助手

  6. 1992年4月 ～ 1998年3月
    大阪大学　工学部 電子工学科　助手

委員歴 6

  1. 日本顕微鏡学会 電子光学設計技術研究部会　幹事　学協会

    2015年5月 ～ 継続中

  2. 日本顕微鏡学会　代議員　学協会

    2013年4月 ～ 継続中

  3. 日本学術振興会荷電粒子ビームの工業への応用第132 委員会　幹事　学協会

    2012年1月 ～ 2021年3月

  4. 日本顕微鏡学会　関西支部評議員　学協会

    2011年1月 ～ 2014年3月

  5. 日本学術振興会荷電粒子ビームの工業への応用第132 委員会　委員　学協会

    2011年7月 ～ 2012年1月

  6. 日本表面科学会　関西支部役員　学協会

    2002年5月 ～ 2007年5月

所属学会 5

  1. 情報処理学会

  2. 応用物理学会

  3. 日本顕微鏡学会

  4. 日本表面科学会

  5. 電子情報通信学会

研究内容・専門分野 3

  1. ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 制御、システム工学 /

  2. ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 制御、システム工学 /

  3. ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 計測工学 /

論文 72

  1. Application of ultra-high voltage electron microscope tomography to 3D imaging of microtubules in neurites of cultured PC12 cells

    T. Nishida, R. Yoshimura, R. Nishi, Y. Imoto, Y. Endo

    Journal of Microscopy　Vol. 278　No. 1　p. 42-48　2020年4月　研究論文（学術雑誌）

  2. Investigation of electromagnetic-SYLC for chromatic aberration correction

    R. Nishi, S. Hoque, H. Ito, A.Takaoka

    2018年10月

  3. Spherical aberration correction with in-lens N-fold symmetric line currents

    S. Hoque, R. Nishi, H. Ito, A.Takaoka

    2018年10月

  4. Spherical aberration correction with an in-lens N-fold symmetric line currents model

    Shahedul Hoque, Hiroyuki Ito, Ryuji Nishi

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 187　p. 135-143　2018年4月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  5. Automatic system for electron tomography data collection in the ultra-high voltage electron microscope

    Meng Cao, Ryuji Nishi, Fang Wang

    MICRON　Vol. 103　p. 29-33　2017年12月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD

  6. Axial geometrical aberration correction up to 5th order with N-SYLC

    Shahedul Hoque, Hiroyuki Ito, Akio Takaoka, Ryuji Nishi

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 182　p. 68-80　2017年11月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  7. A Novel Method for Higher Order Aberration Correction in Electron Microscopes

    Shahedul Hoque, Hiroyuki Ito, Akio Takaoka, Ryuji Nishi

    Microscopy and Microanalysis　Vol. 23　No. S1　p. 472-473　2017年8月　研究論文（学術雑誌）

  8. A Novel Method for Higher Order Aberration Correction in Electron Microscopes

    Shahedul Hoque, Hiroyuki Ito, Akio Takaoka, Ryuji Nishi

    Microscopy and Microanalysis　Vol. 23　No. S1　p. 472-473　2017年8月　研究論文（国際会議プロシーディングス）

    出版者・発行元：Cambridge University Press

  9. The influence of structure depth on image blurring of micrometres-thick specimens in MeV transmission electron imaging

    Fang Wang, Ying Sun, Meng Cao, Ryuji Nishi

    MICRON　Vol. 83　p. 54-61　2016年4月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD

  10. Spherical aberration correction with threefold symmetric line currents

    Shahedul Hoque, Hiroyuki Ito, Ryuji Nishi, Akio Takaoka, Eric Munro

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 161　p. 74-82　2016年2月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  11. Spherical aberration correction with threefold symmetric line currents

    Shahedul Hoque, Hiroyuki Ito, Ryuji Nishi, Akio Takaoka, Eric Munro

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 161　p. 74-82　2016年2月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  12. Double-twist cylinders in liquid crystalline cholesteric blue phases observed by transmission electron microscopy

    Shu Tanaka, Hiroyuki Yoshida, Yuto Kawata, Ryusuke Kuwahara, Ryuji Nishi, Masanori Ozaki

    SCIENTIFIC REPORTS　Vol. 5　2015年11月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：NATURE PUBLISHING GROUP

  13. Low-aberration optics for large-angle beam with unit core lenses

    Akio Takaoka, Ryuji Nishi, Hiroyuki Ito

    OPTIK　Vol. 126　No. 18　p. 1666-1671　2015年　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER GMBH, URBAN & FISCHER VERLAG

  14. Low-aberration optics for large-angle beam with unit core lenses

    Akio Takaoka, Ryuji Nishi, Hiroyuki Ito

    OPTIK　Vol. 126　No. 18　p. 1666-1671　2015年　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER GMBH, URBAN & FISCHER VERLAG

  15. Fast auto-acquisition tomography tilt series by using HD video camera in ultra-high voltage electron microscope

    Ryuji Nishi, Meng Cao, Atsuko Kanaji, Tomoki Nishida, Kiyokazu Yoshida, Shigeto Isakozawa

    Microscopy　Vol. 63　No. S1　p. i25-i25　2014年11月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：Oxford Journals

  16. Fast auto-acquisition tomography tilt series by using HD video camera in ultra-high voltage electron microscope

    Ryuji Nishi, Meng Cao, Atsuko Kanaji, Tomoki Nishida, Kiyokazu Yoshida, Shigeto Isakozawa

    Microscopy　Vol. 63　No. S1　p. i25-i25　2014年11月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：Oxford Journals

  17. HawkC: computer-aided 3D visualization and analysis software for electron tomography

    Y. Midoh, R. Nishi, M. N. Shirazi, Y. Kamakura, Y. Inoue, J. Miura, K. Nakamae

    2014年9月　研究論文（国際会議プロシーディングス）

  18. HawkC: computer-aided 3D visualization and analysis software for electron tomography

    Y. Midoh, R. Nishi, M. N. Shirazi, Y. Kamakura, Y. Inoue, J. Miura, K. Nakamae

    2014年9月　研究論文（国際会議プロシーディングス）

  19. Structural modifications of dentinal microcracks with human aging

    Mizuho Kubo, Jiro Miura, Takao Sakata, Ryuji Nishi, Fumio Takeshige

    MICROSCOPY　Vol. 62　No. 6　p. 555-561　2013年12月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：OXFORD UNIV PRESS

  20. 超高圧電子顕微鏡を用いた半導体デバイス解析

    工藤修一, 廣瀬幸範, 西竜治, 御堂義博, 服部信美, 小山徹, 中前幸治

    第33回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS) 会議録　p. 225-230　2013年11月　研究論文（国際会議プロシーディングス）

  21. 超高圧電子顕微鏡を用いた半導体デバイス解析

    工藤修一, 廣瀬幸範, 西竜治, 御堂義博, 服部信美, 小山徹, 中前幸治

    第33回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS) 会議録　p. 225-230　2013年11月　研究論文（国際会議プロシーディングス）

  22. An autofocus method using quasi-Gaussian fitting of image sharpness in ultra-high-voltage electron microscopy

    R. Nishi, Y. Moriyama, K. Yoshida, N. Kajimura, H. Mogaki, M. Ozawa, S. Isakozawa

    Journal of Electron Microscopy　Vol. 62　No. 5　p. 515-519　2013年10月　研究論文（学術雑誌）

  23. Development of a contact-potential-type phase plate, Microscopy and Microanalysis

    H. Tamaki, H. Kasai, K. Harada, Y. Takahashi, R. Nishi

    Microscopy and Microanalysis　Vol. 19　No. S2　p. 1148-1149　2013年10月　研究論文（学術雑誌）

  24. An autofocus method using quasi-Gaussian fitting of image sharpness in ultra-high-voltage electron microscopy

    R. Nishi, Y. Moriyama, K. Yoshida, N. Kajimura, H. Mogaki, M. Ozawa, S. Isakozawa

    MICROSCOPY　Vol. 62　No. 5　p. 515-519　2013年10月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：OXFORD UNIV PRESS

  25. Development of a contact-potential-type phase plate, Microscopy and Microanalysis

    H. Tamaki, H. Kasai, K. Harada, Y. Takahashi, R. Nishi

    Microscopy and Microanalysis　Vol. 19　No. S2　p. 1148-1149　2013年10月　研究論文（学術雑誌）

  26. An autofocus method using quasi-Gaussian fitting of image sharpness in ultra-high-voltage electron microscopy

    R. Nishi, Y. Moriyama, K. Yoshida, N. Kajimura, H. Mogaki, M. Ozawa, S. Isakozawa

    MICROSCOPY　Vol. 62　No. 5　p. 515-519　2013年10月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：OXFORD UNIV PRESS

  27. Lorentzian-like image blur of gold nanoparticles on thick amorphous silicon films in ultra-high-voltage transmission electron microscopy

    Yoshifumi Oshima, Ryuji Nishi, Kyoichiro Asayama, Kazuto Arakawa, Kiyokazu Yoshida, Takao Sakata, Eiji Taguchi, Hidehiro Yasuda

    MICROSCOPY　Vol. 62　No. 5　p. 521-531　2013年10月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：OXFORD UNIV PRESS

  28. Electron tomographic resolution of microns-thick specimens in the ultrahigh voltage electron microscope

    Meng Cao, Fang Wang, Zhi-Wei Qiao, Hai-Bo Zhang, Ryuji Nishi

    MICRON　Vol. 49　p. 71-74　2013年6月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD

  29. Electron tomographic resolution of microns-thick specimens in the ultrahigh voltage electron microscope

    Meng Cao, Fang Wang, Zhi-Wei Qiao, Hai-Bo Zhang, Ryuji Nishi

    MICRON　Vol. 49　p. 71-74　2013年6月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD

  30. Lorentzian-like image blur of gold nanoparticles on thick amorphous silicon films in ultra-high-voltage transmission electron microscopy

    Oshima, Yoshifumi, Nishi, Ryuji, Asayama, Kyoichiro, Arakawa, Kazuto, Yoshida, Kiyokazu, Sakata, Takao, Taguchi, Eiji, Yasuda, Hidehiro

    Microscopy　Vol. 62　No. 5　p. 521-531　2013年　研究論文（学術雑誌）

  31. Simplified analysis method of electrostatic core-lenses for 3D electron microscopy

    R. Nishi, A. Takaoka

    The 10th Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC10)　2012年2月　研究論文（国際会議プロシーディングス）

  32. Simplified analysis method of electrostatic core-lenses for 3D electron microscopy

    R. Nishi, A. Takaoka

    The 10th Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC10)　2012年2月　研究論文（国際会議プロシーディングス）

  33. Stigmatic condition for electrostatic core-lens by using diagram of axis intercept

    R. Nishi, A. Takaoka

    OPTIK　Vol. 123　No. 16　p. 1492-1496　2012年　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER GMBH, URBAN & FISCHER VERLAG

  34. Addition of energy dispersion characteristics to the diagram of axis intercept for aberration analysis of core-lens

    R. Nishi, A. Takaoka

    OPTIK　Vol. 123　No. 19　p. 1691-1693　2012年　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER GMBH, URBAN & FISCHER VERLAG

  35. Addition of energy dispersion characteristics to the diagram of axis intercept for aberration analysis of core-lens

    R. Nishi, A. Takaoka

    OPTIK　Vol. 123　No. 19　p. 1691-1693　2012年　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER GMBH, URBAN & FISCHER VERLAG

  36. Stigmatic condition for electrostatic core-lens by using diagram of axis intercept

    R. Nishi, A. Takaoka

    OPTIK　Vol. 123　No. 16　p. 1492-1496　2012年　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER GMBH, URBAN & FISCHER VERLAG

  37. Image blurring of thick specimens due to MeV transmission electron scattering: a Monte Carlo study

    Fang Wang, Hai-Bo Zhang, Meng Cao, Ryuji Nishi, Akio Takaoka

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 60　No. 5　p. 315-320　2011年10月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：OXFORD UNIV PRESS

  38. Note: Direct measurement of the point-to-point resolution for microns-thick specimens in the ultrahigh-voltage electron microscope

    Fang Wang, Meng Cao, Hai-Bo Zhang, Ryuji Nishi, Akio Takaoka

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　Vol. 82　No. 6　2011年6月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：AMER INST PHYSICS

  39. An automatic method of detecting and tracking fiducial markers for alignment in electron tomography

    Meng Cao, Akio Takaoka, Hai-Bo Zhang, Ryuji Nishi

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 60　No. 1　p. 39-46　2011年2月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：OXFORD UNIV PRESS

  40. Lateral Manipulation of Single Defect on Insulating Surface Using Noncontact Atomic Force Microscope

    Insook Yi, Ryuji Nishi, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Seizo Morita

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　Vol. 50　No. 1　2011年1月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：JAPAN SOC APPLIED PHYSICS

  41. Improvement of a Remote Control/Observation System for the 3MV Ultrahigh Voltage Electron Microscope

    Kiyokazu Yoshida, Hidehiro Yasuda, Ryuji Nishi, Hiroaki Mogaki, Shigeto Isakozawa, Hirotaro Mori

    Proc. of the 17th IFSM International Microscopy Congress　2010年9月　研究論文（国際会議プロシーディングス）

  42. Design of Auto-Focus System using Image Sharpness for Tomography with the Ultrahigh Voltage Electron Microscope

    R. Nishi, S. Isakozawa, H. Mogaki, M. Ozawa, T. Yasuda, K. Yoshida, H. Yasuda

    Proc. of the 17th IFSM International Microscopy Congress　2010年9月　研究論文（国際会議プロシーディングス）

  43. Formation and reduction of streak artefacts in electron tomography

    M. Cao, H. -B. Zhang, Y. Lu, R. Nishi, A. Takaoka

    JOURNAL OF MICROSCOPY　Vol. 239　No. 1　p. 66-71　2010年7月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：WILEY-BLACKWELL

  44. Multiple scattering effects of MeV electrons in very thick amorphous specimens

    Fang Wang, Hai-Bo Zhang, Meng Cao, Ryuji Nishi, Akio Takaoka

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 110　No. 3　p. 259-268　2010年2月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  45. Effect of sample structure on reconstruction quality in computed tomography

    Meng Cao, Hai-Bo Zhang, Chao Li, Ryuji Nishi

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　Vol. 80　No. 2　2009年2月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：AMER INST PHYSICS

  46. Electron Transmission and Imaging Quality of a Tilted Thick Specimen in the Ultra-HVEM

    Hai-Bo Zhang, Fang Wang, Zhi-Fei Xue, Ryuji Nishi, Akio Takaoka

    Korean Journal of Microscopy　2008年11月

  47. Development of automatic system on electron microscopic tomography for 3D medical examination

    Akio Takaoka, Meng Cao, Yoshihiro Midoh, Tomoki Nishida, Toshiaki Hasegawa, Ryuji Nishi, Yuuki Inoue, Mitsuo Ogasawara

    Korean Journal of Microscopy　2008年11月　研究論文（その他学術会議資料等）

  48. SIFT特徴量を用いた電子顕微鏡トモグラフィ自動化の検討

    御堂義博, 高島真彦, 鷹岡昭夫, 西 竜治, 中前幸治

    2008年9月　研究論文（その他学術会議資料等）

  49. Design of a Remote Control System for UHVEM with a HDTV System

    Kiyokazu Yoshida, Shinji Shimojo, Eisaku Sakane, Hiroaki Mogaki, Masaru Ozawa, Tamaki Shibayama, Ryuji Nishi, Hirotaro Mori

    Proc. 34th Annual meeting, Microscopical Society of Canada, 2007, Edmonton　2007年6月　研究論文（国際会議プロシーディングス）

  50. Atomic structure of Ge clusters on Si(111)-(7x7) by non-contact AFM

    Insook Yi, Yoshiaki Sugimoto, Ryuji Nishi, Masayuki Abe, Seizo Morita

    NANOTECHNOLOGY　Vol. 18　No. 8　2007年2月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：IOP PUBLISHING LTD

  51. Non-contact AFM observation of the (√3×√3) to (3×3) phase transition on Sn/Ge(111) and Sn/Si(111) surfaces

    Insook Yi, Ryuji Nishi, Yoshiaki Sugimoto, Seizo Morita

    Applied Surface Science　Vol. 253　No. 6　p. 3072-3076　2007年1月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：Elsevier B. V.

  52. Study on topographic images of Sn/Si(111)-(√3×√3)R30°surface by non-contact AFM

    Insook Yi, Yoshiaki Sugimoto, Ryuji Nishi, Seizo Morita

    Surface Science　Vol. 600　No. 17　p. 3382-3387　2006年9月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：

  53. Discrimination of individual atoms on Ge/Si(111)-(7x7) intermixed surface

    Insook Yi, Ryuji Nishi, Yoshiaki Sugimoto, Masayuki Abe, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

    SURFACE SCIENCE　Vol. 600　No. 13　p. 2766-2770　2006年7月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER

  54. Non-contact atomic force microscopy study of atomic manipulation on an insulator surface by nanoindentation

    Ryuji Nishi, Daisuke Miyagawa, Yoshihide Seino, Insook Yi, Seizo Morita

    Nanotechnology　Vol. 17　No. 7　p. S142-S147　2006年4月14日　研究論文（学術雑誌）

  55. Functions of NC-AFM on atomic scale

    S Morita, N Oyabu, T Nishimoto, R Nishi, O Custance, Yi, I, Y Sugawara

    SCANNING PROBE MICROSCOPY: CHARACTERIZATION, NANOFABRICATION AND DEVICE APPLICATION OF FUNCTIONAL MATERIALS　Vol. 186　p. 173-+　2005年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

    出版者・発行元：SPRINGER

  56. Phase detection method with positive-feedback control using a quartz resonator based atomic force microscope in a liquid environment

    R Nishi, K Kitano, Yi, I, Y Sugawara, S Morita

    APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 237　No. 1-4　p. 654-656　2004年10月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  57. Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope

    S Morita, Y Sugimoto, N Oyabu, R Nishi, O Custance, Y Sugawara, M Abe

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 53　No. 2　p. 163-168　2004年　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：OXFORD UNIV PRESS

  58. Atom selective imaging by NC-AFM: Case of oxygen adsorbed on a Si(111)7×7 surface

    Ryuji Nishi, Shinya Araragi, Kunihiro Shirai, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

    Applied Surface Science　Vol. 210　No. 1-2　p. 90-92　2003年3月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：Elsevier Science

  59. A noncontact atomic force microscope in air using a quartz resonator and the FM detection method

    R. Nishi, I. Houda, K. Kitano, Y. Sugawara, S. Morita

    APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING　Vol. 72　p. S93-S95　2001年3月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：SPRINGER

  60. Phase change detection of attractive force gradient by using a quartz resonator in noncontact atomic force microscopy

    R Nishi, Houda, I, T Aramata, Y Sugawara, S Morita

    APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 157　No. 4　p. 332-336　2000年4月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  61. New computed tomography algorithm of electrostatic force microscopy based on the singular value decomposition combined with the discrete fourier transform

    R Nishi, Y Nakao, T Ohta, Y Sugawara, S Morita, T Okada

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS　Vol. 37　No. 4A　p. L417-L419　1998年4月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：JAPAN SOC APPLIED PHYSICS

  62. Simulated computed tomography for the reconstruction of vacancies using an atomic force microscope image

    R Nishi, T Ohta, Y Sugawara, S Morita, T Okada

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS　Vol. 36　No. 10B　p. L1410-L1412　1997年10月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：JAPAN SOC APPLIED PHYSICS

  63. Measurement and analysis of dynamic response of massive magnetic electron lenses

    R Nishi, N Matsuo, A Takaoka

    MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY　Vol. 7　No. 8　p. 1124-1127　1996年8月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：IOP PUBLISHING LTD

  64. Cross-sectional observation of luminous broadening in YAG scintillator

    R Nishi, K Yoshida, H Kanzaki, A Takaoka

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 63　No. 3-4　p. 273-278　1996年7月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  65. Measurement of luminous broadening with sandwich-structure fluorescent plates

    R Nishi, K Yoshida, A Takaoka

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 45　No. 2　p. 148-151　1996年4月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：JAPANESE SOC ELECTRON MICRO BUS CENTER ACAD SOC JAPAN

  66. Electron energy dependence of characteristics of fluorescent plates for ultrahigh-voltage electron microscopes

    R Nishi, K Yoshida, A Takaoka, T Katsuta

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 62　No. 4　p. 271-275　1996年3月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  67. Image forming optics with a common aperture for fast switching between TEM magnified image and selected area diffraction

    R Nishi, K Yoshida, A Takaoka

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 44　No. 6　p. 476-478　1995年12月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：JAPANESE SOC ELECTRON MICRO BUS CENTER ACAD SOC JAPAN

  68. Measurement of thermal conductivity of thin films with TEM

    A TAKAOKA, R NISHI

    ELECTRON MICROSCOPY 1994, VOL 1　p. 261-262　1994年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

    出版者・発行元：EDITIONS PHYSIQUE

  69. Accelerating voltage dependence of characteristics of fluorescent plate for ultra-HVEM

    K YOSHIDA, N MATSUO, R NISHI, A TAKAOKA

    ELECTRON MICROSCOPY 1994, VOL 1　p. 225-226　1994年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

    出版者・発行元：EDITIONS PHYSIQUE

  70. Improvement of objective lens response by using built-in focusing lens

    A TAKAOKA, R NISHI, K URA

    ELECTRON MICROSCOPY 1994, VOL 1　p. 171-172　1994年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

    出版者・発行元：EDITIONS PHYSIQUE

  71. Optical system for simultaneous observation of magnified image and diffraction figure without exchange of aperture

    R NISHI, A TAKAOKA, K URA

    ELECTRON MICROSCOPY 1994, VOL 1　p. 179-180　1994年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

    出版者・発行元：EDITIONS PHYSIQUE

  72. Frequency Dependence of Inductance Due to Slow Flux Penetration into Magnetic Circuit of Lens

    Ryuji Nishi, Akio Takaoka, Katsumi Ura

    J. Electron Microsc.　1993年1月　研究論文（学術雑誌）

    出版者・発行元：Japan Society of Electron Microscopy

MISC 55

  1. Determination of the linear attenuation range of electron transmission through film specimens

    Fang Wang, Hai-Bo Zhang, Meng Cao, Ryuji Nishi, Akio Takaoka

    MICRON　Vol. 41　No. 7　p. 769-774　2010年10月　書評論文,書評,文献紹介等

    出版者・発行元：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD

  2. Image quality of microns-thick specimens in the ultra-high voltage electron microscope

    Fang Wang, Hai-Bo Zhang, Meng Cao, Ryuji Nishi, Akio Takaoka

    MICRON　Vol. 41　No. 5　p. 490-497　2010年7月　書評論文,書評,文献紹介等

    出版者・発行元：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD

  3. Development of automatic system on electron microscopic tomography for 3D medical examination

    2008年

  4. SIFT特徴量を用いた電子顕微鏡トモグラフィ自動化の検討

    2008年

  5. Development of automatic system on electron microscopic tomography for 3D medical examination

    2008年

  6. Non-contact AFM observation of the (root 3x root 3) to (3x3) phase transition on Sn/Ge(111) and Sn/Si(111) surfaces

    Insook Yi, Ryuji Nishi, Yoshiaki Sugimoto, Seizo Morita

    APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 253　No. 6　p. 3072-3076　2007年1月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  7. Design of a Remote Control System for UHVEM with a HDTV System

    Proc. 34th Annual meeting, Microscopical Society of Canada, 2007, Edmonton　Vol. 2007, General13　2007年

  8. Non-contact AFM observation of the (√3×√3) to (3×3) phase transition on Sn/Ge(111) and Sn/Si(111) surfaces

    Applied Surface Science　Vol. 253　No. 6　p. 3072-3076　2007年1月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  9. Mechanical distinction and manipulation of atoms based on noncontact atomic force microscopy

    S Morita, Yi, I, Y Sugimoto, N Oyabu, R Nishi, O Custance, M Abe

    APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 241　No. 1-2　p. 2-8　2005年2月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  10. Mechanical distinction and manipulation of atoms based on noncontact atomic force microscopy

    S Morita, Yi, I, Y Sugimoto, N Oyabu, R Nishi, O Custance, M Abe

    APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 241　No. 1-2　p. 2-8　2005年2月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  11. Phase detection method with positive-feedback control using a quartz resonator based atomic force microscope in a liquid environment

    R Nishi, K Kitano, Yi, I, Y Sugawara, S Morita

    APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 237　No. 1-4　p. 654-656　2004年10月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  12. Phase detection method with positive-feedback control using a quartz resonator based atomic force microscope in a liquid environment

    R Nishi, K Kitano, Yi, I, Y Sugawara, S Morita

    APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 237　No. 1-4　p. 654-656　2004年10月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  13. Phase detection method with positive-feedback control using a quartz resonator based atomic force microscope in a liquid environment

    R Nishi, K Kitano, Yi, I, Y Sugawara, S Morita

    APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 237　No. 1-4　p. 654-656　2004年10月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  14. Atom selective imaging and mechanical atom manipulation using noncontact atomic force microscope

    Journal of Electron Microscopy　Vol. Vol.53, No.2, pp.163-168/,　2004年

  15. Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope

    S Morita, Y Sugimoto, N Oyabu, R Nishi, O Custance, Y Sugawara, M Abe

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 53　No. 2　p. 163-168　2004年

    出版者・発行元：OXFORD UNIV PRESS

  16. Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope

    S Morita, Y Sugimoto, N Oyabu, R Nishi, O Custance, Y Sugawara, M Abe

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 53　No. 2　p. 163-168　2004年

    出版者・発行元：OXFORD UNIV PRESS

  17. Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope

    S Morita, Y Sugimoto, N Oyabu, R Nishi, O Custance, Y Sugawara, M Abe

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 53　No. 2　p. 163-168　2004年

    出版者・発行元：OXFORD UNIV PRESS

  18. Phase detection method with a positive feedback control using a quartz resonator based atomic force microscope in liquid environment

    Applied Surface Science　Vol. vol.234, Nos.1-4, pp.650-652/,　2004年

  19. Atom selective imaging by NC-AFM: case of oxygen adsorbed on a Si(111) 7x7 surface

    R Nishi, S Araragi, K Shirai, Y Sugawara, S Morita

    APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 210　No. 1-2　p. 90-92　2003年3月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  20. Atom selective imaging by NC-AFM: Case of oxgen absorbed on a Si(111) 7×7 surface

    Applied Surface Science　Vol. 210　No. 1-2　p. 90-92　2003年3月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  21. Atom Selective Imaging and Mechanical Atom Manipulation base on Noncontact Atomic Force Microscope Method

    e-Journal of Surface Science and Nanotechnology　Vol. vol.1, pp.158-170/,　2003年

  22. Atom Selective Imaging and Mechanical Atom Manipulation base on Noncontact Atomic Force Microscope Method

    e-Journal of Surface Science and Nanotechnology　Vol. vol.1, pp.158-170/,　2003年

  23. A noncontact atomic force microscope in air using a quartz resonator and the FM detection method

    R. Nishi, I. Houda, K. Kitano, Y. Sugawara, S. Morita

    APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING　Vol. 72　p. S93-S95　2001年3月

    出版者・発行元：SPRINGER

  24. A noncontact atomic force microscope in air using a quartz resonator and the FM detection method

    R. Nishi, I. Houda, K. Kitano, Y. Sugawara, S. Morita

    APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING　Vol. 72　p. S93-S95　2001年3月

    出版者・発行元：SPRINGER

  25. Phase change detection of attractive force gradient by using a quartz resonator in noncontact atomic force microscopy

    R Nishi, Houda, I, T Aramata, Y Sugawara, S Morita

    APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 157　No. 4　p. 332-336　2000年4月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  26. Phase change detection of attractive force gradient by using a quartz resonator in noncontact atomic force microscopy

    R Nishi, Houda, I, T Aramata, Y Sugawara, S Morita

    APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 157　No. 4　p. 332-336　2000年4月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  27. Development of noncontact atomic force microscope with a quartz resonator in air

    in 2nd International Workshop on Noncontact Force Microscopy(nc-AFM'99), Pontresina, Switzerland　1999年

  28. Development of noncontact atomic force microscope with a quartz resonator in air

    in 2nd International Workshop on Noncontact Force Microscopy(nc-AFM'99), Pontresina, Switzerland　1999年

  29. New computed tomography algorithm of electrostatic force microscopy based on the singular value decomposition combined with the discrete fourier transform

    R Nishi, Y Nakao, T Ohta, Y Sugawara, S Morita, T Okada

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS　Vol. 37　No. 4A　p. L417-L419　1998年4月

    出版者・発行元：JAPAN SOC APPLIED PHYSICS

  30. New computed tomography algorithm of electrostatic force microscopy based on the singular value decomposition combined with the discrete fourier transform

    R Nishi, Y Nakao, T Ohta, Y Sugawara, S Morita, T Okada

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS　Vol. 37　No. 4A　p. L417-L419　1998年4月

    出版者・発行元：JAPAN SOC APPLIED PHYSICS

  31. Simulated computed tomography for the reconstruction of vacancies using an atomic force microscope image

    R Nishi, T Ohta, Y Sugawara, S Morita, T Okada

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS　Vol. 36　No. 10B　p. L1410-L1412　1997年10月

    出版者・発行元：JAPAN SOC APPLIED PHYSICS

  32. Simulated computed tomography for the reconstruction of vacancies using an atomic force microscope image

    R Nishi, T Ohta, Y Sugawara, S Morita, T Okada

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS　Vol. 36　No. 10B　p. L1410-L1412　1997年10月

    出版者・発行元：JAPAN SOC APPLIED PHYSICS

  33. Measurement and analysis of dynamic response of massive magnetic electron lenses

    R Nishi, N Matsuo, A Takaoka

    MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY　Vol. 7　No. 8　p. 1124-1127　1996年8月

    出版者・発行元：IOP PUBLISHING LTD

  34. Measurement and analysis of dynamic response of massive magnetic electron lenses

    R Nishi, N Matsuo, A Takaoka

    MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY　Vol. 7　No. 8　p. 1124-1127　1996年8月

    出版者・発行元：IOP PUBLISHING LTD

  35. Cross-sectional observation of luminous broadening in YAG scintillator

    R Nishi, K Yoshida, H Kanzaki, A Takaoka

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 63　No. 3-4　p. 273-278　1996年7月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  36. Cross-sectional observation of luminous broadening in YAG scintillator

    R Nishi, K Yoshida, H Kanzaki, A Takaoka

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 63　No. 3-4　p. 273-278　1996年7月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  37. Measurement of luminous broadening with sandwich-structure fluorescent plates

    R Nishi, K Yoshida, A Takaoka

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 45　No. 2　p. 148-151　1996年4月

    出版者・発行元：JAPANESE SOC ELECTRON MICRO BUS CENTER ACAD SOC JAPAN

  38. Measurement of luminous broadening with sandwich-structure fluorescent plates

    R Nishi, K Yoshida, A Takaoka

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 45　No. 2　p. 148-151　1996年4月

    出版者・発行元：JAPANESE SOC ELECTRON MICRO BUS CENTER ACAD SOC JAPAN

  39. Electron energy dependence of characteristics of fluorescent plates for ultrahigh-voltage electron microscopes

    R Nishi, K Yoshida, A Takaoka, T Katsuta

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 62　No. 4　p. 271-275　1996年3月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  40. Electron energy dependence of characteristics of fluorescent plates for ultrahigh-voltage electron microscopes

    R Nishi, K Yoshida, A Takaoka, T Katsuta

    ULTRAMICROSCOPY　Vol. 62　No. 4　p. 271-275　1996年3月

    出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV

  41. Measurement of Luminous Broadening with Sandwich-Structure Fluorescent Plates

    Jornal of Electron Microscopy　Vol. 45　p. 148-151　1996年

  42. Computerized tomography of noncontact atomic force microscope

    in 9th International Conference on Scanning Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques(STM'97), Hamburg, Germany　1996年

  43. Measurement of Luminous broadening with sandwich-structure fluorescent plates

    Journal of Electron Microscopy　Vol. 45　1996年

  44. Computerized tomography of noncontact atomic force microscope in 9th International Conference on Scanning

    Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques(STM'97), Hamburg, Germany　1996年

  45. Image forming optics with a common aperture for fast switching between TEM magnified image and selected area diffraction

    R Nishi, K Yoshida, A Takaoka

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 44　No. 6　p. 476-478　1995年12月

    出版者・発行元：JAPANESE SOC ELECTRON MICRO BUS CENTER ACAD SOC JAPAN

  46. Image Forming Optics with a Common Aperture for Fast Switching between TEM Magnified Image and Selected Area Dffraction

    Jornal of Electron Microscopy　Vol. 44　p. 476-478　1995年

  47. Optical System for Simultaeous Observation of Magnified Image and Diffraction Figure without Exchange of Aperture

    Electron Microscopy (Proceedings of the 13th International Congress on Electoron Microscopy),Paris　Vol. 1　p. 179-180　1994年

  48. Accelerating voltage dependence of characyeristics of fluorescent plate for Ultra-HVEM

    in electro Microscopy 1994(Proceedings of the 13th International Congress on Electron Microscopy ; ICEM13), Paris　Vol. 1　p. 225-226　1994年

  49. Improvement of objective lens response by using built-in focusing lens

    A TAKAOKA, R NISHI, K URA

    ELECTRON MICROSCOPY 1994, VOL 1　Vol. 1　p. 171-172　1994年

    出版者・発行元：EDITIONS PHYSIQUE

  50. Optical system for simultaneous observation of magnified image and diffraction figure without exchange of aperture

    R NISHI, A TAKAOKA, K URA

    ELECTRON MICROSCOPY 1994, VOL 1　Vol. 1　p. 179-180　1994年

    出版者・発行元：EDITIONS PHYSIQUE

  51. Accelerating voltage dependence of characteristics of fluorescent plate for ultra-HVEM

    K YOSHIDA, N MATSUO, R NISHI, A TAKAOKA

    ELECTRON MICROSCOPY 1994, VOL 1　Vol. 1　p. 225-226　1994年

    出版者・発行元：EDITIONS PHYSIQUE

  52. Improvement of objective lens response by using built-in focusing lens

    A TAKAOKA, R NISHI, K URA

    ELECTRON MICROSCOPY 1994, VOL 1　Vol. 1　p. 171-172　1994年

    出版者・発行元：EDITIONS PHYSIQUE

  53. FREQUENCY-DEPENDENCE OF INDUCTANCE DUE TO SLOW FLUX-PENETRATION INTO MAGNETIC-CIRCUIT OF LENS

    R NISHI, A TAKAOKA, K URA

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 42　No. 1　p. 31-34　1993年2月

    出版者・発行元：JAPANESE SOC ELECTRON MICRO BUS CENTER ACAD SOC JAPAN

  54. (Frequency Dependence of Inductance Due to Slow Flux Penetration into Magnetic Circuit of Lens)(共著)

    (Journal of Electron Microscopy)　Vol. 42　No. 1　p. 31-34　1993年2月

    出版者・発行元：JAPANESE SOC ELECTRON MICRO BUS CENTER ACAD SOC JAPAN

  55. MEASUREMENT OF LOCAL TEMPERATURE IN AL LINE OF LSI - IN THE CASE OF SINGLE-CRYSTAL

    R NISHI, A TAKAOKA, K URA

    JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY　Vol. 40　No. 4　p. 296-296　1991年8月　研究発表ペーパー・要旨（国際会議）

    出版者・発行元：JAPANESE SOC ELECTRON MICRO BUS CENTER ACAD SOC JAPAN

著書 1

  1. FUNCTIONS OF NC-AFM ON ATOMIC SCALE

    Seizo Morita, Noriaki Oyabu, Takahiro Nishimoto, Ryuji Nishi, Oscar Custance, Insook Yi, Yasuhiro Sugawara

    NATO Advanced Study Institute　2000年10月　学術書

作品 1

  1. シリコン初期酸化表面の非接触原子間力顕微鏡による酸素とシリコンの原子分解能識別

    2004年 ～

報道 5

  1. 阪大電子顕微鏡を世界に開放

    2008年8月5日

  2. 電子顕微鏡遠隔操作で立体観察阪大など細胞・材料内部など

    2008年8月5日

  3. 電子顕微鏡を遠隔操作断層撮影阪大がシステム

    2008年8月5日

  4. 遠隔地から試料観察顕微鏡をパソコン操作

    2008年8月5日

  5. 高圧顕微鏡を遠隔操作阪大世界中から利用可能に

    2008年5月5日

機関リポジトリ 2

大阪大学の学術機関リポジトリ（OUKA）に掲載されているコンテンツ

  1. Double-twist cylinders in liquid crystalline cholesteric blue phases observed by transmission electron microscopy

    Tanaka Shu, Yoshida Hiroyuki, Kawata Yuto, Kuwahara Ryusuke, Nishi Ryuji, Ozaki Masanori

    Vol. 5　p. 16180-16180　2015年11月4日

  2. 超高圧電子顕微鏡結像観察系の高性能化に関する研究

    西 竜治