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御堂 義博

Yoshihiro Midoh

情報科学研究科 情報システム工学専攻,助教

keyword 計測学,画像処理,欠陥検査,電子顕微鏡,半導体製造

学歴

  • 2003年04月 ~ 2006年03月,大阪大学,大学院情報科学研究科,情報システム工学専攻
  • 2001年04月 ~ 2003年03月,大阪大学,工学研究科,情報システム工学専攻
  • 1997年04月 ~ 2001年03月,大阪大学,工学部,電子情報エネルギー工学科 情報システム工学科目

経歴

  • 2019年01月23日 ~ 継続中,大阪大学 先導的学際研究機構,量子情報・量子生命研究部門
  • 2007年06月 ~ 継続中,大阪大学 情報科学研究科 情報システム工学専攻,助教
  • 2006年04月01日 ~ 2007年05月31日,大阪大学 情報科学研究科 情報システム工学専攻,特任研究員

研究内容・専門分野

  • 情報通信,数理情報学
  • 自然科学一般,半導体、光物性、原子物理
  • ナノテク・材料,ナノ構造物理
  • ライフサイエンス,医用システム
  • ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学),計測工学
  • 情報通信,知能情報学
  • 情報通信,知覚情報処理

所属学会

  • ナノテスティング学会
  • 応用物理学会
  • 日本めまい平衡医学会
  • 国際光工学会
  • 電子情報通信学会

論文

  • Accuracy improvement of phase estimation in electron holography using noise reduction methods,Yoshihiro Midoh,Koji Nakamae,Microscopy,Vol. dfz115,p. 1-9,2020年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Image quality enhancement of a CD-SEM image using conditional generative adversarial networks,Y. Midoh,K. Nakamae,SPIE Advanced Lithography 10959-10,2019年02月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • 透過光画像からの細胞核自動抽出を可能とする深層学習に関する研究,御堂義博,有田亘佑,深見 正,中前幸治,電子情報通信学会論文誌D,Vol. J104-D,No. 4,p. 453-461,2021年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Denoising electron holograms using the wavelet hidden Markov model for phase retrieval—Applications to the phase-shifting method,Takehiro Tamaoka,Yoshihiro Midoh,Kazuo Yamamoto,Shodai Aritomi,Toshiaki Tanigaki,Masao Nakamura,Koji Nakamae,Masashi Kawasaki,Yasukazu Murakami,AIP Advances,AIP Publishing,Vol. 11,No. 2,p. 025135-025135,2021年02月01日,研究論文(学術雑誌)
  • フーリエ変換ベース位相再生時の雑音抑制による電子線ホログラムの位相精度向上,岡田拓真,御堂義博,中前幸治,三浦典之,第40回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 64-69,2020年11月,研究論文(研究会,シンポジウム資料等)
  • 物理モデルを考慮したニューラルネットワークによる実験データの説明可能性検証,武本侑己,御堂義博,中前幸治,三浦典之,第40回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 116-120,2020年11月,研究論文(研究会,シンポジウム資料等)
  • 次元圧縮と深層学習を用いた時系列データの変化点予測,大塚健介,御堂義博,中前幸治,三浦典之,第40回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 121-126,2020年11月,研究論文(研究会,シンポジウム資料等)
  • 部分観測条件下での強化学習による連続値行動の最適化,西村朋恵,御堂義博,中前幸治,三浦典之,第40回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 127-131,2020年11月,研究論文(研究会,シンポジウム資料等)
  • モンテカルロシミュレーションと深層学習による帯電を考慮したSEM画像生成,岩本 航,御堂義博,中前幸治,三浦典之,第40回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 132-137,2020年11月,研究論文(研究会,シンポジウム資料等)
  • Suppressing Geometric Phase Shift Owing to Antiphase Boundaries in Dark-Field Electron Holography,Y. Cho,K. Niitsu,Y. Midoh,K. Nakamae,D. Shindo,J.-M. Yang,Y. Murakami,Materials Transactions,Vol. 60,No. 5,p. 698-703,2019年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Visual target strategies in infantile nystagmus patients with horizontal jerk waveform,Takao Imai,Yasumitsu Takimoto,Tomoko Okumura,Kayoko Higashi-Shingai,Noriaki Takeda,Koji Kitamura,Bukasa Kalubi,Takashi Fujikado,Masakazu Hirota,Yoshihiro Midoh,Koji Nakamae,Hidenori Inohara,frontiers in Neurology,Vol. 9,No. 622,p. 1-12,2018年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Thermal behavior analysis of interconnect structures of Si semiconductor devices using the temperature dependent reflectance of an incoherent light beam,K. Endo,Y. Midoh,T. Nakamura,T. Matsumoto,K. Koshikawa,K. Nakamae,Japanese Journal of Applied Physics,Vol. 57,No. 07ME02,p. 1-5,2018年06月,研究論文(学術雑誌)
  • Dual-Tree複素数ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線 ホログラムの雑音低減,御堂義博,中前幸治,第65 回応用物理学会春季学術講演会予稿集,2018年03月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 深層学習を用いた画像解析・異常検知に関する一考察,御堂義博,中前幸治,日本信頼性 学会誌「信頼性」,Vol. 40,No. 2,p. 81-86,2018年03月,研究論文(学術雑誌)
  • マルチフォーカスSTEM像のイメージフュージョンを用いたトモグラフィー再構成像の画質改善,赤堀祐,御堂義博,中前幸治,第37回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2017会議録,p. 59-64,2017年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • Denoising of noisy electron hologram by using a wavelet-based hidden markov model,Yoshihiro Midoh,Koji Nakamae,Proceedings of the 37th Nano Testing Symposium (NANOTS2017),p. 123-128,2017年11月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • 確率的スピン論理p-bitsを用いた復元処理手法の検討,藤野宏章,御堂義博,中前幸治,第37回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2017会議録,p. 41-46,2017年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 透過光画像からの幹細胞モニタリング手法の検討,有田亘佑,御堂義博,中前幸治,第37回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2017会議録,p. 25-30,2017年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 走査電子顕微鏡像からの機械学習を用いたミトコンドリア領域抽出,足立健太,御堂義博,中前幸治,第37回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2017会議録,p. 19-24,2017年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • Thermal behavior analysis of interconnect of Si semiconductor device with optical probed thermo-reflectance image mapping (OPTIM) and waveform (OPTW),K. Endo,Y. Midoh,T. Nakamura,T. Matsumoto,K. Koshikawa,K. Nakamae,Proc. Advanced Metallization Conference 2017 (ADMETAPlus 2017),2017年10月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • SEMシミュレーションとAI画像解析を用いた微細ラインパターン寸法計測の高精度化の検討,御堂義博,井田知宏,濱口 晶,中前幸治,2017年10月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • Comparison of wavelet-domain thresholding and hidden Markov tree model denoising on noisy electron hologram,Yoshihiro Midoh,Katsuyoshi Miura,Yasukazu Murakami,Koji Nakamae,The 43rd international conference on micro- and nanoengineering (MNE2017),2017年09月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音低減(2),御堂義博,三浦克介,村上恭和,中前幸治,第78回応用物理学会秋季学術講演会予稿集,2017年09月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • SEMシミュレーションとAI画像解析を用いた微細ラインパターン寸法計測の高精度化の検討,御堂義博,飯田悠介,濱口 晶,井田知宏,中前幸治,2017年07月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 培養細胞の画像モニタリング技術に関する動向調査と研究,御堂義博,2017年07月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音低減,御堂義博,三浦克介,村上恭和,中前幸治,第64回応用物理学会春季学術講演会予稿集,2017年03月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 弛緩法を用いた電子線ホログラム像の干渉縞欠損修復,三浦克介,御堂義博,村上恭和,中前幸治,第64回応用物理学会春季学術講演会予稿集,No. 14p-424-9,2017年03月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • 細胞培養時スクリーニングのための細胞画像の自動領域分割法,御堂義博,2016年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 機械学習を用いた電子顕微鏡連続断面像からのミトコンドリア検出手法,足立 健太,御堂 義博,中前 幸治,第36回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 143-148,2016年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 細胞培養時スクリーニングのためのコロニー輪郭自動抽出手法,有田 亘佑,御堂 義博,中前 幸治,第36回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 137-141,2016年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 三次元電子顕微鏡像からの生体細胞構造認識のためのマルチクラス領域分割法の検討 (2),堤 勇人,御堂 義博,中前 幸治,第36回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 131-135,2016年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • SEMシミュレーションとAI画像解析を用いた微細ラインパターン寸法計測の高精度化の検討,御堂 義博,飯田悠介,濱口 晶,井田 知宏,中前 幸治,第36回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 125-129,2016年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 畳み込みニューラルネットワークを用いた単一SEM画像高画質化,三宅 聡士,御堂 義博,中前 幸治,第36回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 119-124,2016年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 電顕画像からのミトコンドリアの自動抽出,御堂義博,2016年06月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 自動・高速輪郭抽出による3次元像可視化ソフトウェア,御堂義博,2016年03月
  • 三次元電子顕微鏡像からの生体細胞構造認識のためのマルチクラス領域分割法の検討,堤 勇人,御堂義博,中前幸治,第35回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 157-162,2015年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 電子線トモグラフィーのためのサポートベクトル回帰を用いたTEM動画像高解像度化手法,御堂義博,三津屋陽介,西 竜治,中前幸治,第35回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 151-156,2015年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 連続ウェーブレット変換とマルコフ確率場を用いた単一SEM画像の学習型超解像度化,岡本直幸,御堂義博,中前幸治,第35回ナノテスティングシンポジウム会議録,p. 117-121,2015年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • トモグラフィー電子顕微鏡用ソフトウェアの活用・普及促進,御堂義博,2015年09月
  • 縁膜帯電現象:シミュレーションと実験の比較,御堂義博,2015年01月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • Line extraction method for SEM metrology by utilizing watershed algorithm and machine learning,K. Miura,Y. Midoh,Y. Toyoda,H. Ushiba,S. Shinoda,K. Nakamae,Proceedings of the 34th annual NANO Testing Symposium,The Institute of NANO Testing,p. 189-194,2014年11月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Prediction of performance degradation and lifetime for semiconductor devices using markov chain model,K. Momoda,K. Endo,Y. Midoh,K. Miura,K. Nakamae,ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p. 235-240,2014年11月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測,桃田 快,遠藤幸一,御堂義博,三浦克介,中前幸治,信学技報,Vol. 114,No. 314,p. 1-5,2014年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 非線形Total Variation に基づくTEM像の雑音低減法と電子線トモグラフィーへの応用,桃田快,遠藤幸一,御堂義博,三浦克介,中前幸治,ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p. 235-240,2014年11月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • TEM 動画像を用いた電子線トモグラフィーの検討,三津屋陽介,御堂義博,西竜治,中前幸治,ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p. 199-204,2014年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 離散コサイン変換を用いた単一SEM 画像の学習型超解像度化,御堂義博,中前幸治,ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p. 195-198,2014年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • モンテカルロSEMシミュレーションを用いた帯電現象の研究,飯田悠介,御堂義博,濱口晶,井田知宏,阿部秀昭,中前幸治,ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録,p. 183-188,2014年11月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 自己組織化リソグラフィにおける微細ラインパターン画像処理(I),御堂義博,三浦克介,豊田康隆,中前幸治,2014年09月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • 自己組織化リソグラフィにおける微細ラインパターン画像処理(I),御堂義博,三浦克介,豊田康隆,中前幸治,2014年09月,研究論文(その他学術会議資料等)
  • HawkC: computer-aided 3D visualization and analysis software for electron tomography,Y. Midoh,R. Nishi,M. N. Shirazi,Y. Kamakura,Y. Inoue,J. Miura,K. Nakamae,2014年09月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • 絶縁膜帯電シミュレーションにおけるパラメータ依存性の検討,御堂義博,2014年08月
  • ソフトウェアの概要と活用事例の紹介,御堂義博,2014年07月,研究論文(大学,研究機関等紀要)
  • 電子線トモグラフィー傾斜シリーズ画像の非線形Total Variationに基づく雑音除去の検討,御堂義博,岡本直幸,中前幸治,第61回応用物理学会春季学術講演会講演予稿集,2014年03月
  • 絶縁膜二次電子放出シミュレーションにおける物性パラメータ依存性の検討,御堂義博,2014年02月
  • A shape-modification strategy of electron beam direct writing considering circuit performance in LSI interconnects,Y. Midoh,A. Osaki,K. Nakamae,Proc. SPIE Advanced Lithography,Vol. 9049-68,2014年02月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • LSI SEM画像からの微細ラインパターン計測のためのNonlinear Total Variationに基づく雑音除去法を用いた統計的エッジ検出,御堂義博,岡本直幸,中前幸治,第33回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS) 会議録,p. 165-169,2013年11月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • 超高圧電子顕微鏡を用いた半導体デバイス解析,工藤修一,廣瀬幸範,西竜治,御堂義博,服部信美,小山徹,中前幸治,第33回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS) 会議録,p. 225-230,2013年11月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • トモグラフィー電子顕微鏡用ソフトウェアの活用・普及促進,御堂義博,2013年09月
  • 電子線照射による表面から放出された電子のエネルギースペクトル計算,御堂義博,2013年08月
  • 電子線照射による表面から放出された電子のエネルギースペクトル計算,御堂義博,2013年08月,研究論文(大学,研究機関等紀要)
  • トモグラフィー電子顕微鏡用ソフトウェアHawkCの紹介,御堂 義博,西 竜治,メディヌリシラジ,鎌倉 快之,井上 雄紀,三浦 順一郎,鷹岡 昭夫,中前 幸治,2013年05月
  • 電子線トモグラフィーにおけるアライメント手法の定量的評価,御堂義博,中前幸治,2013年03月
  • A dose modification strategy of electron-beam directwriting considering TDDB reliability in LSI interconnects,Yoshihiro Midoh,Atsushi Osaka,Koji Nakamae,Vol. 8680,2013年02月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • テラヘルツ光放射を用いたLSI 故障解析,山下将嗣,大谷知行,松本徹,御堂義博,三浦克介,二川 清,中前幸治,斗内政吉,砥粒加工学会誌,2012年08月,研究論文(学術雑誌)
  • レーザーテラヘルツ放射顕微鏡の無バイアスLSI故障解析への応用,山下将嗣,大谷知行,松本徹,御堂義博,三浦克介,中前幸治,二川清,2012年07月
  • レーザー励起 テラヘルツ波放射における多層配線の影響,山下将嗣,大谷知行,松本 徹,御堂義博,三浦克介,二川 清,中前幸治,2012年03月
  • The combinational or selective usage of the laser SQUID microscope, the non-bias laser terahertz emission microscope, and fault simulations in non-electrical-contact fault localization,Kiyoshi Nikawa,Masatsugu Yamashita,Toru Matsumoto,Katsuyoshi Miura,Yoshihiro Midoh,Koji Nakamae,Microelectronics Reliability,Vol. 51,No. 9-11,p. 1624-1631,2011年10月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Non-electrical-contact LSI failure analysis using non-bias laser terahertz emission microscope,Kiyoshi Nikawa,Masatsugu Yamashita,Toru Matsumoto,Chiko Otani,Masayoshi Tonouchi,Yoshihiro Midoh,Katsuyoshi Miura,Koji Nakamae,Proc. 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits,2011年07月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • THz emission characteristics from p/n junctions with metal lines under non-bias conditions for LSI failure analysis,M. Yamashita,O. Otani,T. Matsumoto,Y. Midoh,K. Miura,K. Nakamae,K. Nikawa,S. Kim,M. Murakami,M. Tonouchi,OPTICS EXPRESS,Vol. 19,No. 11,p. 10864-10873,2011年05月,研究論文(学術雑誌)
  • LSI故障解析のためのレーザーテラヘルツエミッション顕微鏡THz波検出信号シミュレーション,御堂義博,山下将嗣,松本 徹,二川 清,中前幸治,第30回LSIテスティングシンポジウム会議録,2010年11月
  • 試料傾斜角の異なる複数枚SEM 画像からの三次元形状計測,林 史也,御堂義博,中前幸治,第30 回LSIテスティングシンポジウム会議録,2010年11月
  • Non-bias inspection of electrical failures in LSI interconnects using LTEM prototype system,M. Yamashita,C. Otani,T. Matsumoto,Y. Midoh,K. Miura,K. Nikawa,K. Nakamae,M. Tonouchi,2010年09月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Determining Magnetic Field Close to Air-Bearing Surface by Projection Electron-Beam Tomography and Fourier Extrapolation,Hiroyuki SHINADA,Yoshihiro MIDOH,Tomokazu SHIMAKURA,Koji NAKAMAE,SICE Journal of Control, Measurement, and System Integration,The Society of Instrument and Control Engineers,Vol. 3,No. 4,p. 223-228,2010年,研究論文(学術雑誌)
  • レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるLSI-TEG 観察II,山下将嗣,大谷知行,金鮮美,村上博成,斗内政吉,御堂義博,三浦克介,中前幸治,二川清,第29 回LSI テスティングシンポジウム会議録,2009年11月
  • Laser THz emission microscope as a novel tool for LSI failure analysis,Masatsugu Yamashita,Chiko Otani,Sunmi Kim,Hironaru Murakami,Masayoshi Tonouchi,Toru Matsumoto,Yoshihiro Midoh,Katsuyoshi Miura,Koji Nakamae,Kiyoshi Nikawa,MICROELECTRONICS RELIABILITY,PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD,Vol. 49,No. 9-11,p. 1116-1126,2009年09月,研究論文(学術雑誌)
  • 3D analysis of benign positional nystagmus due to cupulolithiasis in posterior semicircular canal,T. Imai,N. Takeda,M. Ito,K. Sekine,G. Sato,Y. Midoh,K. Nakamae,T. Kubo,Acta Oto-Laryngologica,Vol. 129,No. 10,p. 1044-1049,2009年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Development of an LTEM prototype system for LSI failure analysis,Masatsugu Yamashita,Chiko Otani,Sunmi Kim,Hironaru Murakmai,Masayoshi Tonouchi,Toru Matsumoto,Yoshihiro Midoh,Katsuyoshi Miura,Koji Nakamae,Kiyoshi Nikawa,2009 34TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON INFRARED, MILLIMETER, AND TERAHERTZ WAVES, VOLS 1 AND 2,IEEE,p. 241-+,2009年,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Development of automatic system on electron microscopic tomography for 3D medical examination,Akio Takaoka,Meng Cao,Yoshihiro Midoh,Tomoki Nishida,Toshiaki Hasegawa,Ryuji Nishi,Yuuki Inoue,Mitsuo Ogasawara,Korean Journal of Microscopy,2008年11月
  • Object size measurement method from noisy SEM images by utilizing scale space,Y. Midoh,K. Nakamae,H. Fujioka,Measurement Science and Technology,Vol. vol. 18, no. 3. pp. 579-591,2007年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Computer-assisted lesion detection system for stomach screening using stomach shape and appearance models,Y. Midoh,M. Nakamura,M. Takashima,K. Nakamae,H. Fujioka,Proc. SPIE: Medical Imaging,Vol. 6514,2007年02月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Computer-assisted lesion detection system for stomach screening using stomach shape and appearance models,Y. Midoh,M. Nakamura,M. Takashima,K. Nakamae,H. Fujioka,Progress in Biomedical Optics and Imaging - Proceedings of SPIE,Vol. 6514,No. 2,2007年,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Line edge roughness measurement of nanostructures in SEM metrology by using statistically matched wavelet,Yoshihiro Midoh,Koji Nakamae,Hiromu Fujioka,Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering,Vol. 6763,2007年,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • A comparison of wavelet multiresolution analysis and scale-space edge detection for lithography metrology,Yoshihiro Midoh,Koji Nakamae,Hiromu Fujioka,Proc. SPIE: Wavelet Applications in Industrial Processing IV,Vol. vol. 6383,2006年10月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Statistical optimization of Canny edge detector for measurement of fine line patterns in SEM image,Yoshihiro Midoh,Katsuyoshi Miura,Koji Nakamae,Hiromu Fujioka,Measurement Science and Technology,Institute of Physics Publishing,Vol. 16,No. 2,p. 477-487,2005年,研究論文(学術雑誌)
  • Boundary extraction in the SEM cross section of LSI by multiple Gaussian filtering,Y Midoh,K Nakamae,H Fujioka,TWO- AND THREE - DIMENSIONAL VISION SYSTEMS FOR INSPECTION, CONTROL, AND METROLOGY II,SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING,Vol. 5606,p. 169-178,2004年,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Fine structure measurement in the SEM cross section of LSI using the canny edge detector,Y Midoh,K Miura,K Nakamae,H Fujioka,MACHINE VISION APPLICATIONS IN INDUSTRIAL INSPECTION XI,SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING,Vol. 5011,p. 190-199,2003年,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Boundary extraction in the SEM cross section of LSI,K Nakamae,Y Midoh,K Miura,H Fujioka,INTELLIGENT ROBOTS AND COMPUTER VISION XX: ALGORITHMS, TECHNIQUES, AND ACTIVE VISION,SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING,Vol. 4572,p. 451-458,2001年,研究論文(国際会議プロシーディングス)

MISC

  • ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音除去,御堂 義博,中前 幸治,品田 博之,村上 恭和,顕微鏡,Vol. 55,No. 2,p. 53-59,2020年09月
  • 深層学習を用いた信号画像解析と予測・異常検知への応用,御堂義博,日本信頼性学会2019年度第1 回フォーラム「人工知能(AI)技術の信頼性・安全性への活用と課題」,2019年10月
  • 隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音除去,玉岡武泰,山本和夫,御堂義博,谷垣俊明,中村優男,川崎雅司,中前幸司,村上恭和,日本顕微鏡学会第75 回学術講演会予稿集 2amG 14-11,2019年06月
  • 低S/N電子線ホログラムのウェーブレット隠れマルコフデノイズにおける分散安定化の影響評価,御堂義博,中前幸治,第79回応用物理学会秋季学術講演会 講演予稿集,2018年09月
  • 深層学習を用いたSEM画像の高画質化,御堂義博,中前幸治,次世代リソグラフィ技術研究会(NGL)ワークショップ2018,2018年07月
  • Three-dimensional reconstruction from microscope tilt-series images using object tracking based on particle filter,Yoshihiro Midoh,Fumiya Hayashi,Koji Nakamae,2010年09月
  • 試料傾斜角の異なる複数枚SEM画像からのLSI 三次元形状推定,林 史也,御堂義博,中前幸治,2010年09月
  • レーザテラヘルツエミッション顕微鏡のLSI 故障解析への応用,松本徹,山下将嗣,大谷知行,金鮮美,村上博成,斗内政吉,御堂義博,三浦克介,中前幸治,二川清,2010年03月
  • LTEMによるLSI故障解析のためのTHz 波シミュレーション(II),御堂義博,山下将嗣,松本徹,斗内政吉,二川清,中前幸治,2010年03月
  • Evaluation of maskless electron-beam direct writingwith double character projection apertures,Y. Midoh,T. Terasaka,K. Nakamae,Proc. SPIE,Vol. 7637,2010年02月
  • 電子顕微鏡トモグラフィのためのマーカーフリーアライメント手法の検討,2010年
  • Three-dimensional reconstruction from microscope tilt-series images using object tracking based on particle filter,2010年
  • A study of marker-free alignment for electron tomography by trifocal geometry,2010年
  • LSI故障解析の新手法―レーザSQUID 法とレーザテラヘルツ法の複合的利用:外部電力・外部信号不用な電気的解析法―,二川清,山下将嗣,大谷知行,斗内政吉,村上博成,金鮮美,中前幸治,三浦克介,御堂義博,松本徹,青木芳充,井上彰二,永石竜起,酒井哲哉,クリーンテクノロジー,日本工業出版,Vol. 12,2009年12月
  • 複数低解像度SEM画像からの高解像度化を用いた欠陥検査の評価,御堂義博,高島真彦,中前幸治,2009年11月
  • 二段キャラクタプロジェクションマスクレス電子ビーム直接描画方式の検討,寺坂豪泰,御堂義博,中前幸治,2009年11月
  • Novel electrical failure analysis tools for LSI chips: non-bias and non-signal-application,K. Nikawa,M. Yamashita,C. Otani,M. Tonouchi,H. Murakami,S. Kim,K. Nakamae,K. Miura,Y.Midoh,T. Matsumoto,Y. Aoki,T. Nagaishi,S. Inoue,T. Sakai,2009年10月
  • Laser terahertz emission microscope for inspecting interconnect defects in semiconductor devices,Masatsugu Yamashita,Chiko Otani,Sunmi Kim,Hironaru Murakami,Masayoshi Tonouchi,Toru Matsumoto,Yoshihiro Midoh,Katsuyoshi Miura,Koji Nakamae,Kiyoshi Nikawa,2009年10月
  • LSI故障解析用LTEMプロトタイプ装置の開発,山下将嗣,大谷知行,金鮮美,村上博成,斗内政吉,松本徹,御堂義博,三浦克介,中前幸治,二川清,2009年09月
  • LSI故障解析用レーザーテラヘルツ放射顕微鏡プロトタイプ装置の開発,山下将嗣,大谷知行,金鮮美,村上博成,斗内政吉,松本徹,御堂義博,三浦克介,中前幸治,二川清,2009年05月
  • 新しい眼球運動解析システム(2),2009年
  • 複数低解像度SEM画像からの高解像度化を用いた欠陥検査の評価,2009年
  • Laser terahertz emission microscope for inspecting interconnect defects in semiconductor devices,2009年
  • 二段キャラクタプロジェクションマスクレス電子ビーム直接描画方式の検討,2009年
  • Novel electrical failure analysis tools for LSI chips: non-bias and non-signal-application,2009年
  • オンラインSEM形状計測・欠陥検査のための観測画像アライメント,高島真彦,御堂義博,中前幸治,2008年11月
  • 新しい眼球運動解析システム,今井貴夫,御堂義博,関根和教,佐藤 豪,中前幸治,武田憲昭,2008年10月
  • LTEMによるLSI 故障解析のためのTHz波シミュレーション,御堂義博,中前幸治,山下将嗣,斗内政吉,二川 清,2008年09月
  • SIFT特徴量を用いた電子顕微鏡トモグラフィ自動化の検討,御堂義博,高島真彦,鷹岡昭夫,西 竜治,中前幸治,2008年09月
  • Defect inspection using a high-resolution pattern image obtained from multiple low-resolution images of the same pattern on an observed noisy SEM image,Masahiko Takashima,Yoshihiro Midoh,Koji Nakamae,Proceedings of SPIE,Vol. 6922,No. 1-2,2008年05月
  • オンラインSEM形状計測・欠陥検査のための観測画像アライメント,2008年
  • 平衡神経・眼球運動シミュレータを用いた良性発作性頭位めまい症の治療支援,吉村昌悟,御堂義博,中前幸治,今井貴夫,関根和教,武田憲昭,FIT2007 第6 回情報科学技術フォーラム,No. G-023,2007年09月
  • SEM画像におけるLSI微細構造計測のためのスケールスペース理論を用いた境界抽出,御堂義博,中前幸治,藤岡 弘,電子情報通信学会2006 年総合大会,Vol. D-11-127,2006年03月
  • LSI断面SEM観測画像の微細形状計測アルゴリズム,御堂義博,三浦克介,中前幸治,藤岡 弘,2002年電子情報通信学会総合大会,Vol. C-12-4, p. 86,2002年

著書

  • 日本学術振興会研究開発専門委員会 自律型・複合型AI先端計測の新しい価値創造 研究成果報告書,2021年03月
  • 学術書,立体像可視化ソフトウェア「HawkC」の開発,御堂義博,エヌ・ティー・エス,ISBN:9784860434281,2015年05月

作品

  • トモグラフィー電子顕微鏡用のソフトウェア,御堂義博,西竜治,鎌倉快之,井上雄紀,メディ・ヌリ・シラジ,三浦順一郎,2015年09月02日 ~ 2015年09月03日
  • めまい診断のための眼球運動解析システム,御堂義博,今井貴夫,関根和教,武田憲昭,猪原秀典,中前幸治,2009年11月25日 ~ 2009年11月29日

受賞

  • 第39回ナノテスティングシンポジウム若手奨励賞,岩本 航, 御堂義博, 中前幸治,ナノテスティング学会,2019年12月
  • 第42回(2012年度)信頼性・保全性シンポジウム奨励報文賞,山下将嗣,大谷知行,松本 徹,御堂義博,三浦克介,中前幸治,二川清,一般財団法人日本化学技術連盟,2012年07月

講演・口頭発表等

  • 雑音低減による電子線ホログラフィーの位相精度向上,御堂義博,中前幸治,第77回日本顕微鏡学会学術講演会,2021年06月16日
  • ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音除去,御堂 義博,顕微鏡計測インフォマティックス 第2回研究会,2021年01月23日
  • 計測学における機械学習・深層学習の応用展開,御堂義博,第40回ナノテスティングシンポジウム,2020年11月18日
  • 電子線ホログラムとそのフーリエ平面画像にウェーブレット隠れマル コフデノイズを適用した場合の位相再構成比較,御堂義博,中前幸治,第67回応用物理学会春季学術講演会 講演予稿集,2020年03月
  • 電子線ホログラムの干渉縞欠損箇所修復による位相特異点低減手法,三浦克介,御堂義博,村上恭和,中前幸治,第39回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2019会議録,2019年11月
  • 深層学習を用いた定量位相顕微鏡像からの培養脂肪細胞 の状態予測,谷河駿,御堂義博,中前幸治,第39回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2019会議録,2019年11月
  • 深層学習を用いた説明可能な時系列データ予測に関する研究,篠田京介,御堂義博,中前幸治,第39回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2019会議録,2019年11月
  • Performance improvement in dual-tree complex wavelet-based denoising by redesigning the first-scale filters,Y. Midoh,K. Nakamae,第39回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2019会議録,2019年11月
  • 深層学習を用いたSEM シミュレーション条件最適化手法の検討,岩本航,御堂義博,中前幸治,第39回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2019会議録,2019年11月
  • 深層学習を用いた信号画像解析と予測・異常検知への応用,御堂義博,2019年10月
  • 電子線ホログラムに対するDual-tree 複素数ウェーブレット隠れマルコフデノイズにおける初段フィルタの影響評価,御堂義博,中前幸治,第80回応用物理学会秋季学術講演会 講演予稿集,2019年09月
  • Image quality enhancement of a CD-SEM image using conditional generative adversarial networks,Y. Midoh,K. Nakamae,2019年02月
  • Image quality enhancement of a CD-SEM image using conditional generative adversarial networks,Y. Midoh,K. Nakamae,第38回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2018会議録,2019年02月
  • 深層学習を用いた透過光画像からの細胞核自動抽出,有田亘佑,御堂義博,中前幸治,第38回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2018会議録,2018年11月
  • 細胞モニタリングのための定量位相顕微鏡像の位相アンラッピング,谷河 駿,御堂義博,中前幸治,第38回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2018会議録,2018年11月
  • Effect of variance stabilization on denoising of low SNR fringe patterns using wavelet hidden markov models,Y. Midoh,K. Nakamae,第38回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2018会議録,2018年11月
  • 走査電子顕微鏡像からの機械学習を用いたミトコンドリア 領域抽出(2),足立健太,御堂義博,中前幸治,第38回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2018会議録,2018年11月
  • 深層学習の概要と多能性幹細胞透過光像への適用事例,御堂義博,2018年10月
  • Noise reduction in electron hologram by using dual-tree complex wavelet transform and hidden Markov tree models,Yoshihiro Midoh,Koji Nakamae,19th International Microscopy Congress (IMC19),2018年09月
  • Effect of variance stabilization on denoising in electron hologram by wavelet hidden Markov models,Yoshihiro Midoh,Koji Nakamae,The 44rd international conference on micro- and nanoengineering (MNE2018),2018年09月

学術貢献

  • ナノテスティングシンポジウム,ナノテスティング学会,2020年11月 ~
  • ナノテスティングシンポジウム,ナノテスティング学会,2019年11月 ~
  • ナノテスティングシンポジウム,ナノテスティング学会,2018年11月 ~
  • ナノテスティングシンポジウム,ナノテスティング学会,2017年11月 ~
  • ナノテスティングシンポジウム,ナノテスティング学会,2016年11月 ~
  • ナノテスティングシンポジウム,ナノテスティング学会,2015年11月 ~
  • ナノテスティングシンポジウム,ナノテスティング学会,2014年11月 ~
  • ナノテスティングシンポジウム,ナノテスティング学会,2013年11月 ~
  • LSIテスティングシンポジウム,LSIテスティング学会,2012年11月 ~
  • LSIテスティングシンポジウム,LSIテスティング学会,2011年11月 ~
  • LSIテスティングシンポジウム,LSIテスティング学会,2010年11月 ~
  • LSIテスティングシンポジウム,LSIテスティング学会,2009年11月 ~
  • LSIテスティングシンポジウム,LSIテスティング学会,2008年11月 ~

委員歴

  • 学協会,日本顕微鏡学会,顕微鏡計測インフォマティックス研究部会,2019年09月 ~ 継続中
  • 学協会,ナノテスティング学会,事務局,2007年06月 ~ 継続中
  • 学協会,独立行政法人 日本学術振興会,AI活用型システム創成委員会,2021年02月 ~ 2022年03月
  • 学協会,独立行政法人 日本学術振興会,自律型・複合型AI先端計測の新しい価値創造,2018年04月 ~ 2021年03月