keyword 計測学，画像処理，欠陥検査，電子顕微鏡，半導体製造
大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻
2003年4月 ～ 2006年3月
大阪大学 工学研究科 情報システム工学専攻
2001年4月 ～ 2003年3月
大阪大学 工学部 電子情報エネルギー工学科 情報システム工学科目
1997年4月 ～ 2001年3月
日本学術振興会 AI活用型システム創成委員会 学協会
2021年2月 ～ 継続中
日本顕微鏡学会 顕微鏡計測インフォマティックス研究部会 学協会
2019年9月 ～ 継続中
ナノテスティング学会 事務局 学協会
2007年6月 ～ 継続中
日本学術振興会 R026先端計測技術の将来設計委員会 学協会
2024年3月 ～ 2025年3月
DSAIH 2024: The 1st IEEE International Workshop on Data Science and Artificial Intelligence in Healthcare Program Committee 学協会
2024年4月 ～ 2024年7月
日本学術振興会 自律型・複合型AI先端計測の新しい価値創造 学協会
2018年4月 ～ 2021年3月
日本顕微鏡学会
日本経営システム学会
ナノテスティング学会
応用物理学会
日本めまい平衡医学会
国際光工学会
電子情報通信学会
情報通信 / 数理情報学 /
自然科学一般 / 半導体、光物性、原子物理 /
ナノテク・材料 / ナノ構造物理 /
ライフサイエンス / 医用システム /
ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 計測工学 /
情報通信 / 知能情報学 /
情報通信 / 知覚情報処理 /
IEEE SSCS Kansai Chapter Academic Research Award
成瀬厚太郎, 上田貴之, 塩見準, 御堂義博, 三浦典之 LSIとシステムのワークショップ2023 2023年5月
学生研究発表優秀賞
綿引康介, 御堂義博, 岡本和也 日本経営システム学会 2022年11月
共同研究 感謝状
御堂義博, 武本侑己, 江木悠貴 宇宙航空研究開発機構 2022年3月
第39回ナノテスティングシンポジウム若手奨励賞
岩本 航, 御堂義博, 中前幸治 ナノテスティング学会 2019年12月
第42回（2012年度）信頼性・保全性シンポジウム奨励報文賞
山下将嗣, 大谷知行, 松本 徹, 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 二川清 一般財団法人日本化学技術連盟 2012年7月
Direct identification of the charge state in a single platinum nanoparticle on titanium oxide
Ryotaro Aso, Hajime Hojo, Yoshio Takahashi, Tetsuya Akashi, Yoshihiro Midoh, Fumiaki Ichihashi, Hiroshi Nakajima, Takehiro Tamaoka, Kunio Yubuta, Hiroshi Nakanishi, Hisahiro Einaga, Toshiaki Tanigaki, Hiroyuki Shinada, Yasukazu Murakami
Science Vol. 378 No. 6616 p. 202-206 2022年10月14日 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：American Association for the Advancement of Science (AAAS)
Accuracy improvement of phase estimation in electron holography using noise reduction methods
Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae
Microscopy Vol. dfz115 p. 1-9 2020年1月 研究論文（学術雑誌）
Image quality enhancement of a CD-SEM image using conditional generative adversarial networks
Y. Midoh, K. Nakamae
SPIE Advanced Lithography 10959-10 2019年2月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Direct Visualization of Surface Structure and Charge States of Ceria‐Supported Gold Catalysts Under Redox Conditions
Ryotaro Aso, Takehiro Tamaoka, Hideto Yoshida, Hajime Hojo, Hiroki Sano, Yoshihiro Midoh, Hisahiro Einaga, Toshiaki Tanigaki, Yasukazu Murakami
Advanced Science No. e08554 p. 1-9 2025年7月10日 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：Wiley
A comparison of generative AI models for the top-down SEM image of line and space patterns
Proc . SPIE 13426 2025年5月5日 研究論文（国際会議プロシーディングス）
出版者・発行元：
Advanced pattern contour extraction function for see-through BSE images of high voltage SEM
Proc. SPIE 13426 2025年4月24日 研究論文（国際会議プロシーディングス）
出版者・発行元：
20.1 A 3.5×3.5mm2 1.47mW/ch 16-Channel MSS-CMOS Heterogeneous Multi-Modal-Gas-Sensor Chip Stack
Kotaro Naruse, Naru Kato, Takuma Matsumori, Jun Shlomi, Yoshihiro Midoh, Tetsuya Hirose, Gaku Imamura, Genki Yoshikawa, Constantine Sideris, Noriyuki Miura
2025 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) p. 348-350 2025年2月16日 研究論文（国際会議プロシーディングス）
出版者・発行元：IEEE
Noise reduction of low-dose electron holograms using the wavelet hidden Markov model
Yuto Tomita, Yoshihiro Midoh, Takehiro Tamaoka, Yasukazu Murakami
Microscopy 2025年1月22日 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：Oxford University Press (OUP)
Hardware Trojan Detection by Fine-grained Power Domain Partitioning
Takahiro Ishikawa, Kose Yokooji, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura, Michihiro Shintani, Jun Shiomi
Proceedings of the 30th Asia and South Pacific Design Automation Conference p. 1257-1263 2025年1月20日 研究論文（国際会議プロシーディングス）
出版者・発行元：ACM
歌唱発声による誤嚥防止訓練に伴う水飲みテスト時の喉頭運動の変化
大西智也, 御堂義博, 塩見準, 弓場徹, 三浦典之
信学技報 Vol. HIP2024-87 p. 115-119 2025年1月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
RGB-Dカメラを用いた喉頭運動計測の性能評価
大西智也, 御堂義博, 細川清人, 橋田直, 塩見準, 弓場徹, 猪原秀典, 三浦典之
信学技報 Vol. HIP2024-57 p. 30-34 2024年12月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
先端半導体材料における出願特許の例証考察
綿引 康介, 御堂 義博, 岡本 和也
日本経営システム学会誌 Vol. 41 No. 2 p. 59-68 2024年11月 研究論文（学術雑誌）
CVNet を用いた頑健なパターン輪郭抽出法の検討
村上慎治, 大家政洋, 岡本陽介, 中澤伸一, 丸山浩太郎, 山崎裕一郎, 御堂義博, 三浦典之
ナノテスティングシンポジウム2024会議録 p. 18-23 2024年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
半導体測長用電子顕微鏡画像の生成AIモデルの構築とそれに基づく試料情報推定
淺野修一朗, 御堂義博, 塩見 準, 三浦典之
ナノテスティングシンポジウム2024会議録 p. 12-17 2024年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
高加速SEMのシースルーBSE画像における高度な下層パターン輪郭抽出機能開発
大家政洋, 岡本陽介, 中澤伸一, 丸山浩太郎, 山崎裕一郎, 御堂義博, 三浦典之
ナノテスティングシンポジウム2024会議録 p. 24-28 2024年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
Double-Sided Multimodal Attack Sensing and Partial Re-Keying in Shared Group Key System
Ryuki Ikemoto, Soichiro Fujii, Kotaro Naruse, Jun Shiomi, Yoshihiro Midoh, Yuki Yamashita, Misato Taguchi, Takuji Miki, Makoto Nagata, Yuichi Komano, Mitsugu Iwamoto, Kazuo Sakiyama, Noriyuki Miura
2024 IEEE European Solid-State Electronics Research Conference (ESSERC) p. 681-684 2024年9月9日 研究論文（国際会議プロシーディングス）
出版者・発行元：IEEE
RGB-Dカメラを⽤いた⾮接触・⾮拘束な喉頭運動計測法による嚥下機能評価
大西智也, 御堂義博, 塩見 準, 弓場 徹, 三浦典之
生体医工学シンポジウム2024 講演予稿・抄録集 p. 167-167 2024年9月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
Noise reduction of electron holography observations for a thin-foiled Nd-Fe-B specimen using the wavelet hidden Markov model
Sujin Lee, Yoshihiro Midoh, Yuto Tomita, Takehiro Tamaoka, Mitsunari Auchi, Taisuke Sasaki, Yasukazu Murakami
Applied Microscopy Vol. 54 No. 1 2024年4月17日 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：Springer Science and Business Media LLC
Utilization of active contour model with 3D-SEM simulation for see-through BSE image of high voltage SEM
Masahiro Oya, Yosuke Okamoto, Shinichi Nakazawa, Kotaro Maruyama, Yuichiro Yamazaki, Shinji Murakami, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura
Proc. SPIE 12955, Metrology, Inspection, and Process Control XXXVIII Vol. 129550R 2024年4月10日 研究論文（国際会議プロシーディングス）
出版者・発行元：SPIE
代用音声新世紀-失った声を取り戻す- 機械読唇による自然な日本語の発話を目指して
御堂 義博, 伊勢 拓真, 北山 一樹, 細川 清人, 猪原 秀典, 三浦 典之
日本耳鼻咽喉科頭頸部外科学会会報 Vol. 127 No. 4 p. 370-370 2024年4月
出版者・発行元：(一社)日本耳鼻咽喉科頭頸部外科学会High-precision charge analysis in a catalytic nanoparticle by electron holography
Ryotaro Aso, Yoshihiro Midoh, Toshiaki Tanigaki, Yasukazu Murakami
Microscopy 2024年3月29日 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：Oxford University Press (OUP)
Necl-1/CADM3 regulates cone synapse formation in the mouse retina
Rumi Kawashima, Kenji Matsushita, Kenji Mandai, Yuko Sugita, Tomohiko Maruo, Kiyohito Mizutani, Yoshihiro Midoh, Akiko Oguchi, Yasuhiro Murakawa, Kazuki Kuniyoshi, Ryohei Sato, Takahisa Furukawa, Kohji Nishida, Yoshimi Takai
iScience p. 109577-109577 2024年3月 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：Elsevier BV
先端半導体材料における収益性と特許情報の開示特性
綿引康介, 御堂義博, 岡本和也
日本経営システム学会誌 Vol. 40 No. 3 p. 227-234 2024年3月 研究論文（学術雑誌）
Open Set Domain Adaptation for Image Classification With Multiple Unknown Labels Using Unsupervised Clustering in a Target Domain
Daichi Nishihara, Yoshihiro Midoh, Youyang Ng, Osamu Yamane, Maasa Takahashi, Shuhei Iijima, Jun Shiomi, Goh Itoh, Noriyuki Miura
Electronic Imaging Vol. 36 No. 15 p. 162-1 2024年1月21日 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：Society for Imaging Science & Technology
Edge-Oriented Point Cloud Compression by Moving Object Detection for Realtime Smart Monitoring
Itsuki Takada, Daiki Nitto, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura, Jun Shiomi, Ryoichi Shinkuma
2024 IEEE 21st Consumer Communications & Networking Conference (CCNC) 2024年1月6日 研究論文（国際会議プロシーディングス）
出版者・発行元：IEEE
電子顕微鏡と被写体の物理的特徴量空間の関係性解析
淺野修一朗, 御堂義博, 塩見 準, 三浦典之
第43回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2023) p. 166-170 2023年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
高加速SEMのシースルーBSE画像における高度な下層パターン輪郭抽出機能開発
大家政洋, 岡本陽介, 中澤伸一, 丸山浩太郎, 山崎裕一郎, 村上 慎治, 御堂義博, 三浦典之
第43回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2023) p. 160-165 2023年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
画像分類のドメイン適応における未知クラスの影響評価
西原大地, 御堂義博, Youyang Ng, 山根 統, 高橋真麻, 伊藤 剛, 塩見 準, 三浦典之
第43回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2023) p. 160-165 2023年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
計測分野における AI活用事例と今後の展望
御堂義博
スマートプロセス学会誌 Vol. 12 No. 6 p. 300-305 2023年11月 研究論文（学術雑誌）
A Fetal-Movement Circuit Harvesting High-Energy Plasma During Fabrication, Concept and Its Application to Self-Programing PUF
Kotaro Naruse, Takayuki Ueda, Jun Shiomi, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura
IEEE Solid-State Circuits Letters Vol. 6 p. 269-272 2023年9月 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
近距離向けRGB-Dカメラを用いた嚥下時の喉頭運動計測
前 綾香, 御堂義博, 塩見 準, 弓場 徹, 三浦典之
信学技報 Vol. 123 No. 25 p. 163-165 2023年5月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
Materials Technology Correlation Between Front-end and Back-end Processes in Advanced Semiconductor Industry
2023 International Conference on Electronics Packaging (ICEP) Vol. TB4-1 p. 1-2 2023年4月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
胎動回路のPUF応用
成瀬厚太郎, 上田貴之, 塩見準, 御堂義博, 三浦典之
信学技報 Vol. 123 No. 6 p. 49-50 2023年4月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
固有PRNUを利用したインフラ監視カメラの計測セキュリティ
成瀬厚太郎, 佐々木輝, 川村康輔, 塩見準, 御堂義博, 三浦典之
信学技報 Vol. 123 No. 6 p. 32-33 2023年4月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
物理攻撃センサを利用した部分鍵更新付きAES暗号プロセッサ
池本龍生, 藤井聡一朗, 山下憂記, 永田真, 塩見準, 御堂義博, 三浦典之
信学技報 Vol. 123 No. 6 p. 34-36 2023年4月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
暗号回路から漏えいする電磁波の電源電圧依存性モデル
南口和生, 御堂義博, 三浦典之, 塩見準
信学技報 Vol. 123 No. 6 p. 9-10 2023年4月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
センサ固有特性のPUF利用による計測データと計測デバイスの同時認証
川村康輔, 久保田康裕, 永田真, 塩見準, 御堂義博, 三浦典之
信学技報 Vol. 123 No. 6 p. 51-53 2023年4月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
透過像の深層学習による細胞核モニタリング
御堂義博
光学 Vol. 52 No. 3 p. 116-122 2023年3月 研究論文（学術雑誌）
A Triturated Sensing System
Noriyuki Miura, Kotaro Naruse, Jun Shiomi, Yoshihiro Midoh, Tetsuya Hirose, Takaaki Okidono, Takuji Miki, Makoto Nagata
International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) Digest of Technical Papers p. 216-217 2023年2月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
A Self-Programming PUF Harvesting the High-Energy Plasma During Fabrication
Kotaro Naruse, Takayuki Ueda, Jun Shiomi, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura
International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) Digest of Technical Papers p. 218-219 2023年2月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
出版者・発行元：IEEE
Technology Trends and Characteristics of Patent Information Disclosure in Advanced Semiconductor Photoresist
Kosuke Watahiki, Yoshihiro Midoh, Kazuya Okamoto
2022 International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM) No. NM-45 p. 1-4 2022年12月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
複雑系データから複数支配方程式の抽出が可能なデータ駆動型探索法
御堂義博, 武本侑己, 塩見 準, 三浦典之
第42回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2022) p. 108-112 2022年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
物理的な雑音特性の異なる画像の分類におけるドメイン適応
西原大地, 御堂義博, Youyang Ng, 山根 統, 伊藤 剛, 藤原 剛, 塩見 準, 三浦典之
第42回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2022) p. 1-6 2022年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
感情推定のための高重要度生体センサ選択による身体負荷低減効果の評価
江木悠貴, 筧玲央, 御堂 義博, 塩見準, 三浦典之
信号処理研究会 Vol. 122 No. 165 p. 104-108 2022年8月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
静電容量型タッチセンサの計測中間値を利用した高信頼電子筆跡認証方式の検討
村康輔, 久保田康裕, 永田真, 御堂 義博, 塩見準, 三浦典之
信号処理研究会 Vol. 122 No. 165 p. 125-128 2022年8月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
固有PRNUに基づく撮像カメラデバイス同定技術のインフラ監視システムへの応用
佐々木輝, 川村康輔, 御堂 義博, 塩見準, 三浦典之
信号処理研究会 Vol. 122 No. 165 p. 65-69 2022年8月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
集積回路より漏えいする電磁波の電源電圧依存性モデル
南口 和生, 御堂 義博, 三浦 典之, 塩見 準
DAシンポジウム2022 p. 58-63 2022年8月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
Accurate measurement of charge density in nanoscale particles using an aperture optimization of Fourier based phase reconstruction
Okada Takuma, Midoh Yoshihiro, Nakamae Koji, Miura Noriyuki
Electronic Imaging Vol. 34 No. 14 p. 248-1 2022年1月16日 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：Society for Imaging Science & Technology
少数シミュレーションによるSEM画像生成モデルの構築法
御堂義博, 岩本 航, 中前幸治, 三浦典之
第41回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2021) p. 96-99 2021年10月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
多項式制約を含むニューラルネットワークを用いたデータ駆動型の物理法則の探索法
武本侑己, 御堂義博, 中前幸治, 三浦典之
第41回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2021) p. 91-95 2021年10月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
フーリエリング相関を用いたアパーチャ形状最適化による電子線ホログラム位相再生時の雑音低減
岡田拓真, 御堂義博, 中前幸治, 三浦典之
第41回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2021) p. 60-64 2021年10月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
透過光画像からの細胞核自動抽出を可能とする深層学習に関する研究
御堂義博, 有田亘佑, 深見 正, 中前幸治
電子情報通信学会論文誌D Vol. J104-D No. 4 p. 453-461 2021年4月 研究論文（学術雑誌）
Denoising electron holograms using the wavelet hidden Markov model for phase retrieval—Applications to the phase-shifting method
Takehiro Tamaoka, Yoshihiro Midoh, Kazuo Yamamoto, Shodai Aritomi, Toshiaki Tanigaki, Masao Nakamura, Koji Nakamae, Masashi Kawasaki, Yasukazu Murakami
AIP Advances Vol. 11 No. 2 p. 025135-025135 2021年2月1日 研究論文（学術雑誌）
フーリエ変換ベース位相再生時の雑音抑制による電子線ホログラムの位相精度向上
岡田拓真, 御堂義博, 中前幸治, 三浦典之
第40回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 64-69 2020年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
物理モデルを考慮したニューラルネットワークによる実験データの説明可能性検証
武本侑己, 御堂義博, 中前幸治, 三浦典之
第40回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 116-120 2020年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
次元圧縮と深層学習を用いた時系列データの変化点予測
大塚健介, 御堂義博, 中前幸治, 三浦典之
第40回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 121-126 2020年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
部分観測条件下での強化学習による連続値行動の最適化
西村朋恵, 御堂義博, 中前幸治, 三浦典之
第40回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 127-131 2020年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
モンテカルロシミュレーションと深層学習による帯電を考慮したSEM画像生成
岩本 航, 御堂義博, 中前幸治, 三浦典之
第40回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 132-137 2020年11月 研究論文（研究会，シンポジウム資料等）
Suppressing Geometric Phase Shift Owing to Antiphase Boundaries in Dark-Field Electron Holography
Y. Cho, K. Niitsu, Y. Midoh, K. Nakamae, D. Shindo, J.-M. Yang, Y. Murakami
Materials Transactions Vol. 60 No. 5 p. 698-703 2019年2月 研究論文（学術雑誌）
Thermal behavior analysis of interconnect structures of Si semiconductor devices using the temperature dependent reflectance of an incoherent light beam
Koichi Endo, Yoshihiro Midoh, Tomonori Nakamura, Toru Matsumoto, Kazushige Koshikawa, Koji Nakamae
Japanese Journal of Applied Physics Vol. 57 No. 7S2 2018年7月1日 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：Japan Society of Applied Physics
Visual target strategies in infantile nystagmus patients with horizontal jerk waveform
Takao Imai, Yasumitsu Takimoto, Tomoko Okumura, Kayoko Higashi-Shingai, Noriaki Takeda, Koji Kitamura, Bukasa Kalubi, Takashi Fujikado, Masakazu Hirota, Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae, Hidenori Inohara
frontiers in Neurology Vol. 9 No. 622 p. 1-12 2018年7月 研究論文（学術雑誌）
Thermal behavior analysis of interconnect structures of Si semiconductor devices using the temperature dependent reflectance of an incoherent light beam
K. Endo, Y. Midoh, T. Nakamura, T. Matsumoto, K. Koshikawa, K. Nakamae
Japanese Journal of Applied Physics Vol. 57 No. 07ME02 p. 1-5 2018年6月 研究論文（学術雑誌）
Dual-Tree複素数ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線 ホログラムの雑音低減
御堂義博, 中前幸治
第65 回応用物理学会春季学術講演会予稿集 2018年3月 研究論文（その他学術会議資料等）
深層学習を用いた画像解析・異常検知に関する一考察
御堂義博, 中前幸治
日本信頼性 学会誌「信頼性」 Vol. 40 No. 2 p. 81-86 2018年3月 研究論文（学術雑誌）
マルチフォーカスSTEM像のイメージフュージョンを用いたトモグラフィー再構成像の画質改善
赤堀祐, 御堂義博, 中前幸治
第37回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2017会議録 p. 59-64 2017年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
Denoising of noisy electron hologram by using a wavelet-based hidden markov model
Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae
Proceedings of the 37th Nano Testing Symposium (NANOTS2017) p. 123-128 2017年11月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
確率的スピン論理p-bitsを用いた復元処理手法の検討
藤野宏章, 御堂義博, 中前幸治
第37回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2017会議録 p. 41-46 2017年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
透過光画像からの幹細胞モニタリング手法の検討
有田亘佑, 御堂義博, 中前幸治
第37回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2017会議録 p. 25-30 2017年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
走査電子顕微鏡像からの機械学習を用いたミトコンドリア領域抽出
足立健太, 御堂義博, 中前幸治
第37回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2017会議録 p. 19-24 2017年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
Thermal behavior analysis of interconnect of Si semiconductor device with optical probed thermo-reflectance image mapping (OPTIM) and waveform (OPTW)
K. Endo, Y. Midoh, T. Nakamura, T. Matsumoto, K. Koshikawa, K. Nakamae
Proc. Advanced Metallization Conference 2017 (ADMETAPlus 2017) 2017年10月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
SEMシミュレーションとAI画像解析を用いた微細ラインパターン寸法計測の高精度化の検討
御堂義博, 井田知宏, 濱口 晶, 中前幸治
2017年10月 研究論文（その他学術会議資料等）
Comparison of wavelet-domain thresholding and hidden Markov tree model denoising on noisy electron hologram
Yoshihiro Midoh, Katsuyoshi Miura, Yasukazu Murakami, Koji Nakamae
The 43rd international conference on micro- and nanoengineering (MNE2017) 2017年9月 研究論文（その他学術会議資料等）
ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音低減(2)
御堂義博, 三浦克介, 村上恭和, 中前幸治
第78回応用物理学会秋季学術講演会予稿集 2017年9月 研究論文（その他学術会議資料等）
SEMシミュレーションとAI画像解析を用いた微細ラインパターン寸法計測の高精度化の検討
御堂義博, 飯田悠介, 濱口 晶, 井田知宏, 中前幸治
2017年7月 研究論文（その他学術会議資料等）
培養細胞の画像モニタリング技術に関する動向調査と研究
御堂義博
2017年7月 研究論文（その他学術会議資料等）
ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音低減
御堂義博, 三浦克介, 村上恭和, 中前幸治
第64回応用物理学会春季学術講演会予稿集 2017年3月 研究論文（その他学術会議資料等）
弛緩法を用いた電子線ホログラム像の干渉縞欠損修復
三浦克介, 御堂義博, 村上恭和, 中前幸治
第64回応用物理学会春季学術講演会予稿集 No. 14p-424-9 2017年3月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
細胞培養時スクリーニングのための細胞画像の自動領域分割法
御堂義博
2016年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
機械学習を用いた電子顕微鏡連続断面像からのミトコンドリア検出手法
足立 健太, 御堂 義博, 中前 幸治
第36回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 143-148 2016年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
細胞培養時スクリーニングのためのコロニー輪郭自動抽出手法
有田 亘佑, 御堂 義博, 中前 幸治
第36回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 137-141 2016年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
三次元電子顕微鏡像からの生体細胞構造認識のためのマルチクラス領域分割法の検討 (2)
堤 勇人, 御堂 義博, 中前 幸治
第36回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 131-135 2016年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
SEMシミュレーションとAI画像解析を用いた微細ラインパターン寸法計測の高精度化の検討
御堂 義博, 飯田悠介, 濱口 晶, 井田 知宏, 中前 幸治
第36回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 125-129 2016年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
畳み込みニューラルネットワークを用いた単一SEM画像高画質化
三宅 聡士, 御堂 義博, 中前 幸治
第36回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 119-124 2016年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
電顕画像からのミトコンドリアの自動抽出
御堂義博
2016年6月 研究論文（その他学術会議資料等）
自動・高速輪郭抽出による３次元像可視化ソフトウェア
御堂義博
2016年3月
三次元電子顕微鏡像からの生体細胞構造認識のためのマルチクラス領域分割法の検討
堤 勇人, 御堂義博, 中前幸治
第35回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 157-162 2015年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
電子線トモグラフィーのためのサポートベクトル回帰を用いたTEM動画像高解像度化手法
御堂義博, 三津屋陽介, 西 竜治, 中前幸治
第35回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 151-156 2015年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
連続ウェーブレット変換とマルコフ確率場を用いた単一SEM画像の学習型超解像度化
岡本直幸, 御堂義博, 中前幸治
第35回ナノテスティングシンポジウム会議録 p. 117-121 2015年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
トモグラフィー電子顕微鏡用ソフトウェアの活用・普及促進
御堂義博
2015年9月
縁膜帯電現象：シミュレーションと実験の比較
御堂義博
2015年1月 研究論文（その他学術会議資料等）
Line extraction method for SEM metrology by utilizing watershed algorithm and machine learning
K. Miura, Y. Midoh, Y. Toyoda, H. Ushiba, S. Shinoda, K. Nakamae
Proceedings of the 34th annual NANO Testing Symposium p. 189-194 2014年11月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
出版者・発行元：The Institute of NANO TestingPrediction of performance degradation and lifetime for semiconductor devices using markov chain model
K. Momoda, K. Endo, Y. Midoh, K. Miura, K. Nakamae
ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録 p. 235-240 2014年11月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測
桃田 快, 遠藤幸一, 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治
信学技報 Vol. 114 No. 314 p. 1-5 2014年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
非線形Total Variation に基づくTEM像の雑音低減法と電子線トモグラフィーへの応用
桃田快, 遠藤幸一, 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治
ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録 p. 235-240 2014年11月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
TEM 動画像を用いた電子線トモグラフィーの検討
三津屋陽介, 御堂義博, 西竜治, 中前幸治
ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録 p. 199-204 2014年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
離散コサイン変換を用いた単一SEM 画像の学習型超解像度化
御堂義博, 中前幸治
ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録 p. 195-198 2014年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
モンテカルロSEMシミュレーションを用いた帯電現象の研究
飯田悠介, 御堂義博, 濱口晶, 井田知宏, 阿部秀昭, 中前幸治
ナノテスティングシンポジウム/2014 会議録 p. 183-188 2014年11月 研究論文（その他学術会議資料等）
自己組織化リソグラフィにおける微細ラインパターン画像処理(I)
御堂義博, 三浦克介, 豊田康隆, 中前幸治
2014年9月 研究論文（その他学術会議資料等）
自己組織化リソグラフィにおける微細ラインパターン画像処理(I)
御堂義博, 三浦克介, 豊田康隆, 中前幸治
2014年9月 研究論文（その他学術会議資料等）
HawkC: computer-aided 3D visualization and analysis software for electron tomography
Y. Midoh, R. Nishi, M. N. Shirazi, Y. Kamakura, Y. Inoue, J. Miura, K. Nakamae
大阪大学超高圧電子顕微鏡センター年報 No. 43 p. 33-35 2014年9月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
出版者・発行元：大阪大学超高圧電子顕微鏡センター
絶縁膜帯電シミュレーションにおけるパラメータ依存性の検討
御堂義博
2014年8月
ソフトウェアの概要と活用事例の紹介
御堂義博
2014年7月 研究論文（大学，研究機関等紀要）
電子線トモグラフィー傾斜シリーズ画像の非線形Total Variationに基づく雑音除去の検討
御堂義博, 岡本直幸, 中前幸治
第61回応用物理学会春季学術講演会講演予稿集 2014年3月
絶縁膜二次電子放出シミュレーションにおける物性パラメータ依存性の検討
御堂義博
2014年2月
A shape-modification strategy of electron beam direct writing considering circuit performance in LSI interconnects
Y. Midoh, A. Osaki, K. Nakamae
Proc. SPIE Advanced Lithography Vol. 9049-68 2014年2月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
LSI SEM画像からの微細ラインパターン計測のためのNonlinear Total Variationに基づく雑音除去法を用いた統計的エッジ検出
御堂義博, 岡本直幸, 中前幸治
第33回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS) 会議録 p. 165-169 2013年11月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
超高圧電子顕微鏡を用いた半導体デバイス解析
工藤修一, 廣瀬幸範, 西竜治, 御堂義博, 服部信美, 小山徹, 中前幸治
第33回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS) 会議録 p. 225-230 2013年11月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
トモグラフィー電子顕微鏡用ソフトウェアの活用・普及促進
御堂義博
2013年9月
電子線照射による表面から放出された電子のエネルギースペクトル計算
御堂義博
2013年8月
電子線照射による表面から放出された電子のエネルギースペクトル計算
御堂義博
2013年8月 研究論文（大学，研究機関等紀要）
トモグラフィー電子顕微鏡用ソフトウェアHawkCの紹介
御堂 義博, 西 竜治, メディヌリシラジ, 鎌倉 快之, 井上 雄紀, 三浦 順一郎, 鷹岡 昭夫, 中前 幸治
2013年5月
電子線トモグラフィーにおけるアライメント手法の定量的評価
御堂義博, 中前幸治
2013年3月
A dose modification strategy of electron-beam directwriting considering TDDB reliability in LSI interconnects
Yoshihiro Midoh, Atsushi Osaka, Koji Nakamae
Vol. 8680 2013年2月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
テラヘルツ光放射を用いたLSI 故障解析
山下将嗣, 大谷知行, 松本徹, 御堂義博, 三浦克介, 二川 清, 中前幸治, 斗内政吉
砥粒加工学会誌 Vol. 56 No. 8 p. 523-526 2012年8月 研究論文（学術雑誌）
レーザーテラヘルツ放射顕微鏡の無バイアスLSI故障解析への応用
山下将嗣, 大谷知行, 松本徹, 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 二川清
2012年7月
レーザー励起 テラヘルツ波放射における多層配線の影響
山下将嗣, 大谷知行, 松本 徹, 御堂義博, 三浦克介, 二川 清, 中前幸治
2012年3月
The combinational or selective usage of the laser SQUID microscope, the non-bias laser terahertz emission microscope, and fault simulations in non-electrical-contact fault localization
Kiyoshi Nikawa, Masatsugu Yamashita, Toru Matsumoto, Katsuyoshi Miura, Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae
Microelectronics Reliability Vol. 51 No. 9-11 p. 1624-1631 2011年10月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Non-electrical-contact LSI failure analysis using non-bias laser terahertz emission microscope
Kiyoshi Nikawa, Masatsugu Yamashita, Toru Matsumoto, Chiko Otani, Masayoshi Tonouchi, Yoshihiro Midoh, Katsuyoshi Miura, Koji Nakamae
Proc. 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits 2011年7月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
THz emission characteristics from p/n junctions with metal lines under non-bias conditions for LSI failure analysis
M. Yamashita, O. Otani, T. Matsumoto, Y. Midoh, K. Miura, K. Nakamae, K. Nikawa, S. Kim, M. Murakami, M. Tonouchi
OPTICS EXPRESS Vol. 19 No. 11 p. 10864-10873 2011年5月 研究論文（学術雑誌）
LSI故障解析のためのレーザーテラヘルツエミッション顕微鏡THz波検出信号シミュレーション
御堂義博, 山下将嗣, 松本 徹, 二川 清, 中前幸治
第30回LSIテスティングシンポジウム会議録 p. A9-A14 2010年11月
試料傾斜角の異なる複数枚SEM 画像からの三次元形状計測
林 史也, 御堂義博, 中前幸治
第30 回LSIテスティングシンポジウム会議録 2010年11月
Non-bias inspection of electrical failures in LSI interconnects using LTEM prototype system
M. Yamashita, C. Otani, T. Matsumoto, Y. Midoh, K. Miura, K. Nikawa, K. Nakamae, M. Tonouchi
2010年9月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Determining Magnetic Field Close to Air-Bearing Surface by Projection Electron-Beam Tomography and Fourier Extrapolation
SHINADA Hiroyuki, MIDOH Yoshihiro, SHIMAKURA Tomokazu, NAKAMAE Koji
JCMSI : SICE journal of control, measurement, and system integration (SICE JCMSI) Vol. 3 No. 4 p. 223-228 2010年 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：
レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるLSI-TEG 観察II
山下将嗣, 大谷知行, 金鮮美, 村上博成, 斗内政吉, 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 二川清
第29 回LSI テスティングシンポジウム会議録 p. 343-348 2009年11月
Laser THz emission microscope as a novel tool for LSI failure analysis
Masatsugu Yamashita, Chiko Otani, Sunmi Kim, Hironaru Murakami, Masayoshi Tonouchi, Toru Matsumoto, Yoshihiro Midoh, Katsuyoshi Miura, Koji Nakamae, Kiyoshi Nikawa
MICROELECTRONICS RELIABILITY Vol. 49 No. 9-11 p. 1116-1126 2009年9月 研究論文（学術雑誌）
3D analysis of benign positional nystagmus due to cupulolithiasis in posterior semicircular canal
T. Imai, N. Takeda, M. Ito, K. Sekine, G. Sato, Y. Midoh, K. Nakamae, T. Kubo
Acta Oto-Laryngologica Vol. 129 No. 10 p. 1044-1049 2009年1月 研究論文（学術雑誌）
Development of an LTEM prototype system for LSI failure analysis
Masatsugu Yamashita, Chiko Otani, Sunmi Kim, Hironaru Murakmai, Masayoshi Tonouchi, Toru Matsumoto, Yoshihiro Midoh, Katsuyoshi Miura, Koji Nakamae, Kiyoshi Nikawa
2009 34TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON INFRARED, MILLIMETER, AND TERAHERTZ WAVES, VOLS 1 AND 2 p. 241-+ 2009年 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Development of automatic system on electron microscopic tomography for 3D medical examination
Akio Takaoka, Meng Cao, Yoshihiro Midoh, Tomoki Nishida, Toshiaki Hasegawa, Ryuji Nishi, Yuuki Inoue, Mitsuo Ogasawara
Korean Journal of Microscopy 2008年11月
Object size measurement method from noisy SEM images by utilizing scale space
Y. Midoh, K. Nakamae, H. Fujioka
Measurement Science and Technology Vol. vol. 18, no. 3. pp. 579-591 2007年3月 研究論文（学術雑誌）
Computer-assisted lesion detection system for stomach screening using stomach shape and appearance models
Y. Midoh, M. Nakamura, M. Takashima, K. Nakamae, H. Fujioka
Proc. SPIE: Medical Imaging Vol. 6514 2007年2月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Computer-assisted lesion detection system for stomach screening using stomach shape and appearance models
Y. Midoh, M. Nakamura, M. Takashima, K. Nakamae, H. Fujioka
Progress in Biomedical Optics and Imaging - Proceedings of SPIE Vol. 6514 No. 2 2007年 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Line edge roughness measurement of nanostructures in SEM metrology by using statistically matched wavelet
Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae, Hiromu Fujioka
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering Vol. 6763 2007年 研究論文（国際会議プロシーディングス）
A comparison of wavelet multiresolution analysis and scale-space edge detection for lithography metrology
Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae, Hiromu Fujioka
Proc. SPIE: Wavelet Applications in Industrial Processing IV Vol. vol. 6383 2006年10月 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Statistical optimization of Canny edge detector for measurement of fine line patterns in SEM image
Yoshihiro Midoh, Katsuyoshi Miura, Koji Nakamae, Hiromu Fujioka
Measurement Science and Technology Vol. 16 No. 2 p. 477-487 2005年 研究論文（学術雑誌）
出版者・発行元：Institute of Physics Publishing
Boundary extraction in the SEM cross section of LSI by multiple Gaussian filtering
Y Midoh, K Nakamae, H Fujioka
TWO- AND THREE - DIMENSIONAL VISION SYSTEMS FOR INSPECTION, CONTROL, AND METROLOGY II Vol. 5606 p. 169-178 2004年 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Fine structure measurement in the SEM cross section of LSI using the canny edge detector
Y Midoh, K Miura, K Nakamae, H Fujioka
MACHINE VISION APPLICATIONS IN INDUSTRIAL INSPECTION XI Vol. 5011 p. 190-199 2003年 研究論文（国際会議プロシーディングス）
Boundary extraction in the SEM cross section of LSI
K Nakamae, Y Midoh, K Miura, H Fujioka
INTELLIGENT ROBOTS AND COMPUTER VISION XX: ALGORITHMS, TECHNIQUES, AND ACTIVE VISION Vol. 4572 p. 451-458 2001年 研究論文（国際会議プロシーディングス）
ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音除去
御堂 義博, 中前 幸治, 品田 博之, 村上 恭和
顕微鏡 Vol. 55 No. 2 p. 53-59 2020年9月
深層学習を用いた信号画像解析と予測・異常検知への応用
御堂義博
日本信頼性学会2019年度第1 回フォーラム「人工知能（AI）技術の信頼性・安全性への活用と課題」 2019年10月
隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音除去
玉岡武泰, 山本和夫, 御堂義博, 谷垣俊明, 中村優男, 川崎雅司, 中前幸司, 村上恭和
日本顕微鏡学会第75 回学術講演会予稿集 2amG 14-11 2019年6月
低S/N電子線ホログラムのウェーブレット隠れマルコフデノイズにおける分散安定化の影響評価
御堂義博, 中前幸治
第79回応用物理学会秋季学術講演会 講演予稿集 2018年9月
深層学習を用いたSEM画像の高画質化
御堂義博, 中前幸治
次世代リソグラフィ技術研究会(NGL)ワークショップ2018 2018年7月
3次元電子線トモグラフィー法のための画像処理技術
御堂 義博, 中前 幸治
大阪大学超高圧電子顕微鏡センター年報 No. 42 p. 20-24 2013年
出版者・発行元：大阪大学超高圧電子顕微鏡センター
レーザSQUID顕微鏡, レーザテラヘルツ放射顕微鏡, 関連シミュレーションの統合的/選択的利用 : 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法
二川 清, 山下 将嗣, 松本 徹, 三浦 克介, 御堂 義博, 中前 幸治
電子情報通信学会技術研究報告. R, 信頼性 Vol. 111 No. 33 p. 1-6 2011年5月6日
出版者・発行元：一般社団法人電子情報通信学会
Three-dimensional reconstruction from microscope tilt-series images using object tracking based on particle filter
Yoshihiro Midoh, Fumiya Hayashi, Koji Nakamae
2010年9月
試料傾斜角の異なる複数枚SEM画像からのLSI 三次元形状推定
林 史也, 御堂義博, 中前幸治
2010年9月
レーザテラヘルツエミッション顕微鏡のLSI 故障解析への応用
松本徹, 山下将嗣, 大谷知行, 金鮮美, 村上博成, 斗内政吉, 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 二川清
2010年3月
LTEMによるLSI故障解析のためのTHz 波シミュレーション(II)
御堂義博, 山下将嗣, 松本徹, 斗内政吉, 二川清, 中前幸治
2010年3月
Evaluation of maskless electron-beam direct writingwith double character projection apertures
Y. Midoh, T. Terasaka, K. Nakamae
Proc. SPIE Vol. 7637 2010年2月
電子顕微鏡トモグラフィのためのマーカーフリーアライメント手法の検討
2010年
Three-dimensional reconstruction from microscope tilt-series images using object tracking based on particle filter
2010年
A study of marker-free alignment for electron tomography by trifocal geometry
2010年
LSI故障解析の新手法―レーザSQUID 法とレーザテラヘルツ法の複合的利用：外部電力・外部信号不用な電気的解析法―
二川清, 山下将嗣, 大谷知行, 斗内政吉, 村上博成, 金鮮美, 中前幸治, 三浦克介, 御堂義博, 松本徹, 青木芳充, 井上彰二, 永石竜起, 酒井哲哉
クリーンテクノロジー Vol. 12 2009年12月
出版者・発行元：日本工業出版複数低解像度SEM画像からの高解像度化を用いた欠陥検査の評価
御堂義博, 高島真彦, 中前幸治
2009年11月
二段キャラクタプロジェクションマスクレス電子ビーム直接描画方式の検討
寺坂豪泰, 御堂義博, 中前幸治
2009年11月
Novel electrical failure analysis tools for LSI chips: non-bias and non-signal-application
K. Nikawa, M. Yamashita, C. Otani, M. Tonouchi, H. Murakami, S. Kim, K. Nakamae, K. Miura, Y.Midoh, T. Matsumoto, Y. Aoki, T. Nagaishi, S. Inoue, T. Sakai
2009年10月
Laser terahertz emission microscope for inspecting interconnect defects in semiconductor devices
Masatsugu Yamashita, Chiko Otani, Sunmi Kim, Hironaru Murakami, Masayoshi Tonouchi, Toru Matsumoto, Yoshihiro Midoh, Katsuyoshi Miura, Koji Nakamae, Kiyoshi Nikawa
2009年10月
LSI故障解析用LTEMプロトタイプ装置の開発
山下将嗣, 大谷知行, 金鮮美, 村上博成, 斗内政吉, 松本徹, 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 二川清
2009年9月
LSI故障解析用レーザーテラヘルツ放射顕微鏡プロトタイプ装置の開発
山下将嗣, 大谷知行, 金鮮美, 村上博成, 斗内政吉, 松本徹, 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 二川清
2009年5月
新しい眼球運動解析システム（２）
2009年
複数低解像度SEM画像からの高解像度化を用いた欠陥検査の評価
2009年
Laser terahertz emission microscope for inspecting interconnect defects in semiconductor devices
2009年
二段キャラクタプロジェクションマスクレス電子ビーム直接描画方式の検討
2009年
Novel electrical failure analysis tools for LSI chips: non-bias and non-signal-application
2009年
オンラインSEM形状計測・欠陥検査のための観測画像アライメント
高島真彦, 御堂義博, 中前幸治
2008年11月
新しい眼球運動解析システム
今井貴夫, 御堂義博, 関根和教, 佐藤 豪, 中前幸治, 武田憲昭
2008年10月
LTEMによるLSI 故障解析のためのTHz波シミュレーション
御堂義博, 中前幸治, 山下将嗣, 斗内政吉, 二川 清
2008年9月
SIFT特徴量を用いた電子顕微鏡トモグラフィ自動化の検討
御堂義博, 高島真彦, 鷹岡昭夫, 西 竜治, 中前幸治
2008年9月
Defect inspection using a high-resolution pattern image obtained from multiple low-resolution images of the same pattern on an observed noisy SEM image
Masahiko Takashima, Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae
Proceedings of SPIE Vol. 6922 No. 1-2 2008年5月
オンラインSEM形状計測・欠陥検査のための観測画像アライメント
2008年
平衡神経・眼球運動シミュレータを用いた良性発作性頭位めまい症の治療支援
吉村昌悟, 御堂義博, 中前幸治, 今井貴夫, 関根和教, 武田憲昭
FIT2007 第6 回情報科学技術フォーラム No. G-023 2007年9月
SEM画像におけるLSI微細構造計測のためのスケールスペース理論を用いた境界抽出
御堂義博, 中前幸治, 藤岡 弘
電子情報通信学会2006 年総合大会 Vol. D-11-127 2006年3月
D-11-118 LSI断面SEM観測画像における多重ガウシアンフィルタリングによる境界抽出(D-11. 画像工学D(画像処理・計測), 情報・システム2)
御堂 義博, 中前 幸治, 藤岡 弘
電子情報通信学会総合大会講演論文集 Vol. 2005 No. 2 p. 118-118 2005年3月7日
出版者・発行元：一般社団法人電子情報通信学会
LSI断面SEM観測画像の微細形状計測アルゴリズム
御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 藤岡 弘
2002年電子情報通信学会総合大会 Vol. C-12-4, p. 86 2002年
日本学術振興会研究開発専門委員会 自律型・複合型AI先端計測の新しい価値創造 研究成果報告書
2021年3月
立体像可視化ソフトウェア「HawkC」の開発
御堂義博
エヌ・ティー・エス 2015年5月 学術書
ISBN: 9784860434281
高加速SEMのシースルーBSE画像のための高度なパターン輪郭抽出機能
大家 政洋, 岡本 陽介, 中澤 伸一, 丸山 浩太郎, 山崎 裕一郎, 村上 慎治, 御堂義 博, 三浦 典之
NGLワークショップ2025 2025年7月4日
SEM画像生成AIを用いた半導体パターン寸法計測
中道翔太, 御堂義博, 淺野修一朗, 塩見 準, 三浦典之
第81回日本顕微鏡学会学術講演会 2025年6月9日
バイオテクノロジー分野における日米の研究開発投資と動向解析
芹澤 覚子, 御堂 義博, 岡本 和也
第74回日本経営システム学会全国研究発表大会 2025年5月31日
Lip2ja: 口唇映像による日本語の発話
御堂 義博, 北山 一樹, 細川 清人, 猪原 秀典, 三浦 典之
第75回日本気管食道科学会総会ならびに学術講演会 2024年10月15日
知的財産情報からの先端フォトレジストの技術遷移特性
綿引 康介, 御堂 義博, 岡本 和也
第85回応用物理学会秋季学術講演会 2024年9月17日
RGB-Dカメラを⽤いた⾮接触・⾮拘束な喉頭運動計測法による嚥下機能評価
大西智也, 御堂義博, 塩見 準, 弓場 徹, 三浦典之
生体医工学シンポジウム2024 2024年9月14日
電子線ホログラフィーによるNd磁石の解析と隠れマルコフモデルによるノイズ除去
Lee Sujin, 御堂義博, 富田雄人, 玉岡武泰, 阿内三成, 村上 恭和
第80回日本顕微鏡学会学術講演会 2024年6月5日
高加速SEM画像を用いた半導体多層構造からのパターン計測が可能な輪郭抽出法
村上慎治, 大家政洋, 岡本陽介, 中澤伸一, 丸山浩太郎, 山崎裕一郎, 御堂義博, 三浦 典之
第80回日本顕微鏡学会学術講演会 2024年6月5日
機械読唇による自然な日本語の発話を目指して
御堂義博, 伊勢拓真, 北山一樹, 細川清人, 猪原秀典, 三浦典之
第125回日本耳鼻咽喉科頭頸部外科学会総会・学術講演会 2024年5月18日
計測システムとAI 活用 - 最先端計測の世界におけるAI の活用性について
御堂義博
AI 活用型システム創成委員会・記念シンポジウム2024 2024年3月25日
高加速SEMのシースルーBSE画像における高度な下層パターン輪郭抽出機能開発
大家政洋, 岡本陽介, 中澤伸一, 丸山浩太郎, 山崎裕一郎, 村上 慎治, 御堂義博, 三浦典之
次世代リソグラフィ技術研究会第1回定例会 2024年2月8日
先端半導体材料における 特許請求項の内容変動に関する一考察
綿引康介, 御堂義博, 岡本和也
第71回 日本経営システム学会 全国研究発表大会 2023年11月18日
原子分解能・ホログラフィー電子顕微鏡によるTiO2担体上Ptナノ粒子の電荷量解析
谷垣俊明, 麻生亮太郎, 北條元, 高橋由夫, 明石哲也, 御堂義博, 市橋史朗, 中島宏, 玉岡武泰, 湯葢邦夫, 中西寛, 永長久寛, 品田博之, 村上恭和
第132回触媒討論会 2023年9月13日
Noise reduction in electron holograms by using wavelet hidden Markov model
Yuto Tomita, Yoshihiro Midoh, Takehiro Tamaoka, Yasukazu Murakami
20th International Microscopy Congress (IMC20) 2023年9月11日
Analysis of the charge state in a catalyst nanoparticle using electron holography
Ryotaro Aso, Hajime Hojo, Yoshio Takahashi, Tetsuya Akashi, Yoshihiro Midoh, Fumiaki Ichihashi, Hiroshi Nakajima, Takehiro Tamaoka, Kunio Yubuta, Hiroshi Nakanishi, Hisahiro Einaga, Toshiaki Tanigaki, Hiroyuki Shinada, Yasukazu Murakami
20th International Microscopy Congress (IMC20) 2023年9月11日
電子線ホログラフィーの高感度化に向けた要素技術開発と触媒研究への応用
村上恭和, 麻生 亮太郎, 高橋由夫, 明石哲也, 市橋史朗, 品田博之, 谷垣俊明, 御堂義博
第79回日本顕微鏡学会学術講演会 2023年6月26日
ウェーブレット隠れマルコフモデルによる低ドーズホログラムのノイズ除去
富田雄人, 玉岡武泰, 御堂 義博, 村上恭和
第79回日本顕微鏡学会学術講演会 2023年6月28日
YUBA メソッド誤嚥防止ノド体操とその効用
弓場 徹, 御堂義博
第124回 日本耳鼻咽喉科頭頸部外科学会 学術講演会 2023年5月18日
胎動回路のPUF応用
成瀬厚太郎, 上田貴之, 塩見準, 御堂義博, 三浦典之
LSIとシステムのワークショップ2023 2023年5月9日
高感度電子線ホログラフィーによる金属ナノ粒子触媒の電荷計測
麻生 亮太郎, 北條 元, 高橋 由夫, 明石 哲也, 御堂 義博, 市橋 史朗, 中島 宏, 玉岡 武泰, 湯葢 邦夫, 中西 寛, 永長 久寛, 谷垣 俊明, 品田 博之, 村上 恭和
2022年度超高分解能顕微鏡法分科会研究討論会 2023年3月3日
先端半導体材料における情報開示特性と収益性
綿引康介, 御堂義博, 岡本和也
第69回 日本経営システム学会 全国研究発表大会 2022年10月1日
先端半導体材料・SDGsにおける 特許情報開示に関する一考察
綿引康介, 御堂義博, 岡本和也
日本経営システム学会 2022年5月21日
雑音低減のための深層学習技術の研究動向
御堂義博
顕微鏡計測インフォマティクス研究部会 第3回研究会 2021年12月11日
雑音低減による電子線ホログラフィーの位相精度向上
御堂義博, 中前幸治
第77回日本顕微鏡学会学術講演会 2021年6月16日
ウェーブレット隠れマルコフモデルを用いた電子線ホログラムの雑音除去
御堂 義博
顕微鏡計測インフォマティックス 第2回研究会 2021年1月23日
計測学における機械学習・深層学習の応用展開
御堂義博
第40回ナノテスティングシンポジウム 2020年11月18日
電子線ホログラムとそのフーリエ平面画像にウェーブレット隠れマル コフデノイズを適用した場合の位相再構成比較
御堂義博, 中前幸治
第67回応用物理学会春季学術講演会 講演予稿集 2020年3月
電子線ホログラムの干渉縞欠損箇所修復による位相特異点低減手法
三浦克介, 御堂義博, 村上恭和, 中前幸治
第39回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2019会議録 2019年11月
深層学習を用いた定量位相顕微鏡像からの培養脂肪細胞 の状態予測
谷河駿, 御堂義博, 中前幸治
第39回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2019会議録 2019年11月
深層学習を用いた説明可能な時系列データ予測に関する研究
篠田京介, 御堂義博, 中前幸治
第39回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2019会議録 2019年11月
Performance improvement in dual-tree complex wavelet-based denoising by redesigning the first-scale filters
Y. Midoh, K. Nakamae
第39回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2019会議録 2019年11月
深層学習を用いたSEM シミュレーション条件最適化手法の検討
岩本航, 御堂義博, 中前幸治
第39回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2019会議録 2019年11月
深層学習を用いた信号画像解析と予測・異常検知への応用
御堂義博
2019年10月
電子線ホログラムに対するDual-tree 複素数ウェーブレット隠れマルコフデノイズにおける初段フィルタの影響評価
御堂義博, 中前幸治
第80回応用物理学会秋季学術講演会 講演予稿集 2019年9月
Image quality enhancement of a CD-SEM image using conditional generative adversarial networks
Y. Midoh, K. Nakamae
2019年2月
Image quality enhancement of a CD-SEM image using conditional generative adversarial networks
Y. Midoh, K. Nakamae
第38回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2018会議録 2019年2月
深層学習を用いた透過光画像からの細胞核自動抽出
有田亘佑, 御堂義博, 中前幸治
第38回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2018会議録 2018年11月
細胞モニタリングのための定量位相顕微鏡像の位相アンラッピング
谷河 駿, 御堂義博, 中前幸治
第38回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2018会議録 2018年11月
Effect of variance stabilization on denoising of low SNR fringe patterns using wavelet hidden markov models
Y. Midoh, K. Nakamae
第38回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2018会議録 2018年11月
走査電子顕微鏡像からの機械学習を用いたミトコンドリア 領域抽出(2)
足立健太, 御堂義博, 中前幸治
第38回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2018会議録 2018年11月
深層学習の概要と多能性幹細胞透過光像への適用事例
御堂義博
2018年10月
Noise reduction in electron hologram by using dual-tree complex wavelet transform and hidden Markov tree models
Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae
19th International Microscopy Congress (IMC19) 2018年9月
Effect of variance stabilization on denoising in electron hologram by wavelet hidden Markov models
Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae
The 44rd international conference on micro- and nanoengineering (MNE2018) 2018年9月
Wavelet hidden Markov model denoising for electron holography
Yoshihiro Midoh
2022年10月14日 ～ 継続中
トモグラフィー電子顕微鏡用のソフトウェア
御堂義博, 西竜治, 鎌倉快之, 井上雄紀, メディ・ヌリ・シラジ, 三浦順一郎
2015年9月2日 ～ 2015年9月3日
めまい診断のための眼球運動解析システム
御堂義博, 今井貴夫, 関根和教, 武田憲昭, 猪原秀典, 中前幸治
2009年11月25日 ～ 2009年11月29日
実用化へ挑戦を続ける「読唇アプリ」研究とは？
株式会社あいらいふ
2025年7月31日
触媒反応場の電荷ゆらぎ観察
科学新聞社
2025年7月18日
触媒ナノ粒子の電荷のゆらぎを捉える
ResOU
2025年7月
患者の「声」取り戻すＡＩアプリ開発、口の動きから本人そっくりに
読売新聞オンライン
2024年11月26日
声取り戻すAIアプリ
2024年11月26日
“無断生成AI”に声優らが「NO」 その一方で…がんで失った声、“AIで取り戻す”技術も
日本テレビ
2024年11月13日
AI読唇アプリ使い病気で失った声がよみがえる 阪大が成果
科学新聞
2024年10月25日
大阪大がAIアプリ 唇の動きで発話推定、声失った人支援
2024年10月
唇の動きで発話推定、声失った人向けAIアプリ
日本経済新聞Web
2024年10月
ナノテスティングシンポジウム
ナノテスティング学会
2021年10月25日 ～ 2021年10月27日
ナノテスティングシンポジウム
ナノテスティング学会
2020年11月 ～
ナノテスティングシンポジウム
ナノテスティング学会
2019年11月 ～
ナノテスティングシンポジウム
ナノテスティング学会
2018年11月 ～
ナノテスティングシンポジウム
ナノテスティング学会
2017年11月 ～
ナノテスティングシンポジウム
ナノテスティング学会
2016年11月 ～
ナノテスティングシンポジウム
ナノテスティング学会
2015年11月 ～
ナノテスティングシンポジウム
ナノテスティング学会
2014年11月 ～
ナノテスティングシンポジウム
ナノテスティング学会
2013年11月 ～
LSIテスティングシンポジウム
LSIテスティング学会
2012年11月 ～
LSIテスティングシンポジウム
LSIテスティング学会
2011年11月 ～
LSIテスティングシンポジウム
LSIテスティング学会
2010年11月 ～
LSIテスティングシンポジウム
LSIテスティング学会
2009年11月 ～
LSIテスティングシンポジウム
LSIテスティング学会
2008年11月 ～
SEMを用いたLSI微細構造計測のための統計的画像処理法に関する研究
御堂 義博
