グラフェン層での電子回折を利用したGraphene-Insulator-Semiconductor構造電子源の研究

小市崇央, 河嶋祥吾, 三宅広士, 阿保智, 若家冨士男, 長尾昌善, 村上勝久

電子情報通信学会 電子デバイス研究会　2024年12月

高電界印加された層状絶縁体における電子透過率のエネルギー依存性

河嶋祥吾, 小市崇央, 阿保智, 若家冨士男, 長尾昌善, 村上勝久

電子情報通信学会 電子デバイス研究会　2024年12月

Numerical Calculation of Particle Trajectory and Scattering in Small Neutron Source Using Pyroelectric Crystal

Satoshi Abo, Fuma Oue, Tomoaki Masuzawa, Hidenori Mimura, Fujio Wakaya

The 9th International Symposium on Biomedical Engineering　2024年12月

Resistivity measurement for non-magnetic material using high-order resonance mode of MFM cantilever oscillation

Kazuma Okamoto, Takumi Imura, Satoshi Abo, Fujio Wakaya, Katuhisa Murakami, Masayoshi Nagao

37th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2024)　2024年11月

電界印加された層状絶縁体における入射電子の干渉効果

河島祥吾, 小市崇央, 阿保智, 若家冨士男, 長尾昌善, 村上勝久

第85回応用物理学会秋季学術講演会　2024年9月

Graphene-Insulator-Semiconductor構造電子源中の単層および多層グラフェンでの電子回折を利用した単色性の向上

小市崇央, 河嶋祥吾, 三宅広士, 阿保智, 若家冨士男, 長尾昌善, 村上勝久

第85回応用物理学会秋季学術講演会　2024年9月

レーザー照射焦電結晶を用いた高強度小型中性子源設計のためのシミュレータ開発

大上楓真, 阿保智, 若家冨士男, 増澤智昭, 三村秀典

第85回応用物理学会秋季学術講演会　2024年9月

磁気力顕微鏡を用いた非磁性体抵抗率計測の試料加振による感度の向上

岡本一真, 大徳慎也, 居村拓弥, 若家冨士男, 阿保智, 村上勝久, 長尾昌善

第85回応用物理学会秋季学術講演会　2024年9月

Enhancement in anomalous Hall conductivity of epitaxial Co2MnGa films induced by Fermi level tuning

S. Yamada, S. Nagata, K. Yamauchi, T. Usami, S. Abo, T. Oguchi, K. Hamaya

The 23rd International Conference on Molecular Beam Epitaxy (ICMBE2024)　2024年9月

Low-temperature growth of perpendicularly magnetized MnGa thin films on MgO(001) substrate using molecular beam epitaxy

T. Usami, T. Kiire, Y. Shiratuchi, S. Abo, R. Nakatani, K. Hamaya

The 23rd International Conference on Molecular Beam Epitaxy (ICMBE2024)　2024年9月

Graphene-Insulator-Semiconductor 構造電子源中のグラフェン層での電子回折を利用した単色性の向上

小市崇央, 河島祥吾, 阿保智, 若家冨士男, 長尾昌善, 村上勝久

第71回応用物理学会春季学術講演会　2024年3月

磁気力顕微鏡の高次振動モードを用いた非磁性体抵抗率計測

岡本一真, 居村拓弥, 阿保智, 若家冨士男, 村上勝久, 長尾昌善

第71回応用物理学会春季学術講演会　2024年3月

Si置換Co2MnGa薄膜における異常ホール効果

長田聖海, 山田晋也, 山内邦彦, 宇佐見喬政, 阿保智, 小口多美夫, 浜屋宏平

「スピントロニクス学術研究基盤と連携ネットワーク（Spin-RNJ）」シンポジウム　2024年3月

Graphene-Insulator-Semiconductor構造電子源における多重反射の効果

小市崇央, 河嶋祥吾, 阿保智, 若家冨士男, 長尾昌善, 村上勝久

電子情報通信学会 電子デバイス研究会　2023年12月

焦電結晶を用いた中性子源の中性子発生数の重水素ガス圧力依存性

大上楓真, 野見山大地, 一柳翔馬, 阿保智, 若家冨士男

第33回日本MRS年次大会　2023年11月

飛行時間型ラザフォード後方散乱法と弾性反跳粒子検出法の同時計測

阿保智, 若家冨士男

第33回日本MRS年次大会　2023年11月

Three-Dimensional Elemental Analysis Using Time-of-Flight Rutherford Backscattering Spectrometry and Elastic Recoil Detection Simultaneous Measurements

Satoshi Abo, Fujio Wakaya

26th International Conference on Ion Beam Analysis　2023年10月

Development of fingertip-sized miniature x-ray source using laser heated pyroelectric crystal

Satoshi Abo, Takahiro Uezato, Fujio Wakaya

The 14th International Vacuum Electron Sources Conference (IVESC2023)　2023年9月

Simulation of electron transmission through graphene with inelastic scattering

Takao Koichi, Shogo Kawashima, Satoshi Abo, Fujio Wakaya, Masayoshi Nagao, Katsuhisa Murakami

The 14th International Vacuum Electron Sources Conference (IVESC2023)　2023年9月

Graphene-Insulator-Semiconductor 構造電子源におけるエネルギーフィルタ効果

小市崇央, 河島祥吾, 阿保智, 若家冨士男, 長尾昌善, 村上勝久

第84回応用物理学会秋季学術講演会　2023年9月

磁気力顕微鏡を用いた非磁性金属検出におけるプローブ振動位相の解析解

若家冨士男, 西出昂雅, 阿保智, 岩渕修一, 金井友希美, 村上勝久, 長尾昌善

第70回応用物理学会春季学術講演会　2023年3月

GIS構造電子源におけるグラフェンの電子透過のシミュレーション

若家冨士男, 寺門大地, 河嶋祥吾, 阿保智, 長尾昌善, 村上勝久

電子情報通信学会 電子デバイス研究会　2022年12月

Development of neutron source using laser heated pyroelectric crystal

S. Abo, F. Wakaya, T. Masuzawa, H. Mimura

32nd Annual Meeting of MRS-J　2022年12月

Development of Miniature X-ray and Neutron Sources using Pyroelectric Crystal Heated by Laser Light

Satoshi Abo, Fujio Wakaya, Tomoaki Masuzawa, Hidenori Mimura

The 7th International Symoposium on Biomedical Engineering (ISBE2022)　2022年11月

Graphene-Insulator-Semiconductor 電子源の電子放出特性のシミュレーション

若家冨士男, 寺門大地, 阿保智, 長尾昌善, 村上勝久

第69回応用物理学会春季学術講演会　2022年3月

レーザ加熱焦電結晶を用いたポータブルX線源・中性子源の開発

阿保智, 若家冨士男, 増澤智昭, 三村秀典, 高井幹夫

第69回応用物理学会春季学術講演会　2022年3月

強誘電体基板上の高配向V3Si薄膜成長

浅尾拓斗, 山田道洋, 白土優, 阿保智, 真砂啓, 中谷亮一, 小口多美夫, 浜屋宏平

第82回応用物理学会秋季学術講演会　2021年9月

膜厚および結晶性に対するグラフェン歪感度の依存性

武内勇人, 若家冨士男, 阿保智, 村上勝久, 長尾昌善

第68回応用物理学会春季学術講演会　2021年3月

Lateral Charge Distribution in Si by High-Energy Ion Incidence

Satoshi Abo, Kenichi Tani, Fujio Wakaya, Shinobu Onoda

30th Annual Meeting of MRS-J　2020年12月

Ge基板のヨウ素溶液処理による表面エッチング

森悠, 濱地 威明, 阿保 智, 酒井 朗, 金島 岳

第81回応用物理学会秋季学術講演会　2020年9月

赤外レーザ加熱焦電結晶を用いた中性子源の開発

阿保智, 野見山大地, 若家冨士男

第81回応用物理学会秋季学術講演会　2020年9月

磁気力顕微鏡を用いた絶縁体中に埋もれた非磁性金属の検出

若家冨士男, 大澤謙太, 坂本瑞樹, 阿保智, 村上勝久, 長尾昌善

第81回応用物理学会秋季学術講演会　2020年9月

磁気力顕微鏡を用いた絶縁体中の三次元構造可視化

大澤謙太, 若家冨士男, 阿保智, 村上勝久, 長尾昌善

第67回応用物理学会春季学術講演会　2020年3月

イオン散乱法を用いた非破壊三次元元素分析技術

阿保 智, 若家 冨士男, 高井 幹夫

日本学術振興会 第158委員会 第131回研究会　2020年3月

Nondestructive analysis technique by ion scattering spectroscopy using 150 kV FIB

阿保 智

29th Annual Meeting of MRS-J　2019年11月

Self-Sensing Cantilever Using Graphene Strain Sensor

Y. Takeuchi, F. Wakaya, S. Abo, K. Murakami, M. Nagao

International Symposium for Nano Science　2019年11月

Membrane break process in atomic force microscopy

Fujio Wakaya, Hiroyuki Ishihara, Katsuhisa Murakami, Masayoshi Nagao, Yuji Miyato, Hayato Yamashita, Satoshi Abo, Masayuki Abe

The 4th International Symposium on Biomedical Engineering　2019年11月

Development of ToF-RBS and -ERDA simultaneous measurements with 150 kV FIB

Satoshi Abo, Takuya Fujimoto, Fujio Wakaya

24th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2019)　2019年10月

酸化物基板上のCo2FeSiおよびCo2MnSi薄膜の成長形態の違い

工藤康平, 濱崎恭考, 山田晋也, 阿保智, 合田義弘, 浜屋宏平

第43回日本磁気学会学術講演会　2019年9月

集束イオンビーム装置でのToF-RBSとERDAの同時計測法の開発

阿保智, 藤元拓哉, 若家冨士男

第80回応用物理学会秋季学術講演会　2019年9月

グラフェン歪センサーを用いた自己検出型カンチレバー

武内 勇人, 若家 冨士男, 阿保 智, 村上 勝久, 長尾 昌善

第80回応用物理学会秋季学術講演会　2019年9月

原子間力顕微鏡法における薄膜破壊プロセスの解析(Ⅱ)

石原浩行, 若家冨士男, 村上勝久, 長尾昌善, 宮戸祐治, 山下隼人, 阿保智, 阿部真之

第66回応用物理学会春季学術講演会　2019年3月

高エネルギーイオン入射によるSi での生成電荷分布計測 (II)

阿保智, 谷健一, 若家冨士男, 小野田忍, 山下隼人, 宮戸祐治, 阿部真之

第66回応用物理学会春季学術講演会　2019年3月

Si置換したFe2VAlエピタキシャル薄膜の熱伝導率

工藤康平, 山田晋也, 近田尋一朗, 嶋貫雄太, 石部貴史, 阿保智, 宮崎秀俊, 西野洋一, 中村芳明, 浜屋宏平

第66回応用物理学会春季学術講演会　2019年3月

シングルイベント飛行時間型ラザフォード後方散乱法を用いた非破壊三次元元素分析技術の開発

阿保 智

日本学術振興会 第132委員会 第233回研究会　2018年12月

Transition of Surface Structure from (1×1) to (1×2) of Rutile TiO2(110)

S. Ojima, D. Katsube, H. Yamashita, Y. Miyato, S. Abo, M. Abe

14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces Interfaces and Nanostructures (CSIN14) in conjunction with 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26)　2018年10月

Cleaning SrTiO3(100) surface for spin device processes

M. Maeda, D. Katsube, S. Abo, Y. Miyato, H. Yamashita, S. Yamada, K. Hamaya, M. Abe

14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces Interfaces and Nanostructures (CSIN14) in conjunction with 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26)　2018年10月

ルチル型TiO2(110)表面における(1x1)構造から(1x2)構造への構造遷移観察

尾島章輝, 勝部大樹, 宮戸祐治, 山下隼人, 阿保智, 阿部真之

第79回応用物理学会秋季学術講演会　2018年9月

原子間力顕微鏡法における薄膜破壊プロセスの解析

石原浩行, 若家冨士男, 村上勝久, 長尾昌善, 宮戸祐治, 山下隼人, 阿保智, 阿部真之

第79回応用物理学会秋季学術講演会　2018年9月

Measurement of charge distribution in silicon generated by high energy ion incidence

Satoshi Abo, Kenichi Tani, Fujio Wakaya, Shinobu Onoda, Yuji Miyato, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

22nd International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2018)　2018年9月

Development of combined system of pulsed laser deposition and non-contact atomic force microscopy and imaging of anatase-TiO2(001) (1×4) reconstruction surface,

D. Katsube, H. Yamashita, S. Abo, F. Wakaya, M. Abe

20th International Vacuum Congress (IVC-20)　2016年8月

Simulation of Electron Emission from Laser-Irradiated Pyroelectric Crystal

Tenta Komatsu, Satoshi Abo, Fujio Wakaya, Mikio Takai, Tomoaki Masuzawa, Hidenori Mimura

31st International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2018)　2018年7月

Tertiary Electrons in Single-Event Time-of-Flight Backscattering Spectrometry

S. Abo, A. Seidl, F. Wakaya, M. Takai

16th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications　2018年7月

レーザー照射された焦電結晶の電子放出のシミュレーション

小松天太, 若家冨士男, 阿保智, 高井幹夫, 増澤智昭, 三村秀典

第65回応用物理学会春季学術講演会　2018年3月

非接触原子間力顕微鏡を用いたルチル型TiO2(110) (1×2)再構成表面の原子分解能観察

尾島章輝, 勝部大樹, 宮戸祐治, 山下隼人, 阿保智, 阿部真之

第65回応用物理学会春季学術講演会　2018年3月

電子ビーム誘起堆積 Pt を用いた自己検出型カンチレバーの変位感度

樫田健太, 若家冨士男, 村上勝久, 山下隼人, 宮戸祐治, 阿保智, 阿部真之

第65回応用物理学会春季学術講演会　2018年3月

Development of in-vitro experiment system of magnetic hyperthermia

Y. Shiode, H. Yamashita, K. Fujiwara, T. Ide, S. Abo, Y. Miyato, Y. Ichiyanagi, M. Abe

International Symposium on Nanomedicine 2017　2017年12月

Imaging contrasts of anatase-TiO2(001)(1×4) surface using non-contact atomic force microscopy

Daiki Katsube, Yuji Miyato, Hayato Yamashita, Satoshi Abo, Masayuki Abe

11th International Symposium on Atomic Level Characterization for New Materials and Devices ’17 (ALC’17)　2017年12月

Development of in-vitro experiment system of magnetic hyperthermia

Y. Shiode, H. Yamashita, K. Fujiwara, T. Ide, S. Abo, Y. Miyato, Y. Ichiyanagi, M. Abe

The Irago Conference 2017 Interdisciplinary Research and Global Outlook　2017年11月

Simulation of fine focus time-of-flight RBS using TRIM backscattering data

A. Seidl, S. Abo, M. Takai

The 23rd International Conference on Ion Beam Analysis　2017年10月

パルレーザー堆積/非接触原子間力顕微鏡複合装置によるLaAlO3(100)表面の原子分解能観察

勝部大樹, 山下隼人, 宮戸祐治, 阿保智, 阿部真之

日本金属学会2017秋季講演大会　2017年9月

非接触原子間力顕微鏡によるアナターゼ型TiO2(001)のイメージングコントラスト

勝部大樹, 宮戸祐治, 山下隼人, 阿保智, 阿部真之

第78回応用物理学会秋季学術講演会　2017年9月

ガラスキャピラリを用いた大気中粒子線励起X線放出

柴田悠宇, 井澤和哉, 阿保智, 若家冨士男, 山下隼人, 阿部真之

第78回応用物理学会秋季学術講演会　2017年9月

高エネルギーイオン入射によるSiでの生成電荷分布計測

谷健一, 阿保智, 若家冨士男, 小野田忍, 山下隼人, 宮戸祐治, 阿部真之

第78回応用物理学会秋季学術講演会　2017年9月

高速原子間力顕微鏡計測における温度制御デバイスの開発

加藤恭介, 山下隼人, 阿保智, 宮戸祐治, 阿部真之

第78回応用物理学会秋季学術講演会　2017年9月

電子ビーム誘起堆積Ptを用いた自己検出型カンチレバーの開発

樫田健汰, 若家冨士男, 山下隼人, 宮戸祐治, 阿保智, 阿部真之

第78回応用物理学会秋季学術講演会　2017年9月

パルスレーザー堆積/非接触原子間力顕微鏡複合装置によるLaAlO3(100)表面の観察

勝部大樹, 山下隼人, 阿保智, 若家冨士男, 阿部真之

第64回応用物理学会春季学術講演会　2017年3月

非接触原子間力顕微鏡によるアナターゼ型TiO2(001)表面の研究

勝部大樹, 宮戸祐治, 山下隼人, 阿保智, 阿部真之

第8回真空・表面科学若手研究会　2017年10月

Effect of tertiary electrons in single event time-of-flight Rutherford backscattering spectrometry

S. Abo, A. Seidl, F. Wakaya, M. Abe, M. Takai

The 29th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC 2016)　2016年11月

Development of Combined System of Pulsed Laser Deposition and Non-Contact Atomic Force Microscopy and High Resolution Imaging of Anatase-TiO2(001) Reconstructed Surface

D. Katsube, H. Yamashita, S. Abo, F. Wakaya, M. Abe

The 29th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC 2016)　2016年11月

アナターゼ型TiO2(001)表面の非接触原子間力顕微鏡測定

勝部大樹, 山下隼人, 阿保智, 若家冨士男, 阿部真之

第159回日本金属学会講演会　2016年9月

アナターゼ型TiO2(001)表面のフォースカーブ測定

勝部大樹, 山下隼人, 阿保智, 若家冨士男, 阿部真之

第77回応用物理学会秋季学術講演会　2016年9月

パルスレーザー堆積/非接触原子間力顕微鏡複合装置の開発とアナターゼ型TiO2(001)表面の高分解能測定

勝部大樹, 山下隼人, 阿保智, 若家冨士男, 阿部真之

第63回応用物理学会春季学術講演会　2016年3月

パルスレーザー堆積/原子間力顕微鏡複合装置の開発とアナターゼ型TiO2(001)表面の観察

勝部大樹, 山下隼人, 阿保智, 若家冨士男, 阿部真之

第11回日本表面科学会放射光科学研究部会・顕微ナノ材料科学研究会合同シンポジウム　2016年3月

X-ray Charge Neutralizer Using Carbon-Nanotube Field Emitter

S. Okawaki, S. Abo, F. Wakaya, H. Yamashita, M. Abe, M. Takai

28th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2015)　2015年11月

High resolution imaging of LaAlO3(100) using non-contact atomic force microscopy

Daiki Katsube, Yutaro Takase, Hayato Yamashita, Satoshi Abo, Fujio Wakaya, Masayuki Abe

10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC’15)　2015年10月

X-ray charge neutralizer using carbon-nanotube field emitter

S. Okawaki, S. Abo, F. Wakaya, H. Yamashita, M. Abe, M. Takai

7th Japan-Korea Vacuum Nanoelectronics Symposium (7th-KJVNS)　2015年10月

SiO2/Si基板上のグラフェンの紫外レーザによる加工のメカニズム

萬木成彰, 若家冨士男, 阿保智, 山下隼人, 阿部真之, 高井幹夫

第76回応用物理学会秋季学術講演会　2015年9月

高エネルギー重イオン入射によるSOI-SRAMのソフトエラー発生の生成電荷分布依存性評価

阿保智, 迫間昌俊, 若家冨士男, 小野田忍, 牧野高紘, 大島武, 尾田秀一, 高井幹夫

第76回応用物理学会秋季学術講演会　2015年9月

シングルイベント三次元TOF-RBS の時間分解能評価(III)

阿保智, 濱田靖久, Seidl Albert, 若家冨士男, 阿部真之, 高井幹夫

第76回応用物理学会秋季学術講演会　2015年9月

非接触原子間力顕微鏡を用いたLaAlO3(100)表面の原子分解能測定

勝部大樹, 高瀬勇太郎, 山下隼人, 阿保智, 若家冨士男, 阿部真之

第76回応用物理学会秋季学術講演会　2015年9月

Dependence of soft errors in silicon-on-insulator static random access memory on distribution of energy deposition by high-energy heavy-ion incidence

S. Abo, M. Hazama, F. Wakaya, T. Makino, S. Onoda, T. Ohshima, H. Oda, M. Takai

22nd International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2015)　2015年6月

A third electron model for simulation of electron yield for triggering in fine focused time-of-flight Rutherford backscattering spectrometry

A. Seidl, S. Abo, Y. Hamada, F. Wakaya, M. Abe, M. Takai

22nd International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2015)　2015年6月

ビーム誘起堆積Pt電子源からの縞状電子放出パターンの起源について

若家冨士男, 山田芳生, 村上勝久, 阿保智, 阿部真之, 高井幹夫

第12回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム　2015年3月

Observation of Fringelike Emission Pattern in Magnetic Field

Yoshio Yamada, Satoshi Abo, Fujio Wakaya, Katsuhisa Murakami, Masayuki Abe, Mikio Takai

The 21st International Display Workshops (IDW ’14)　2014年12月

X-Ray Source Using CNT Field Emitter with Side-Gate Electrode

S. Okawaki, S. Abo, F. Wakaya, M. Abe and M. Takai

27th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2014)　2014年11月

Maskless Laser Processing of Graphene

Fujio Wakaya, Tadashi Kurihara, Nariaki Yurugi, Satoshi Abo, Masayuki Abe, Mikio Takai

40th Micro and Nano Engineering (MNE2014)　2014年9月

サイドゲート電極付CNT電子源を用いたX線源の開発

岡脇周平, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第75回応用物理学会秋季学術講演会　2014年9月

赤外レーザ励起タンタル酸リチウムX線源の特性評価

上里鷹寛, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第75回応用物理学会秋季学術講演会　2014年9月

電子ビーム誘起堆積Ptナノ電子源からの縞状電子放出パターンの磁場中での観察

山田芳生, 阿保智, 若家冨士男, 村上勝久, 阿部真之, 高井幹夫

第75回応用物理学会秋季学術講演会　2014年9月

マスクレス加工のためのグラフェンへの紫外レーザ照射（III）

萬木成彰, 若家冨士男, 阿保智, 阿部真之, 高井幹夫

第75回応用物理学会秋季学術講演会　2014年9月

静電型分析器を用いたTOF-ERDAによる極浅原子分布分析技術の開発(II)

阿保智, 李沛, 姚欣遠, 若家冨士男, 高井幹夫

第75回応用物理学会秋季学術講演会　2014年9月

Development of miniature x-ray source using pyroelectric crystal excited by laser light

Satoshi Abo, Takahiro Uezato, Fujio Wakaya, Masayuki Abe, Mikio Takai

The 6th IEEE International Nanoelectronics Conference 2014 (INEC2014)　2014年7月

紫外レーザによるグラフェンの層数選択的加工

萬木成彰, 栗原正志, 若家冨士男, 阿保智, 阿部真之, 高井幹夫

ナノ構造情報のフロンティア開拓 平成26年度 若手の会　2014年7月

自己分析型 液中分子分解能AFMの開発

二瓶恵, 阿保智, 若家冨士男, 阿部真之

ナノ構造情報のフロンティア開拓 平成26年度 若手の会　2014年7月

イオンプローブを用いたナノ構造非破壊分析技術

阿保智, 若家冨士男, 阿部真之, 高井幹夫

ナノ構造情報のフロンティア開拓 平成26年度 若手の会　2014年7月

Improvement of spatial resolution and detection efficiency control of secondary-electron in single-event three-dimensional time-of-flight Rutherford backscattering spectrometry

Satoshi Abo, Yasuhisa Hamada, Albert Seidl, Fujio Wakaya, Mikio Takai

14th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2014)　2014年7月

Electron emission from pyroelectric crystal excited using high power infra-red laser light and its X-ray source application

Satoshi Abo, Takahiro Uezato, Fujio Wakaya, Mikio Takai

27th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2014)　2014年7月

Spreading resistance profiling of ultra shallow junction fabricated with low energy As implantation and combination of spike lamp and laser annealing processes using scanning spreading resistance microscopy

Satoshi Abo, Hidenori Osae, Fujio Wakaya, Hidekazu Oda, Mikio Takai

20th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2014)　2014年6月

サイドゲート電極付CNT電子源のFN plotに関する考察

岡脇修平, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第61回応用物理学関係連合講演会　2014年3月

Nd:YLFレーザ励起による焦電結晶からの電子放出とX線源への応用

阿保智, 上里鷹寛, 若家冨士男, 高井幹夫

第11回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム　2014年3月

Fabrication of carbon nanotube field emitter with side-gate electrode and its emission property

S. Okawaki, S. Nitta, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 20th International Display Workshops (IDW ’13)　2013年12月

Analysis technique for ultra shallow junction using medium-energy-ion-scattering time-of-flight elastic-recoil-detection-analysis

Satoshi Abo, Per Ri, Xin Yuan Yao, Fujio Wakaya, Mikio Takai

9th International Symposium on Atomic Level Characterization for New Materials and Devices (ALC ’13)　2013年12月

LiNbO3/LiTaO3の焦電効果を使ったX線発生

阿保智, 中浜弘介, 加賀英一, 木佐俊哉, 高橋理明, 若家冨士男, 高井幹夫

2013年度 第3回光材料応用技術研究会　2013年11月

Active dopant profiling using scanning probe at ultra-shallow As implanted Si activated by combination of spike lamp and laser annealing

H. Osae, S. Abo, F. Wakaya, T. Iwamatsu, H. Oda, M. Takai

26th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2013)　2013年11月

Evaluation of soft error in silicon-on-insulator static random access memory using high-energy heavy-ion probes

M. Hazama, S. Abo, F. Wakaya, T. Makino, S. Onoda, T. Ohshima, T. Iwamatsu, H. Oda, M. Takai

26th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2013)　2013年11月

Observation for graphene using magnetic force microscopy

K. Maruishi, F. Wakaya, S. Abo, M. Takai

26th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2013)　2013年11月

赤外レーザ励起による焦電結晶からの電子放出とX線源への応用

阿保智, 中浜弘介, 高橋理明, 若家冨士男, 高井幹夫

電子情報通信学会 電子デバイス研究会　2013年10月

Electron emission from pyroelectric crystals excited using laser light and its X-ray source application

Satoshi Abo, Kosuke Nakahama, Michiaki Takahashi, Fujio Wakaya, Mikio Takai

5th Japan-Korea Vacuum Nanoelectronics Symposium (5th-JKVNS)　2013年10月

Fabrication of field emitter cathodes with nano materials and their characterization for vacuum nanoelectronics application

Mikio Takai, Satoshi Abo, Fujio Wakaya

5th Japan-Korea Vacuum Nanoelectronics Symposium (5th-JKVNS)　2013年10月

SSRMを用いた極浅接合の活性化不純物分布評価(II)

押秀徳, 阿保智, 若家冨士男, 岩松俊明, 尾田秀一, 高井幹夫

第74回応用物理学会学術講演会　2013年9月

磁気力顕微鏡によるグラフェンの観察II

丸石宏達, 若家冨士男, 阿保智, 高井幹夫

第74回応用物理学会学術講演会　2013年9月

高エネルギーイオンプローブを用いたSOI-SRAMソフトエラー発生率のBOX下生成電荷依存性

迫間昌俊, 阿保智, 若家冨士男, 牧野高紘, 小野田忍, 大島武, 岩松俊明, 尾田秀一, 高井幹夫

第74回応用物理学会学術講演会　2013年9月

紫外レーザー照射によるグラフェンの層数選択プロセス

栗原正志, 若家冨士男, 阿保智, 高井幹夫

第74回応用物理学会学術講演会　2013年9月

Graphene layer number selective process by ultra violet laser irradiation

Tadashi Kurihara, Fujio Wakaya, Satoshi Abo, Mikio Takai

39th International Conference on Micro and Nano Engineering (MNE2013)　2013年9月

Effect of electron focusing in x-ray source using LiTaO3 crystal excited by Nd:YLF laser light

K. Nakahama, M. Takahashi, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

26th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2013)　2013年7月

Fabrication of titanium oxide field emitter array on glass substrate

T. Nakatani, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

26th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2013)　2013年7月

CNT cold cathode with side-gate electrode for flat panel x-ray source

Shogo Nitta, Shuhei Okawaki, Satoshi Abo, Fujio Wakaya, Mikio Takai

26th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2013)　2013年7月

Control of secondary-electron flight-path for time-resolution improvement in single-event three dimensional TOF-RBS

Satoshi Abo, Yasuhisa Hamada, Albert Seidl, Fujio Wakaya, Mikio Takai

21st International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2013)　2013年6月

サイドゲート電極付CNT電子源の開発

新田翔吾, 岡脇修平, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第60回応用物理学関係連合講演会　2013年3月

マスクレス加工のためのグラフェンへの紫外レーザー照射(II)

栗原正志, 若家冨士男, 阿保智, 高井幹夫

第60回応用物理学関係連合講演会　2013年3月

シングルイベント三次元TOF-RBSの時間分解能評価(II)

濱田靖久, 阿保智, Albert Seidl, 若家冨士男, 高井幹夫

第60回応用物理学関係連合講演会　2013年3月

磁気力顕微鏡によるグラフェンの観察

丸石宏達, 若家冨士男, 阿保智, 高井幹夫

第60回応用物理学関係連合講演会　2013年3月

Relationship between soft error rate on SOI-SRAM and amount of generated charge by high energy ion probes

Masatoshi Hazama, Satoshi Abo, Naoyuki Masuda, Fujio Wakaya, Shinobu Onoda, Takahiro Makino, Toshio Hirao, Takeshi Ohshima, Toshiaki Iwamatsu, Hidekazu Oda, Mikio Takai

The 10th International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications (10th-RASEDA)　2012年12月

Selective-area growth and field emission properties of titanium-oxide nanowires on glass substrate

Takuo Nakatani, Fujio Wakaya, Satoshi Abo, Mikio Takai

The 19th International Display Workshops in Conjunction with Asia Display 2012 (IDW ’12)　2012年12月

Field emission property of carbon nanotube electron source using side-gate electrode

Shogo Nitta, Satoshi Abo, Fujio Wakaya, Mikio Takai

The 19th International Display Workshops in Conjunction with Asia Display 2012 (IDW ’12)　2012年12月

電子ビーム誘起堆積三極構造Ptナノ電子源からの縞状電子放出パターンの観測

北山智久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

電子情報通信学会 電子デバイス研究会　2012年11月

Contactless sheet resistivity measurement using magnetic force microscopy

F. Wakaya, M. Kajiwara, S. Abo, M. Takai

25th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2012)　2012年10月

Ultra-violet laser processing of graphene on SiO2/Si

Fujio Wakaya, Tadashi Kurihara, Satoshi Abo, Mikio Takai

38th International Conference on Micro and Nano Engineering (MNE2012)　2012年9月

マスクレス加工のためのグラフェンへの紫外レーザー照射

栗原正志, 若家冨士男, 阿保智, 高井幹夫

第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月

高エネルギーイオンプローブを用いたSOI-SRAMのソフトエラー発生率の生成電荷依存性

迫間昌俊, 阿保智, 増田直之, 若家冨士男, 小野田忍, 牧野高紘, 平尾敏雄, 大島武, 岩松俊明, 尾田秀一, 高井幹夫

第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月

SSRMを用いた極浅接合の活性化不純物の深さ分布評価

押秀徳, 牛込直弥, 阿保智, 若家冨士男, 岩松俊明, 尾田秀一, 高井幹夫

第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月

レーザー励起によるLiTaO3からの電子放出とX線源への応用(III)

中浜弘介, 加賀英一, 木佐俊哉, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月

ガラス基板上酸化チタンナノ構造のパターニング

中谷卓央, 若家冨士男, 阿保智, 高井幹夫

第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月

電子ビーム誘起堆積三極構造Ptナノ電子源からの縞状電子放出パターンの観測(II)

北山智久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月

静電型分析器を用いたTOF-ERDAによる極浅原子分布分析技術の開発

李沛, 堀内英完, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月

シングルイベント三次元TOF-RBSの時間分解能評価

濱田靖久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月

Improvement of time resolution in single-event three-dimensional TOF-RBS using beryllium nanoprobe

Satoshi Abo, Yasuhisa Hamada, Fujio Wakaya, Mikio Takai

13th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2012)　2012年7月

Patterning of titanium-oxide nanostructures on glass substrate and their field emission properties

Takuo Nakatani, Fujio Wakaya, Satoshi Abo, Mikio Takai

25th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2012)　2012年7月

Observation of fringelike electron emission pattern from triode Pt nano electron source fabricated by electron-beam-induced deposition

Tomohisa Kitayama, Fujio Wakaya, Satoshi Abo, Mikio Takai

25th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2012)　2012年7月

Electron emission from LiTaO3 crystal excited by Nd:YLF laser light and its X-ray source application

Kosuke, Nakahama, Eiichi Kaga, Toshiya Kisa, Satoshi Abo, Fujio Wakaya, Mikio Takai

25th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2012)　2012年7月

Development of planar X-ray source using gated CNT emitter

Tomoya Manabe, Shogo Nitta, Satoshi Abo, Fujio Wakaya, Mikio Takai

25th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2012)　2012年7月

Development of a tiny X-ray source controlled by laser light for medical application

Mikio Takai, Kosuke, Nakahama, Eiichi Kaga, Toshiya Kisa, Satoshi Abo, Fujio Wakaya

25th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2012)　2012年7月

Active dopant profiling of ultra shallow junction annealed with combination of spike lamp and laser annealing processes using scanning spreading resistance microscopy

Satoshi Abo, Naoya Ushigome, Hidenori Osae, Fujio Wakaya, Toshiaki Iwamatsu, Hidekazu Oda, Mikio Takai

19th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2012)　2012年6月

ゲート付CNT電子源を用いた平面型X線源の開発

新田翔吾, 真鍋知哉, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第59回応用物理学関係連合講演会　2012年3月

周期的なレーザ照射によるLiTaO3からの電子放出とX線源への応用

中浜弘介, 加賀英一, 木佐俊哉, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第59回応用物理学関係連合講演会　2012年3月

集束イオンビームを用いたシングルイベント三次元TOF-RBS計測の空間分解能評価

阿保智, 東嵩之, 熊野俊也, 若家冨士男, 高井幹夫

第59回応用物理学関係連合講演会　2012年3月

CNT電子源及びレーザー励起焦電体を用いたX線源の開発

真鍋知哉, 加賀英一, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第9回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム　2012年3月

Contactless determination of local sheet resistivity using magnetic force microscopy

Fujio Wakaya, Masahiro Kajiwara, Satoshi Abo, Mikio Takai

24th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2011)　2011年10月

ガラス基板上酸化チタンナノ構造の作製と電界電子放出特性

若家冨士男, 中谷卓央, 阿保智, 高井幹夫

電子情報通信学会 電子デバイス研究会　2011年10月

ゲート付CNT電子源を用いたX線源の開発

真鍋知哉, 新田翔吾, 沖宏吏, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

電子情報通信学会 電子デバイス研究会　2011年10月

レーザ誘起焦電結晶からの電子放出とX線源への応用

加賀英一, 中浜弘介, 木佐俊哉, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

電子情報通信学会 電子デバイス研究会　2011年10月

Carbon nanotube cathode with laser and high electric field treatments for field emission display

Mikio Takai, Tomoya Manabe, Tomoaki Takikawa, Hiroshi Oki, Satoshi Abo, Fujio Wakaya

11th International Meeting on Information Display (iMiD 2011)　2011年10月

酸素イオンプローブを用いた90nmノードSOI SRAMのソフトエラー耐性評価

阿保智, 増田直之, 若家冨士男, 高井幹夫, 平尾敏雄, 小野田忍, 牧野高紘, 大島武, 岩松俊明, 尾田秀一

第6回高崎量子応用研究シンポジウム　2011年10月

Effects of ultra-violet laser irradiation on graphene

Fujio Wakaya, Tsuyoshi Teraoka, Toshiya Kisa, Tomoya Manabe, Satoshi Abo, Mikio Takai

37th International Conference on Micro and Nano Engineering (MNE2011)　2011年9月

微小電子源のためのガラス基板酸化チタンナノ構造の作製

中谷卓央, 若家冨士男, 阿保智, 高井幹夫

第72回応用物理学会学術講演会　2011年8月

赤外レーザ励起によるLiNbO3とLiTaO3からの電子放出とX線源への応用

中浜弘介, 加賀英一, 木佐俊哉, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第72回応用物理学会学術講演会　2011年8月

電子ビーム誘起堆積三極構造Ptナノ電子源からの縞状電子放出パターンの観測

北山智久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第72回応用物理学会学術講演会　2011年8月

Electron emission from pyroelectric crystals excited by Nd:YLF laser light and their X-ray source application

E. Kaga, K. Nakahama, T. Kisa, S. Abo, F. Wakaya

3rd Japan-Korea Vacuum Nanoelectronics Symposium (3rd-JKVNS)　2011年8月

Electron emission from LiTaO3 and LiNbO3 crystals excited by Nd:YLF laser light and their X-ray application

Eiichi Kaga, Toshiya Kisa, Kosuke Nakahama, Satoshi Abo, Fujio Wakaya, Mikio Takai

24th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2011)　2011年7月

Fabrication of titanium-oxide nanostructures on glass substrate and field-emission properties

Fujio Wakaya, Takuo Nakatani, Satoshi Abo, Mikio Takai

24th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2011)　2011年7月

Field emission property of titanium-oxide nanostructure fabricated on glass substrate with control of density and length

Fujio Wakaya, Takuo Nakatani, Satoshi Abo, Mikio Takai

18th International Display Workshops (IDW ’11)　2011年7月

Time of flight elastic recoil detection analysis with toroidal electrostatic analyzer for ultra shallow dopant profiling

Satoshi Abo, Hidemasa Horiuchi, Fujio Wakaya, Gabor Battistig, Tivadar Lohner, Mikio Takai

8th International Symposium on Atomic Level Characterization for New Materials and Devices (ALC11)　2011年5月

Three dimensional measurement of nano structures by single event TOF-RBS with nuclear nano probe

Satoshi Abo, Shunya Kumano, Takayuki Azuma, Ryota Sugimoto, Katsuhisa Murakami, Fujio Wakaya, Mikio Takai

20th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2011)　2011年4月

Effect of body-tie structure fabricated by partial trench isolation on suppression of soft errors in SOI SRAM induced by floating body effect using nuclear probes

Satoshi Abo, Naoyuki Masuda, Fujio Wakaya, Shinobu Onoda, Takahiro Makino, Toshio Hirao, Takeshi Ohshima, Toshiaki Iwamatsu, Hidekazu Oda, Mikio Takai

20th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2011)　2011年4月

Robust carbon nanotube cathode with various CNT diameters and post treatments

M. Takai, T. Takikawa, H. Oki, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya

The 17th International Display Workshops (IDW ’10)　2010年12月

Electron field emission from titanium-oxide nanostructure by ultraviolet light irradiation

F. Wakaya, T. Tatsumi, K. Murakami, S. Abo, T. Takimoto, Y. Takaoka, M. Takai

The 17th International Display Workshops (IDW ’10)　2010年12月

Electron emission from LiNbO3 crystal excited by Nd:YLF laser and its X-ray source application

T. Kisa, E. Kaga, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, I. Barsony, M. Takai

The 23rd International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2010)　2010年11月

Evaluation of soft errors using nuclear probes in SOI SRAM with body-tie structure fabricated by partial trench isolation

S. Abo, N. Masuda, F. Wakaya, S. Onoda, T. Makino, T. Hirao, T. Ohshima, T. Iwamatsu, H. Oda, M. Takai

The 9th International Workshop on Radiation Effects of Semiconductor Devices for Space Applications (9th-RASEDA)　2010年10月

酸素イオンプローブを用いた90nmノードSOI SRAMのソフトエラー耐性評価

平尾敏雄, 小野田忍, 牧野高紘, 大島武, 阿保智, 増田直之, 若家冨士男, 高井幹夫, 岩松俊明, 尾田秀一

第5回高崎量子応用研究シンポジウム　2010年10月

Long-life carbon nanotube cathode with various surface treatment for backlight unit and lighting

M. Takai, T. Takikawa, H. Oki, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya

The 10th International Meeting on Information Display / International Display Manufacturing Conference and Asia Display 2010 (iMiD/IDMC/ASIA DISPLAY 2010)　2010年10月

Improvement of current sensitivity in detecting current-induced magnetic field using magnetic force microscopy

Fujio Wakaya, Masahiro Kajiwara, Kazuya Kubo, Satoshi Abo, Mikio Takai

The 36th International Conference on Micro and Nano Engineering (MNE2010)　2010年9月

イオンプローブを用いたBulk/SOI-SRAMのソフトエラー発生率評価

阿保智, 増田直之, 若家冨士男, 小野田忍, 牧野高紘, 平尾敏雄, 大島武, 高井幹夫

第71回応用物理学会学術講演会　2010年9月

SSRMを用いたスパイクアニールとレーザーアニールの組み合わせによる不純物活性化の比較

牛込直弥, 西川和久, 阿保智, 若家冨士男, 岩松俊明, 尾田秀一, 高井幹夫

第71回応用物理学会学術講演会　2010年9月

大面積CNT冷陰極を用いた低エネルギー電子源の開発

真鍋知哉, 趙維江, 滝川友章, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第71回応用物理学会学術講演会　2010年9月

Nd:YLFレーザー誘起LiNbO3結晶からの電子放出とX線発生

加賀英一, 木佐俊哉, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第71回応用物理学会学術講演会　2010年9月

TEAを用いたTOF-ERDAによる極浅原子分布解析法の開発研究

堀内英完, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第71回応用物理学会学術講演会　2010年9月

Three dimensional measurement of nano structure by single event TOF RBS with nuclear nano probe

S. Abo, S. Kumano, T. Azuma, R. Sugimoto, K. Murakami, F. Wakaya, M. Takai

The 12th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2010)　2010年7月

Effect of body-tie structure fabricated by partial trench isolation on suppression of soft errors in SOI SRAM induce by floating body effect using nuclear probes

S. Abo, N. Masuda, F. Wakaya, S. Onoda, T. Makino, T. Hirao, T. Ohshima, T. Iwamatsu, H. Oda, M. Takai

The 12th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2010)　2010年7月

Low energy electron source panel with carbon nanotube

W. Zhao, T. Manabe, S. Abo, M. Takai

The 23rd International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2010)　2010年7月

Effect of ultra-violet light irradiation on electron field emission from titanium-oxide nanostructure

F. Wakaya, T. Tatsumi, K. Murakami, S. Abo, M. Takai, T. Takimoto, T. Takaoka

The 23rd International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2010)　2010年7月

Local resistance profiling of ultra shallow junction annealed with combination of spike lamp and laser annealing processes using scanning spreading resistance microscope

Satoshi Abo, Kazuhisa Nishikawa, Naoya Ushigome, Fujio Wakaya, Toshiaki Iwamatsu, Hidekazu Oda, Mikio Takai

The 18th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2010)　2010年6月

電流誘起磁場検出のためのMFMプローブの最適化

梶原正裕, 久保一哉, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第57回応用物理学関係連合講演会　2010年3月

ビーム誘起堆積Pt冷陰極の電気伝導特性と電界表出電子の可干渉性

高本邦生, 寺岡剛, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第57回応用物理学関係連合講演会　2010年3月

酸化チタンナノ構造の作製と電界放出特性

辰巳智彦, 三木真徳, 福山知恵子, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫, 滝本理人, 高岡陽一

第57回応用物理学関係連合講演会　2010年3月

Nd:YAGレーザー誘起によるLiNbO3結晶からの電子放出

木佐俊哉, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 石田稔幸, 高井幹夫

第57回応用物理学関係連合講演会　2010年3月

Influence of CNT diameters of screen-printed cathode on field emission characteristics

T. Takikawa, H. Oki, Y. Matsuura, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 16th International Display Workshop (IDW ’09)　2009年12月

Fabrication of titanium-oxide nanowires on glass substrate and their field-emission properties

F. Wakaya, T. Takikawa, M. Miki, C. Fukuyama, K. Murakami, S. Abo. M. Takai

The 16th International Display Workshop (IDW ’09)　2009年12月

Fabrication of field emitter cathodes and their characterization for vacuum nanoelectronics application

M. Takai, T. Takikawa, H. Oki, C. Fukuyama, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya

The 1st Korea-Japan Vacuum Nanoelectronics Workshop (1st-KJVNW)　2009年11月

電子ビーム誘起堆積Ptナノワイヤーの電気伝導に対する電流の効果

寺岡剛, 高本邦生, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第70回応用物理学会学術講演会　2009年9月

集束イオンビームを用いたTOF-RBS法の時間分解能改良

熊野俊也, 阿保智, 村上勝久, 若家冨士男, 菊池隆広, 澤良木宏, 高井幹夫

第70回応用物理学会学術講演会　2009年9月

TOF-RBS法を用いた三次元構造分析技術のための自動イオンビーム集束法

東嵩之, 熊野俊也, 阿保智, 村上勝久, 若家冨士男, 菊池隆広, 澤良木宏, 高井幹夫

第70回応用物理学会学術講演会　2009年9月

赤外光レーザー照射によるLiNbO3結晶からの電子放出

木佐俊哉, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 石田稔幸, 高井幹夫

第70回応用物理学会学術講演会　2009年9月

Study on time resolution of single event TOF-RBS measurement

Satoshi Abo, Shunya Kumano, Katsuhisa Murakami, Fujio Wakaya, Tivadar Lohner, Mikio Takai

19th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2009)　2009年9月

Evaluation of soft error rates using nuclear probes in bulk and SOI SRAMs with a technology node of 90 nm

Satoshi Abo, Naoyuki Masuda, Fujio Wakaya, Shinobu Onoda, Toshio Hirao, Takeshi Ohshima, Toshiaki Iwamatsu, Mikio Takai

19th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2009)　2009年9月

Fabrication and electron field emission properties of titanium-oxide nanowire

F. Wakaya, M. Miki, C. Fukuyama, K. Murakami, S. Abo, M. Takai

The 22nd International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2009)　2009年7月

Electron emission from a lithium niobate crystal excited by ultra-violet laser

T. Kisa, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, T. Ishida, M. Takai

The 22nd International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2009)　2009年7月

Effects of CNT diameters of the screen-printed cathode on the field emission characteristics

T. Takikawa, H. Oki, Y. Matsuura, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 22nd International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2009)　2009年7月

Irradiation energy dependence of ion probes on soft error rate in SOI-SRAM

S. Abo, Y. Mokuno, A. Kinomura, S. Onoda, T. Hirao, T. Ohshima, T. Iwamatsu, M. Takai

The 8th International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications (8th-RASEDA)　2008年12月

Evaluation of single event upsets in integrated circuits using nuclear probe

M. Takai, S. Abo, T. Iwamatsu

The 8th International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications (8th-RASEDA)　2008年12月

Field emission lifetime after aging of CNT cathodes

H. Oki, A. Kinoshita, T. Takikawa, W. S. Kim, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 15th International Display Workshops (IDW ’08)　2008年12月

Filed emission property of TiO2 cathodes after field enhanced surface treatment

C. Fukuyama, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai, T. Takimoto, Y. Kumashiro, Y. Takaoka

The 15th International Display Workshops (IDW ’08)　2008年12月

Electron coherence length in electron-beam-deposited Pt

F. Wakaya, T. Nakayama, K. Takamoto, T. Takeuchi, N. Matsubara, K. Murakami, S. Ichikawa, S. Abo, M. Takai

34th International Conference on Micro and Nano Engineering (MNE2008)　2008年9月

電流誘起磁場検出のためのMFMプローブの最適化

梶原正裕, 田中祐司, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第69回応用物理学会学術講演会　2008年9月

顕微ラマン分光によるビーム誘起堆積Pt層の評価

木佐俊哉, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第69回応用物理学会学術講演会　2008年9月

電子ビーム誘起堆積Ptナノピラーの電気伝導特性

高本邦生, 中山貴仁, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第69回応用物理学会学術講演会　2008年9月

CNT電子源の寿命に対する表面処理法の影響

滝川友章, 木下晃, 沖宏吏, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第69回応用物理学会学術講演会　2008年9月

スパイクランプアニールとレーザアニールを行った極浅接合の局所抵抗分布

西川和久, 田中祐司, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第69回応用物理学会学術講演会　2008年9月

Development of analysis technique of single event time-of-flight RBS for non-destructive three dimensional analysis

S. Abo, K. Koresawa, M. Amano, S. Kumano, Q. K. Nguyen, T. Kikuchi, H. Sawaragi, M. Takai

11th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2008)　2008年7月

Visualization of three dimensional nanostructures by time-of-flight RBS using nuclear nanoprobes

M. Takai, S. Abo, K. Koresawa, K. Murakami, F. Wakaya, T. Kikuchi, H. Sawaragi

11th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2008)　2008年7月

Observation of fringelike-electron-emission pattern from radical-oxygen-gas exposed Pt field emitter fabricated by electron-beam-induced deposition

K. Murakami, S. Nishihara, N. Matsubara, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 21st International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2008)　2008年7月

Effect of DC-voltage aging on field emission lifetime for CNT cathodes

H. Oki, A. Kinoshita, T. Takikawa, W. S. Kim, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 21st International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2008)　2008年7月

Field enhanced surface treatment of needle-shaped TiO2 for improvement in field emission

C. Fukuyama, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 21st International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2008)　2008年7月

Local resistance profiling of ultra shallow junction with spike lamp and laser annealing using scanning spreading resistance microscopy

S. Abo, Y. Tanaka, K. Nishikawa, F. Wakaya, T. Iwamatsu, H. Oda, M. Takai

17th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2008)　2008年6月

中エネルギー散乱計測システムの開発

日夏幹人, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第55回応用物理学関係連合講演会　2008年3月

The variation of Raman spectra in carbon nanotube cathodes treated by plasma and laser

W. S. Kim, H. Oki, A. Kinoshita, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

14th International Display Workshop (IDW ’07)　2007年12月

Field emission profiles of CNT cathodes with surface treatment using KrF excimer laser

A. Kinoshita, W. S. Kim, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

14th International Display Workshop (IDW ’07)　2007年12月

Fabrication of nano electron source using beam induced processing for electron interference

M. Takai, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya

COE Workshop 2nd International Workshop on “Materials Science and Nano-Engineering”　2007年12月

Development of visualization system for nano structure using TOF-RBS with 150 keV focused ion beam

Satoshi Abo, Kouhei Koresawa, Nguyen Quoc Khanh, Takahiro Kikuchi, Hiroshi Sawaragi, Mikio Takai

COE Workshop 2nd International Workshop on “Materials Science and Nano-Engineering”　2007年12月

Laser and plasma post treatment of CNT cathodes for field emitters

W. S. Kim, H. Oki, A. Kinoshita, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

COE Workshop 2nd International Workshop on “Materials Science and Nano-Engineering”　2007年12月

Electron transport properties in Pt Nanowires fabricated by beam-induced deposition

F. Wakaya, T. Nakayama, T. Takeuchi, Y. Tsukatani, K. Murakami, S. Abo, M. Takai

12th Academic Exchange Seminar between Shanghai Jiao Tong University and Osaka University　2007年10月

Determination of current distribution from current-induced magnetic field detected by magnetic force microscopy

F. Wakaya, Y. Tanaka, K. Tanaka, Y. Mori, S. Abo, M. Takai

33rd International Conference on Micro- and Nano-Engineering (MNE2007)　2007年6月

電子ビーム誘起堆積Pt微小冷陰極のリーク電流抑制

村上勝久, 阿部聡, 西原慎二, 松原直樹, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

Time of Flight RBS法による局所構造分析技術の開発

是澤康平, 阿保智, 村上勝久, 若家冨士男, 菊池隆広, 澤良木宏, 高井幹夫

第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

磁気力顕微鏡を用いた電流誘起磁場検出によるナノ領域での電流分布の測定

田中祐司, 田中宏一, 森雄哉, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

電子ビーム誘起堆積Pt層の電気伝導特性: (I) ビーム滞留時間依存性

中山貴仁, 竹内貴洋, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

KrFレーザー処理したカーボンナノチューブ電子源のエミッションプロファイル

木下晃, 金元錫, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

Effect of radical oxygen gas exposure on Pt field emitter fabricated by electron-beam induced deposition

K. Murakami, S. Abe, S. Nishihara, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

20th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2007)　2007年7月

The relationship between field emission characteristics and defects by Raman scattering in carbon nanotube cathode treated by plasma and laser irradiation

W. S. Kim, A. Kinoshita, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

20th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2007)　2007年7月

イオンナノプローブによる3次元非破壊分析技術の開発

阿保智, 高井幹夫

日本顕微鏡学会 第63回学術講演会　2007年5月

Influence of reactive ion etching on KrF laser surface treatment of CNT cathodes

K. Ohsumi, T. Honda, W. S. Kim, C. B. Oh, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 13th International Display Workshops (IDW ’06)　2006年12月

Field emission characteristics of carbon nanotube treated by plasma and laser

W. S. Kim, T. Honda, C. B. Oh, K. Ohsumi, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 13th International Display Workshops (IDW ’06)　2006年12月

Local resistance measurement of carbon nanotube cathode using scanning spreading resistance microscopy

K. Tanaka, F. Wakaya, S. Abo, M. Takai

20th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2006)　2006年10月

Evaluation of soft errors in SOI-SRAM using nuclear probe

M. Takai, S. Abo, T. Iwamatsu, S. Maegawa, Y. Arita, M. Inuishi, T. Ipposhi, A. Kinomura, Y. Horino

7th International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Application (7th-RASEDA)　2006年10月

Detection of magnetic field for measuring current distribution in poly-Si layer

K. Tanaka, Y. Mori, H. Yamagiwa, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

32nd Micro and Nano Engineering (MNE2006)　2006年9月

Electron transport properties of Pt Nanowires fabricated by beam-induced deposition

F. Wakaya, Y. Tsukatani, N. Yamasaki, K. Murakami, S. Abo, M. Takai

The 16 International Microscopy Congress (IMC2006)　2006年9月

マルチMCP検出器を用いたTOF-RBS法によるナノスケール積層構造分析技術の開発

是澤康平, Nguyen Viet Nguyen, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第67回応用物理学会学術講演会　2006年8月

低温poly-Si TFTの多結晶Si層の電流分布計測のための基礎的研究

田中宏一, 森雄哉, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第67回応用物理学会学術講演会　2006年8月

Nuclear nanoprobe development for visualization of three-dimensional nanostructures

M. Takai, S. Abo, F. Wakaya, T. Kikuchi, H. Sawaragi

The 19th International Conference on the Application of Accelerators in Research and Industry (CAARI2006)　2006年8月

KrF laser surface treatment of CNT cathodes with and without reactive ion etching

K. Ohsumi, T. Honda, W. S. Kim, C. B. Oh, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The Joint 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference and 50th International Field Emission Symposium (IVNC2006)　2006年7月

Improved field emission characteristics of multi-walled carbon nanotube cathode by plasma treatment with a help of krypton fluoride laser irradiation

W. S. Kim, T. Honda, C. B. Oh, K. Ohsumi, K. Murakami, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The Joint 19th International Vacuum Nanoelectronics Conference and 50th International Field Emission Symposium (IVNC2006)　2006年7月

Ultra shallow arsenic profiling in Si using highly sensitive time-of-flight RBS with nuclear nanoprobe

S. Abo, N. V. Nguyen, T. Lohner, F. Wakaya, M. Takai

10th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2006)　2006年7月

Development of time-of-flight RBS system using multi microchannel plates

N.V. Nguyen, S. Abo, T. Lohner, H. Sawaragi, F. Wakaya, M. Takai

The 10th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2006)　2006年7月

Local resistance measurement on polycrystalline silicon layer in low-temperature poly-Si thin film transistor using scanning spreading resistance microscopy

S. Abo, H. Yamagiwa, K. Tanaka, F. Wakaya, T. Sakamoto, H. Tokioka, N. Nakagawa, M. Takai

16th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2006)　2006年6月

高エネルギーイオンプローブを用いたSOI-SRAMのソフトエラー耐性評価 (III)

阿保智, 平田保史, 上田浩史, 若家冨士男, 岩松俊明, 一法師隆志, 杢野由明, 堀野裕治, 高井幹夫

第53回応用物理学関係連合講演会　2006年3月

SSRMを用いたTFT中低温poly-Si層の局所抵抗評価

田中宏一, 阿保智, 若家冨士男, 坂本孝雄, 時岡秀忠, 中川直紀, 高井幹夫

第53回応用物理学関係連合講演会　2006年3月

RIE処理前後のCNT冷陰極カソードのKrFレーザー表面処理

大住一也, 村上勝久, 金元錫, 呉忠奉, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第53回応用物理学関係連合講演会　2006年3月

Fabrication of vacuum nanoelectronics devices using beam processing

M. Takai, F. Wakaya, S. Abo, K. Murakami

Handai nanoscience and nanotechnology international symposium　2006年1月

Local resistance measurement on polycrystalline silicon layer in low-temperature poly-Si thin film transistor using scanning spreading resistance microscopy

S. Abo, H. Yamagiwa, K. Tanaka, F. Wakaya, T. Sakamoto, H. Tokioka, N. Nakagawa, M. Takai

Handai nanoscience and nanotechnology international symposium　2006年1月

Surface treatment of CNT cathode using KrF excimer laser for field emission displays

T. Honda, C. B. Oh, K. Murakami, K. Ohsumi, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 12th International Display Workshops in conjunction with Asia Display 2005 (IDW ’05)　2005年12月

Localized resistance across grain boundaries in poly-Si layer of TFT measured by scanning spreading resistance microscopy

H. Yamagiwa, S. Abo, F. Wakaya, T. Sakamoto, H. Tokioka, N, Nakagawa, M. Takai

The 12th International Display Workshops in conjunction with Asia Display 2005 (IDW ’05)　2005年12月

Transport properties of beam-induced-deposited Pt nanowires

F. Wakaya, Y. Tsukatani, N. Yamasaki, K. Murakami, S. Abo, M. Takai

The 7th New Phenomena in Mesoscopic Systems and Surfaces and The 5th Interfaces of Mesoscopic Devices (NPMS-7/SIMD-5)　2005年11月

FEMによるビーム誘起堆積Pt冷陰極の評価

村上勝久, 山崎直紀, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

高エネルギーイオンプローブを用いたSOI-SRAMのソフトエラー評価(II)

平田保史, 阿保智, 山際優人, 岩松俊明, 前川繁登, 若家冨士男, 高井幹夫

第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

ガラス入り大面積CNTカソードのKrFレーザー表面処理

本多友明, 大住一也, 村上勝久, 金元錫, 呉忠奉, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

SSRMを用いたpoly-Si TFTのキャリア濃度分布評価

山際優人, 阿保智, 若家冨士男, 坂本孝雄, 時岡秀忠, 中川直紀, 高井幹夫

第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

Influence of Pt cathode resistance on the field emission properties of field emitters fabricated using beam-induced deposition

K. Murakami, N. Yamasaki, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

18th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2005)　2005年7月

Fabrication and characterization of Pt nanosplit emitter using electron-beam induced deposition

K. Murakami, N. Yamasaki, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

18th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2005)　2005年7月

KrF laser surface treatment of CNT cathodes

T. Honda, W. Rochanachirapar, K. Murakami, K. Ohsumi, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

18th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2005)　2005年7月

Composition analysis of HfxSiyO1-x-y thin films by medium energy ion scattering (MEIS)

H. Kitano, S. Abo, M. Mizutani, J. Tsuchimoto, T. Lohner, J. Gyulai, F. Wakaya, M. Takai

17th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2005)　2005年6月

Development of a highly sensitive time-of-flight RBS system with multiple micro channel plates using a 100 keV nuclear nanoprobe

Satoshi Abo, Nguyen Viet Nguyen, Tivadar Lohner, Jozsef Gyulai, Fujio Wakaya, Hiroshi Sawaragi, Mikio Takai

17th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2005)　2005年6月

Ultra shallow As profiling before and after spike annealing using medium energy ion scattering

Satoshi Abo, Satoshi Ichihara, Tivadar Lohner, Jozsef Gyulai, Fujio Wakaya, Mikio Takai

5th International Workshop on Junction Technology (IWJT2005)　2005年6月

ビーム誘起堆積Pt細線の電気伝導特性 II

塚谷陽介, 山崎直紀, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

高エネルギーイオンプローブを用いたSOI-SRAMのソフトエラー評価

平田保史, 阿保智, 山際優人, 前川繁登, 岩松俊明, 若家冨士男, 高井幹夫

第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

CNT例陰極カソードのストライプビームKrFレーザー表面処理

本多友明, Wasu Rochanachirapar, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

電子ビーム誘起堆積ナノ間隙冷陰極の作製と評価

村上勝久, 山崎直紀, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

Electron Transport in Pt Nanowires fabricated by beam induced process

F. Wakaya, Y. Tsukatani, N. Yamasaki, K. Murakami, S. Abo, M. Takai

Hungarian Nanotechnology Symposium 2005　2005年3月

CNT電子源の表面処理技術と電子放出特性

高井幹夫, Wasu Rochanachirapar, 本多友明, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男

第2回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム・カーボンナノチューブ-FEDプロジェクト公開シンポジウム　2005年3月

ビーム支援プロセスによるナノ電子源の作製と評価

村上勝久, 山崎直紀, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

第2回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム・カーボンナノチューブ-FEDプロジェクト公開シンポジウム　2005年3月

Fabrication of nano structures using focused ion electron and photon beams and its application to vacuum nanoelectronic devices

M. Takai, K. Murakami, W. Rochanachirapar, N. Yamasaki, T. Tsukatani, S. Abo, F. Wakaya

The International Workshop on Materials Science and Nano-Engineering　2004年12月

Effect of thermal annealing on leakage current of field emitters fabricated using beam assisted processes

K. Murakami, N. Yamasaki, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 11th International Display Workshop (IDW ’04)　2004年12月

Laser Irradiation to CNT Cathode for Large Diagonal FEDs

K. Murakami, W. Rochanachirapar, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 11th International Display Workshop (IDW ‘04)　2004年12月

Dopant profiling of ultra shallow As implantation with and without spike annealing using medium energy ion scattering (MEIS)

S. Abo, S. Ichihara, T. Lohner, F. Wakaya, T. Eimori, Y. Inoue, M. Takai

The 15th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2004)　2004年10月

Medium energy ion-nanoprobe with TOF-RBS for semiconductor process analysis

Y. Tate, S. Abo, K. Hayashi, F. Wakaya, M. Takai

The 9th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2004)　2004年9月

Reliability study of bulk and SOI SRAMs using high energy nuclear probes

S. Abo, H. Yamagiwa, T. Iwamatsu, S. Maegawa, Y. Arita, T. Ipposhi, A. Kinomura, F. Wakaya, M. Takai

The 9th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2004)　2004年9月

高エネルギーイオンプローブを用いたSOIデバイスの基板浮遊効果に関する研究 II

阿保智, 岩松俊明, 前川繁登, 岩松俊明, 西村正, 高井幹夫

第65回応用物理学会学術講演会　2004年9月

高エネルギーイオンプローブを用いたSOIおよびbulk SRAMの信頼性評価

阿保智, 山際優人, 岩松俊明, 前川繁登, 木野村淳, 高井幹夫

第51回応用物理学関係連合講演会　2004年3月

高エネルギーイオンプローブを用いたSOIデバイスの基板浮遊効果に関する研究

阿保智, 岩松俊明, 前川繁登, 岩松俊明, 西村正, 高井幹夫

第64回応用物理学会学術講演会　2003年8月

Influence of Gas Atmosphere during laser surface treatment of CNT cathode

W. Rochanachirapar, K. Murakami, N. Yamasaki, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai, A. Hosono, S. Okuda

The 17th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2003)　2003年7月

Laser surface treatment of CNT cathode for Large Diagonal FEDs

W. Rochanachirapar, K. Murakami, N. Yamasaki, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai, A. Hosono, S. Okuda

The 17th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2003)　2003年7月

Effect of thermal annealing on emission characteristics of nano electron source fabricated using beam assisted process

K. Murakami, N. Yamasaki, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 17th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2003)　2003年7月

Observation of electron emission pattern from nano-split emitter fabricated using beam assisted process

K. Murakami, N. Yamasaki, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai

The 17th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC2003)　2003年7月

Characterization of dopant profiles produced by ultra-shallow As implantation and spike annealing using medium energy ion scattering (MEIS)

S. Ichihara, T. Nakagawa, N. Nitta, S. Abo, T. Lohner, C. Angelov, K. Ohta, M. Takai

16th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2003)　2003年6月

Medium energy heavy ion probe with TOF-RBS for semiconductor process analysis

K. Hayashi, H. Takayama, M. Ishikawa, S. Abo, T. Lohner, M. Takai

16th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2003)　2003年6月

Inspection of floating body effects in SOI devices using high energy nuclear microprobes

S. Abo, T. Lohner, M. Takai, T. Iwamatsu, S. Maegawa, Y. Arita, A. Kinomura

16th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2003)　2003年6月

プロトンマイクロプローブを用いたPD-SOI-MOSFETの基板浮遊効果による不安定性に関する研究

阿保智, 水谷斉治, 池田幸司, 前川繁登, 岩松俊明, 西村正, 高井幹夫

第63回応用物理学会学術講演会　2002年9月

Shallow arsenic profiling using medium energy ion scattering (MEIS)

T. Nakagawa, M. Fujita, N. Wakabayashi, S. Abo, A. Kinomura, Y. Inoue, M. Takai

The 14th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2002)　2002年9月

Investigation of floating body effects in PD-SOI-MOSFET using proton microprobe

S. Abo, M. Mizutani, K. Ikeda, A. Kinomura, T. Iwamatsu, S. Maegawa, M. Takai

The 8th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2002)　2002年9月

SOI MOSFETにおける基板浮遊効果の抑制に関する研究

阿保智, 水谷斉治, 高井幹夫, 前川繁登, 岩松俊明, 犬石昌秀, 西村正

第49回応用物理学関係連合講演会　2002年3月

Inspection for critical issue of floating body effects in SOI-MOSFET using nuclear particles

S. Abo, M. Mizutani, K. Nakayama, T. Takaoka, T. Iwamatsu, Y. Yamaguchi, S. Maegawa, T. Nishimura, A. Kinomura, Y. Horino, M. Takai

2001 International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC2001)　2001年10月

SOI-MOSFETの基板浮遊効果による不安定性に関する研究

阿保智, 水谷斉治, 高井幹夫, 前川繁登, 岩松俊明, 犬石昌秀, 西村正

第62回応用物理学会学術講演会　2001年9月

Development of enhanced depth-resolution technique for shallow dopant profiling

M. Fujita, J. Tajima, T. Nakagawa, S. Abo, A. Kinomura, F. Paszti, M. Takai, R. Schork, L, Frey, H. Ryssel

The 15th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA2001)　2001年7月

Evaluation of soft errors in DRAM and SRAM using nuclear microprobe and neutron source

M. Takai, Y. Arita, S. Abo, T. Iwamatsu, S. Maegawa, H. Sayama, Y. Yamaguchi, M. Inuishi, T. Nishimura

The 31st European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC 2001)　2001年7月

部分空乏型SOI-MOSFETの基板浮遊効果による不安定性に関する研究

阿保智, 水谷斉治, 高井幹夫, 前川繁登, 岩松俊明, 犬石昌秀, 西村正

第48回応用物理学関係連合講演会　2001年3月

イオンプローブを用いたSOI MOSFETの信頼性に関する研究

水谷斉治, 阿保智, 高井幹夫, 前川繁登, 岩松俊明, 犬石昌秀, 西村正

第48回応用物理学関係連合講演会　2001年3月

Study for instability of a partially depleted SOI MOSFET due floating effect tested using high energy nuclear microprobes

S. Abo, K. Nakayama, T. Takaoka, T. Iwamatsu, Y. Yamaguchi, S. Maegawa, T. Nishimura, A. Kinomura, Y. Horino, M. Takai

The 13th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2000)　2000年9月

Study on the suppression of floating effects in SOI MOSFET using nuclear microprobes

S. Abo, K. Nakayama, T. Takaoka, T. Iwamatsu, Y. Yamaguchi, S. Maegawa, T. Nishimura, A. Kinomura, Y. Horino, M. Takai

The 7th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications (ICNMTA2000)　2000年9月

部分空乏型SOI MOSFETの信頼性に関する研究

水谷斉治, 阿保智, 岩松俊明, 前川繁登, 犬石昌秀, 西村正, 高井幹夫

第61回応用物理学会学術講演会　2000年9月

イオンプローブを用いたSOI MOSFETの基板浮遊効果の抑制に関する研究

阿保智, 高井幹夫, 前川繁登, 岩松俊明, 犬石昌秀, 西村正

第47回応用物理学会関係連合講演会　2000年3月

焦電結晶を用いた超小型中性子源の中性子発生過程

阿保 智, 大上 楓真, 増澤 智昭, 三村 秀典, 若家 冨士男

2024年度 生体医歯工学研究共同拠点成果報告会　2025年3月

焦電結晶を用いた超小型中性子源内部の粒子軌道計算

阿保智, 大上楓真, 若家冨士男, 増澤智明, 三村秀典

2023年度 生体医歯工学研究共同拠点成果報告会　2024年3月

焦電体を用いた中性子源とダイヤモンド中性子センサの検討

増澤智昭, 若家冨士男, 阿保智

令和4年度 生体医歯工学研究共同拠点成果報告会　2023年3月

レーザ加熱焦電結晶を用いた超小型X線源・中性子源の開発

阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫, 増澤智昭, 三村秀典

令和3年度 生体医歯工学共同研究拠点成果報告会　2022年3月

レーザ加熱焦電結晶を用いた中性子源の開発

阿保智, 野見山大地, 若家冨士男, 高井幹夫, 増澤智昭, 三村秀典

令和2年度 生体医歯工学共同研究拠点成果報告会　2021年3月

高速原子間力顕微鏡による膜タンパク質の動態観察のための擬似細胞環境の構築

荒木佑進, 山下隼人, 若家冨士男, 阿保智, 宮戸祐治, 阿部真之

応用物理学会平成30年度第2回関西支部講演会　2018年10月

小型内視鏡用X線源応用のためのレーザ照射焦電結晶電子源の開発

若家冨士男, 阿保智, 高井幹夫, 増澤智昭, 三村秀典

日本学術振興会 真空ナノエレクトロニクス 第158委員会 第124回研究会　2018年10月

焦電体へのレーザー照射によるX線発生過程の研究

若家冨士男, 阿保智, 高井幹夫, 増澤智昭, 三村秀典

平成29年度生体医歯工学共同研究拠点成果報告会　2018年3月

パルスレーザー堆積/非接触原子間力顕微鏡によるアナターゼ型TiO2(001)表面の観察

勝部大樹, 山下隼人, 阿保智, 若家冨士男, 阿部真之

日本表面科学会関東支部 第4回関東支部セミナー 表面・薄膜分析シリーズVol.2 走査型プローブ顕微鏡のフロンティア～実用材料表面計測入門から最新物性問題への挑戦まで～　2016年10月

レーザー励起による焦電体からの電子放出と微小X線源への応用

高井幹夫, 加賀英一, 木佐俊哉, 阿保智, 若家冨士男

第6回励起ナノプロセス研究会　2010年11月

レーザー励起による焦電体からの電子放出と微小X線源への応用

高井幹夫, 加賀英一, 木佐俊哉, 阿保智, 若家冨士男

学振 真空ナノエレクトロニクス158委員会研究会　2010年10月

カーボンナノチューブ冷陰極へのレーザー照射効果

W. Rochanachirapar, 村上勝久, 山崎直紀, 本多友明, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

電子情報通信学会 電子デバイス研究会　2004年12月

電子ビーム誘起堆積ナノ電子源のリーク電流の抑制

山崎直紀, 村上勝久, 阿保智, 若家冨士男, 高井幹夫

電子情報通信学会 電子デバイス研究会　2004年12月

部分空乏型SOI-MOSFETの基板浮遊効果の抑制に関する研究

阿保智 水谷斉治, 高井幹夫, 前川繁登, 岩松俊明, 犬石昌秀, 西村正

応用物理学会シリコンテクノロジー分科会 第4回ミニ学術講演会　2000年5月