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菅原　康弘

Sugawara Yasuhiro

工学研究科　物理学系専攻，教授

学歴

  • ～ 1987年03月，東北大学，工学研究科，電気及通信工学専攻

経歴

  • 2020年04月01日 ～ 継続中，大阪大学 工学研究科 物理学系専攻，教授
  • 2002年05月 ～ 継続中，大阪大学教授
  • 1996年07月 ～ 継続中，大阪大学助教授
  • 1990年01月 ～ 継続中，広島大学助手
  • 1988年01月 ～ 継続中，岩手大学助手
  • 1987年04月 ～ 継続中，東北大学助手
  • 2005年04月01日 ～ 2020年03月31日，大阪大学 工学研究科 精密科学・応用物理学専攻，教授
  • 2002年05月01日 ～ 2005年03月31日，大阪大学 工学研究科，教授
  • 1998年04月01日 ～ 2002年04月30日，大阪大学 工学研究科，助教授

研究内容・専門分野

  • ナノテク・材料，ナノ構造化学
  • ナノテク・材料，ナノ構造物理

所属学会

  • 真空協会
  • 日本表面科学会
  • 日本電子顕微鏡学会
  • 日本物理学会
  • 応用物理学会

論文

  • Optical Imaging of a Single Molecule with Subnanometer Resolution by Photoinduced Force Microscopy，Tatsuya Yamamoto,Hidemasa Yamane,Nobuhiko Yokoshi,Hisaki Oka,Hajime Ishihara,Yasuhiro Sugawara，ACS Nano，American Chemical Society (ACS)，Vol. 18，No. 2，p. 1724-1732，2023年12月29日，研究論文（学術雑誌）
  • Study of CO molecules on Pd/Al2O3/NiAl(110) surface by atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy，Shanrong Zou,Jiuyan Wei,Qiang Zhu,Hongqian Sang,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Journal of Nanoparticle Research，Springer Science and Business Media LLC，Vol. 25，No. 7，2023年06月30日，研究論文（学術雑誌）
  • Improvement of excitation and collection efficiency simultaneously with integrated Au coatings for chip-scale NV magnetometer，Liu Xinyu,Zheng Doudou,Zhao Junzhi,Wang Qimeng,Liu Yankang,Guo Hao,Tang Jun,Sugawara Yasuhiro,Li Yanjun,Ma Zongmin,Liu Jun，Sensors and Actuators A: Physical，Elsevier BV，Vol. 352，p. 114206-114206，2023年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Investigation of semiconductor properties of Co/Si(111)-7 × 7 by AFM/KPFS，Zhang Qu,Yasuhiro Sugawara,Yanjun Li，Journal of Physics: Condensed Matter，IOP Publishing，Vol. 35，No. 18，p. 185001-185001，2023年03月09日，研究論文（学術雑誌）
  • Adaptive filter entropy monitoring method for scalar magnetic detection using optically pumped magnetometers，Shuai Qiao,Qimeng Wang,Doudou Zheng,Qingfeng Hou,Junzhi Zhao,Jun Tang,Li Yanjun,Yasuhiro Sugawara,Zongmin Ma,Jun Liu，Measurement Science and Technology，IOP Publishing，Vol. 34，No. 5，p. 055107-055107，2023年02月15日，研究論文（学術雑誌）
  • High–low Kelvin probe force spectroscopy for measuring the interface state density，Ryo Izumi,Masato Miyazaki,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Beilstein Journal of Nanotechnology，Beilstein Institut，Vol. 14，p. 175-189，2023年01月31日，研究論文（学術雑誌）
  • Near-field circular dichroism of single molecules，Hidemasa Yamane,Nobuhiko Yokoshi,Hisaki Oka,Yasuhiro Sugawara,Hajime Ishihara，Optics Express，Optica Publishing Group，Vol. 31，No. 3，p. 3415-3415，2023年01月30日，研究論文（学術雑誌）
  • Exploration of CO movement characteristics on rutile TiO2(110) surface，Qiang Zhu,Yasuhiro Sugawara,Yanjun Li，Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects，Elsevier BV，Vol. 656，p. 130402-130402，2023年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Dual-bias modulation heterodyne Kelvin probe force microscopy in FM mode，Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Applied Physics Letters，AIP Publishing，Vol. 121，No. 24，p. 241602-241602，2022年12月12日，研究論文（学術雑誌）
  • Hybrid mode atomic force microscopy of phase modulation and frequency modulation，Tatsuya Yamamoto,Masato Miyazaki,Hikaru Nomura,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Microscopy，Oxford University Press (OUP)，Vol. 72，No. 3，p. 236-242，2022年11月02日，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic structure and electron distribution of Co atoms adsorbed on Si(111) surface by NC-AFM/KPFM at 78 K，Zhang Qu,Jiuyan Wei,Xiaopeng Liu,Yasuhiro Sugawara,Yanjun Li，Surface Science，Elsevier BV，Vol. 724，p. 122130-122130，2022年10月，研究論文（学術雑誌）
  • Nanoscale optical imaging with photoinduced force microscopy in heterodyne amplitude modulation and heterodyne frequency modulation modes，Junsuke Yamanishi,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara，Journal of Photochemistry and Photobiology C: Photochemistry Reviews，Elsevier BV，Vol. 52，p. 100532-100532，2022年09月，研究論文（学術雑誌）
  • Tip-Induced Dynamic Behaviors of a Water Molecule and Hydroxyl on the Rutile TiO<sub>2</sub>(110) Surface，Qiang Zhu,Yuuki Adachi,Yasuhiro Sugawara,Yanjun Li，The Journal of Physical Chemistry C，American Chemical Society (ACS)，Vol. 126，No. 31，p. 13062-13068，2022年07月27日，研究論文（学術雑誌）
  • Direct measurement of surface photovoltage by AC bias Kelvin probe force microscopy，Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Beilstein Journal of Nanotechnology，Beilstein Institut，Vol. 13，p. 712-720，2022年07月25日，研究論文（学術雑誌）
  • Visualization of Strain-Engineered Nanopattern in Center-Confined Mesoscopic WS<sub>2</sub> Monolayer Flakes，Rui Xu,Yingzhuo Lun,Lan Meng,Fei Pang,Yuhao Pan,Zhiyue Zheng,Le Lei,Sabir Hussain,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Jiawang Hong,Wei Ji,Zhihai Cheng，The Journal of Physical Chemistry C，American Chemical Society (ACS)，Vol. 126，No. 16，p. 7184-7192，2022年04月28日，研究論文（学術雑誌）
  • Energy dissipation during collision for anti-relaxation coatings in alkali-metal vapor cells，Cheng Dong,Xiangqian Fang,Junjun Sang,Jun Tang,Haifeng Dong,Yasuhiro Sugawara,Yanjun Li,Zongmin Ma,Jun Liu，Japanese Journal of Applied Physics，IOP Publishing，Vol. 61，No. 5，p. 055504-055504，2022年04月25日，研究論文（学術雑誌）
  • Local spectroscopic imaging of a single quantum dot in photoinduced force microscopy，Junsuke Yamanishi,Hidemasa Yamane,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Applied Physics Letters，AIP Publishing，Vol. 120，No. 16，p. 161601-161601，2022年04月18日，研究論文（学術雑誌）
  • Study of high–low KPFM on a pn-patterned Si surface，Ryo Izumi,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara，Microscopy，Oxford University Press (OUP)，Vol. 71，No. 2，p. 98-103，2022年04月01日，研究論文（学術雑誌）
  • Charge State Tristability of Oxygen Adatom on a Rutile TiO<sub>2</sub>(110)–(1 × 1) Surface Controlled by Atomic Force Microscopy，Yuuki Adachi,Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Ján Brndiar,Lev Kantorovich,Ivan Štich,Yan Jun Li，The Journal of Physical Chemistry C，American Chemical Society (ACS)，Vol. 126，No. 10，p. 5064-5069，2022年03月17日，研究論文（学術雑誌）
  • Probing CO on a rutile TiO2(110) surface using atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy，Yuuki Adachi,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Nano Research，Springer Science and Business Media LLC，Vol. 15，No. 3，p. 1909-1915，2022年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Unraveling the Charge States of Au Nanoclusters on an Oxygen-Rich Rutile TiO<sub>2</sub>(110) Surface and Their Triboelectrification Overturn by nc-AFM and KPFM，Quanzhen Zhang,Ján Brndiar,Martin Konôpka,Huan Fei Wen,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Robert Turanský,Rui Xu,Zhi Hai Cheng,Yasuhiro Sugawara,Ivan Štich,Yan Jun Li，The Journal of Physical Chemistry C，American Chemical Society (ACS)，Vol. 125，No. 50，p. 27607-27614，2021年12月23日，研究論文（学術雑誌）
  • Single hydrogen atom manipulation for reversible deprotonation of water on a rutile TiO2 (110) surface，Yuuki Adachi,Hongqian Sang,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Communications Chemistry，Springer Science and Business Media LLC，Vol. 4，No. 1，2021年12月，研究論文（学術雑誌）
  • Voltage- and Redox State-Triggered Oxygen Adatom Conductance Switch，Quanzhen Zhang,Ján Brndiar,Yuuki Adachi,Martin Konôpka,Huan Fei Wen,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Rui Xu,Zhi Hai Cheng,Hongqian Sang,Yan Jun Li,Lev Kantorovich,Ivan Štich，The Journal of Physical Chemistry C，American Chemical Society (ACS)，Vol. 125，No. 48，p. 26801-26807，2021年11月30日，研究論文（学術雑誌）
  • The Possibility of Integrating NV Magnetometer Array by Using Wireless Microwave Excitation and Its Application in Remote Heart Sound Records，Doudou Zheng,Qimeng Wang,Xiaocheng Wang,Xuemin Wang,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara,Li Qin,Xiaoming Zhang,Yunbo Shi,Jun Tang,Hao Guo,Zongmin Ma,Jun Liu，IEEE Sensors Journal，Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)，Vol. 21，No. 20，p. 22587-22594，2021年10月15日，研究論文（学術雑誌）
  • Exploring the nature of hydrogen of Rutile TiO2(110) at 78 K，Huan Fei Wen,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，SURFACES AND INTERFACES，ELSEVIER，Vol. 26，2021年10月，研究論文（学術雑誌）
  • Detection of sub-nanotesla magnetic fields by linewidth narrowing in high-density nitrogen vacancy magnetometry with pulsed ESR method，Yangang Zhang,Xiaocheng Wang,Junqi Wang,Doudou Zheng,Liumin Niu,Xiaohan Chai,Jun Tang,Hao Guo,Li Qin,Xiaoming Zhang,Zongmin Ma,Jun Liu,Yasuhiro Sugawara,Yanjun Li，JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS，IOP PUBLISHING LTD，Vol. 60，No. 9，2021年09月，研究論文（学術雑誌）
  • Charge Behavior of Terminal Hydroxyl on Rutile TiO<sub>2</sub>(110)，Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Langmuir，American Chemical Society (ACS)，Vol. 37，No. 35，p. 10588-10593，2021年08月26日，研究論文（学術雑誌）
  • Optical force mapping at the single-nanometre scale，Junsuke Yamanishi,Hidemasa Yamane,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Nobuhiko Yokoshi,Tatsuya Kameyama,Seiya Koyama,Tsukasa Torimoto,Hajime Ishihara,Yasuhiro Sugawara，NATURE COMMUNICATIONS，NATURE RESEARCH，Vol. 12，No. 1，2021年06月，研究論文（学術雑誌）
  • Homogeneity of the negatively charged assembly of nitrogen vacancy centres in diamonds using the Quasi-finite-element optical scanning position method，Doudou Zheng,Zongmin Ma,Yangang Zhang,Yueping Fu,Jiuyan Wei,Hua Yuan,Li Qin,Yunbo Shi,Jun Tang,Jun Liu,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara，LASER PHYSICS，IOP PUBLISHING LTD，Vol. 31，No. 4，2021年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Electrically-induced manipulation of the Au nanoclusters on oxidized rutile TiO2(110) surface by atomic force microscopy at 78K，Quanzhen Zhang,Huan Fei Wen,Rui Xu,Zhihai Cheng,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，The Journal of Physical Chemistry C，Vol. 124，No. 52，p. 28562-28568，2020年12月，研究論文（学術雑誌）
  • Oxygen Adsorb-induced Charge State Change of Pd Nanocluster on Al2O3/NiAl(110) Surface，Shanrong Zou,Y. Sugawara,Yan Jun Li，The Journal of Physical Chemistry C，Vol. 125，No. 1，p. 446-451，2020年12月，研究論文（学術雑誌）
  • Effects of subsurface charge on surface defect and adsorbate of rutile TiO2 (110)，Wen Huan-Fei,Yasuhiro Sugawara,Li Yan-Jun，ACTA PHYSICA SINICA，CHINESE PHYSICAL SOC，Vol. 69，No. 21，2020年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Direct observation of Si (110)-(16×2) surface reconstruction by atomic force microscopy，Tatsuya Yamamoto,Ryo Izumi,Kazushi Miki,Takahiro Yamasaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Beilstein Journal of Nanotechnology，Vol. 11，p. 1750-1756，2020年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Theoretical analysis of optically selective imaging in photoinduced force microscopy，Hidemasa Yamane,Junsuke Yamanishi,Nobuhiko Yokoshi,Yasuhiro Sugawara,Hajime Ishihara，OPTICS EXPRESS，OPTICAL SOC AMER，Vol. 28，No. 23，p. 34787-34803，2020年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Strain-Induced Hierarchical Ripples in MoS2 Layers Investigated by Atomic Force Microscopy，Sabir Hussain,Rui Xu,Kunqi Xu,Le Lei,Lan Meng,Zhiyue Zheng,Shuya Xing,Jianfeng Guo,Haoyu Dong,Adeel Liaqat,Muhammad Iqbal,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara,Fei Pang,Wei Ji,Liming Xie,Zhihai Cheng，Applied Physics Letters，Vol. 117，p. 153102-1-153102-7，2020年10月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomically Asymmetric Inversion Scales up to Mesoscopic Single-Crystal Monolayer Flakes，Rui Xu,Fei Pang,Yuhao Pan,Lan Meng,Zhiyue Zheng,Kunqi Xu,Le Lei,Sabir Hussain,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Wei Ji,Zhihai Cheng，ACS Nano，Vol. 14，No. 10，p. 13834-13840，2020年09月，研究論文（学術雑誌）
  • Size dependence of charge state of Pd nanoparticles on Al2O3/NiAl(110) surface determined by Kelvin probe force microscopy，Shanrong Zou,Hirotaka Yokoyama,Yasuhiro Sugawara,Yanjun Li，The Journal of Physical Chemistry C，Vol. 124，No. 39，p. 21641-21645，2020年09月，研究論文（学術雑誌）
  • Imaging Oxygen Molecular Adsorption and Dissociation on TiO2(110) Surface with Real Configuration at 78 K by Atomic Force Microscopy，Huan Fei Wen,Hongqian Sang,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Physical Chemistry Chemical Physics，Vol. 22，p. 19795-19801，2020年08月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic Scale Three Dimensional Au Nanocluster on Rutile TiO2 (110) Surface Resolved by Atomic Force Microscopy，Yuuki Adachi,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，The Journal of Physical Chemistry Letters，Vol. 11，p. 7153-7158，2020年08月，研究論文（学術雑誌）
  • Dynamic Behavior of OH and Its Atomic Contrast with O adatom on Ti site of TiO2(110) at 78 K by Atomic Force Microscopy Imaging，Huan Fei Wen,Hongqian Sang,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Appled Physics Letters，Vol. 117，p. 051602-1-051602-4，2020年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Multi-Channel Exploration of O Adatom on TiO2(110) Surface by Atomic Force Microscopy，HuanFei Wen,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Nanomaterials，Vol. 10，p. 1506(1)-1506(9)，2020年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Surface potential measurement by heterodyne frequency modulation Kelvin probe force microscopy in MHz range，Yasuhiro Sugawara,Masato Miyazaki,Yanjun Li，Journal of Physics Communications，Vol. 4，2020年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Remotely Controlling the Charge State of Oxygen Adatoms on Rutile TiO2(110) Surface using Atomic Force Microscopy，Yuuki Adachi,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，The Journal of Physical Chemistry Part C，Vol. 124，No. 22，p. 12010-12015，2020年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Elucidating Charge State of an Au Nanocluster on Oxidized/Reduced Rutile TiO2(110) Surfaces using non-contact atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy，Yuuki Adachi,Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Nanoscale Advances，Vol. 2，p. 2371-2375，2020年03月，研究論文（学術雑誌）
  • A hand-held magnetometer based on an ensemble of nitrogen-vacancy centers in diamond，D. Zheng,Z. Ma,W. Guo,L. Niu,J. Wang,X. Chai,Y. J. Li,Y. Sugawara,C. Yu,Y. Shi,X. Zhang,J. Tang,H. Guo,J. Liu，J. Phys. D: Appl. Phys.，Vol. 53，No. 15，p. 155004 (1)-155004(6)，2020年02月，研究論文（学術雑誌）
  • Single hydrogen atom manipulation for reversible deprotonation of water on a rutile TiO2 (110) surface，安達 有輝,菅原 康弘,李艶君，No. 4，p. 1-5，2020年01月，研究論文（学術雑誌）
  • AFM/KPFSによる二酸化チタン表面に吸着した酸素原子・分子の電荷状態の原子レベル解析と電荷，李 艶 君,安 達 有 輝,菅 原 康 弘，触媒，Vol. 62，No. 1，p. 9-14，2020年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Adhesion Effect on the Hyperfine Frequency Shift of an Alkali Metal Vapor Cell with Paraffin Coating Using Peak-Force Tapping AFM，Jiuyan Wei,Zongmin Ma,Huanfei Wen,Hao Guo,Jun Tang,Jun Liu,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara，Coatings，Vol. 10，No. 84，p. 1-11，2020年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Electrical Engineering of the Oxygen Adatom and Vacancy on Rutile TiO2(110) by Atomic Force Microscopy at 78 K，Quanzhen Zhang,Huan Fei Wen,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Rui Xu,Zhi Hai Cheng,Yan Jun Li，The Journal of Physical Chemistry C，Vol. 123，No. 47，p. 28852-28858，2019年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Identification of Atomic Defects and Adsorbates on Rutile TiO2(110)-(1×1) Surface by Atomic Force Microscopy.，Huan Fei Wen,Yuuki Adachi,Quanzhen Zhang,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，The Journal of Physical Chemistry C，Vol. 123，p. 25756-25760，2019年09月，研究論文（学術雑誌）
  • Characterization and Reversible Migration of Subsurface Hydrogen on Rutile TiO2(110) by nc-AFM/STM/KPFM at 78 K，Quanzhen Zhang,Huan Fei Wen,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Rui Xu,Zhihai Cheng,Yan Jun Li，The Journal of Physical Chemistry，Vol. 123，No. 36，p. 22595-22602，2019年08月，研究論文（学術雑誌）
  • Tip-induced Control of Charge and Molecular Bonding of Oxygen Atoms on the Rutile TiO2 (110) Surface with Atomic Force Microscopy，Yuuki Adachi,Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Hongqian Sang,Ján Brndiar,Lev Kantorovich,Ivan Štich,Yan Jun Li，ACS Nano，Vol. 16，p. 6917-6924，2019年06月，研究論文（学術雑誌）
  • Imaging of the surface potential at the steps on rutile TiO2(110) surface by Kelvin probe force microscopy，Masato Miyazaki,Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Yuuki Adachi,Jan Brndiar,Ivan Štich,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Beilstein Journal of Nanotechnology，Vol. 10，p. 1228-1236，2019年06月
  • Contrast inversion of O adatom on rutile TiO2(110)-(1×1) surface by atomic force microscopy imaging，Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li，Applied Surface Science，Vol. 505，p. 144623-144627，2019年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Interfacial water intercalation-induced metal-insulator transition in NbS2/BN heterostructure，Rui Xu,Xinsheng Wang,Zhiyue Zheng,Shili Ye,Kunqi Xu,Le Lei,Sabir Hussain,Fei Pang,Xinmeng Liu,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Wei Ji,Liming Xie,Zhihai Cheng，NANOTECHNOLOGY，IOP PUBLISHING LTD，Vol. 30，No. 20，2019年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Subatomic-scale resolution with SPM: Co adatom on p(2 x 1)Cu(110):O，Robert Turansky,Krisztian Palotas,Jan Brndiar,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara,Ivan Stich，Nanotechnology，Vol. 30，p. 095703(1)-095703(7)，2019年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Direct observation of atomic step edges on the rutile TiO2(110)-(1× 1) surface using atomic force microscopy，Huan Fei Wen,Masato Miyazaki,Quanzhen Zhang,Yuuki Adachi,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Phys. Chem. Chem. Phys.，Vol. 20，p. 28337-28337，2018年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Measurement and Manipulation of the Charge State of Adsorbed Oxygen Adatom on Rutile TiO2(110)-1×1 Surface by nc-AFM and KPFM，Quanzhen Zhang,Yan Jun Li,Huan Fei Wen,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Rui Xu,Zhi Hai Cheng,Ján Brndiar,Lev Kantorovich,Ivan Štich，Journal of American Chemical Society，Vol. 140，No. 46，p. 15668-15674，2018年10月，研究論文（学術雑誌）
  • Direct visualization of Oxygen Reaction with Paired Hydroxyl on TiO2(110) Surface at 78 K by Atomic Force Microscopy，Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Direct visualization of Oxygen Reaction with Paired Hydroxyl on TiO2(110) Surface at 78 K by Atomic Force Microscopy，Vol. 122，p. 17395-17399，2018年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Stable Contrast Mode on TiO2(110) Surface with Metal-Coated Tips Using AFM，Yanjun Li,Huanfei Wen,Q. Zhang,Y. Adachi,Eiji Arima,Yukinori Kinoshita,Hikaru Nomura,Zongmin Ma,Lili Kou,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara,Rui Xu,Zhihai Cheng，Ultramicroscopy，Vol. 191，p. 51-55，2018年04月，研究論文（学術雑誌）
  • High harmonic exploring on different materials in dynamic atomic force microscopy，ZhiYue Zheng,Rui Xu,ShiLi Ye,Sabir Hussain,Wei Ji,Peng Cheng,YanJun Li,Yasuhiro Sugawara,ZhiHai Cheng，SCIENCE CHINA-TECHNOLOGICAL SCIENCES，SCIENCE PRESS，Vol. 61，No. 3，p. 446-452，2018年03月
  • KPFM/AFM imaging on TiO2(110) surface in O2 gas，Eiji Arima,Huanfei Wen,Yoshitaka Naitoh,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara，Nanotechnology，Vol. 29，p. 105504(1)-105504(8)，2018年02月，研究論文（学術雑誌）
  • Photoinduced Force Microscopy Imaging Using Heterodyne-FM Technique，Junsuke Yamanishi,Masaaki Tsujii,Yoshitaka Naitoh,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara，OPTICAL MANIPULATION CONFERENCE，SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING，Vol. 10712，2018年，研究論文（国際会議プロシーディングス）
  • Magnetic resonance force microscopy using ferromagnetic resonance of a magnetic tip excited by microwave transmission via a coaxial resonator，Yukinori Kinoshita,Yan Jun Li,Satoru Yoshimura,Hitoshi Saito,Yasuhiro Sugawara，Nanotechnology，Vol. 28，p. 485709(1)-485709(6)，2017年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Sub-atomic-scale tip-surface force vector mapping above a Ge(001) dimer using bimodal atomic force micorscopy，Yoshitaka Naitoh,Robert Turanský,Ján Brndiar,Yan Jun Li,Ivan Štich,Yasuhiro Sugawara，nature physics，Vol. 13，No. 7，p. 663-667，2017年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Investigation of the surface potential of TiO2(110) by frequency-modulation Kelvin probe force microscopy，Lili Kou,Yan Jun Li,Takeshi Kamijo,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara，Nanotechnology，2016年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Promoting atoms into delocalized long-living magnetically modified state using Atomic Force Microscopy，Y. Kinoshita,R. Turanský,J. Brndiar,Y. Naitoh,Y. J. Li,L. Kantorovich,Y. Sugawara,I. Štich，Nano Letters，Vol. 16，No. 12，p. 7490-7494，2016年10月，研究論文（学術雑誌）
  • Development of Low Temperature Atomic Force Microscopy with an Optical Beam Deflection System Capable of Simultaneously Detecting the Lateral and Vertical Forces，Eiji Arima,Huanfei Wen,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Rev. Sci. Instrum.，2016年09月，研究論文（学術雑誌）
  • Growth models of coexisting p(2 x 1) and c(6 x 2) phases on an oxygen-terminated Cu(110) surface studied by noncontact atomic force microscopy at 78 K，Yan Jun Li,Seung Hwan Lee,Yukinori Kinoshita,Zong Min Ma,Huanfei Wen,Hikaru Nomura,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara，Nanotechnology，Institute of Physics Publishing，Vol. 27，No. 20，p. 205702-205702，2016年04月07日，研究論文（学術雑誌）
  • Growth models of coexisting p(2×1) and c(6×2) phases on an oxygen-terminated Cu(110) surface studied by noncontact atomic force microscopy at 78 K，Yan Jun Li,Seung Hwan Lee,Yukinori Kinoshita,Zong Min Ma,Huanfei Wen,Hikaru Nomura,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara，Nanotechnology，2016年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Distance dependence of atomic-resolution near-field Imaging on the α-Al2O3 surface with respect to surface photovoltage of a silicon probe tip，Junsuke Yamanishi,Takashi Tokuyama,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Nano Research，Vol. 9，No. 2，p. 530-536，2016年02月，研究論文（学術雑誌）
  • 19aAR-5 多周波数モード原子間力顕微鏡によるGe(001)表面のサブ原子スケール弾性状態の研究，内藤 賀公,李 艶君,菅原 康弘，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 71，p. 2484-2484，2016年
  • 原子レベルで表面磁性を可視化する強磁性共鳴を用いた磁気交換力顕微鏡の開発，有馬 英司,内藤 賀公,李 艶君,菅原 康弘，表面科学，公益社団法人 日本表面科学会，Vol. 37，No. 9，p. 416-421，2016年
  • Atomic Force Microscopy identification of Al-sites on ultrathin aluminum oxide film on NiAl(110)，Yan Jun Li,Jan Brndiar,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara,Ivan Stich，Nanotechnology，2015年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic-Resolution Imaging of the Optical Near Field Based on the Surface Photovoltage of a Silicon Probe Tip，Yasuhiro Sugawara,Junsuke Yamanishi,Takashi Tokuyama,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li，Phys. Rev. Appl.，2015年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Surface potential imaging with atomic resolution by frequency-modulation Kelvin probe force microscopy without bias voltage feedback，Lili Kou,Zongmin Ma,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masaharu Komiyama,Yasuhiro Sugawara，Nanotechnology，2015年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Magnetic force microscopy using tip magnetization modulated by ferromagnetic resonance，Eiji Arima,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Satoru Yoshimura,Hitoshi Saito,Hikaru Nomura,Ryoichi Nakatani,Yasuhiro Sugawara，Nanotechnology，Institute of Physics Publishing，Vol. 26，No. 12，p. 125701-125701，2015年03月27日，研究論文（学術雑誌）
  • Magnetic force microscopy using tip magnetization modulated by ferromagnetic resonance，Eiji Arima,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Satoru Yoshimura,Hitoshi Saito,Hikaru Nomura,Ryoichi Nakatani,Yasuhiro Sugawara，Nanotechnology，2015年03月，研究論文（学術雑誌）
  • 原子レベルでの表面磁性を可視化する新規SPM計測法の開発，菅原 康弘,有馬 英司,内藤 賀公,李 艶君，表面科学学術講演会要旨集，公益社団法人 日本表面科学会，Vol. 35，p. 27-27，2015年
  • Vertical atomic manipulation with dynamic atomic-force microscopy without tip change via a multi-step mechanism，J. Bamidele,Seung-Hwan Lee,Y. Kinoshita,R. Turanský,Y. Naitoh,Y. J. Li,Y. Sugawara,I. Štich,L. Kantorovich，Nature Communications，2014年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Image formation and contrast inversion in NC-AFM imaging of oxidized Cu(110) surfaces，Joseph Bamidele,Yukinori Kinoshita,Robert Turanský,Seung-Hwan Lee,Yoshitaka Naitoh,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara,Ivan Štich,Lev Kantorovich，Phys. Rev. B，2014年07月，研究論文（学術雑誌）
  • The stray capacitance effect in Kelvin probe force microscopy using FM, AM and heterodyne AM modes，Zong Min Ma,Lili Kou,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Nanotechnology，2013年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Complex design of dissipation signals in non-contact atomic force microscopy，Joseph Bamidele,Yan Jun Li,Samuel Jarvis,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara,Lev Kantorovich，Physical Chemistry Chemical Physics，2012年12月，研究論文（学術雑誌）
  • Quantification of Atomic-Scale Elasticity on Ge(001)-c(4×2) Surfaces via Noncontact Atomic Force Microscopy with a Tungsten-Coated Tip，Y. Naitoh,T. Kamijo,Y. J. Li,Y. Sugawara，Phys. Rev. Lett.，2012年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Chemical tip fingerprinting in scanning probe microscopy of an oxidized Cu(110) surface，J. Bamidele,Y. Kinoshita,R. Turanský,Seung-Hwan Lee,Y. Naitoh,Y. J. Li,Y. Sugawara,I. Štich,L. Kantorovich，Phys. Rev. B，2012年10月，研究論文（学術雑誌）
  • High potential sensitivity in heterodyne amplitude modulation Kelvin probe force microscopy，Yasuhiro Sugawara,Lili Kou,Zongmin Ma,Takeshi Kamijo,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li，Appled Physics Letters，2012年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Force Mapping on NaCl(100)/Cu(111) Surface by Atomic Force Microscopy at 78 K，Y. J. Li,Y. Kinoshita,K. Tenjin,Z. Ma,L. Kou,Y. Naitoh,M. Kageshima,Y. Sugawara，Japanese Journal of Applied Physics，2012年02月，研究論文（学術雑誌）
  • Fabrication of Sharp Tungsten-coated Tip for Atomic Force Microscopy by Ion-beam Sputter deposition，Y. Kinoshita,Y. Naitoh,Y. J. Li,Y. Sugawara，Revew of Scientific Instrumunts，2011年10月，研究論文（学術雑誌）
  • Switching surface polarization of atomic force microscopy probe utilizing photoisomerization of photochromic molecules，Yoshihiro Aburaya,Hikaru Nomura,Masami Kageshima,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，JOURNAL OF APPLIED PHYSICS，AMER INST PHYSICS，Vol. 109，No. 6，2011年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Switching surface polarization of atomic force microscopy probe utilizing photoisomerization of photochromic molecules，Yoshihiro Aburaya,Hikaru Nomura,Masami Kageshima,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Journal of Applied Physics，2011年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Simultaneous observation of surface topography and elasticity at atomic scale by multifrequency frequency modulation atomic force microscopy，Yoshitaka Naitoh,Zongmin Ma,Yan Jun Li,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara，Journal of Vacuum Science and Technology B，2010年10月，研究論文（学術雑誌）
  • High force sensitivity in Q-controlled phase-modulation atomic force microscopy，Naritaka Kobayashi,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara，APPLIED PHYSICS LETTERS，AMER INST PHYSICS，Vol. 97，No. 1，2010年07月，研究論文（学術雑誌）
  • High force sensitivity in Q-controlled phase-modulation atomic force microscopy，Naritaka Kobayashi,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara，Applied Physics Letters，2010年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Multifrequency High-Speed Phase-Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids，Yan Jun Li,Kouhei Takahashi,Naritaka Kobayashi,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara，Ultramicroscopy，2010年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Step Response Measurement of AFM Cantilever for Analysis of Frequency-Resolved Viscoelasticity，Tatsuya Ogawa,Shinkichi Kurachi,Masami Kageshima,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Ultramicroscopy，2010年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Effect of Surface Stress around the SA Step of Si(001) on the Dimer Structure Induced by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5 K，Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Hikaru Nomura,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara，Journal of Physical Society of Japan，2010年01月，研究論文（学術雑誌）
  • The influence of Si cantilever tip with/without tungsten coating on NC-AFM imaging of Ge(001) surface，Yoshitaka Naitoh,Yukinori Kinoshita,Yan Jun LI,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara，Nanotechnology，2009年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Development of atomic force microscope with wide-band magnetic excitation for study of soft matter dynamics，Masami Kageshima,Takuma Chikamoto,Tatsuya Ogawa,Yoshiki Hirata,Takahito Inoue,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Review of Scientific Instruments，2009年02月，研究論文（学術雑誌）
  • 極低温環境における原子分解能非接触原子間力顕微鏡計測技術，菅原 康弘,内藤 賀公,影島 賢巳,李 艶君，真空，The Vacuum Society of Japan，Vol. 51，No. 12，p. 789-795，2008年12月20日
  • Atomic-Scale Imaging of B/Si(111)$\sqrt{3}{\times}\sqrt{3}$ Surface by Noncontact Atomic Force Microscopy，Kinoshita Masaharu,Naitoh Yoshitaka,Li Yan Jun,Kageshima Masami,Sugawara Yasuhiro，Jpn J Appl Phys，Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics，Vol. 47，No. 10，p. 8218-8220，2008年10月25日，研究論文（学術雑誌）
  • High-Speed Phase-Modulation Atomic Force Microscopy in Constant-Amplitude Mode Capable of Simultaneous Measurement of Topography and Energy Dissipation，Li Yan Jun,Kobayashi Naritaka,Nomura Hikaru,Naitoh Yoshitaka,Kageshima Masami,Sugawara Yasuhiro，Jpn J Appl Phys，Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics，Vol. 47，No. 7，p. 6121-6124，2008年07月25日，研究論文（学術雑誌）
  • Study of Oxidized Cu(110) Surface Using Noncontact Atomic Force Microscopy，Shohei Kishimoto,Masami Kageshima,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara，Surf. Sci.，2008年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Theoretical investigation on force sensitivity in Q-controlled phasemodulationatomic force microscopy in constant-amplitude mode，Naritaka Kobayashi,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara，J. Appl. Phys.，2008年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Phase Modulation Atomic Force Microscopy in Constant Excitation Mode Capable of Simultaneous Imaging of Topography and Energy Dissipation，Yan Jun Li,Naritaka Kobayashi,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara，Appl. Phys. Lett.，2008年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Viscoelasticity and Dynamics of Single Biopolymer Chain Measured with Magnetically Modulated Atomic Force Microscopy，M. Kageshima,Y. Nishihara,Y. Hirata,T. Inoue,Y. Naitoh,Y. Sugawara，AIP Conference Proceedings，2008年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Q値制御法による位相変調方式原子間力顕微鏡の感度向上，小林成貴,李艶君,内藤賀公,影島賢巳,菅原康弘，表面科学，Vol. 28，No. 9，p. 532-535，2007年09月，研究論文（学術雑誌）
  • Si(001)ステップからの表面応力によるダイマー構造変化のLT-NC-AFM測定，内藤 賀公,野村 光,影島 賢巳,李 艶君,菅原 康弘，表面科学 = Journal of The Surface Science Society of Japan，日本表面科学会，Vol. 28，No. 8，p. 421-427，2007年08月10日，研究論文（学術雑誌）
  • Elimination of instabilities in phase shift curves in phase-modulation atomic force microscopy in constant-amplitude mode，Yasuhiro Sugawara,Naritaka Kobayashi,Masayo Kawakami,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima，APPLIED PHYSICS LETTERS，2007年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Force Microscopy Imaging of Rest Atom on Si(111)$7{\times}7$ Surface under Strong Tip–Surface Interaction，Naitoh Yoshitaka,Momotani Kohji,Nomura Hikaru,Li Yan Jun,Kageshima Masami,Sugawara Yasuhiro，Journal of the Physical Society of Japan，一般社団法人日本物理学会，Vol. 76，No. 3，p. 33601-033601-4，2007年03月15日，研究論文（学術雑誌）
  • Dissipative force modulation Kelvin probe force microscopy applying doubled frequency ac bias voltage，H. Nomura,K. Kawasaki,T. Chikamoto,Y. J. Li,Y. Naitoh,M. Kageshima,Y. Sugawara，Appl. Phys. Lett.，2007年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Wide-band and hysteresis-free regulation of piezoelectric actuator based on induced current for high-speed scanning probe microscopy，Masami Kageshima,Shinsuke Togo,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara，Review of Scientific Instruments，2006年10月，研究論文（学術雑誌）
  • High-sensitivity force detection by phase-modulation atomic force microscopy，Naritaka Kobayashi,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara，JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS，JAPAN SOC APPLIED PHYSICS，Vol. 45，No. 29-32，p. L793-L795，2006年08月，研究論文（学術雑誌）
  • High Sensitive Force Detection by Phase Modulation Atomic Force Microscopy (PM-AFM)，Naritaka Kobayashi,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara，Jpn. J. Appl. Phys. Lett.，2006年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Discrimination of individual atoms on Ge/Si(111)-(7×7) intermixed surface，Insook Yi,Ryuji Nishi,Yoshiaki Sugimoto,Masayuki Abe,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita，Surface Science，Elsevier B. V.，Vol. 600，No. 13，p. 2766-2770，2006年07月，研究論文（学術雑誌）
  • The Origin of p(2ｘ1) Phase on Si(001) by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5 K，Yan Jun Li,Hikaru Nomura,Naoyuki Ozaki,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara,Chris Hobbs,Lev Kantorovich，Physical Review Letters，2006年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Functions of NC-AFM on atomic scale，S Morita,N Oyabu,T Nishimoto,R Nishi,O Custance,Yi, I,Y Sugawara，SCANNING PROBE MICROSCOPY: CHARACTERIZATION, NANOFABRICATION AND DEVICE APPLICATION OF FUNCTIONAL MATERIALS，SPRINGER，Vol. 186，p. 173-+，2005年，研究論文（国際会議プロシーディングス）
  • Microscale contact charging on a silicon oxide，S Morita,T Uchihashi,K Okamoto,M Abe,Y Sugawara，Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials，SPRINGER，Vol. 186，p. 289-+，2005年，研究論文（国際会議プロシーディングス）
  • Phase detection method with a positive feedback control using a quartz resonator based atomic force microscope in liquid environment，Ryuji Nishi,Kouichi Kitano,Insook Yi,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita，Applied Surface Science，Elsevier B. V.，2004年10月，研究論文（学術雑誌）
  • Ground state of Si(001) surface revisited----Is seeing believing ?，T. Uda,H. Shigekawa,Y. Sugawara,S. Mizuno,Y. Yamashita,J. Yoshinobu,K. Nakatsuji,H. Kawai,F. Komori，Progress in Surface Science，2004年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope，MORITA Seizo,SUGIMOTO Yoshiaki,OYABU Noriaki,NISHI Ryuji,CUSTANCE Oscar,SUGAWARA Yasuhiro,ABE Masayuki，Journal of electron microscopy，Oxford University Press，Vol. 53，No. 2，p. 163-168，2004年04月01日，研究論文（学術雑誌）
  • Atom Selective Imaging and Mechanical Atom Manipulation based on Noncontact Atomic Force Microscope Method，Morita Seizo,Oyabu Noriaki,Nishi Ryuji,Okamoto Kenji,Abe Masayuki,Custance Óscar,Yi Insook,Seino Yoshihide,Sugawara Yasuhiro，e-Journal of Surface Science and Nanotechnology，The Surface Science Society of Japan，Vol. 1，p. 158-170，2003年12月，研究論文（学術雑誌）
  • The Imaging Mechanism of Atomic-scale Kelvin Probe Force Microscopy and its Application to Atomic-Scale Force Mapping，Okamoto Kenji,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo，Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 42，No. 11，p. 7163-7168，2003年11月15日
  • Mechanical vertical manipulation of selected single atoms by soft nanoindentation using near contact atomic force microscopy，N Oyabu,O Custance,IS Yi,Y Sugawara,S Morita，PHYSICAL REVIEW LETTERS，AMERICAN PHYSICAL SOC，Vol. 90，No. 17，2003年05月，研究論文（学術雑誌）
  • KPFM imaging of Si(111)5√3×5√3-Sb surface for atom distinction using NC-AFM，K. Okamoto,K.Yoshimoto,Y. Sugawara,S. Morita，Applied Surface Science，Vol. 210，No. 1-2，p. 128-133，2003年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Atom-selective imaging by NC-AFM : case of oxygen adsorbed on a Si(111)7×7 surface，NISHI R，Appl. Surf. Sci.，Elsevier Science，Vol. 210，p. 90-92，2003年03月，研究論文（学術雑誌）
  • 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成(加工・記録)(<特集>近接場科学の工学応用をめざして)，菅原 康弘，精密工学会誌，公益社団法人精密工学会，Vol. 69，No. 2，p. 154-157，2003年02月05日
  • 原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察，森田清三,岡本憲二,内橋貴之,阿部真之,菅原康弘，静電気学会誌，Vol. 27，No. 2，p. 64-68，2003年02月
  • Characterization of semiconductor surfaces with noncontact atomic force microscopy，S Morita,Y Sugawara，NANOTECHNOLOGY AND NANO-INTERFACE CONTROLLED ELECTRONIC DEVICES，ELSEVIER SCIENCE BV，p. 429-453，2003年，研究論文（国際会議プロシーディングス）
  • 新規顕微鏡法の紹介 ＳＴＭおよびＡＦＭ，原理と応用，菅原 康弘，電子顕微鏡，The Japanese Society of Microscopy，Vol. 38，No. 1，p. 13-18，2003年
  • Atomically Resolved Imaging of Si(100)2x1, 2x1:H and 1x1:2H Surface with Nonconatct Atomic Force Microscopy，S. Morita,Y. Sugawara，Japanese J. Applied. Physics, vol41, part1, no.7B (2002) 4857-4862，2002年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Mapping and control of atomic force on Si(111)√3×√3-Ag surface using noncontact atomic force microscope，S.Morita,Y.Sugawara，Ultramicroscopy，Vol. 91，No. 1-4，p. 89-96，2002年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Observation of Si(100) surface with noncontact atomic force microscpe at 5K，T. Uozumi,Y. Tomiyoshi,N. Nakata,Y. Sugawara,S. Morita，Applied Surface Science，Elsevier，2002年03月，研究論文（学術雑誌）
  • The Elimination of the 'Artifact' in the Electrostatic Force Measurement using a Novel Noncontact Atomic Force Microscope/electrostatic Force Microscope，K. Okamoto,Y. Sugawara,S. Morita，Applied Surface Science，Elsevier，Vol. 188，No. 3，p. 381-385，2002年03月，研究論文（学術雑誌）
  • 「走査プローブ顕微鏡によるナノ加工と評価」，森田清三,菅原康弘，電子情報通信学会誌，2002年01月
  • 「走査型プローブ顕微鏡による複合極限場での原子イメージング」，森田清三,菅原康弘，表面金属学会、まてりあ，2002年01月
  • 「非接触原子間力顕微鏡で半導体の何がどこまで見えるのか？」，森田清三,菅原康弘，表面科学会、表面科学，2002年01月
  • Noncontact Atomic Force Microscopy on Semiconductor Surfaces，S.Morita,Y.Sugawara，2002年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic resolution imaging of Si(100)1×1 : 2H dihydride surface with noncontact atomic force microscopy (NC-AFM)，ARARAGI S.，Appl. Surf. Sci.，Elsevier，Vol. 188，No. 3，p. 272-278，2002年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Atom manipulation and image artifact on Si(111)7×7 surface using a low temperature noncontact atomic force microscope，SUGAWARA Y.，Appl. Surf. Sci.，Vol. 188，p. 285-291，2002年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Molecular Orbital Interpretation of Thymine/graphite Nc-AFM Images，M. Komiyama,T. Uchihashi,Y. Sugawara,S. Morita，Surface and Interface Analysis, vol32 (2002) 53-56，John Wiley & Sons, Ltd，2001年08月，研究論文（学術雑誌）
  • Micoroscopic Contact Charging and Dissipation，S. Morita,Y. Sugawara，Thin Solid Films, vol.393 (2001) 310-318，2001年08月，研究論文（学術雑誌）
  • Low-temperature Noncontact Atomic Force Microscope with Quick Sample and Cantilver Exchange Mechanism，N. Suehira,Y. Tomiyoshi,Y. Sugawara,S. Morita，Review of Scientific Instruments, vol.72, no.7 (2001) 2971-2976，American Institute of Physics，2001年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic Resolution Noncontact Atomic Force and Scanning Tunneling Microscopy of TiO2[100]-[1x1] and -[1x2]: Simultaneous Imaging of Surface Structure and Electronic States，M. Ashino,Y. Sugawara,S. Morita,M. Ishikawa，Physical Review Letter, vol86. no.19 (2001) 4334-4337，2001年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Load Dependence of Sticking-domain Distribution in Two-dimensional Atomic Scale Friction of NaF(100) Surface，S. Fujisawa,K. Yokoyama,Y. Sugawara,S. Morita，Tribology Letters, no.9 (2001) 69-72，2001年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Artifact and Fact of Si(111)$7{\times}7$ Surface Images Observed with a Low Temperature Noncontact Atomic Force Microscope (LT-NC-AFM)，Suehira Nobuhito,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo，Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters，社団法人応用物理学会，Vol. 40，No. 3，p. L292-L294，2001年03月15日，研究論文（学術雑誌）
  • A Noncontact Atomic Force Microscope in Air using a Quartz Resonatorand the FM Detection Method，R. Nishi,I. Houda,K. Kitano,Y. Sugawara,S. Morita，Applied Physics A，Springer，2001年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Force Imaging of Optical Near Field Using Noncontact Atomic Force Microscopy，Yasuhiro Sugawara，Abstract of the 43rd Seminar on Science and Technology, Near Field Optics Techniques, pp.~141-147，2001年03月
  • Frictional-force imaging and friction mechanisms with a lattice periodicity，S Morita,Y Sugawara,K Yokoyama,S Fujisawa，FUNDAMENTALS OF TRIBOLOGY AND BRIDGING THE GAP BETWEEN THE MACRO-AND MICRO/NANOSCALES，SPRINGER，Vol. 10，p. 83-101，2001年，研究論文（国際会議プロシーディングス）
  • Atomic scale origins of force interaction，S Morita,Y Sugawara,K Yokoyama,T Uchihashi，FUNDAMENTALS OF TRIBOLOGY AND BRIDGING THE GAP BETWEEN THE MACRO-AND MICRO/NANOSCALES，SPRINGER，Vol. 10，p. 103-120，2001年，研究論文（国際会議プロシーディングス）
  • 「ノーベル賞と分光学 Ⅵ.走査型トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡」，菅原康弘,森田清三，日本分光学会、分光研究，2001年01月
  • 「走査型プローブ顕微鏡によるナノテクノロジー」，森田清三,菅原康弘，応用物理学会、応用物理，2001年01月
  • Mapping and Control of Atomic Force with Noncontact Atomic Force Microscopy，S.Morita,Y.Sugawara，2001年01月
  • Non-contact Atomic Force Microscope in Air with Quartz Resonator Using FM Detection Method，R.Nishi,I.Houda,K.Kitano,Y.Sugawara,S.Morita，2001年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Noncontact AFM Imaging on Si(111) 2×1-Sb Surface with Occupied Lone-Pair Orbitals，Y.Sugawara,S.Orisaka,E.Hidaka,S.Mo，2001年01月，研究論文（学術雑誌）
  • 非接触原子間力顕微鏡と原子分子のナノ力学，森田清三,菅原康弘，学術月報, Vol.~53, No.~12, pp.~1319-1324，2000年12月
  • Microscopic Contact Charging and Dissipation，Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara，Abstract of the 4th International Conference on Nano-Molecular Electronics, pp.~153-154，2000年12月
  • 3D-Mapping and Control of Atomic Force with Noncontact Atomic Force Microscopy，Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara，Abstract of 4th International Workshop on Quantum Functional Devices, pp.~89-92，2000年11月
  • Atomically Resolved Imaging of Semiconductor Surfaces using Noncontact Atomic Force Microscopy，Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara，Abstract of 25th International Conference on the Physics of Semiconductors, p.~430，2000年09月
  • Carbon-Nanotube Tip for Highly-Reproducible Imaging of Deoxyribonucleic Acid Helical Turns by Noncontact Atomic Force Microscopy，Uchihashi Takayuki,Choi Nami,Tanigawa Masato,Ashino Makoto,Sugawara Yasuhiro,Nishijima Hidehiro,Akita Seiji,Nakayama Yoshikazu,Tokumoto Hiroshi,Yokoyama Kousuke,Morita Seizo,Ishikawa Mitsuru，Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters，社団法人応用物理学会，Vol. 39，No. 8，p. L887-L889，2000年08月15日
  • Development of a Low Temperature Noncontact Atomic Force Microscope using Optical Fiber Interferometer，Nnobuto Suehira,Yasushige Tomiyoshi,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita，Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~39，2000年07月
  • Atomic Resolution Imaging of a Lone-pair using NC-AFM，Eiji Hidaka,Shigeki Orisaka,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita，Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~18，2000年07月
  • Noncontact Atomic Force Microscopy of Oxygen-Deficient TiO$_2$(110) Surfaces，Makoto Ashino,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Mitsuru Ishikawa，Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~9，2000年07月
  • Noncontact AFM Imaging Mechanism of Si(100)２ｘ１ Surface Compared with Si(100)２ｘ１:H Surface on Atomic Scale，Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Kousuke Yokoyama,Taketoshi Ochi,Akira Yoshimoto，Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~4，2000年07月
  • Applications of Noncontact AFM with True Atomic Resolution，Yasuhiro Sugawara,Kousuke Yokoyama,Seizo Morita，Abstract of the Third International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~3，2000年07月
  • Atomic Force Mapping and Control of Atomic Force on a Si(111)√３ｘ√３-Ag Surface using a Noncontact Atomic Force Microscopy，Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara，Microbeam Analysis 2000, pp.~371-372，2000年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Structures of an Oxygen-Deficient TiO(110) Surface Studied by Noncontact Atomic Force Microscopy，Makoto Ashino,Takayuki Uchihashi,Kousuke Yokoyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Mitsuru Ishikawa，Jpn. J. Appl. Phys.，Vol. 39，No. 6B，p. 3765-3768，2000年06月，研究論文（学術雑誌）
  • STM and Atomic-resolution Noncontact AFM of an Oxygen-deficient TiO$_2$(110) Surface，Makoto Ashino,Takayuki Uchihashi,Kousuke Yokoyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Mitsuru Ishikawa，Phys. Rev. B,，Vol. 61，No. 20，p. 13955-13959，2000年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Correlation of frequency shift discontinuity to atomic positions on a Si(111)7×7 surface by noncontact atomic force microscopy，MORITA S.，Nanotechnology，Vol. 11，p. 120-123，2000年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Phase change detection of attractive force gradient by using a quartz resonator in noncontact atomic force microscopy，R Nishi,Houda, I,T Aramata,Y Sugawara,S Morita，APPLIED SURFACE SCIENCE，ELSEVIER SCIENCE BV，Vol. 157，No. 4，p. 332-336，2000年04月，研究論文（学術雑誌）
  • 技術解説 ナノ力学に基づいた原子分子技術，森田 清三,菅原 康弘，生産と技術，生産技術振興協会，Vol. 52，No. 2，p. 9-14，2000年04月
  • Development of Low Temperature Ultrahigh Vacuum Noncontact Atomic Force Microscope with PZT Cantilever，Nobuhito Suehira,Yasushige Tomiyoshi,Kenji Sugiyama,Syunji Watanabe,ikon Co,Touru Fujii,Nikon Cor,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita，Appl.Surf.Sci., Vol.157, No.4, pp.343-348，2000年04月，研究論文（学術雑誌）
  • High-resolution Imaging of Organic Monolayers using Noncontact AFM，Takayuki Uchihashi (Join,Research Center,JRCAT,Takao Ishida (Join,Research Center,JRCAT,Masaharu Komiyama,Yamanashi University,Makoto Ashino,Joi,Research Center,JRCAT,Yasuhiro Sugawara,Wataru Mizutani,Join,Research Center,JRCAT,Kousuke Yokoyama,Seizo Morita,Hiroshi Tokumoto,Jo,esearch Center,JRCAT,Mitsuru Ishikawa (Joi,Research Center,JRCAT，Appl. Surf. Sci., Vol. 157, No. 4, pp. 244-250，Vol. 157，No. 4，p. 244-250，2000年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Noncontact AFM imaging on Al-adsorbed Si(111) Surface with an Empty Orbital，Yasuhiro Sugawara,Shigeki Orisaka,Seizo Morita，Appl. Surf. Sci.，Vol. 157，No. 4，p. 239-143，2000年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic-scale Structures on a Non-stoichiometric TiO$_2$(110) Surface Studied by Noncontact AFM，Makoto Ashino,Joi,Research Center,JRCAT,Takayuki Uchihashi (Join,Research Center,JRCAT,Kousuke Yokoyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Mitsuru Ishikawa (Joi,Research Center,JRCAT，Appl. Surf. Sci.，Vol. 157，No. 4，p. 212-217，2000年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Identification of B-form DNA in an Ultrahigh Vacuum by Noncontact-Mode Atomic Force Microscopy，Takayuki Uchihashi,Masato Tanigawa,Makoto Ashino,Yasuhiro Sugawara,Kosuke Yokoyama,Seizo Morita,Mitsuru Ishikawa，Langmuir，Vol. 16，No. 3，p. 1349-1353，2000年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic Resolution Imaging on Si(100)2×1 and Si(100)2×1:H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy，Yokoyama Kousuke,Ochi Taketoshi,Yoshimoto Akira,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo，Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters，社団法人応用物理学会，Vol. 39，No. 2，p. L113-L115，2000年02月01日，研究論文（学術雑誌）
  • 「非接触原子間力顕微鏡と原子分子のナノ力学」，森田清三,菅原康弘，学術月報、特集，2000年01月
  • Noncontact AFM Imaging of Si(100)2´1 and Si(100)2´1:H Surfaces，Y.Sugawara,K.Yokoyama,T.Ochi,A.Yoshimoto,S.Morita，2000年01月
  • Load Dependence of Sticking-Domain Distribution in Two-Dimensional Atomic Scale Friction on NaF(100) Surface，S.Fujiwaswa,K.Yokoyama,Y.Sugawara,S.Morita，2000年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Atom-Resolved Images of Defect-Induced Structure on Non-stoichiometric TiO2 Surface by STM and Noncontact AFM，M.Ashino,T.Uchihashi,K.Yokoyama,Y.Sugawara,S.Morita,M.Ishikawa，2000年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Carbon-Nanotube Tip for the Highly-Reproducible Imaging of DNA Helical Turns by Noncontact AFM，T.Uchihashi,N.Choi,M.Tanigawa,M.Ashino,Y.Sugawara,H.Nishijima,S.Akita,Y.Nakayama,H.Tokumoto,K.Yokoyama,S.Morita,M.Ishikawa，2000年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Optical beam deflection noncontact atomic force microscope optimized with three-dimensional beam adjustment mechanism，YOKOYAMA K.，Rev. Sci. Instrum.，Vol. 71，No. 1，p. 128-132，2000年01月，研究論文（学術雑誌）
  • 原子間力顕微鏡による帯電素過程の研究，森田清三,菅原康弘，静電気学会誌, Vol.~24, No.~1, pp.~8-14，Vol. 24，No. 1，p. 8-14，2000年01月
  • Atomically Resolved Silver Imaging on Si(111) √3x√3-Ag Surface with Noncontact Atomic Force Microscope，K.Yokoyama,T.Ochi,Y.Sugawara,S.Morita，Physical Review Letters，Vol. 83，No. 24，p. 5023-5026，1999年12月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomically Resolved Silver Imaging on Si(111) √３ｘ√３-Ag Surface with Noncontact Atomic Force Microscope，Kosuke Yokoyama,Takeshi Ochi,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita，Phys.~Rev.~Lett.~Vol.~83, No.~24, pp.~5023-5026，1999年12月，研究論文（学術雑誌）
  • Missing Ag Atom on Si(111)$\boldsymbol{\sqrt{\textbf{3 } } }\boldsymbol{\times}\boldsymbol{\sqrt{\textbf{3 } } }$–Ag Surface Observed by Noncontact Atomic Force Microscopy，Morita Seizo,Sugawara Yasuhiro,Orisaka Shigeki,Uchihashi Takayuki，Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters，社団法人応用物理学会，Vol. 38，No. 11，p. L1342-L1344，1999年11月15日，研究論文（学術雑誌）
  • 非接触原子間力顕微鏡による単一分子解析，菅原康弘,森田清三，タンパク質核酸酵素, Vol.~44, No.~14，1999年11月
  • 原子間力顕微鏡による原子レベルの物性評価と計測，森田 清三,菅原 康弘，電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = The transactions of the Institute of Electrical Engineers of Japan. C, A publication of Electronics, Information and System Society，電気学会，Vol. 119，No. 10，p. 1109-1112，1999年10月01日
  • Imaging of Chemical Reactivity and Buckled Dimers on Si(100)2x1 Reconstructed Surface with Noncontact AFM，Takayuki Uchihashi,Yasuhiro Sugawara,Takayuki Tsukamoto,Tetsuya Minobe,Sigeki Orisaka,Takao Okada,Seizo Morita，Appl. Surf. Sci.，Vol. 140，No. 3-4，p. 304-308，1999年09月，研究論文（学術雑誌）
  • AFMの現状と展開，森田清三,菅原康弘，表面科学, Vol.~20, No.~5, pp.~352-357，Vol. 20，No. 5，p. 352-357，1999年05月
  • True atomic resolution imaging of surface structure and surface charge on the GaAs(110)，Y. Sugawara,T. Uchihashi,M. Abe,S. Morita，Applied Surface Science，Applied Surface Science，Vol. 140，No. 3，p. 371-375，1999年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Near-field optical imaging using force detection with tip-electrode geometry，M. Abe,Y. Sugawara,K. Sawada,Y. Andoh,S. Morita，Applied Surface Science，1999年03月，研究論文（学術雑誌）
  • 非接触原子間力顕微鏡でなにがみえるか？，森田清三,菅原康弘，応用物理学会薄膜・表面物理分科会NEWS LETTER, No.~105, pp.~8-17，1999年03月
  • Guidelines for the achievement of true atomic resolution with noncontact atomic force microscopy，MORITA S，Appl. Surf. Sci.，Vol. 140，p. 406-410，1999年02月，研究論文（学術雑誌）
  • Distance dependence of noncontact-AFM image contrast on Si(111)√3×√3-Ag structure，MINOBE T.，Appl. Surf. Sci.，Vol. 140，p. 298-303，1999年02月，研究論文（学術雑誌）
  • WS07 非接触原子間力顕微鏡によるDNA観察 (原子間力顕微鏡 (AFM) : 成果・問題・展望)，内橋 貴之,芦野 慎,谷川 雅人,菅原 康弘,横山 康祐,森田 清三,石川 満,岡田 孝夫，生物物理，一般社団法人 日本生物物理学会，Vol. 39，1999年
  • Defects and their charge imaging on semiconductor surfaces by noncontact atomic force microscopy and spectroscopy，S. Morita,M. Abe,K. Yokoyama,Y. Sugawara，J. Crystal Growth，Vol. 210，p. 408-415，1999年01月，研究論文（学術雑誌）
  • High resolution imaging of DNA and organic molecules using noncontact AFM in UHV，T.Uchihashi,M.Ashino,Y.Sugawara,M.Tanigawa,T.Ishida,N.Choi,K.Yokoyama,M.Komiyama,H.Nishijima,W.Mizutani,S.Akita,Y.Nakayama,S.Morita,H.Tokumoto,M.Ishikawa，1999年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Non-contact AFM study of TiO2 surfaces for adsorption of biomolecules，M.Ashino,T.Uchihashi,Y.Sugawara,M.Ishikawa，1999年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic Resolution Imaging of Al/Si(111) Surface by Noncontact Atomic Force Microscope，S.Orisaka,T.Minobe,K.Makimoto,Y.Sugawara,S.Morita，Appl. Surf. Sci.，Vol. 140，No. 3，p. 243-246，1999年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Non-contact AFM Images Measured on Si(111)√<3>×√<3>-Ag Surfaces，SUGAWARA Y.，Surf. Interface Anal.，Vol. 27，p. 456s-461s，1999年01月，研究論文（学術雑誌）
  • The Atomic Resalution Imaging of Metallic Ag((]G0003[)) Surface by Noncontact Atomic Force Microscopy，菅原康弘，140/3-4,243，Applied Surface Science，1999年，研究論文（学術雑誌）
  • Distance Dependence of Noncontact AFM Image Contrast an Si((]G0003[))┣D83┫D8×┣D83┫D8-Ag Structure，菅原康弘，140/3-4,298，Applied Surface Science，1999年，研究論文（学術雑誌）
  • Self-assembled monolayer of adenine base on graphite studied by noncontact atomic force microscopy，UCHIHASHI T.，Phys. Rev. B，Physical Review B，Vol. 60，No. 11，p. 8309-8313，1999年，研究論文（学術雑誌）
  • (2) 極限空間分解能を持つ非接触原子間力顕微鏡法，森田 清三,菅原 康弘，応用物理，The Japan Society of Applied Physics，Vol. 67，No. 12，p. 1402-1403，1998年12月，研究論文（学術雑誌）
  • 非接触原子間力顕微鏡を用いた軌道の混成による力の原子レベル観察*，菅原 康弘,森田 清三，真空，The Vacuum Society of Japan，Vol. 41，No. 11，p. 906-911，1998年11月20日，研究論文（学術雑誌）
  • 非接触AFMによる半導体表面の観察 ---化学的活性度と電荷の原子レベル観察---，菅原康弘，日本表面科学会主催第19回表面科学セミナー《走査型プローブ顕微鏡の最近の進歩》テキスト, pp.~109-122，1998年10月
  • Optical Near-Field Imaging Using the Kelvin Probe Technique.，Abe Masayuki,Sugawara Yasuhiro,Sawada Kazuyoshi,Andoh Yoshitake,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 37，No. 9，p. L1074-L1077，1998年09月，研究論文（学術雑誌）
  • Analysis of Experimental Load Dependence of Two-Dimensional Atomic-Scale Friction，FUJISAWA S.，Phys. Rev. B，Vol. 58，No. 8，p. 4909-4909，1998年08月，研究論文（学術雑誌）
  • マイクロトライボロジーの最近の発展 摩擦力顕微鏡を用いた原子スケールのトライボロジー，藤沢 悟,森田 清三,菅原 康弘，表面科学，The Surface Science Society of Japan，Vol. 19，No. 6，p. 374-378，1998年06月
  • New Computed Tomography Algorithm of Electrostatic Force Microscopy Based on the Singular Value Decomposition Combined with the Discrete Fourier Transform，Nishi Ryuji,Nakao Yoshizumi,Ohta Takayuki,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo,Okada Takao，Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters，社団法人応用物理学会，Vol. 37，No. 4，p. L417-L419，1998年04月01日，研究論文（学術雑誌）
  • 超高真空非接触モード原子間力顕微鏡の新展開，菅原 康弘,森田 清三，電子顕微鏡，日本電子顕微鏡学会，Vol. 33，No. 1，p. 22-26，1998年03月31日，研究論文（学術雑誌）
  • Stable operation mode for dynamic noncontact atomic force microscopy，H. Ueyama,Y. Sugawara，Appl. Phys. A.，Vol. 66，p. S295-S297，1998年03月，研究論文（学術雑誌）
  • Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy.，Abe Masayuki,Sugawara Yasuhiro,Hara Yasuyuki,Sawada Kazuyoshi,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 37，No. 2，p. L167-L169，1998年02月，研究論文（学術雑誌）
  • Load dependence of frictional-force microscopy image pattern of graphite surface，SASAKI N.，Phys. Rev. B，Vol. 57，p. 3785s-3786s，1998年02月，研究論文（学術雑誌）
  • Theoretical Analysis of Atomic-Scale Friction in Frictional-Force Microscopy，Naruo Sasaki,Masaru Tsukada,Satoru Fujisawa,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita，Tribology Letters，Vol. 4，p. 125-128，1998年02月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic Resolution Imaging of Si(111)&Ouml;3´&Ouml;3-Ag Surface and Metallic Ag(111)Surface by Noncontact Atomic Force Microscope，S.Orisaka,T.Minobe,T.Uchihashi,Y.Sugawara,S.Morita，1998年01月
  • Development of Noncontact UHV-AFM for Imaging of Biological Samples，M.Ashino,T.Uchihashi,M.Tanigawa,Y.Sugawara,T.Okada，1998年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Development of Noncontact UHV-AFM for Imaging of Biological Samples，T.Uchihashi,M.Ashino,M.Tanigawa,Y.Sugawara,T.Okada，1998年01月
  • New computed tomography algorithm of electrostatic force microscopy based on the singular value decomposition combined with the discrete Fourier transform，R.Nishi,Y.Nakao,T.Ohta,Y.Sugawara,S.Morita,T.Okada，1998年01月，研究論文（学術雑誌）
  • 非接触モード原子間力顕微鏡の現状と展望，森田清三,菅原康弘，触媒, Vol. 39, No. 8, pp. 612-618，Vol. 39，No. 8，p. 612-618，1997年12月
  • Atomically-Resolved Imaging of n＋-GaAs(110) Cleaved Surfaces with Noncontact Atomic Force/Electrostatic Force Microscope，Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Takayuki Uchihashi,Hitoshi Ueyama,Masayuki Abe,Masayuki Suzuki，Proceedings of Int. Symp. on Atomic Level Characterization for New Materials and Devices'97, pp. 193-198，1997年11月
  • True Atomic Resolution Imaging on Semiconductor Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy，Yasuhiro Sugawara,Hitoshi Ueyama,Takayuki Uchihashi,Masahiro Ohta,Yoshio Yanase,Takashi Shigematsu,Masayuki Suzuki,Seizo Morita，Material Research Society Fall Meeting Symposium Proceedings, Vol. 442, pp. 15-23，1997年11月
  • Role of a covalent bonding interaction in noncontact-mode atomic force microscopy on Si(111)7*7，T. UCHIHASHI,Y. SUGAARA，Phys.Rev.，Physical Revier B，Vol. 56，No. 15，p. 9834-9834，1997年10月，研究論文（学術雑誌）
  • Simulated Computed Tomography for the Reconstruction of Vacancies Using an Atomic Force Microscope Image.，Nishi Ryuji,Ohta Takayuki,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo,Okada Takao，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 36，No. 10，p. L1410-L1412，1997年10月，研究論文（学術雑誌）
  • 原子間力顕微鏡によるエバネセント波の検出，菅原康弘,阿部真之,森田清三，光学, Vol. 26, No. 10, pp. 537-538，Vol. 26，No. 10，p. 537-538，1997年10月，研究論文（学術雑誌）
  • Growth of a Two-Dimensional Nucleus on a Cleaved (010) Surface of (NH 2CH 2COOH) 3&middot;H 2SO 4，Ohgami Junji,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo,Ozaki Tōru，Journal of the Physical Society of Japan，一般社団法人日本物理学会，Vol. 66，No. 9，p. 2747-2750，1997年09月15日，研究論文（学術雑誌）
  • Analysis of frictional-force image patterns of a graphite surface，SASAKI N.，J. Vac. Sci. Technol. B，Vol. 15，p. 1479-1482，1997年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Detection Mechanism of an Optical Evanescent Field using a Noncontact Mode Atomic Force Microscope with a Frequency Modulation Detection Method，Masayuki Abe,Takayuki Uchihashi,Masahiro Ohta,Hitoshi Ueyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita，J. Vac. Sci. Technol. B，Vol. 15，No. 4，p. 1512-1515，1997年07月，研究論文（学術雑誌）
  • Development of Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscopy with Frequency Modulation Detection and its Application to Electrostatic Force Measurement，Takayuki Uchihashi,Masahiro Ohta,Yasuhiro Sugawara,Yoshio Yanase,Tatsuhiko Shigematsu,Mineharu Suzuki,Seizo Morita，J. Vac. Sci. Technol. B，Vol. 15，No. 4，p. 1543-1546，1997年07月，研究論文（学術雑誌）
  • 力によるエバネッセント場の検出，菅原康弘,安部真之,原 康之,澤田和良,森田清三，近接場光学研究グループ第6回研究討論会予稿集, pp. 7-12，1997年07月
  • Charge Dissipation on Chemically Treated Thin Silicon Oxide in Air，Uchihashi Takayuki,Nakano Akihiko,Ida Tohru,Andoh Yasuko,Kaneko Reizo,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo，Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 36，No. 6，p. 3755-3758，1997年06月15日，研究論文（学術雑誌）
  • True atomic resolution imaging with noncontact atomic force microscopy，SUGAWARA Y.，Appl.Sur.Sci，Vol. 113，p. 364-364，1997年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Measurement of the Evanescent Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscope，Masayuki Abe,Takayuki Uchihashi,Masahiro Ohta,Hitoshi Ueyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita，Optical Review, Vol.4, No.1B, pp.232-235，Vol. 4，No. 1，p. 232-235，1997年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Measurement of the Evanescent Field Using Noncontact Mode Atomic Fora Microscope，菅原康弘，4/1B,232，Optical Review，1997年，研究論文（学術雑誌）
  • 原子間力顕微鏡による半導体表面の評価，菅原康弘,上山仁司,内橋貴之,大田昌弘,森田清三，電気学会 基礎・材料・共通部門（A部門）総合研究会プログラムシンポジウム（A/S-96-2）, pp.55-63，1996年12月
  • 非接触モード原子間力顕微鏡の新展開，森田清三,菅原康弘,上山仁司,大田昌弘,内橋貴之，電気学会研究会資料・電子材料研究会EFM-96-28, pp.59-68，Vol. 33，No. 1，p. 22-26，1996年12月
  • 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (3)，森田 清三,菅原 康弘,大田 昌弘，表面科学，日本表面科学会，Vol. 17，No. 11，p. 698-700，1996年11月10日
  • Density Saturation of Densely Contact-Electrified Negative Charges on a Thin Silicon Oxide Due to the Coulomb Repulsive Force，Yasuhiro Sugawara,Takeshi Tsuyuguchi,Takayuki Uchihashi,Takahiro Okusako,Yoshinobu Fukano,Yoshiki Yamanishi,Sumitomo Metal,Industries, Lt,Takahiko Oasa,umitomo Metal,Industries,Seizo Morita，Philosophical Magazine A, Vol.74, No.5, pp.1339-1346，1996年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Load Dependence of the Periodicity in Frictional Force Images on NaF(100) Surface，Satoru Fujisawa,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita，Philosophical Magazine A, Vol.74, No.5, pp.1329-1337，1996年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Localized Fluctuation of a Two-Dimensional Atomic-Scale Friction.，Fujisawa Satoru,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 35，No. 11，p. 5909-5913，1996年11月，研究論文（学術雑誌）
  • Stability of Densely Contact-Electrified Charges on Thin Silicon Oxide in Air.，Morita Seizo,Uchihashi Takayuki,Okusako Takahiro,Yamanishi Yoshiki,Oasa Takahiko,Sugawara Yasuhiro，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 35，No. 11，p. 5811-5814，1996年11月，研究論文（学術雑誌）
  • 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (2)，森田 清三,菅原 康弘,大田 昌弘，表面科学，日本表面科学会，Vol. 17，No. 10，p. 617-618，1996年10月10日
  • 極限空間分解能を持つ近接場単原子観察法，森田清三,菅原康弘,大田昌弘,上山仁司,内橋貴之，日本電子顕微鏡学会第41回シンポジウム論文集, pp.155-158，1996年10月
  • Time Evolution of Surface Topography around a Domain Wall in Ferroelectric (NH2CH2COOH)3&middot;H2SO4，Ohgami Junji,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo,Nakamura Eiji,Ozaki Tōru，Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes，社団法人応用物理学会，Vol. 35，No. 9，p. 5174-5177，1996年09月30日，研究論文（学術雑誌）
  • Feasibility Study on a Novel Type of Computerized Tomography Based on Scanning Probe Microscope，Ohta Takayuki,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo，Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters，社団法人応用物理学会，Vol. 35，No. 9，p. L1222-L1224，1996年09月15日，研究論文（学術雑誌）
  • 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (1)，森田 清三,菅原 康弘,大田 昌弘，表面科学，日本表面科学会，Vol. 17，No. 9，p. 559-561，1996年09月10日，研究論文（学術雑誌）
  • 原子間力顕微鏡の新展開，森田清三,菅原康弘,大田昌弘,上山仁司,内橋貴之，日本学術振興会将来加工技術第136委員会第2部会（マイクロ電子デバイス生成加工技術）第10回研究会資料, pp.1-8，1996年08月
  • Determination of Sign of Surface Charges of Ferroelectric TGS Using Electrostatic Force Microscope Combined with the Voltage Modulation Technique，Ohgami Junji,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo,Nakamura Eiji,Ozaki Tōru，Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes，社団法人応用物理学会，Vol. 35，No. 5，p. 2734-2739，1996年05月15日，研究論文（学術雑誌）
  • Phase Transition of Contact-Electrified Negative Charges on a Thin Silicon Oxide in Air，Fukano Yoshinobu,Sugawara Yasuhiro,Uchihashi Takayuki,Okusako Takahiro,Morita Seizo,Yamanishi Yoshiki,Oasa Takahiko，Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes，社団法人応用物理学会，Vol. 35，No. 4，p. 2394-2401，1996年04月15日，研究論文（学術雑誌）
  • Proximity Effects of Negative Charge Groups Contact Electrified on Thin Silicon Oxide in Air，Takayuki Uchihashi,Takahiro Okusako,Yasuhiro Sugawara,Yoshiki Yamanishi,Sumitomo Metal,Industries, Lt,Takahiko Oasa,umitomo Metal,Industries,Seizo Morita，J. Appl. Phys.，Journal of Applied Physics，Vol. 79，No. 8，p. 4171-4177，1996年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Correlation between Contact-Electrified Charge Groups on a Thin Silicon Oxide，Takayuki Uchihashi,Takahiro Okusako,Yasuhiro Sugawara,Yoshiki Yamanishi,Sumitomo Metal,Industries, Lt,Takahiko Oasa,umitomo Metal,Industries,Seizo Morita，J.Vac.Sci.Technol.B，Vol. 14，No. 2，p. 1055-1059，1996年04月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic Resolution Imaging of InP(110) Surface Observed with Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope in Noncontact Mode，Yasuhiro Sugawara,Masahiro Ohta,Hitoshi Ueyama,Seizo Morita,Fukunobu Osaka,ctronics Technology Research Laboratory,Shunsuke Ohkouchi,Optoelectronics Technology Research Laboratory,Mineharu Suzuki (NTT,Shuzo Mishima,Olympus Optical Co，J.Vac.Sci.Technol.B，Journal of Vacuum Science & Technology B，Vol. 14，No. 2，p. 953-956，1996年04月，研究論文（学術雑誌）
  • 摩擦力顕微鏡 ミクロな摩擦力の解釈:ミクロな摩擦力の解釈，森田 清三,菅原 康弘,藤沢 悟,大田 昌弘,上山 仁司，表面科学，The Surface Science Society of Japan，Vol. 17，No. 1，p. 22-26，1996年01月
  • Development of 3-D Atomic Force Computer Tomography Microscope，T.Ohta,Y.Sugawara,S.Morita,T.Okada，1996年01月
  • Load dependence of the periodicity in friction force images on the NaF(100) surface，S.Fujisawa,Y.Sugawara,S.Morita，1996年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Spatially quantized friction with a lattice periodicity，S.Morita,S.Fujisawa,Y.Sugawara，1996年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Contact and non-contact mode imaging by atomic force microscopy，菅原康弘，273/,138，Thin Solid Films，1996年，研究論文（学術雑誌）
  • Time Evolution of Surface Topography around Domain Wall in Ferroelectric (NH┣D22┫D2CH┣D22┫D2COOH)┣D23┫D2・H┣D22┫D2SO┣D24┫D2，菅原康弘，35/9B,5174，Japanese Journal of Applied Physics，1996年，研究論文（学術雑誌）
  • Density saturation of densely contact-electrified negative Charges on a thin silicon oxide sample due to the Coulomb upulsive force，菅原康弘，74/5,1339，Philosophical Magazine A，1996年，研究論文（学術雑誌）
  • Covvelation between contact-electrified change groups on a thin silicon oxide，菅原康弘，14/2,1055，Jourmal of Vacuum Science & Technology B，1996年，研究論文（学術雑誌）
  • Noncontact Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope Combined with Scanning Tunneling Microscope，Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Masahiro Ohta,Hitoshi Ueyama,Takayuki Uchihashi，Proc. of Satellite Workshop of 9th International Conference on Solid Surfaces, pp.28-31，1995年10月
  • ATOMICALLY RESOLVED IMAGE OF CLEAVED SURFACES OF COMPOUND SEMICONDUCTORS OBSERVED WITH AN ULTRAHIGH-VACUUM ATOMIC-FORCE MICROSCOPE，M OHTA,Y SUGAWARA,F OSAKA,S OHKOUCHI,M SUZUKI,S MISHIMA,T OKADA,S MORITA，JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B，A V S AMER INST PHYSICS，Vol. 13，No. 3，p. 1265-1267，1995年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic-resolution image of GaAs(11O) surface with an ultrahigh-vacuum atomic force microscope (UHV-AFM)，Y Sugawara,H Ohta,K Hontani,S Morita,F Osaka,S Ohkouchi,M Suzuki,H Nagaoka,S Mishima,T Okada，FORCES IN SCANNING PROBE METHODS，KLUWER ACADEMIC PUBL，Vol. 286，p. 507-512，1995年，研究論文（国際会議プロシーディングス）
  • Time dependence and its spatial distribution of densely contact electrified electrons on a thin silicon oxide，Y Sugawara,S Morita,Y Fukano,T Uchihashi,T Okusako,A Chayahara,Y Yamanishi,T Oasa，FORCES IN SCANNING PROBE METHODS，KLUWER ACADEMIC PUBL，Vol. 286，p. 501-506，1995年，研究論文（国際会議プロシーディングス）
  • Two-dimensional atomic-scale friction observed with an AFM，S Fujisawa,E Kishi,Y Sugawara,S Morita，FORCES IN SCANNING PROBE METHODS，KLUWER ACADEMIC PUBL，Vol. 286，p. 313-318，1995年，研究論文（国際会議プロシーディングス）
  • 非接触モード原子間顕微鏡による化合物半導体表面の原子分解能観察，菅原康弘，真空，Vol. 38，No. 11，p. 943-943，1995年01月
  • 2次元摩擦力顕微鏡による量子トライボロジーの研究，藤沢悟，日本物理学会誌，Vol. 50，No. 1，p. 36-36，1995年01月
  • Noncontact UHV-AFM Imaging of InP(110) Surface with Atomic Resolution，S.Morita,M.Ohta,H.Ueyama,Y.Sugawara，1995年01月
  • Contrast of Atomic-Resolution Images from a Noncontact Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscope.，Ohta Masahiro,Ueyama Hitoshi,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 34，No. 12，p. L1692-L1694，1995年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Defect motion on an InP(110) surface observed with noncontact atomic force microscopy，SUGAWARA Y.，Science，Science，Vol. 270，p. 1646-1648，1995年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomically Resolved InP(110) Surface Observed with Noncontact Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope，H.Ueyama,M.Ohta,Y.Sugawara,S.Morita，1995年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Two-dimensional quantized friction observed with two-dimensional frictional force microscope，S.Fujisawa,E.Kishi,Y.Sugawara,S.Morita，1995年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Load dependence of two-dimensionally atomic-scale friction，S.Fujisawa,E.Kishi,Y.Sugawara,S.Morita，1995年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Two-dimensionally discrete friction on NaF(100) surface with the lattice periodicity，S.Fujisawa,E.Kishi,Y.Sugawara,S.Morita，1995年01月，研究論文（学術雑誌）
  • 超高真空原子間力顕微鏡による化合物半導体へき開面の接触および非接触原子分解能観察，大田 昌弘,上山 仁司,菅原 康弘,森田 清三，応用物理，The Japan Society of Applied Physics，Vol. 64，No. 6，p. 583-587，1995年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic-scale friction observed with a two-dimentional friction-force microscope，FUJISAWA S.，Phys. Rev. B，Vol. 51，p. 7849-7849，1995年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic-Resolution Imaging of ZnSSe(110) Surface with Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscope(UHV-AFM).，Sugawara Yasuhiro,Ohta Masahiro,Ueyama Hitoshi,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 34，No. 4，p. L462-L464，1995年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Lateral force curve for atomic force/lateral force microscope calibration，S.Fujisawa,E.Kishi,Y.Sugawara,S.Morita，1995年01月，研究論文（学術雑誌）
  • ULTRAHIGH-VACUUM ATOMIC-FORCE MICROSCOPE WITH SAMPLE CLEAVING MECHANISM，M OHTA,Y SUGAWARA,S MORITA,H NAGAOKA,S MISHIMA,T OKADA，JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B，AMER INST PHYSICS，Vol. 12，No. 3，p. 1705-1707，1994年05月，研究論文（学術雑誌）
  • Time Evolution of Contact-Electrified Electron Dissipation on Silicon Oxide Surface Investigated Using Noncontact Atomic Force Microscope，Fukano Yoshinobu,Uchihashi Takayuki,Okusako Takahiro,Chayahara Ayumi,Sugawara Yasuhiro,Yamanishi Yoshiki,Oasa Takahiko,Morita Seizo，Jpn J Appl Phys，社団法人応用物理学会，Vol. 33，No. 1，p. 379-382，1994年01月30日，研究論文（学術雑誌）
  • SURFACE STUDY WITH ATOMIC-FORCE MICROSCOPE，S MORITA,S FUJISAWA,E KISHI,Y SUGAWARA，JOURNAL OF JAPANESE SOCIETY OF TRIBOLOGISTS，JAPAN SOC TRIBOLOGISTS，Vol. 39，No. 11，p. 933-938，1994年，研究論文（学術雑誌）
  • 「原子間力顕微鏡による表面の研究」，森田清三,藤沢 悟,岸 栄吾,菅原康弘，日本トライボロジー学会誌『トライボロジスト』，1994年01月
  • 「原子間力顕微鏡は何を見てる？」，森田清三,菅原康弘，パリティ，1994年01月
  • 「半導体表面のＡＦＭ／ＳＴＭ観察」，森田清三,菅原康弘,深野善信,内橋貴之，ウルトラクリーンテクノロジー［半導体基盤技術研究会］，1994年01月
  • 「ＦＦＭ」，森田清三,菅原康弘,藤沢 悟，「機械の研究」（養賢堂）１９９４年新年特集号，1994年01月
  • 「ＡＦＭ／ＳＴＭ」，森田清三,菅原康弘,深野善信，「機械の研究」（養賢堂），1994年01月
  • Charge Storage by Contact Electrification on Thin SrTiO3 Film，T.Uchihashi,T.Okusako,T.Tsuyuguchi,Y.Sugawara,M.Igarashi,R.Kaneko,S.Morita，1994年01月
  • Local Dielectric Breakdown of Thin Silicon Oxide by Dense Contact Electrification，Y.Fukano,T.Uchihashi,T.Okusako,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,S.Morita，1994年01月
  • Observation of Positively Charged Trap Site in Silicon Oxide Layer with an Atomic Force Microscope，Y.Fukano,T.Okusako,T.Uchihashi,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,S.Morita，1994年01月
  • Investigation of Trapped Charges in Silicon Oxide Layer with an Atomic Force Microscope，Y.Fukano,Y.Uchihashi,T.Okusako,K.Hontani,A.Chayahara,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,S.Morita，1994年01月
  • Parameter Dependence of Stable State of Densely Contact-Electrified Electrons on Thin Silicon Oxide，Parameter Dependence of,Stable State of,Densely Contact-Electrified Electrons on Thin,Silicon Oxide，Vol. 33，No. 12，p. 6739-6745，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Potentiometry Combined with Atomic Force Microscope，T.Uchihashi,Y.Fukano,Y.Sugawara,S.Morita,A.Nakano,T.Ida,T.Okada，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Charge Storage on Thin SrTiO3 Film by Contact Electrification，T.Uchihashi,T.Okusako,T.Tsuyuguchi,Y.Sugawara,M.Igarashi,R.Kaneko,S.Morita，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Ultrahigh vacuum atomic force microscope with sample cleaving mechanism，Ultrahigh vacuum,atomic force microscope,with sample cleaving mechanism，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Study on the Stick-slip Phenomenon on a Cleaved Surface of the Muscovite Mica using an Atomic Force/Lateral Force Microscope，FUJISAWA S.，J. Vac. Sci. Technol.，Vol. 12，p. 1635-1635，1994年，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic force microscopy studies of contact-electrified charges on silicon oxide film，Y.Sugawara,Y.Fukano,T.Uchihashi,S.Morita,Y.Yamanishi,T.Oasa,T.Okada，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Heat Treatment and Steaming Effects of Silicon Oxide upon Electron Dissipation on Silicon Oxide Surface.，Uchihashi Takayuki,Okusako Takahiro,Sugawara Yasuhiro,Yamanishi Yoshiki,Oasa Takahiko,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 33，No. 8，p. L1128-L1130，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Dissipation of Contact Electrified Electrons on Dielectric Thin films with Silicon Substrate.，Okusako Takahiro,Uchihashi Takayuki,Nakano Akihiko,Ida Toru,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 33，No. 7，p. L959-L961，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Contact Electrification on Thin Silicon Oxide in Vacuum.，Tsuyuguchi Takeshi,Uchihashi Takayuki,Okusako Takahiro,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo,Yamanishi Yoshiki,Oasa Takahiko，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 33，No. 7，p. L1046-L1048，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Time Dependent Dielectric Breakdown of Thin Silicon Oxide Using Dense Contact Electrification.，Fukano Yoshinobu,Hontani Koji,Uchihashi Takayuki,Okusako Takahiro,Chayahara Ayumi,Sugawara Yasuhiro,Yamanishi Yoshiki,Oasa Takahiko,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 33，No. 6，p. 3756-3760，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Fluctuation in Two-Dimensional Stick-Slip Phenomenon Observed with Two-Dimensional Frictional Force Microscope.，Fujisawa Satoru,Kishi Eigo,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 33，No. 6，p. 3752-3755，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Observation of GaAs(110) Surface by an Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscope.，Sugawara Yasuhiro,Ohta Masahiro,Hontani Kouji,Morita Seizo,Osaka Fukunobu,Ohkouchi Shunsuke,Suzuki Mineharu,Nagaoka Hideki,Mishima Shuzo,Okada Takao，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 33，No. 6，p. 3739-3742，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Contact Electrification on Thin SrTiO3 Film by Atomic Force Microscope，T.Uchihashi,T.Okusako,J.Yamada,Y.Fukano,Y.Sugawara,M.Igarashi,R.Kaneko,S.Morita，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Dissipation of contact-electrified charge on thin Si-oxide studied by atomic force microscope，S.Morita,Y.Fukano,T.Uchihashi,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Difference between the forces measured by an optical lever deflection and by an optical interferometer in atomic force microscope，S.Fujisawa,M.Ohta,T.Konishi,Y.Sugawara,S.Morita，1994年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Spatial Distributions of Densely Contact-Electrified Charges on a Thin Silicon Oxide，Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo,Fukano Yoshinobu,Uchihashi Takayuki,Okusako Takahiro,Chayahara Ayumi,Yamanishi Yoshiki,Oasa Takahiko，Japanese Journal of Applied Physics，社団法人応用物理学会，Vol. 33，No. 1，p. L74-L77，1994年01月01日，研究論文（学術雑誌）
  • Spatial Distribution and Its Phase Transition of Densely Contact-Electrified Electrons on a Thin Silicon Oxide，Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo,Fukano Yoshinobu,Uchihashi Takayuki,Okusako Takahiro,Chayahara Ayumi,Yamanishi Yoshiki,Oasa Takahiko，Japanese Journal of Applied Physics，社団法人応用物理学会，Vol. 33，No. 1，p. L70-L73，1994年01月01日，研究論文（学術雑誌）
  • Atomically Resolved Image of Cleaved GaAs(110) Surface Observed with an Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope，Ohta Masahiro,Sugawara Yasuhiro,Hontani Kouji,Morita Seizo,Osaka Fukunobu,Suzuki Mineharu,Nagaoka Hideki,Mishima Shuzo,Okada Takao，Japanese Journal of Applied Physics，社団法人応用物理学会，Vol. 33，No. 1，p. L52-L54，1994年01月01日，研究論文（学術雑誌）
  • Observation of Atomic Defects on LiF(100) Surface with Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope (UHV AFM)，Ohta Masahiro,Konishi Takefumi,Sugawara Yasuhiro,Morita Seizo,Suzuki Mineharu,Enomoto Yuji，Jpn J Appl Phys，社団法人応用物理学会，Vol. 32，No. 6，p. 2980-2982，1993年06月20日，研究論文（学術雑誌）
  • Scanning Force/Tunneling Microscopy as a Novel Technique for the Study of Nanometer-Scale Dielectric Breakdown of Silicon Oxide Layer，Fukano Yoshinobu,Sugawara Yasuhiro,Yamanishi Yoshiki,Oasa Takahiko,Morita Seizo，Jpn J Appl Phys，社団法人応用物理学会，Vol. 32，No. 1，p. 290-293，1993年01月20日，研究論文（学術雑誌）
  • 「ＡＦＭ／ＳＴＭによる半導体の複合観察」，森田清三,菅原康弘,深野善信，日本結晶学会誌，1993年01月
  • Time Evolution of Electrostatic Force Induced by Contact-Electrified Charges on Thin Silicon Oxide Surface，Y.Fukano,T.Uchihashi,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,S.Morita，1993年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Time-Evolution of Contact-Eelectrified Charges on Silicon Oxide Film Studied with AFM，Y.Sugawara,Y.Fukano,T.Uchihashi,T.Okusako,S.Morita,Y.Yamanishi,T.Oasa，1993年01月
  • Origin of the Force Measured by an Atomic Force/Lateral Force Microscope(AFM/LFM)，S.Fujisawa,Y.Sugawara,S.Morita，1993年01月，研究論文（学術雑誌）
  • The Two-Dimensional Stick-Slip Phenomenon with Atomic Resolution，FUJISAWA S.，Nanotechnology，Vol. 4，p. 138-138，1993年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Stable-Unstable Phase Transition of Densely Contract-Electrified Electrons on Thin Silicon Oxide，Morita Seizo,Sugawara Yasuhiro,Fukano Yoshinobu,Uchihashi Takayuki,Okusako Takahiro,Chayahara Ayumi,Yamanishi Yoshiki,Oasa Takahiko，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 32，No. 12，p. L1852-L1854，1993年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Reproducible and Controllable Contact Electrification on a Thin Insulator，MORITA S.，Jpn. J. Appl. Phys.，Vol. 32，p. L1701-L1701，1993年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Effects of humidity and tip radius on the adhesive force measured with atomic force microscopy，Y.Sugawara,M.Ohta,T.Konishi,S.Morita,M.Suzuki,Y.Enomoto，1993年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Atomic Force Microscope Combined with Scanning Tunneling Microscope [AFM/STM]，Morita Seizo,Sugawara Yasuhiro,Fukano Yoshinobu，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 32，No. 6，p. 2983-2988，1993年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Observation of atomic defect on LiF(100) surface with UHV AFM，M.Ohta,T.Konishi,Y.Sugawara,S.Morita,M.Suzuki,Y.Enomoto，1993年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Scanning Tunneling Microscopy II，WIESENDANGER R.，Springer Ser Surf. Sci，Springer，Vol. 28，p. 151-151，1992年01月
  • Scanning Force Microscopy in the UHV Environment，Y.Sugawara,M.Ohta,Y.Kamihara,S.Morita,M.Suzuki,Y.Enomoto，1992年01月
  • Observation of the Surface by Using AFM/STM，Y.Sugawara,S.Morita，1992年01月
  • AFM/STM Investigation of pn Junctions Formed by Ion Implantation，Y.Sugawara,Y.Fukano,S.Morita,A.Nakano,T.Ida，1992年01月
  • Nanometer Resolution Measurement of Dielectric Breakdown of Silicon Dioxide Films with AFM/STM，Y.Fukano,Y.Sugawara,S.Morita,Y.Yamanishi,d T,O，1992年01月
  • AFM/STM investigation of polycrystalline Si surface，Y.Sugawara,Y.Fukano,Y.Kamihara,S.Morita,A.Nakano,T.Ida,R.Kaneko，1992年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Oxidation Site of Polycrystalline Silicon Surface Studied Using Scanning Force/Tunneling Microscope (AFM/STM) in Air，Sugawara Yasuhiro,Fukano Yoshinobu,Nakano Akihiko,Ida Tohru,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 31，No. 6，p. L725-L727，1992年01月，研究論文（学術雑誌）
  • In Situ Imaging of Electrochemical Deposition of Ag on Au(111)，K.Endo,Y.Sugawara,S.Mishima,T.Okada,S.Morita，Vol. 30，No. 10，p. 2592-2593，1991年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Scanning force tunneling microscopy of a graphite surface in air，SUGAWARA Y.，J. Vac. Sci. Technol., B，Vol. 9，p. 1092-1095，1991年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Simultaneous Observation of Atomically Resolved AFM/STM Images of a Graphite Surface，Sugawara Yasuhiro,Ishizaka Tatsuya,Morita Seizo,Imai Syozo,Mikoshiba Nobuo，Jpn J Appl Phys，社団法人応用物理学会，Vol. 29，No. 1，p. L157-L159，1990年01月20日，研究論文（学術雑誌）
  • Origin of Anomalous Corrugation Height of STM Images of Graphite，Sugawara Yasuhiro,Ishizaka Tatsuya,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 29，No. 8，p. 1533-1538，1990年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Simultaneous Imaging of a Graphite Surface with Atomic Force/Scanning Tunneling Microscope (AFM/STM)，Sugawara Yasuhiro,Ishizaka Tatsuya,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 29，No. 8，p. 1539-1543，1990年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Anomalous Force Dependence of AFM Corrugation Height of a Graphite Surface in Air，Ishizaka Tatsuya,Sugawara Yasuhiro,Kumagai Kozo,Morita Seizo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 29，No. 7，p. L1196-L1198，1990年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Anomalous Corrugation Height of Atomically Resolved AFM Images of a Graphite Surface，Sugawara Yasuhiro,Ishizaka Tatsuya,Morita Seizo,Imai Syozo,Mikoshiba Nobuo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 29，No. 3，p. L502-L504，1990年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Surface Imaging in Air with a Force Microscope，T.Ishizaka,S.Morita,Y.Sugawara,T.Okada,S.Mishima,S.Imai,N.Mikoshiba，1990年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Differential Conductance Imaging under AC Tunneling Bias，A.Yagi,S.Tsukada,Y.Takahashi,Y.Sugawara,S.Morita,T.Okada,S.Imai an,N.Mikoshiba，1990年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Surface Conductance of Metal Surfaces in Air Studied with a Force Microscope，Morita Seizo,Ishizaka Tatsuya,Sugawara Yasuhiro,Okada Takao,Mishima Syuzo,Imai Syozo,Mikoshiba Nobuo，Japanese Journal of Applied Physics，公益社団法人 応用物理学会，Vol. 28，No. 9，p. L1634-L1636，1989年01月，研究論文（学術雑誌）
  • Performance of concave transducers in acoustic microscopy，櫛引 淳一，IEEE 1988 Ultrasonics Symposium proceedings，Institute of Electrical and Electronics Engineers，Vol. 1988，No. 2，p. 751-756，1988年01月
  • Theoretical analysis on acoustic fields formed by focusing devices in acoustic microscopy，櫛引 淳一，IEEE 1986 Ultrasonics Symposium，Institute of Electrical and Electronics Engineers，Vol. 1986，p. 783-788，1986年01月
  • Off-centric concave transducer for acoustic microscopy，CHUBACHI N.,KUSHIBIKI Jun-ichi,SUGAWARA Yasuhiro，Jpn. J. Appl. Phys. Suppl.，社団法人応用物理学会，Vol. 25，p. 203-205，1986年01月

MISC

  • 光誘起力顕微鏡法によるナノスケールでの光圧マッピング，山西絢介,山根秀勝,余越伸彦,鳥本司,石原一,菅原康弘，応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)，Vol. 69th，2022年
  • 光誘起力顕微鏡による光圧分光マッピング，山西絢介,山根秀勝,余越伸彦,鳥本司,石原一,菅原康弘，応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)，Vol. 82nd，2021年
  • 2周波数モード原子間力顕微鏡法によるGe(OO1)表面上のサブ原子スケール3次元力ベクトルマッピング，内藤 賀公,李 艶君,菅原 康弘，生産と技術 = Manufacturing & technology，生産技術振興協会，Vol. 69，No. 3，p. 85-88，2017年
  • ケルビンプローブフォース顕微鏡とその薄膜成長評価への応用，菅原 康弘,野村 光,内藤 賀公,李 艶君，顕微鏡 = Microscopy，日本顕微鏡学会，Vol. 47，No. 1，p. 18-21，2012年03月30日
  • 27pYG-3 Bi(001)薄膜表面の原子間力顕微鏡/静電気力分光測定(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)，神森 康樹,内藤 賀公,影島 賢巳,菅原 康弘，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 64，No. 2，p. 839-839，2009年08月18日
  • 26pTF-5 MEM(TCNQ)_2結晶表面の分子配列と電位分布の実空間観察(TTF-TCNQ,中性イオン性転移高分子等,領域7,分子性固体・有機導体)，須川 奨平,影島 賢巳,内藤 賀公,菅原 康弘,長谷川 達生，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 63，No. 1，p. 847-847，2008年02月29日
  • 28pWP-7 極低温原子間力顕微鏡法によるSi(001)表面の観察(表面界面構造(半導体))(領域9)，内藤 賀公,尾崎 直幸,菅原 康弘，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 59，No. 1，p. 914-914，2004年03月03日
  • 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成，菅原 康弘,清野 宜秀，應用物理，応用物理学会，Vol. 72，No. 8，p. 1020-1026，2003年08月10日
  • 原子間力顕微鏡を用いた新規なナノ計測技術，菅原 康弘，生産と技術，生産技術振興協会，Vol. 55，No. 2，p. 47-49，2003年
  • WS-02 ATOMIC MANIPULATION AND IDENTIFICATION USING NONCONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE，SUGAWARA Yasuhiro,OYABU Noriaki,CUSTANCE Oscar,YI Insook,MORITA Seizo，Proceedings of ... JSME-IIP/ASME-ISPS Joint Conference on Micromechatronics for Information and Precision Equipment : IIP/ISPS joint MIPE，一般社団法人日本機械学会，Vol. 2003，p. "W-5"-"W-6"，2003年
  • 非接触原子間力顕微鏡による静電気力観察，森田 清三,岡本 憲二,菅原 康弘，まてりあ : 日本金属学会会報，The Japan Institute of Metals and Materials，Vol. 41，No. 12，p. 840-841，2002年12月20日
  • Sb/Si混在表面における非接触AFM像の探針先端原子種依存性，西本 隆弘,日高 栄治,今井 重明,杉立 英二,菅原 康弘,森田 清三，精密工学会大会学術講演会講演論文集，Vol. 2001，No. 2，p. 283-283，2001年09月01日
  • 25aTA-3 TiO_2(110)表面上の酸素欠陥規則配列構造の非接触原子間力顕微鏡による観察，芦野 慎,菅原 康弘,森田 清三,石川 満，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 55，No. 2，p. 788-788，2000年09月10日
  • 25pW-5 非接触原子間力顕微鏡による金属・金属相互作用の研究，菅原 康弘,横山 康祐,越智 健敏,森田 清三，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 54，No. 2，p. 803-803，1999年09月03日
  • 29a-PS-51 原子間力顕微鏡の空間分解能の指針，森田 清三,菅原 康弘，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 54，No. 1，p. 320-320，1999年03月15日
  • 28p-Q-1 非接触原子間力顕微鏡によるSi(111)&radic;3×radic3-Ag表面のAg原子の原子分解能観察，菅原 康弘,横山 康祐,越智 健敏,森田 清三，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 54，No. 1，p. 301-301，1999年03月15日
  • 28a-YM-7 非接触原子間力顕微鏡の新展開 : 化学的活性度と電荷の原子レベル観察，菅原 康弘，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 53，No. 2，p. 402-402，1998年09月05日
  • 30a-YF-6 非接触モードAFMによるSi(111)√<3>×√<3>-Ag構造の観察，内橋 貴之,塚本 貴広,蓑部 哲也,折坂 茂樹,菅原 康弘,鈴木 峰晴,柳瀬 好夫,重松 達彦,森田 清三，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 53，No. 1，p. 298-298，1998年03月10日
  • 30a-YF-5 ダイナミックモードAFMによる原子スケールでのエネルギー散逸の観察，上山 仁司,中尾 良純,犬飼 義裕,菅原 康弘,森田 清三，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 53，No. 1，p. 298-298，1998年03月10日
  • 30a-YF-4 GaAs(110)劈開表面の点欠陥の静電気力顕微鏡による観察，菅原 康弘,内橋 貴之,阿部 真之,塚本 貴広,森田 清三,鈴木 峰晴,柳瀬 好夫,重松 達彦，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 53，No. 1，p. 297-297，1998年03月10日
  • 5p-F-1 TGS(010)劈開面における2次元核の成長・消滅のAFM観察，大上 純史,菅原 康弘,森田 清三,尾崎 徹，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 52，No. 2，p. 118-118，1997年09月16日
  • 7a-Q-4 非接触AFMを用いた力によるエバネッセント光の画像化，阿部 真之,菅原 康弘,原 康之,澤田 和良,森田 清三，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 52，No. 2，p. 322-322，1997年09月16日
  • 6p-B-10 Si(111)7×7再構成表面における非接触AFM測定での探針-試料間相互作用の研究，菅原 康弘,内橋 貴之,塚本 貴広,簑部 哲也,鈴木 峰晴,柳瀬 好生,重松 達彦,森田 清三，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 52，No. 2，p. 351-351，1997年09月16日
  • 8p-B-6 静電気力顕微鏡によるGaAs(110)表面の高分解能観察，菅原 康弘,内橋 貴之,上山 仁司,阿部 真之,中尾 良純,森田 清三，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 52，No. 2，p. 381-381，1997年09月16日
  • 非接触原子間力顕微鏡による化合物半導体の原子分解能観察，森田 清三,菅原 康弘,内橋 貴之,上山 仁司,塚本 貴広，電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス，一般社団法人電子情報通信学会，Vol. 97，No. 159，p. 7-14，1997年07月15日
  • Theoretical analysis of atomic-scale friction in frictional-force microscopy，N Sasaki,S Fujisawa,Y Sugawara,S Morita,K Kobayashi,M Tsukada，ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY，AMER CHEMICAL SOC，Vol. 213，p. 59-COLL，1997年04月，研究発表ペーパー・要旨（国際会議）
  • Load dependence of atomic-scale friction on graphite surface observed with two-dimensional frictional force microscope.，S Fujisawa,N Sasaki,M Tsukada,Y Sugawara,S Morita，ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY，AMER CHEMICAL SOC，Vol. 213，p. 12-COLL，1997年04月，研究発表ペーパー・要旨（国際会議）
  • Half the lattice periodicity in frictional force images on NaF(100) surface.，S Fujisawa,Y Sugawara,S Morita，ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY，AMER CHEMICAL SOC，Vol. 213，p. 192-COLL，1997年04月，研究発表ペーパー・要旨（国際会議）
  • 31P-T-2 グラファイトへき開面上の原子スケール摩擦現象の理論解析，佐々木 成朗,藤沢 悟,菅原 康弘,森田 清三,小林 功佳,塚田 捷，日本物理学会講演概要集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 52，No. 1，p. 368-368，1997年03月17日
  • 非接触モード原子間力顕微鏡による半導体表面の真の原子分解能観察，菅原 康弘,森田 清三，日本物理学会講演概要集. 秋の分科会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 1996，No. 2，p. 561-561，1996年09月13日
  • 2次元量子化摩擦のシミュレイションと実験結果の比較，藤沢 悟,佐々木 成朗,塚田 捷,菅原 康弘,森田 清三，日本物理学会講演概要集. 秋の分科会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 1996，No. 3，p. 711-711，1996年09月13日
  • 2p-S-2 原子間力顕微鏡によるエバネッセント場の検出，菅原 康弘,阿部 真之,大田 昌弘,内橋 貴之,上山 仁司,森田 清三，日本物理学会講演概要集. 年会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 51，No. 2，p. 450-450，1996年03月15日
  • 31p-PSB-9 非接触モードAFMにおける力勾配-距離曲線の解析，大田 昌弘,上山 仁司,菅原 康弘,森田 清三，日本物理学会講演概要集. 年会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 51，No. 2，p. 484-484，1996年03月15日
  • 3p-K-6 非接触モードAFMによるSi(111)7×7再構成表面の原子分解能観察，森田 清三,内橋 貴之,大田 昌弘,上山 仁司,菅原 康弘,三島 周三,鈴木 峰晴,柳瀬 好夫,重松 達彦，日本物理学会講演概要集. 年会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 51，No. 2，p. 556-556，1996年03月15日
  • 2次元量子化摩擦の局所化された揺らぎ，藤沢 悟,菅原 康弘,森田 清三，日本物理学会講演概要集. 秋の分科会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 1995，No. 3，p. 663-663，1995年09月12日
  • 29p-PSB-12 非接触モードUHV-AFMによるNaF(100)劈開表面の原子分解能観察，菅原 康弘,大田 昌弘,上山 仁司,内橋 貴之,森田 清三,鈴木 峰晴,三島 周三，日本物理学会講演概要集. 秋の分科会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 1995，No. 2，p. 494-494，1995年09月12日
  • 29p-PSB-1 非接触モード超高真空原子間力顕微鏡によるInP(110)劈開面の格子欠陥の観察，大田 昌弘,上山 仁司,菅原 康弘,森田 清三,大河内 俊介,鈴木 峰晴,三島 周三，日本物理学会講演概要集. 秋の分科会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 1995，No. 2，p. 489-489，1995年09月12日
  • 31p-E-10 イオン結晶劈開面における2次元量子摩擦現象の観察，藤沢 悟,岸 栄吾,菅原 康弘,森田 清三，日本物理学会講演概要集. 年会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 50，No. 3，p. 667-667，1995年03月16日
  • 31p-E-11 2次元量子摩擦現象の荷重依存性，藤沢 悟,岸 栄吾,菅原 康弘,森田 清三，日本物理学会講演概要集. 年会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 50，No. 3，p. 667-667，1995年03月16日
  • 28a-J-9 超高真空原子間力顕微鏡によるII-VI族化合物半導体劈開面の格子像観察，菅原 康弘,大田 昌弘,森田 清三,鈴木 峰晴,三島 周三，日本物理学会講演概要集. 年会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 50，No. 2，p. 493-493，1995年03月16日
  • 2a-R-9 超高真空原子間力顕微鏡によるInP(100)劈開表面の格子像観察，菅原 康弘,大田 昌弘,森田 清三,鈴木 峠晴,長岡 秀樹,三島 周三，日本物理学会講演概要集. 秋の分科会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 1994，No. 2，p. 365-365，1994年08月16日
  • 28p-C-7 原子レベルの摩擦における摩擦法則の破れ，藤沢 悟,岸 栄吾,菅原 康弘,森田 清三，日本物理学会講演概要集. 年会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 49，No. 3，p. 515-515，1994年03月16日
  • 31a-WB-5 超高真空原子問力顕微鏡によるGaAs(110)劈開表面の格子像観察，菅原 康弘,大田 昌弘,本谷 浩二,森田 清三,逢坂 福信,鈴木 峰晴,長岡 秀樹,三島 周三,岡田 孝夫，日本物理学会講演概要集. 年会，一般社団法人日本物理学会，Vol. 49，No. 2，p. 484-484，1994年03月16日
  • FFM (マイクロマシンとマイクロトライボロジ-<特集>) -- (マイクロトライボロジ---マイクロアナリシスツ-ル)，森田 清三,菅原 康弘,藤沢 悟，機械の研究，養賢堂，Vol. 46，No. 1，p. p154-157，1994年01月
  • AFM/STM (マイクロマシンとマイクロトライボロジ-<特集>) -- (マイクロトライボロジ---マイクロアナリシスツ-ル)，森田 清三,菅原 康弘,深野 善信，機械の研究，養賢堂，Vol. 46，No. 1，p. p150-153，1994年01月
  • 超高真空原子間力顕微鏡によるGaAs(110)劈開面の観察，菅原 康弘,大田 昌弘,森田 清三，電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス，一般社団法人電子情報通信学会，Vol. 93，No. 325，p. 37-41，1993年11月18日
  • 30p-ZF-3 原子間力顕微鏡による真空中測定，上原 靖弘,大田 昌弘,菅原 康弘,森田 清三，年会講演予稿集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 47，No. 2，p. 487-487，1992年03月12日
  • 27p-ZC-3 AFM/STMの現状と将来，森田 清三,菅原 康弘，年会講演予稿集，一般社団法人日本物理学会，Vol. 47，No. 2，p. 10-11，1992年03月12日

著書

  • 学術書，Kelvin Probe Force Microscopy From Single Charge Detection to Device Characterization，Yan Jun Li,Haunfei Wen,Zong Min Ma,Lili Kou,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara，Springer Series in Surface Science，2018年03月
  • 学術書，新アクチュエータ開発の最前線，菅原康弘,李艶君,内藤賀公，エヌ・ティー・エヌ，2011年08月
  • 学術書，Next Generation Actuators Leading Breakthroughs，Y. Sugawara,Y. J. Li,Y. Naitoh,M. Kageshima，Springer，2010年01月
  • 学術書，走査プローブ顕微鏡，菅原 康弘，共立出版，2009年03月
  • 学術書，ナノイメージング，菅原 康弘，エヌ・ティー・エヌ，2008年05月
  • 学術書，ナノテクノロジー入門シリーズ ナノテクのための物理入門 極限微小系のナノ物性測定：AFM，菅原 康弘，共立出版，2007年04月
  • 学術書，表面物性工学ハンドブック 6.3AFM 6.3.2装置と測定法 6.3.3-1観察例1 6.4.2FFM(friction force microscopy)19.4 AFMマニピュレーション，菅原 康弘，丸善株式会社，2007年01月
  • 学術書，"Roadmap of Scanning Probe Microscopy" 3.Atomic Force Microscopy(AFM)，Y.Sugawara，Springer，2006年08月
  • 学術書，"Noncontact Atomic Force Microscopy"Applied Scanning Probe Methods VI Characterization，Y.Sugawara，Springer，2006年07月
  • 学術書，「走査型プローブ顕微鏡―最新技術と未来予測―」2.2原子間力顕微鏡（AFM），菅原 康弘，丸善株式会社，2005年12月
  • 学術書，実践ナノテクノロジー「走査プローブ顕微鏡と局所分光」第7章：局所分光の実践例 1節：有機・バイオ分子の解析，松本卓也,川合知二，裳華房、総ページ数429(p.371-388) (2005.11.20)，2005年11月
  • 学術書，光ナノテクノロジー―近接場光学・微細加工の原理から最先端研究まで―「光と半導体」，菅原 康弘，アドスリー，2005年04月
  • 学術書，Scanning Probe Microsocopy: Chracterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Part III Application of Scanning Techniques to Functional Materials "Microscale Contact Charging on a Silicon Oxide"，S. Morita,T. Uchihashi,K. Okamoto,M. Abe,Y. Sugawara，Kluwer Academic Publishers，2004年12月
  • 学術書，Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Part II Fundamentals of Scanning Probe Techniques "Functions of NC-AFM on Atomic Scale"，S. Morita,N. Oyabu,T. Nishimoto,R. Nishi,O. Custance,I. Yi,Y. Sugawara，Kluwer Academic Publishers，2004年12月
  • 学術書，「新改訂・表面科学基礎と応用」2編4章表面分析法、5節ナノプローブ法、4原子間力顕微鏡（AFM)，菅原 康弘，（株）エヌ・ティー・エス，2004年06月
  • 学術書，「ナノ光工学ハンドブック」，菅原康弘，朝倉書店，2002年01月
  • 学術書，「ナノの光で原子を読む」，菅原康弘，㈱クバプロ，2002年01月
  • 学術書，「ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡」，菅原康弘，丸善，2002年01月
  • 学術書，「イオン工学ハンドブック」，菅原康弘，（株）イオン工学研究所，2002年01月
  • 学術書，Noncontact Atomic Force Microscopy，Y.Sugawara，Springer，2002年01月
  • 学術書，Noncontact Atomic Force Microscopy，S.Morita,Y.Sugawara，Springer，2002年01月
  • 学術書，Optical and Electronic Process of Nano-matters，S. Morita,Y. Sugawara，Kluwer Academic Publishers，2001年01月
  • 学術書，Fundamentals of Tribology and Bridging the Gap between Micro- and Micro/Nanoscales，S. Morita,Y. Sugawara,K. Yokoyama,S. T.Uchihashi，Kluwer Academic Publishers，2001年01月
  • 学術書，Fundamentals of Tribology and Bridging the Gap between Micro- and Micro/Nanoscales，S. Morita,Y. Sugawara,K. Yokoyama,S. Fujisawa，Kluwer Academic Publishers，2001年01月
  • 学術書，「近接場ナノフォトニクス入門」，大津元一,河田聡，（株）オプトロニクス社，2000年04月
  • 教科書・概説・概論，「走査型プローブ顕微鏡 －基礎と未来予測－」，菅原康弘,森田清三，丸善（株），2000年02月
  • 学術書，「電気・電子材料のトライボロジー」，森田清三,菅原康弘，（株）リアライズ社，1999年03月
  • 学術書，「近接場ナノフォトニクスハンドブック，大津元一,河田聡，（株）オプトロニクス社，1997年09月
  • 学術書，「近接場ナノフォトニクスハンドブック」，大津元一,河田聡，株）オプトロニクス社，1997年09月
  • 学術書，Forces in Scanning Probe Methods，S. Fujisawa,E. Kishi,Y. Sugawara,S. Morita，Kluwer Academic Publishers，1995年01月
  • 学術書，Forces in Scanning Probe Methods，Y. Sugawara,M. Ohta,K. Hontani,S. Morita,F. Osaka,S. Ohkouchi,M. Suzuki,H. Nagaoka，Kluwer Academic Publishers，1995年01月
  • 学術書，Forces in Scanning Probe Methods，Y. Sugawara,S. Morita,Y. Fukano,T. Uchihashi,T. Okusako,A. Chayahara,Y. Yamanishi,T. Oasa，Kluwer Academic Publishers，1995年01月
  • 学術書，「走査型トンネル顕微鏡／原子間力顕微鏡利用技術集成」，森田清三,菅原康弘,深野善信，（株）ティー・アイ・シィー，1994年07月

特許・実用新案・意匠

  • 高速でヒシテリシスのない圧電素子の高速制御，菅原康弘,影島賢巳，2006-205376，出願日:2006年07月
  • 走査型プローブ顕微鏡，菅原 康弘，特開平10-48224，出願日:1998年02月
  • 走査型プローブ顕微鏡，松山克宏,酒井信明,森田清三,菅原康弘，H10-48224，出願日:1996年08月
  • 走査型プローブ顕微測定法および走査型プローブ顕微鏡，菅原 康弘，特開平7-159155，出願日:1995年06月
  • 原子間力顕微鏡，菅原 康弘，特開平6-180222，出願日:1994年06月
  • 走査型プローブ顕微鏡，菅原 康弘，特開平04-212252，出願日:1992年08月
  • 走査型プローブ顕微鏡，菅原 康弘，特開平03-277903，出願日:1991年12月
  • 走査型プローブ顕微鏡，八木明,岡田孝夫,菅原康弘，H04-212252，出願日:1991年03月
  • 走査型プローブ顕微鏡，森田清三,菅原康弘,岡田孝夫，H03-277903，出願日:1990年03月

受賞

  • 第6回薄膜・表面物理分科会論文賞，李艶君，応用物理学会，2022年03月
  • ナノプローブテクノロジー賞，菅原康弘，日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会，1999年05月
  • (財)安藤研究所第5回安藤博記念学術奨励賞，菅原 康弘，1992年
  • (財)金属研究助成会第30回金属研究助成金研究奨励賞，菅原 康弘，1990年

学術貢献

  • The 4th International Symposium on Ubiquitous Knowledge Network Environment，2007年03月 ～
  • 日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会企画，2006年03月 ～
  • CHINA-JAPAN SALC 2006，2006年03月 ～
  • 光メカトロニクス公開シンポジウム，2005年10月 ～
  • 日本学術振興会薄膜第131委員会基礎講座「薄幕評価技術」，2005年10月 ～
  • 全科展in大阪2005およびバイオフォーラム2005大阪，2005年10月 ～
  • 研究会「走査プローブ顕微鏡の最前線とシュミレータ」，2005年03月 ～
  • 有機バイオSPM研究会，2004年11月 ～
  • 日本物理学会2003年秋季大会，2003年09月 ～
  • 社団法人新化学発展協会、新素材技術部会，2003年09月 ～
  • IIP/ISPS Joint MIPE 2003，2003年06月 ～
  • 平成15年度春季応用物理学関連連合講演会，2003年03月 ～
  • 日本トライボロジー学界、マイクロマシンのトライボロジー研究会，2003年03月 ～
  • Japan-US Symposium on Tools and Metrology for NanoTechnology，2003年01月 ～
  • 電子情報通信学会東北支部学術講演会，2002年11月 ～
  • NC-AFM 2002，2002年08月 ～