Charge State of Au Atoms on an Oxidized Rutile TiO₂(110) Surface by AFM/KPFM at 78 K

Qiang Zhu, Yuuki Adachi, Huanfei Wen, Rui Xu, Zhihai Cheng, Yasuhiro Sugawara, Yanjun Li

Langmuir　Vol. 40　No. 2　p. 1358-1363　2024年1月4日　研究論文（学術雑誌）

Optical Imaging of a Single Molecule with Subnanometer Resolution by Photoinduced Force Microscopy

Tatsuya Yamamoto, Hidemasa Yamane, Nobuhiko Yokoshi, Hisaki Oka, Hajime Ishihara, Yasuhiro Sugawara

ACS Nano　Vol. 18　No. 2　p. 1724-1732　2023年12月29日　研究論文（学術雑誌）

Charge state of steps on anatase TiO2(1 0 1) at 78 K by AFM/KPFM

Jiuyan Wei, Sota Odani, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Applied Surface Science　Vol. 640　p. 158352-158352　2023年12月　研究論文（学術雑誌）

Tip-activated single-atom catalysis: CO oxidation on Au adatom on oxidized rutile TiO ₂ surface

Yuuki Adachi, Ján Brndiar, Martin Konôpka, Robert Turanský, Qiang Zhu, Huan Fei Wen, Yasuhiro Sugawara, Lev Kantorovich, Ivan Štich, Yan Jun Li

Science Advances　Vol. 9　No. 39　2023年9月29日　研究論文（学術雑誌）

Effect of Preparation Processes on Structural Thermal Stability and Collision Energy Dissipation of Common Antirelaxation Coatings on Quartz Substrates

Xinxin He, Xiaoya Liu, Jun Tang, Haifeng Dong, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li, Zongmin Ma, Jun Liu

Langmuir　Vol. 39　No. 36　p. 12740-12753　2023年8月31日　研究論文（学術雑誌）

Study of CO molecules on Pd/Al2O3/NiAl(110) surface by atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy

Shanrong Zou, Jiuyan Wei, Qiang Zhu, Hongqian Sang, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Journal of Nanoparticle Research　Vol. 25　No. 7　2023年6月30日　研究論文（学術雑誌）

Improvement of excitation and collection efficiency simultaneously with integrated Au coatings for chip-scale NV magnetometer

Liu Xinyu, Zheng Doudou, Zhao Junzhi, Wang Qimeng, Liu Yankang, Guo Hao, Tang Jun, Sugawara Yasuhiro, Li Yanjun, Ma Zongmin, Liu Jun

Sensors and Actuators A: Physical　Vol. 352　p. 114206-114206　2023年4月　研究論文（学術雑誌）

Investigation of semiconductor properties of Co/Si(111)-7 × 7 by AFM/KPFS

Zhang Qu, Yasuhiro Sugawara, Yanjun Li

Journal of Physics: Condensed Matter　Vol. 35　No. 18　p. 185001-185001　2023年3月9日　研究論文（学術雑誌）

Adaptive filter entropy monitoring method for scalar magnetic detection using optically pumped magnetometers

Shuai Qiao, Qimeng Wang, Doudou Zheng, Qingfeng Hou, Junzhi Zhao, Jun Tang, Li Yanjun, Yasuhiro Sugawara, Zongmin Ma, Jun Liu

Measurement Science and Technology　Vol. 34　No. 5　p. 055107-055107　2023年2月15日　研究論文（学術雑誌）

High–low Kelvin probe force spectroscopy for measuring the interface state density

Ryo Izumi, Masato Miyazaki, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Beilstein Journal of Nanotechnology　Vol. 14　p. 175-189　2023年1月31日　研究論文（学術雑誌）

Near-field circular dichroism of single molecules

Hidemasa Yamane, Nobuhiko Yokoshi, Hisaki Oka, Yasuhiro Sugawara, Hajime Ishihara

Optics Express　Vol. 31　No. 3　p. 3415-3415　2023年1月30日　研究論文（学術雑誌）

Exploration of CO movement characteristics on rutile TiO2(110) surface

Qiang Zhu, Yasuhiro Sugawara, Yanjun Li

Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects　Vol. 656　p. 130402-130402　2023年1月　研究論文（学術雑誌）

Dual-bias modulation heterodyne Kelvin probe force microscopy in FM mode

Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Applied Physics Letters　Vol. 121　No. 24　p. 241602-241602　2022年12月12日　研究論文（学術雑誌）

Hybrid mode atomic force microscopy of phase modulation and frequency modulation

Tatsuya Yamamoto, Masato Miyazaki, Hikaru Nomura, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Microscopy　Vol. 72　No. 3　p. 236-242　2022年11月2日　研究論文（学術雑誌）

Atomic structure and electron distribution of Co atoms adsorbed on Si(111) surface by NC-AFM/KPFM at 78 K

Zhang Qu, Jiuyan Wei, Xiaopeng Liu, Yasuhiro Sugawara, Yanjun Li

Surface Science　Vol. 724　p. 122130-122130　2022年10月　研究論文（学術雑誌）

Nanoscale optical imaging with photoinduced force microscopy in heterodyne amplitude modulation and heterodyne frequency modulation modes

Junsuke Yamanishi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

Journal of Photochemistry and Photobiology C: Photochemistry Reviews　Vol. 52　p. 100532-100532　2022年9月　研究論文（学術雑誌）

Tip-Induced Dynamic Behaviors of a Water Molecule and Hydroxyl on the Rutile TiO₂(110) Surface

Qiang Zhu, Yuuki Adachi, Yasuhiro Sugawara, Yanjun Li

The Journal of Physical Chemistry C　Vol. 126　No. 31　p. 13062-13068　2022年7月27日　研究論文（学術雑誌）

Direct measurement of surface photovoltage by AC bias Kelvin probe force microscopy

Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Beilstein Journal of Nanotechnology　Vol. 13　p. 712-720　2022年7月25日　研究論文（学術雑誌）

Visualization of Strain-Engineered Nanopattern in Center-Confined Mesoscopic WS₂ Monolayer Flakes

Rui Xu, Yingzhuo Lun, Lan Meng, Fei Pang, Yuhao Pan, Zhiyue Zheng, Le Lei, Sabir Hussain, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara, Jiawang Hong, Wei Ji, Zhihai Cheng

The Journal of Physical Chemistry C　Vol. 126　No. 16　p. 7184-7192　2022年4月28日　研究論文（学術雑誌）

Energy dissipation during collision for anti-relaxation coatings in alkali-metal vapor cells

Cheng Dong, Xiangqian Fang, Junjun Sang, Jun Tang, Haifeng Dong, Yasuhiro Sugawara, Yanjun Li, Zongmin Ma, Jun Liu

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 61　No. 5　p. 055504-055504　2022年4月25日　研究論文（学術雑誌）

Local spectroscopic imaging of a single quantum dot in photoinduced force microscopy

Junsuke Yamanishi, Hidemasa Yamane, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Applied Physics Letters　Vol. 120　No. 16　p. 161601-161601　2022年4月18日　研究論文（学術雑誌）

Study of high–low KPFM on a pn-patterned Si surface

Ryo Izumi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

Microscopy　Vol. 71　No. 2　p. 98-103　2022年4月1日　研究論文（学術雑誌）

Charge State Tristability of Oxygen Adatom on a Rutile TiO₂(110)–(1 × 1) Surface Controlled by Atomic Force Microscopy

Yuuki Adachi, Huan Fei Wen, Quanzhen Zhang, Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Ján Brndiar, Lev Kantorovich, Ivan Štich, Yan Jun Li

The Journal of Physical Chemistry C　Vol. 126　No. 10　p. 5064-5069　2022年3月17日　研究論文（学術雑誌）

Probing CO on a rutile TiO2(110) surface using atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy

Yuuki Adachi, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Nano Research　Vol. 15　No. 3　p. 1909-1915　2022年3月　研究論文（学術雑誌）

Unraveling the Charge States of Au Nanoclusters on an Oxygen-Rich Rutile TiO₂(110) Surface and Their Triboelectrification Overturn by nc-AFM and KPFM

Quanzhen Zhang, Ján Brndiar, Martin Konôpka, Huan Fei Wen, Yuuki Adachi, Masato Miyazaki, Robert Turanský, Rui Xu, Zhi Hai Cheng, Yasuhiro Sugawara, Ivan Štich, Yan Jun Li

The Journal of Physical Chemistry C　Vol. 125　No. 50　p. 27607-27614　2021年12月23日　研究論文（学術雑誌）

Electron dynamics of tip-tunable oxygen species on TiO<inf>2</inf> surface

Yuuki Adachi, Ján Brndiar, Huan Fei Wen, Quanzhen Zhang, Masato Miyazaki, Sourbh Thakur, Yasuhiro Sugawara, Hongqian Sang, Yan Jun Li, Ivan Štich, Lev Kantorovich

Communications Materials　Vol. 2　No. 1　2021年12月　研究論文（学術雑誌）

Epitaxial fabrication of AgTe monolayer on Ag(111) and the sequential growth of Te film

Haoyu Dong, Le Lei, Shuya Xing, Jianfeng Guo, Feiyue Cao, Shangzhi Gu, Yanyan Geng, Shuo Mi, Hanxiang Wu, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara, Fei Pang, Wei Ji, Rui Xu, Zhihai Cheng

Frontiers of Physics　Vol. 16　No. 6　2021年12月1日　研究論文（学術雑誌）

Single hydrogen atom manipulation for reversible deprotonation of water on a rutile TiO2 (110) surface

Yuuki Adachi, Hongqian Sang, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Communications Chemistry　Vol. 4　No. 1　2021年12月　研究論文（学術雑誌）

Voltage- and Redox State-Triggered Oxygen Adatom Conductance Switch

Quanzhen Zhang, Ján Brndiar, Yuuki Adachi, Martin Konôpka, Huan Fei Wen, Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Rui Xu, Zhi Hai Cheng, Hongqian Sang, Yan Jun Li, Lev Kantorovich, Ivan Štich

The Journal of Physical Chemistry C　Vol. 125　No. 48　p. 26801-26807　2021年11月30日　研究論文（学術雑誌）

Size-dependent strain-engineered nanostructures in MoS2monolayer investigated by atomic force microscopy

Le Lei, Yingzhuo Lun, Feiyue Cao, Lan Meng, Shuya Xing, Jianfeng Guo, Haoyu Dong, Shangzhi Gu, Kunqi Xu, Sabir Hussain, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara, Fei Pang, Wei Ji, Jiawang Hong, Rui Xu, Zhihai Cheng

Nanotechnology　Vol. 32　No. 46　2021年11月12日　研究論文（学術雑誌）

The Possibility of Integrating NV Magnetometer Array by Using Wireless Microwave Excitation and Its Application in Remote Heart Sound Records

Doudou Zheng, Qimeng Wang, Xiaocheng Wang, Xuemin Wang, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara, Li Qin, Xiaoming Zhang, Yunbo Shi, Jun Tang, Hao Guo, Zongmin Ma, Jun Liu

IEEE Sensors Journal　Vol. 21　No. 20　p. 22587-22594　2021年10月15日　研究論文（学術雑誌）

Toplayer-dependent crystallographic orientation imaging in the bilayer two-dimensional materials with transverse shear microscopy

Sabir Hussain, Rui Xu, Kunqi Xu, Le Lei, Shuya Xing, Jianfeng Guo, Haoyu Dong, Adeel Liaqat, Rashid Iqbal, Muhammad Ahsan Iqbal, Shangzhi Gu, Feiyue Cao, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara, Fei Pang, Wei Ji, Liming Xie, Shanshan Chen, Zhihai Cheng

Frontiers of Physics　Vol. 16　No. 5　2021年10月1日　研究論文（学術雑誌）

Exploring the nature of hydrogen of Rutile TiO2(110) at 78 K

Huan Fei Wen, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

SURFACES AND INTERFACES　Vol. 26　2021年10月　研究論文（学術雑誌）

Detection of sub-nanotesla magnetic fields by linewidth narrowing in high-density nitrogen vacancy magnetometry with pulsed ESR method

Yangang Zhang, Xiaocheng Wang, Junqi Wang, Doudou Zheng, Liumin Niu, Xiaohan Chai, Jun Tang, Hao Guo, Li Qin, Xiaoming Zhang, Zongmin Ma, Jun Liu, Yasuhiro Sugawara, Yanjun Li

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　Vol. 60　No. 9　2021年9月　研究論文（学術雑誌）

Charge Behavior of Terminal Hydroxyl on Rutile TiO₂(110)

Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Langmuir　Vol. 37　No. 35　p. 10588-10593　2021年8月26日　研究論文（学術雑誌）

Optical force mapping at the single-nanometre scale

Junsuke Yamanishi, Hidemasa Yamane, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Nobuhiko Yokoshi, Tatsuya Kameyama, Seiya Koyama, Tsukasa Torimoto, Hajime Ishihara, Yasuhiro Sugawara

NATURE COMMUNICATIONS　Vol. 12　No. 1　2021年6月　研究論文（学術雑誌）

Strain-Engineered Rippling and Manipulation of Single-Layer WS2by Atomic Force Microscopy

Fei Pang, Feiyue Cao, Le Lei, Lan Meng, Shili Ye, Shuya Xing, Jianfeng Guo, Haoyu Dong, Sabir Hussain, Shangzhi Gu, Kunqi Xu, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara, Wei Ji, Rui Xu, Zhihai Cheng

Journal of Physical Chemistry C　Vol. 125　No. 16　p. 8696-8703　2021年4月29日　研究論文（学術雑誌）

Homogeneity of the negatively charged assembly of nitrogen vacancy centres in diamonds using the Quasi-finite-element optical scanning position method

Doudou Zheng, Zongmin Ma, Yangang Zhang, Yueping Fu, Jiuyan Wei, Hua Yuan, Li Qin, Yunbo Shi, Jun Tang, Jun Liu, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara

LASER PHYSICS　Vol. 31　No. 4　2021年4月　研究論文（学術雑誌）

Electrically-induced manipulation of the Au nanoclusters on oxidized rutile TiO2(110) surface by atomic force microscopy at 78K

Quanzhen Zhang, Huan Fei Wen, Rui Xu, Zhihai Cheng, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

The Journal of Physical Chemistry C　Vol. 124　No. 52　p. 28562-28568　2020年12月　研究論文（学術雑誌）

Oxygen Adsorb-induced Charge State Change of Pd Nanocluster on Al2O3/NiAl(110) Surface

Shanrong Zou, Y. Sugawara, Yan Jun Li

The Journal of Physical Chemistry C　Vol. 125　No. 1　p. 446-451　2020年12月　研究論文（学術雑誌）

Variable-density imaging of high concentration of NV centers with three-dimensional optical scanning techniques at sub-micrometer scale in millimeter area

Zongmin Ma, Liumin Niu, Jiuyan Wei, Yunbo Shi, Li Qin, Jun Tang, Jun Liu, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 59　No. 11　2020年11月1日　研究論文（学術雑誌）

Effects of subsurface charge on surface defect and adsorbate of rutile TiO2 (110)

Wen Huan-Fei, Yasuhiro Sugawara, Li Yan-Jun

ACTA PHYSICA SINICA　Vol. 69　No. 21　2020年11月　研究論文（学術雑誌）

Direct observation of Si (110)-(16×2) surface reconstruction by atomic force microscopy

Tatsuya Yamamoto, Ryo Izumi, Kazushi Miki, Takahiro Yamasaki, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Beilstein Journal of Nanotechnology　Vol. 11　p. 1750-1756　2020年11月　研究論文（学術雑誌）

Theoretical analysis of optically selective imaging in photoinduced force microscopy

Hidemasa Yamane, Junsuke Yamanishi, Nobuhiko Yokoshi, Yasuhiro Sugawara, Hajime Ishihara

OPTICS EXPRESS　Vol. 28　No. 23　p. 34787-34803　2020年11月　研究論文（学術雑誌）

Strain-Induced Hierarchical Ripples in MoS2 Layers Investigated by Atomic Force Microscopy

Sabir Hussain, Rui Xu, Kunqi Xu, Le Lei, Lan Meng, Zhiyue Zheng, Shuya Xing, Jianfeng Guo, Haoyu Dong, Adeel Liaqat, Muhammad Iqbal, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara, Fei Pang, Wei Ji, Liming Xie, Zhihai Cheng

Applied Physics Letters　Vol. 117　p. 153102-1-153102-7　2020年10月　研究論文（学術雑誌）

Atomically Asymmetric Inversion Scales up to Mesoscopic Single-Crystal Monolayer Flakes

Rui Xu, Fei Pang, Yuhao Pan, Lan Meng, Zhiyue Zheng, Kunqi Xu, Le Lei, Sabir Hussain, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara, Wei Ji, Zhihai Cheng

ACS Nano　Vol. 14　No. 10　p. 13834-13840　2020年9月　研究論文（学術雑誌）

Size dependence of charge state of Pd nanoparticles on Al2O3/NiAl(110) surface determined by Kelvin probe force microscopy

Shanrong Zou, Hirotaka Yokoyama, Yasuhiro Sugawara, Yanjun Li

The Journal of Physical Chemistry C　Vol. 124　No. 39　p. 21641-21645　2020年9月　研究論文（学術雑誌）

Imaging Oxygen Molecular Adsorption and Dissociation on TiO2(110) Surface with Real Configuration at 78 K by Atomic Force Microscopy

Huan Fei Wen, Hongqian Sang, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Physical Chemistry Chemical Physics　Vol. 22　p. 19795-19801　2020年8月　研究論文（学術雑誌）

Atomic Scale Three Dimensional Au Nanocluster on Rutile TiO2 (110) Surface Resolved by Atomic Force Microscopy

Yuuki Adachi, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

The Journal of Physical Chemistry Letters　Vol. 11　p. 7153-7158　2020年8月　研究論文（学術雑誌）

Dynamic Behavior of OH and Its Atomic Contrast with O adatom on Ti site of TiO2(110) at 78 K by Atomic Force Microscopy Imaging

Huan Fei Wen, Hongqian Sang, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Appled Physics Letters　Vol. 117　p. 051602-1-051602-4　2020年7月　研究論文（学術雑誌）

Multi-Channel Exploration of O Adatom on TiO2(110) Surface by Atomic Force Microscopy

HuanFei Wen, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Nanomaterials　Vol. 10　p. 1506(1)-1506(9)　2020年7月　研究論文（学術雑誌）

Surface potential measurement by heterodyne frequency modulation Kelvin probe force microscopy in MHz range

Yasuhiro Sugawara, Masato Miyazaki, Yanjun Li

Journal of Physics Communications　Vol. 4　2020年7月　研究論文（学術雑誌）

Remotely Controlling the Charge State of Oxygen Adatoms on Rutile TiO2(110) Surface using Atomic Force Microscopy

Yuuki Adachi, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

The Journal of Physical Chemistry Part C　Vol. 124　No. 22　p. 12010-12015　2020年5月　研究論文（学術雑誌）

Contrast inversion of O adatom on rutile TiO2(1 1 0)-(1 × 1) surface by atomic force microscopy imaging

Huan Fei Wen, Quanzhen Zhang, Yuuki Adachi, Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Applied Surface Science　Vol. 505　2020年3月1日　研究論文（学術雑誌）

Elucidating Charge State of an Au Nanocluster on Oxidized/Reduced Rutile TiO2(110) Surfaces using non-contact atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy

Yuuki Adachi, Huan Fei Wen, Quanzhen Zhang, Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Nanoscale Advances　Vol. 2　p. 2371-2375　2020年3月　研究論文（学術雑誌）

A hand-held magnetometer based on an ensemble of nitrogen-vacancy centers in diamond

D. Zheng, Z. Ma, W. Guo, L. Niu, J. Wang, X. Chai, Y. J. Li, Y. Sugawara, C. Yu, Y. Shi, X. Zhang, J. Tang, H. Guo, J. Liu

J. Phys. D: Appl. Phys.　Vol. 53　No. 15　p. 155004 (1)-155004(6)　2020年2月　研究論文（学術雑誌）

Single hydrogen atom manipulation for reversible deprotonation of water on a rutile TiO2 (110) surface

安達 有輝, 菅原 康弘, 李艶君

No. 4　p. 1-5　2020年1月　研究論文（学術雑誌）

AFM/KPFSによる二酸化チタン表面に吸着した酸素原子・分子の電荷状態の原子レベル解析と電荷

李 艶 君, 安 達 有 輝, 菅 原 康 弘

触媒　Vol. 62　No. 1　p. 9-14　2020年1月　研究論文（学術雑誌）

Adhesion Effect on the Hyperfine Frequency Shift of an Alkali Metal Vapor Cell with Paraffin Coating Using Peak-Force Tapping AFM

Jiuyan Wei, Zongmin Ma, Huanfei Wen, Hao Guo, Jun Tang, Jun Liu, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara

Coatings　Vol. 10　No. 84　p. 1-11　2020年1月　研究論文（学術雑誌）

Electrical Engineering of the Oxygen Adatom and Vacancy on Rutile TiO2(110) by Atomic Force Microscopy at 78 K

Quanzhen Zhang, Huan Fei Wen, Yuuki Adachi, Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Rui Xu, Zhi Hai Cheng, Yan Jun Li

The Journal of Physical Chemistry C　Vol. 123　No. 47　p. 28852-28858　2019年11月　研究論文（学術雑誌）

Identification of Atomic Defects and Adsorbate on Rutile TiO2(110)-(1 × 1) Surface by Atomic Force Microscopy

Huan Fei Wen, Yuuki Adachi, Quanzhen Zhang, Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Journal of Physical Chemistry C　Vol. 123　No. 42　p. 25756-25760　2019年10月24日　研究論文（学術雑誌）

Identification of Atomic Defects and Adsorbates on Rutile TiO2(110)-(1×1) Surface by Atomic Force Microscopy.

Huan Fei Wen, Yuuki Adachi, Quanzhen Zhang, Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

The Journal of Physical Chemistry C　Vol. 123　p. 25756-25760　2019年9月　研究論文（学術雑誌）

Characterization and Reversible Migration of Subsurface Hydrogen on Rutile TiO2(110) by nc-AFM/STM/KPFM at 78 K

Quanzhen Zhang, Huan Fei Wen, Yuuki Adachi, Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Rui Xu, Zhihai Cheng, Yan Jun Li

The Journal of Physical Chemistry　Vol. 123　No. 36　p. 22595-22602　2019年8月　研究論文（学術雑誌）

Tip-induced Control of Charge and Molecular Bonding of Oxygen Atoms on the Rutile TiO2 (110) Surface with Atomic Force Microscopy

Yuuki Adachi, Huan Fei Wen, Quanzhen Zhang, Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Hongqian Sang, Ján Brndiar, Lev Kantorovich, Ivan Štich, Yan Jun Li

ACS Nano　Vol. 16　p. 6917-6924　2019年6月　研究論文（学術雑誌）

Imaging of the surface potential at the steps on rutile TiO2(110) surface by Kelvin probe force microscopy

Masato Miyazaki, Huan Fei Wen, Quanzhen Zhang, Yuuki Adachi, Jan Brndiar, Ivan Štich, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Beilstein Journal of Nanotechnology　Vol. 10　p. 1228-1236　2019年6月

Contrast inversion of O adatom on rutile TiO2(110)-(1×1) surface by atomic force microscopy imaging

Huan Fei Wen, Quanzhen Zhang, Yuuki Adachi, Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li

Applied Surface Science　Vol. 505　p. 144623-144627　2019年5月　研究論文（学術雑誌）

Interfacial water intercalation-induced metal-insulator transition in NbS2/BN heterostructure

Rui Xu, Xinsheng Wang, Zhiyue Zheng, Shili Ye, Kunqi Xu, Le Lei, Sabir Hussain, Fei Pang, Xinmeng Liu, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara, Wei Ji, Liming Xie, Zhihai Cheng

NANOTECHNOLOGY　Vol. 30　No. 20　2019年5月　研究論文（学術雑誌）

Atomic-scale elastic property probed by atomic force microscopy

Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Comprehensive Nanoscience and Nanotechnology　Vol. 1-5　p. 33-52　2019年1月1日　論文集(書籍)内論文

Imaging the surface potential at the steps on the rutile TiO2(110) surface by Kelvin probe force microscopy

Masato Miyazaki, Huan Fei Wen, Quanzhen Zhang, Yuuki Adachi, Jan Brndiar, Ivan Štich, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Beilstein Journal of Nanotechnology　Vol. 10　p. 1228-1236　2019年　研究論文（学術雑誌）

Subatomic-scale resolution with SPM: Co adatom on p(2 x 1)Cu(110):O

Robert Turansky, Krisztian Palotas, Jan Brndiar, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara, Ivan Stich

Nanotechnology　Vol. 30　p. 095703(1)-095703(7)　2019年1月　研究論文（学術雑誌）

Direct observation of atomic step edges on the rutile TiO2(110)-(1× 1) surface using atomic force microscopy

Huan Fei Wen, Masato Miyazaki, Quanzhen Zhang, Yuuki Adachi, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Phys. Chem. Chem. Phys.　Vol. 20　p. 28337-28337　2018年11月　研究論文（学術雑誌）

Measurement and Manipulation of the Charge State of Adsorbed Oxygen Adatom on Rutile TiO2(110)-1×1 Surface by nc-AFM and KPFM

Quanzhen Zhang, Yan Jun Li, Huan Fei Wen, Yuuki Adachi, Masato Miyazaki, Yasuhiro Sugawara, Rui Xu, Zhi Hai Cheng, Ján Brndiar, Lev Kantorovich, Ivan Štich

Journal of American Chemical Society　Vol. 140　No. 46　p. 15668-15674　2018年10月　研究論文（学術雑誌）

Direct visualization of Oxygen Reaction with Paired Hydroxyl on TiO2(110) Surface at 78 K by Atomic Force Microscopy

Huan Fei Wen, Quanzhen Zhang, Yuuki Adachi, Masato Miyazaki, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Direct visualization of Oxygen Reaction with Paired Hydroxyl on TiO2(110) Surface at 78 K by Atomic Force Microscopy　Vol. 122　p. 17395-17399　2018年7月　研究論文（学術雑誌）

Stable Contrast Mode on TiO2(110) Surface with Metal-Coated Tips Using AFM

Yanjun Li, Huanfei Wen, Q. Zhang, Y. Adachi, Eiji Arima, Yukinori Kinoshita, Hikaru Nomura, Zongmin Ma, Lili Kou, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara, Rui Xu, Zhihai Cheng

Ultramicroscopy　Vol. 191　p. 51-55　2018年4月　研究論文（学術雑誌）

High harmonic exploring on different materials in dynamic atomic force microscopy

ZhiYue Zheng, Rui Xu, ShiLi Ye, Sabir Hussain, Wei Ji, Peng Cheng, YanJun Li, Yasuhiro Sugawara, ZhiHai Cheng

SCIENCE CHINA-TECHNOLOGICAL SCIENCES　Vol. 61　No. 3　p. 446-452　2018年3月

Local characterization of mobile charge carriers by two electrical AFM modes: Multi-harmonic EFM versus sMIM

Le Lei, Rui Xu, Shili Ye, Xinsheng Wang, Kunqi Xu, Sabir Hussain, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara, Liming Xie, Wei Ji, Zhihai Cheng

Journal of Physics Communications　Vol. 2　No. 2　2018年2月1日　研究論文（学術雑誌）

KPFM/AFM imaging on TiO2(110) surface in O2 gas

Eiji Arima, Huanfei Wen, Yoshitaka Naitoh, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology　Vol. 29　p. 105504(1)-105504(8)　2018年2月　研究論文（学術雑誌）

Photoinduced Force Microscopy Imaging Using Heterodyne-FM Technique

Junsuke Yamanishi, Masaaki Tsujii, Yoshitaka Naitoh, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara

OPTICAL MANIPULATION CONFERENCE　Vol. 10712　2018年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

Magnetic resonance force microscopy using ferromagnetic resonance of a magnetic tip excited by microwave transmission via a coaxial resonator

Yukinori Kinoshita, Yan Jun Li, Satoru Yoshimura, Hitoshi Saito, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology　Vol. 28　p. 485709(1)-485709(6)　2017年11月　研究論文（学術雑誌）

Separation of atomic-scale spin contrast on NiO(0 0 1) by magnetic resonance force microscopy

Eiji Arima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Journal of Physics Condensed Matter　Vol. 29　No. 40　2017年9月1日　研究論文（学術雑誌）

Sub-atomic-scale tip-surface force vector mapping above a Ge(001) dimer using bimodal atomic force micorscopy

Yoshitaka Naitoh, Robert Turanský, Ján Brndiar, Yan Jun Li, Ivan Štich, Yasuhiro Sugawara

nature physics　Vol. 13　No. 7　p. 663-667　2017年4月　研究論文（学術雑誌）

Investigation of tunneling current and local contact potential difference on the TiO2(110) surface by AFM/KPFM at 78 K

Huan Fei Wen, Yan Jun Li, Eiji Arima, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara, Rui Xu, Zhi Hai Cheng

Nanotechnology　Vol. 28　No. 10　2017年2月6日　研究論文（学術雑誌）

Investigation of the surface potential of TiO2(110) by frequency-modulation Kelvin probe force microscopy

Lili Kou, Yan Jun Li, Takeshi Kamijo, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology　2016年11月　研究論文（学術雑誌）

Promoting atoms into delocalized long-living magnetically modified state using Atomic Force Microscopy

Y. Kinoshita, R. Turanský, J. Brndiar, Y. Naitoh, Y. J. Li, L. Kantorovich, Y. Sugawara, I. Štich

Nano Letters　Vol. 16　No. 12　p. 7490-7494　2016年10月　研究論文（学術雑誌）

Development of Low Temperature Atomic Force Microscopy with an Optical Beam Deflection System Capable of Simultaneously Detecting the Lateral and Vertical Forces

Eiji Arima, Huanfei Wen, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Rev. Sci. Instrum.　2016年9月　研究論文（学術雑誌）

Growth models of coexisting p(2 x 1) and c(6 x 2) phases on an oxygen-terminated Cu(110) surface studied by noncontact atomic force microscopy at 78 K

Yan Jun Li, Seung Hwan Lee, Yukinori Kinoshita, Zong Min Ma, Huanfei Wen, Hikaru Nomura, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology　Vol. 27　No. 20　p. 205702-205702　2016年4月7日　研究論文（学術雑誌）

Growth models of coexisting p(2×1) and c(6×2) phases on an oxygen-terminated Cu(110) surface studied by noncontact atomic force microscopy at 78 K

Yan Jun Li, Seung Hwan Lee, Yukinori Kinoshita, Zong Min Ma, Huanfei Wen, Hikaru Nomura, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology　2016年4月　研究論文（学術雑誌）

Distance dependence of atomic-resolution near-field Imaging on the α-Al2O3 surface with respect to surface photovoltage of a silicon probe tip

Junsuke Yamanishi, Takashi Tokuyama, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Nano Research　Vol. 9　No. 2　p. 530-536　2016年2月　研究論文（学術雑誌）

19aAR-5 多周波数モード原子間力顕微鏡によるGe(001)表面のサブ原子スケール弾性状態の研究

内藤 賀公, 李 艶君, 菅原 康弘

日本物理学会講演概要集　Vol. 71　p. 2484-2484　2016年

原子レベルで表面磁性を可視化する強磁性共鳴を用いた磁気交換力顕微鏡の開発

有馬 英司, 内藤 賀公, 李 艶君, 菅原 康弘

表面科学　Vol. 37　No. 9　p. 416-421　2016年

Atomic Force Microscopy identification of Al-sites on ultrathin aluminum oxide film on NiAl(110)

Yan Jun Li, Jan Brndiar, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara, Ivan Stich

Nanotechnology　2015年11月　研究論文（学術雑誌）

Atomic-Resolution Imaging of the Optical Near Field Based on the Surface Photovoltage of a Silicon Probe Tip

Yasuhiro Sugawara, Junsuke Yamanishi, Takashi Tokuyama, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li

Phys. Rev. Appl.　2015年4月　研究論文（学術雑誌）

Surface potential imaging with atomic resolution by frequency-modulation Kelvin probe force microscopy without bias voltage feedback

Lili Kou, Zongmin Ma, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masaharu Komiyama, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology　2015年4月　研究論文（学術雑誌）

Magnetic force microscopy using tip magnetization modulated by ferromagnetic resonance

Eiji Arima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Satoru Yoshimura, Hitoshi Saito, Hikaru Nomura, Ryoichi Nakatani, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology　Vol. 26　No. 12　p. 125701-125701　2015年3月27日　研究論文（学術雑誌）

Magnetic force microscopy using tip magnetization modulated by ferromagnetic resonance

Eiji Arima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Satoru Yoshimura, Hitoshi Saito, Hikaru Nomura, Ryoichi Nakatani, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology　2015年3月　研究論文（学術雑誌）

原子レベルでの表面磁性を可視化する新規SPM計測法の開発

菅原 康弘, 有馬 英司, 内藤 賀公, 李 艶君

表面科学学術講演会要旨集　Vol. 35　p. 27-27　2015年

Image formation and contrast inversion in noncontact atomic force microscopy imaging of oxidized Cu(110) surfaces

J. Bamidele, Y. Kinoshita, R. Turanský, S. H. Lee, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara, I. Štich, L. Kantorovich

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics　Vol. 90　No. 3　2014年7月10日　研究論文（学術雑誌）

Vertical atomic manipulation with dynamic atomic-force microscopy without tip change via a multi-step mechanism

J. Bamidele, Seung-Hwan Lee, Y. Kinoshita, R. Turanský, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara, I. Štich, L. Kantorovich

Nature Communications　2014年7月　研究論文（学術雑誌）

Image formation and contrast inversion in NC-AFM imaging of oxidized Cu(110) surfaces

Joseph Bamidele, Yukinori Kinoshita, Robert Turanský, Seung-Hwan Lee, Yoshitaka Naitoh, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara, Ivan Štich, Lev Kantorovich

Phys. Rev. B　2014年7月　研究論文（学術雑誌）

The stray capacitance effect in Kelvin probe force microscopy using FM, AM and heterodyne AM modes

Zong Min Ma, Lili Kou, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology　2013年4月　研究論文（学術雑誌）

Complex design of dissipation signals in non-contact atomic force microscopy

Joseph Bamidele, Yan Jun Li, Samuel Jarvis, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara, Lev Kantorovich

Physical Chemistry Chemical Physics　2012年12月　研究論文（学術雑誌）

Quantification of Atomic-Scale Elasticity on Ge(001)-c(4×2) Surfaces via Noncontact Atomic Force Microscopy with a Tungsten-Coated Tip

Y. Naitoh, T. Kamijo, Y. J. Li, Y. Sugawara

Phys. Rev. Lett.　2012年11月　研究論文（学術雑誌）

Chemical tip fingerprinting in scanning probe microscopy of an oxidized Cu(110) surface

J. Bamidele, Y. Kinoshita, R. Turanský, Seung-Hwan Lee, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara, I. Štich, L. Kantorovich

Phys. Rev. B　2012年10月　研究論文（学術雑誌）

High potential sensitivity in heterodyne amplitude modulation Kelvin probe force microscopy

Yasuhiro Sugawara, Lili Kou, Zongmin Ma, Takeshi Kamijo, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li

Appled Physics Letters　2012年5月　研究論文（学術雑誌）

Force Mapping on NaCl(100)/Cu(111) Surface by Atomic Force Microscopy at 78 K

Y. J. Li, Y. Kinoshita, K. Tenjin, Z. Ma, L. Kou, Y. Naitoh, M. Kageshima, Y. Sugawara

Japanese Journal of Applied Physics　2012年2月　研究論文（学術雑誌）

Fabrication of Sharp Tungsten-coated Tip for Atomic Force Microscopy by Ion-beam Sputter deposition

Y. Kinoshita, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara

Revew of Scientific Instrumunts　2011年10月　研究論文（学術雑誌）

Switching surface polarization of atomic force microscopy probe utilizing photoisomerization of photochromic molecules

Yoshihiro Aburaya, Hikaru Nomura, Masami Kageshima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　Vol. 109　No. 6　2011年3月　研究論文（学術雑誌）

Switching surface polarization of atomic force microscopy probe utilizing photoisomerization of photochromic molecules

Yoshihiro Aburaya, Hikaru Nomura, Masami Kageshima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Journal of Applied Physics　2011年3月　研究論文（学術雑誌）

Simultaneous observation of surface topography and elasticity at atomic scale by multifrequency frequency modulation atomic force microscopy

Yoshitaka Naitoh, Zongmin Ma, Yan Jun Li, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Journal of Vacuum Science and Technology B　2010年10月　研究論文（学術雑誌）

High force sensitivity in Q-controlled phase-modulation atomic force microscopy

Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

APPLIED PHYSICS LETTERS　Vol. 97　No. 1　2010年7月　研究論文（学術雑誌）

High force sensitivity in Q-controlled phase-modulation atomic force microscopy

Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Applied Physics Letters　2010年7月　研究論文（学術雑誌）

Multifrequency High-Speed Phase-Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids

Yan Jun Li, Kouhei Takahashi, Naritaka Kobayashi, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Ultramicroscopy　2010年5月　研究論文（学術雑誌）

Step Response Measurement of AFM Cantilever for Analysis of Frequency-Resolved Viscoelasticity

Tatsuya Ogawa, Shinkichi Kurachi, Masami Kageshima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Ultramicroscopy　2010年5月　研究論文（学術雑誌）

Development of high-speed actuator for scanning probe microscopy

Yasuhiro Sugawara, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima

Next-Generation Actuators Leading Breakthroughs　p. 45-54　2010年　論文集(書籍)内論文

Effect of Surface Stress around the SA Step of Si(001) on the Dimer Structure Induced by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5 K

Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Hikaru Nomura, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Journal of Physical Society of Japan　2010年1月　研究論文（学術雑誌）

The influence of Si cantilever tip with/without tungsten coating on NC-AFM imaging of Ge(001) surface

Yoshitaka Naitoh, Yukinori Kinoshita, Yan Jun LI, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology　2009年5月　研究論文（学術雑誌）

Development of atomic force microscope with wide-band magnetic excitation for study of soft matter dynamics

Masami Kageshima, Takuma Chikamoto, Tatsuya Ogawa, Yoshiki Hirata, Takahito Inoue, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Review of Scientific Instruments　2009年2月　研究論文（学術雑誌）

極低温環境における原子分解能非接触原子間力顕微鏡計測技術

菅原 康弘, 内藤 賀公, 影島 賢巳, 李 艶君

真空　Vol. 51　No. 12　p. 789-795　2008年12月20日

Atomic-Scale Imaging of B/Si(111)$\sqrt{3}{\times}\sqrt{3}$ Surface by Noncontact Atomic Force Microscopy

Kinoshita Masaharu, Naitoh Yoshitaka, Li Yan Jun, Kageshima Masami, Sugawara Yasuhiro

Jpn J Appl Phys　Vol. 47　No. 10　p. 8218-8220　2008年10月25日　研究論文（学術雑誌）

High-Speed Phase-Modulation Atomic Force Microscopy in Constant-Amplitude Mode Capable of Simultaneous Measurement of Topography and Energy Dissipation

Li Yan Jun, Kobayashi Naritaka, Nomura Hikaru, Naitoh Yoshitaka, Kageshima Masami, Sugawara Yasuhiro

Jpn J Appl Phys　Vol. 47　No. 7　p. 6121-6124　2008年7月25日　研究論文（学術雑誌）

Study of Oxidized Cu(110) Surface Using Noncontact Atomic Force Microscopy

Shohei Kishimoto, Masami Kageshima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

Surf. Sci.　2008年5月　研究論文（学術雑誌）

Theoretical investigation on force sensitivity in Q-controlled phasemodulationatomic force microscopy in constant-amplitude mode

Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

J. Appl. Phys.　2008年3月　研究論文（学術雑誌）

Phase Modulation Atomic Force Microscopy in Constant Excitation Mode Capable of Simultaneous Imaging of Topography and Energy Dissipation

Yan Jun Li, Naritaka Kobayashi, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Appl. Phys. Lett.　2008年3月　研究論文（学術雑誌）

Viscoelasticity and Dynamics of Single Biopolymer Chain Measured with Magnetically Modulated Atomic Force Microscopy

M. Kageshima, Y. Nishihara, Y. Hirata, T. Inoue, Y. Naitoh, Y. Sugawara

AIP Conference Proceedings　2008年3月　研究論文（学術雑誌）

Q値制御法による位相変調方式原子間力顕微鏡の感度向上

小林成貴, 李艶君, 内藤賀公, 影島賢巳, 菅原康弘

表面科学　Vol. 28　No. 9　p. 532-535　2007年9月　研究論文（学術雑誌）

Si(001)ステップからの表面応力によるダイマー構造変化のLT-NC-AFM測定

内藤 賀公, 野村 光, 影島 賢巳, 李 艶君, 菅原 康弘

表面科学 = Journal of The Surface Science Society of Japan　Vol. 28　No. 8　p. 421-427　2007年8月10日　研究論文（学術雑誌）

Elimination of instabilities in phase shift curves in phase-modulation atomic force microscopy in constant-amplitude mode

Yasuhiro Sugawara, Naritaka Kobayashi, Masayo Kawakami, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima

APPLIED PHYSICS LETTERS　2007年5月　研究論文（学術雑誌）

Force Microscopy Imaging of Rest Atom on Si(111)$7{\times}7$ Surface under Strong Tip–Surface Interaction

Naitoh Yoshitaka, Momotani Kohji, Nomura Hikaru, Li Yan Jun, Kageshima Masami, Sugawara Yasuhiro

Journal of the Physical Society of Japan　Vol. 76　No. 3　p. 33601-033601-4　2007年3月15日　研究論文（学術雑誌）

Dissipative force modulation Kelvin probe force microscopy applying doubled frequency ac bias voltage

H. Nomura, K. Kawasaki, T. Chikamoto, Y. J. Li, Y. Naitoh, M. Kageshima, Y. Sugawara

Appl. Phys. Lett.　2007年1月　研究論文（学術雑誌）

Wide-band and hysteresis-free regulation of piezoelectric actuator based on induced current for high-speed scanning probe microscopy

Masami Kageshima, Shinsuke Togo, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

Review of Scientific Instruments　2006年10月　研究論文（学術雑誌）

High-sensitivity force detection by phase-modulation atomic force microscopy

Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS　Vol. 45　No. 29-32　p. L793-L795　2006年8月　研究論文（学術雑誌）

High Sensitive Force Detection by Phase Modulation Atomic Force Microscopy (PM-AFM)

Naritaka Kobayashi, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

Jpn. J. Appl. Phys. Lett.　2006年7月　研究論文（学術雑誌）

Discrimination of individual atoms on Ge/Si(111)-(7×7) intermixed surface

Insook Yi, Ryuji Nishi, Yoshiaki Sugimoto, Masayuki Abe, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

Surface Science　Vol. 600　No. 13　p. 2766-2770　2006年7月　研究論文（学術雑誌）

The Origin of p(2ｘ1) Phase on Si(001) by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5 K

Yan Jun Li, Hikaru Nomura, Naoyuki Ozaki, Yoshitaka Naitoh, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara, Chris Hobbs, Lev Kantorovich

Physical Review Letters　2006年3月　研究論文（学術雑誌）

Wideband and hysteresis-free regulation of piezoelectric actuator based on induced current for high-speed scanning probe microscopy

Masami Kageshima, Shinsuke Togo, Yan Jun Li, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

Review of Scientific Instruments　Vol. 77　No. 10　2006年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

Functions of NC-AFM on atomic scale

S Morita, N Oyabu, T Nishimoto, R Nishi, O Custance, Yi, I, Y Sugawara

SCANNING PROBE MICROSCOPY: CHARACTERIZATION, NANOFABRICATION AND DEVICE APPLICATION OF FUNCTIONAL MATERIALS　Vol. 186　p. 173-+　2005年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

Microscale contact charging on a silicon oxide

S Morita, T Uchihashi, K Okamoto, M Abe, Y Sugawara

Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials　Vol. 186　p. 289-+　2005年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

Phase detection method with a positive feedback control using a quartz resonator based atomic force microscope in liquid environment

Ryuji Nishi, Kouichi Kitano, Insook Yi, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

Applied Surface Science　2004年10月　研究論文（学術雑誌）

Ground state of Si(001) surface revisited----Is seeing believing ?

T. Uda, H. Shigekawa, Y. Sugawara, S. Mizuno, Y. Yamashita, J. Yoshinobu, K. Nakatsuji, H. Kawai, F. Komori

Progress in Surface Science　2004年4月　研究論文（学術雑誌）

Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope

MORITA Seizo, SUGIMOTO Yoshiaki, OYABU Noriaki, NISHI Ryuji, CUSTANCE Oscar, SUGAWARA Yasuhiro, ABE Masayuki

Journal of electron microscopy　Vol. 53　No. 2　p. 163-168　2004年4月1日　研究論文（学術雑誌）

Atom Selective Imaging and Mechanical Atom Manipulation based on Noncontact Atomic Force Microscope Method

Morita Seizo, Oyabu Noriaki, Nishi Ryuji, Okamoto Kenji, Abe Masayuki, Custance Óscar, Yi Insook, Seino Yoshihide, Sugawara Yasuhiro

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology　Vol. 1　p. 158-170　2003年12月　研究論文（学術雑誌）

The Imaging Mechanism of Atomic-scale Kelvin Probe Force Microscopy and its Application to Atomic-Scale Force Mapping

Okamoto Kenji, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo

Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes　Vol. 42　No. 11　p. 7163-7168　2003年11月15日

Mechanical vertical manipulation of selected single atoms by soft nanoindentation using near contact atomic force microscopy

N Oyabu, O Custance, IS Yi, Y Sugawara, S Morita

PHYSICAL REVIEW LETTERS　Vol. 90　No. 17　2003年5月　研究論文（学術雑誌）

KPFM imaging of Si(111)5√3×5√3-Sb surface for atom distinction using NC-AFM

K. Okamoto, K.Yoshimoto, Y. Sugawara, S. Morita

Applied Surface Science　Vol. 210　No. 1-2　p. 128-133　2003年3月　研究論文（学術雑誌）

Atom-selective imaging by NC-AFM : case of oxygen adsorbed on a Si(111)7×7 surface

NISHI R

Appl. Surf. Sci.　Vol. 210　p. 90-92　2003年3月　研究論文（学術雑誌）

原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成(加工・記録)(<特集>近接場科学の工学応用をめざして)

菅原 康弘

精密工学会誌　Vol. 69　No. 2　p. 154-157　2003年2月5日

原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察

森田清三, 岡本憲二, 内橋貴之, 阿部真之, 菅原康弘

静電気学会誌　Vol. 27　No. 2　p. 64-68　2003年2月

Characterization of semiconductor surfaces with noncontact atomic force microscopy

S Morita, Y Sugawara

NANOTECHNOLOGY AND NANO-INTERFACE CONTROLLED ELECTRONIC DEVICES　p. 429-453　2003年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

新規顕微鏡法の紹介 ＳＴＭおよびＡＦＭ，原理と応用

菅原 康弘

電子顕微鏡　Vol. 38　No. 1　p. 13-18　2003年

Atomically Resolved Imaging of Si(100)2x1, 2x1:H and 1x1:2H Surface with Nonconatct Atomic Force Microscopy

S. Morita, Y. Sugawara

Japanese J. Applied. Physics, vol41, part1, no.7B (2002) 4857-4862　2002年7月　研究論文（学術雑誌）

Mapping and control of atomic force on Si(111)√3×√3-Ag surface using noncontact atomic force microscope

S.Morita, Y.Sugawara

Ultramicroscopy　Vol. 91　No. 1-4　p. 89-96　2002年5月　研究論文（学術雑誌）

Observation of Si(100) surface with noncontact atomic force microscpe at 5K

T. Uozumi, Y. Tomiyoshi, N. Nakata, Y. Sugawara, S. Morita

Applied Surface Science　2002年3月　研究論文（学術雑誌）

The Elimination of the 'Artifact' in the Electrostatic Force Measurement using a Novel Noncontact Atomic Force Microscope/electrostatic Force Microscope

K. Okamoto, Y. Sugawara, S. Morita

Applied Surface Science　Vol. 188　No. 3　p. 381-385　2002年3月　研究論文（学術雑誌）

「走査プローブ顕微鏡によるナノ加工と評価」

森田清三, 菅原康弘

電子情報通信学会誌　2002年1月

「走査型プローブ顕微鏡による複合極限場での原子イメージング」

森田清三, 菅原康弘

表面金属学会、まてりあ　2002年1月

「非接触原子間力顕微鏡で半導体の何がどこまで見えるのか？」

森田清三, 菅原康弘

表面科学会、表面科学　2002年1月

Noncontact Atomic Force Microscopy on Semiconductor Surfaces

S.Morita, Y.Sugawara

2002年1月　研究論文（学術雑誌）

Atomic resolution imaging of Si(100)1×1 : 2H dihydride surface with noncontact atomic force microscopy (NC-AFM)

ARARAGI S.

Appl. Surf. Sci.　Vol. 188　No. 3　p. 272-278　2002年1月　研究論文（学術雑誌）

Atom manipulation and image artifact on Si(111)7×7 surface using a low temperature noncontact atomic force microscope

SUGAWARA Y.

Appl. Surf. Sci.　Vol. 188　p. 285-291　2002年1月　研究論文（学術雑誌）

Molecular Orbital Interpretation of Thymine/graphite Nc-AFM Images

M. Komiyama, T. Uchihashi, Y. Sugawara, S. Morita

Surface and Interface Analysis, vol32 (2002) 53-56　2001年8月　研究論文（学術雑誌）

Micoroscopic Contact Charging and Dissipation

S. Morita, Y. Sugawara

Thin Solid Films, vol.393 (2001) 310-318　2001年8月　研究論文（学術雑誌）

Low-temperature Noncontact Atomic Force Microscope with Quick Sample and Cantilver Exchange Mechanism

N. Suehira, Y. Tomiyoshi, Y. Sugawara, S. Morita

Review of Scientific Instruments, vol.72, no.7 (2001) 2971-2976　2001年7月　研究論文（学術雑誌）

Atomic Resolution Noncontact Atomic Force and Scanning Tunneling Microscopy of TiO2[100]-[1x1] and -[1x2]: Simultaneous Imaging of Surface Structure and Electronic States

M. Ashino, Y. Sugawara, S. Morita, M. Ishikawa

Physical Review Letter, vol86. no.19 (2001) 4334-4337　2001年5月　研究論文（学術雑誌）

Load Dependence of Sticking-domain Distribution in Two-dimensional Atomic Scale Friction of NaF(100) Surface

S. Fujisawa, K. Yokoyama, Y. Sugawara, S. Morita

Tribology Letters, no.9 (2001) 69-72　2001年4月　研究論文（学術雑誌）

Artifact and Fact of Si(111)$7{\times}7$ Surface Images Observed with a Low Temperature Noncontact Atomic Force Microscope (LT-NC-AFM)

Suehira Nobuhito, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo

Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters　Vol. 40　No. 3　p. L292-L294　2001年3月15日　研究論文（学術雑誌）

A Noncontact Atomic Force Microscope in Air using a Quartz Resonatorand the FM Detection Method

R. Nishi, I. Houda, K. Kitano, Y. Sugawara, S. Morita

Applied Physics A　2001年3月　研究論文（学術雑誌）

Force Imaging of Optical Near Field Using Noncontact Atomic Force Microscopy

Yasuhiro Sugawara

Abstract of the 43rd Seminar on Science and Technology, Near Field Optics Techniques, pp.~141-147　2001年3月

Frictional-force imaging and friction mechanisms with a lattice periodicity

S Morita, Y Sugawara, K Yokoyama, S Fujisawa

FUNDAMENTALS OF TRIBOLOGY AND BRIDGING THE GAP BETWEEN THE MACRO-AND MICRO/NANOSCALES　Vol. 10　p. 83-101　2001年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

Atomic scale origins of force interaction

S Morita, Y Sugawara, K Yokoyama, T Uchihashi

FUNDAMENTALS OF TRIBOLOGY AND BRIDGING THE GAP BETWEEN THE MACRO-AND MICRO/NANOSCALES　Vol. 10　p. 103-120　2001年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

「ノーベル賞と分光学 Ⅵ.走査型トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡」

菅原康弘, 森田清三

日本分光学会、分光研究　2001年1月

「走査型プローブ顕微鏡によるナノテクノロジー」

森田清三, 菅原康弘

応用物理学会、応用物理　2001年1月

Mapping and Control of Atomic Force with Noncontact Atomic Force Microscopy

S.Morita, Y.Sugawara

2001年1月

Non-contact Atomic Force Microscope in Air with Quartz Resonator Using FM Detection Method

R.Nishi, I.Houda, K.Kitano, Y.Sugawara, S.Morita

2001年1月　研究論文（学術雑誌）

Noncontact AFM Imaging on Si(111) 2×1-Sb Surface with Occupied Lone-Pair Orbitals

Y.Sugawara, S.Orisaka, E.Hidaka, S.Mo

2001年1月　研究論文（学術雑誌）

非接触原子間力顕微鏡と原子分子のナノ力学

森田清三, 菅原康弘

学術月報, Vol.~53, No.~12, pp.~1319-1324　2000年12月

Microscopic Contact Charging and Dissipation

Seizo Morita, Yasuhiro Sugawara

Abstract of the 4th International Conference on Nano-Molecular Electronics, pp.~153-154　2000年12月

3D-Mapping and Control of Atomic Force with Noncontact Atomic Force Microscopy

Seizo Morita, Yasuhiro Sugawara

Abstract of 4th International Workshop on Quantum Functional Devices, pp.~89-92　2000年11月

Atomically Resolved Imaging of Semiconductor Surfaces using Noncontact Atomic Force Microscopy

Seizo Morita, Yasuhiro Sugawara

Abstract of 25th International Conference on the Physics of Semiconductors, p.~430　2000年9月

Carbon-Nanotube Tip for Highly-Reproducible Imaging of Deoxyribonucleic Acid Helical Turns by Noncontact Atomic Force Microscopy

Uchihashi Takayuki, Choi Nami, Tanigawa Masato, Ashino Makoto, Sugawara Yasuhiro, Nishijima Hidehiro, Akita Seiji, Nakayama Yoshikazu, Tokumoto Hiroshi, Yokoyama Kousuke, Morita Seizo, Ishikawa Mitsuru

Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters　Vol. 39　No. 8　p. L887-L889　2000年8月15日

Development of a Low Temperature Noncontact Atomic Force Microscope using Optical Fiber Interferometer

Nnobuto Suehira, Yasushige Tomiyoshi, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~39　2000年7月

Atomic Resolution Imaging of a Lone-pair using NC-AFM

Eiji Hidaka, Shigeki Orisaka, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~18　2000年7月

Noncontact Atomic Force Microscopy of Oxygen-Deficient TiO$_2$(110) Surfaces

Makoto Ashino, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita, Mitsuru Ishikawa

Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~9　2000年7月

Noncontact AFM Imaging Mechanism of Si(100)２ｘ１ Surface Compared with Si(100)２ｘ１:H Surface on Atomic Scale

Seizo Morita, Yasuhiro Sugawara, Kousuke Yokoyama, Taketoshi Ochi, Akira Yoshimoto

Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~4　2000年7月

Applications of Noncontact AFM with True Atomic Resolution

Yasuhiro Sugawara, Kousuke Yokoyama, Seizo Morita

Abstract of the Third International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~3　2000年7月

Atomic Force Mapping and Control of Atomic Force on a Si(111)√３ｘ√３-Ag Surface using a Noncontact Atomic Force Microscopy

Seizo Morita, Yasuhiro Sugawara

Microbeam Analysis 2000, pp.~371-372　2000年7月　研究論文（学術雑誌）

Structures of an Oxygen-Deficient TiO(110) Surface Studied by Noncontact Atomic Force Microscopy

Makoto Ashino, Takayuki Uchihashi, Kousuke Yokoyama, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita, Mitsuru Ishikawa

Jpn. J. Appl. Phys.　Vol. 39　No. 6B　p. 3765-3768　2000年6月　研究論文（学術雑誌）

STM and Atomic-resolution Noncontact AFM of an Oxygen-deficient TiO$_2$(110) Surface

Makoto Ashino, Takayuki Uchihashi, Kousuke Yokoyama, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita, Mitsuru Ishikawa

Phys. Rev. B,　Vol. 61　No. 20　p. 13955-13959　2000年5月　研究論文（学術雑誌）

Correlation of frequency shift discontinuity to atomic positions on a Si(111)7×7 surface by noncontact atomic force microscopy

MORITA S.

Nanotechnology　Vol. 11　p. 120-123　2000年5月　研究論文（学術雑誌）

Phase change detection of attractive force gradient by using a quartz resonator in noncontact atomic force microscopy

R Nishi, Houda, I, T Aramata, Y Sugawara, S Morita

APPLIED SURFACE SCIENCE　Vol. 157　No. 4　p. 332-336　2000年4月　研究論文（学術雑誌）

技術解説 ナノ力学に基づいた原子分子技術

森田 清三, 菅原 康弘

生産と技術　Vol. 52　No. 2　p. 9-14　2000年4月

Development of Low Temperature Ultrahigh Vacuum Noncontact Atomic Force Microscope with PZT Cantilever

Nobuhito Suehira, Yasushige Tomiyoshi, Kenji Sugiyama, Syunji Watanabe, ikon Co, Touru Fujii, Nikon Cor, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

Appl.Surf.Sci., Vol.157, No.4, pp.343-348　2000年4月　研究論文（学術雑誌）

High-resolution Imaging of Organic Monolayers using Noncontact AFM

Takayuki Uchihashi (Join, Research Center, JRCAT, Takao Ishida (Join, Research Center, JRCAT, Masaharu Komiyama, Yamanashi University, Makoto Ashino, Joi, Research Center, JRCAT, Yasuhiro Sugawara, Wataru Mizutani, Join, Research Center, JRCAT, Kousuke Yokoyama, Seizo Morita, Hiroshi Tokumoto, Jo, esearch Center, JRCAT, Mitsuru Ishikawa (Joi, Research Center, JRCAT

Appl. Surf. Sci., Vol. 157, No. 4, pp. 244-250　Vol. 157　No. 4　p. 244-250　2000年4月　研究論文（学術雑誌）

Noncontact AFM imaging on Al-adsorbed Si(111) Surface with an Empty Orbital

Yasuhiro Sugawara, Shigeki Orisaka, Seizo Morita

Appl. Surf. Sci.　Vol. 157　No. 4　p. 239-143　2000年4月　研究論文（学術雑誌）

Atomic-scale Structures on a Non-stoichiometric TiO$_2$(110) Surface Studied by Noncontact AFM

Makoto Ashino, Joi, Research Center, JRCAT, Takayuki Uchihashi (Join, Research Center, JRCAT, Kousuke Yokoyama, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita, Mitsuru Ishikawa (Joi, Research Center, JRCAT

Appl. Surf. Sci.　Vol. 157　No. 4　p. 212-217　2000年4月　研究論文（学術雑誌）

Identification of B-form DNA in an Ultrahigh Vacuum by Noncontact-Mode Atomic Force Microscopy

Takayuki Uchihashi, Masato Tanigawa, Makoto Ashino, Yasuhiro Sugawara, Kosuke Yokoyama, Seizo Morita, Mitsuru Ishikawa

Langmuir　Vol. 16　No. 3　p. 1349-1353　2000年3月　研究論文（学術雑誌）

Atomic Resolution Imaging on Si(100)2×1 and Si(100)2×1:H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy

Yokoyama Kousuke, Ochi Taketoshi, Yoshimoto Akira, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo

Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters　Vol. 39　No. 2　p. L113-L115　2000年2月1日　研究論文（学術雑誌）

「非接触原子間力顕微鏡と原子分子のナノ力学」

森田清三, 菅原康弘

学術月報、特集　2000年1月

Noncontact AFM Imaging of Si(100)2´1 and Si(100)2´1:H Surfaces

Y.Sugawara, K.Yokoyama, T.Ochi, A.Yoshimoto, S.Morita

2000年1月

Load Dependence of Sticking-Domain Distribution in Two-Dimensional Atomic Scale Friction on NaF(100) Surface

S.Fujiwaswa, K.Yokoyama, Y.Sugawara, S.Morita

2000年1月　研究論文（学術雑誌）

Atom-Resolved Images of Defect-Induced Structure on Non-stoichiometric TiO2 Surface by STM and Noncontact AFM

M.Ashino, T.Uchihashi, K.Yokoyama, Y.Sugawara, S.Morita, M.Ishikawa

2000年1月　研究論文（学術雑誌）

Carbon-Nanotube Tip for the Highly-Reproducible Imaging of DNA Helical Turns by Noncontact AFM

T.Uchihashi, N.Choi, M.Tanigawa, M.Ashino, Y.Sugawara, H.Nishijima, S.Akita, Y.Nakayama, H.Tokumoto, K.Yokoyama, S.Morita, M.Ishikawa

2000年1月　研究論文（学術雑誌）

Optical beam deflection noncontact atomic force microscope optimized with three-dimensional beam adjustment mechanism

YOKOYAMA K.

Rev. Sci. Instrum.　Vol. 71　No. 1　p. 128-132　2000年1月　研究論文（学術雑誌）

原子間力顕微鏡による帯電素過程の研究

森田清三, 菅原康弘

静電気学会誌, Vol.~24, No.~1, pp.~8-14　Vol. 24　No. 1　p. 8-14　2000年1月

Atomically Resolved Silver Imaging on Si(111) √3x√3-Ag Surface with Noncontact Atomic Force Microscope

K.Yokoyama, T.Ochi, Y.Sugawara, S.Morita

Physical Review Letters　Vol. 83　No. 24　p. 5023-5026　1999年12月　研究論文（学術雑誌）

Atomically Resolved Silver Imaging on Si(111) √３ｘ√３-Ag Surface with Noncontact Atomic Force Microscope

Kosuke Yokoyama, Takeshi Ochi, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

Phys.~Rev.~Lett.~Vol.~83, No.~24, pp.~5023-5026　1999年12月　研究論文（学術雑誌）

Missing Ag Atom on Si(111)$\boldsymbol{\sqrt{\textbf{3 } } }\boldsymbol{\times}\boldsymbol{\sqrt{\textbf{3 } } }$–Ag Surface Observed by Noncontact Atomic Force Microscopy

Morita Seizo, Sugawara Yasuhiro, Orisaka Shigeki, Uchihashi Takayuki

Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters　Vol. 38　No. 11　p. L1342-L1344　1999年11月15日　研究論文（学術雑誌）

非接触原子間力顕微鏡による単一分子解析

菅原康弘, 森田清三

タンパク質核酸酵素, Vol.~44, No.~14　1999年11月

原子間力顕微鏡による原子レベルの物性評価と計測

森田 清三, 菅原 康弘

電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = The transactions of the Institute of Electrical Engineers of Japan. C, A publication of Electronics, Information and System Society　Vol. 119　No. 10　p. 1109-1112　1999年10月1日

Imaging of Chemical Reactivity and Buckled Dimers on Si(100)2x1 Reconstructed Surface with Noncontact AFM

Takayuki Uchihashi, Yasuhiro Sugawara, Takayuki Tsukamoto, Tetsuya Minobe, Sigeki Orisaka, Takao Okada, Seizo Morita

Appl. Surf. Sci.　Vol. 140　No. 3-4　p. 304-308　1999年9月　研究論文（学術雑誌）

AFMの現状と展開

森田清三, 菅原康弘

表面科学, Vol.~20, No.~5, pp.~352-357　Vol. 20　No. 5　p. 352-357　1999年5月

True atomic resolution imaging of surface structure and surface charge on the GaAs(110)

Y. Sugawara, T. Uchihashi, M. Abe, S. Morita

Applied Surface Science　Vol. 140　No. 3　p. 371-375　1999年3月　研究論文（学術雑誌）

Near-field optical imaging using force detection with tip-electrode geometry

M. Abe, Y. Sugawara, K. Sawada, Y. Andoh, S. Morita

Applied Surface Science　1999年3月　研究論文（学術雑誌）

非接触原子間力顕微鏡でなにがみえるか？

森田清三, 菅原康弘

応用物理学会薄膜・表面物理分科会NEWS LETTER, No.~105, pp.~8-17　1999年3月

Guidelines for the achievement of true atomic resolution with noncontact atomic force microscopy

MORITA S

Appl. Surf. Sci.　Vol. 140　p. 406-410　1999年2月　研究論文（学術雑誌）

Distance dependence of noncontact-AFM image contrast on Si(111)√3×√3-Ag structure

MINOBE T.

Appl. Surf. Sci.　Vol. 140　p. 298-303　1999年2月　研究論文（学術雑誌）

WS07 非接触原子間力顕微鏡によるDNA観察 (原子間力顕微鏡 (AFM) : 成果・問題・展望)

内橋 貴之, 芦野 慎, 谷川 雅人, 菅原 康弘, 横山 康祐, 森田 清三, 石川 満, 岡田 孝夫

生物物理　Vol. 39　1999年

Defects and their charge imaging on semiconductor surfaces by noncontact atomic force microscopy and spectroscopy

S. Morita, M. Abe, K. Yokoyama, Y. Sugawara

J. Crystal Growth　Vol. 210　p. 408-415　1999年1月　研究論文（学術雑誌）

High resolution imaging of DNA and organic molecules using noncontact AFM in UHV

T.Uchihashi, M.Ashino, Y.Sugawara, M.Tanigawa, T.Ishida, N.Choi, K.Yokoyama, M.Komiyama, H.Nishijima, W.Mizutani, S.Akita, Y.Nakayama, S.Morita, H.Tokumoto, M.Ishikawa

1999年1月　研究論文（学術雑誌）

Non-contact AFM study of TiO2 surfaces for adsorption of biomolecules

M.Ashino, T.Uchihashi, Y.Sugawara, M.Ishikawa

1999年1月　研究論文（学術雑誌）

Atomic Resolution Imaging of Al/Si(111) Surface by Noncontact Atomic Force Microscope

S.Orisaka, T.Minobe, K.Makimoto, Y.Sugawara, S.Morita

Appl. Surf. Sci.　Vol. 140　No. 3　p. 243-246　1999年1月　研究論文（学術雑誌）

Non-contact AFM Images Measured on Si(111)√<3>×√<3>-Ag Surfaces

SUGAWARA Y.

Surf. Interface Anal.　Vol. 27　p. 456s-461s　1999年1月　研究論文（学術雑誌）

The Atomic Resalution Imaging of Metallic Ag((]G0003[)) Surface by Noncontact Atomic Force Microscopy

菅原康弘

140/3-4,243　1999年　研究論文（学術雑誌）

Distance Dependence of Noncontact AFM Image Contrast an Si((]G0003[))┣D83┫D8×┣D83┫D8-Ag Structure

菅原康弘

140/3-4,298　1999年　研究論文（学術雑誌）

Self-assembled monolayer of adenine base on graphite studied by noncontact atomic force microscopy

UCHIHASHI T.

Phys. Rev. B　Vol. 60　No. 11　p. 8309-8313　1999年　研究論文（学術雑誌）

(2) 極限空間分解能を持つ非接触原子間力顕微鏡法

森田 清三, 菅原 康弘

応用物理　Vol. 67　No. 12　p. 1402-1403　1998年12月　研究論文（学術雑誌）

非接触原子間力顕微鏡を用いた軌道の混成による力の原子レベル観察*

菅原 康弘, 森田 清三

真空　Vol. 41　No. 11　p. 906-911　1998年11月20日　研究論文（学術雑誌）

非接触AFMによる半導体表面の観察 ---化学的活性度と電荷の原子レベル観察---

菅原康弘

日本表面科学会主催第19回表面科学セミナー《走査型プローブ顕微鏡の最近の進歩》テキスト, pp.~109-122　1998年10月

Optical Near-Field Imaging Using the Kelvin Probe Technique.

Abe Masayuki, Sugawara Yasuhiro, Sawada Kazuyoshi, Andoh Yoshitake, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 37　No. 9　p. L1074-L1077　1998年9月　研究論文（学術雑誌）

Analysis of Experimental Load Dependence of Two-Dimensional Atomic-Scale Friction

FUJISAWA S.

Phys. Rev. B　Vol. 58　No. 8　p. 4909-4909　1998年8月　研究論文（学術雑誌）

マイクロトライボロジーの最近の発展 摩擦力顕微鏡を用いた原子スケールのトライボロジー

藤沢 悟, 森田 清三, 菅原 康弘

表面科学　Vol. 19　No. 6　p. 374-378　1998年6月

New Computed Tomography Algorithm of Electrostatic Force Microscopy Based on the Singular Value Decomposition Combined with the Discrete Fourier Transform

Nishi Ryuji, Nakao Yoshizumi, Ohta Takayuki, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo, Okada Takao

Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters　Vol. 37　No. 4　p. L417-L419　1998年4月1日　研究論文（学術雑誌）

超高真空非接触モード原子間力顕微鏡の新展開

菅原 康弘, 森田 清三

電子顕微鏡　Vol. 33　No. 1　p. 22-26　1998年3月31日　研究論文（学術雑誌）

Stable operation mode for dynamic noncontact atomic force microscopy

H. Ueyama, Y. Sugawara

Appl. Phys. A.　Vol. 66　p. S295-S297　1998年3月　研究論文（学術雑誌）

Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy.

Abe Masayuki, Sugawara Yasuhiro, Hara Yasuyuki, Sawada Kazuyoshi, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 37　No. 2　p. L167-L169　1998年2月　研究論文（学術雑誌）

Load dependence of frictional-force microscopy image pattern of graphite surface

SASAKI N.

Phys. Rev. B　Vol. 57　p. 3785s-3786s　1998年2月　研究論文（学術雑誌）

Theoretical Analysis of Atomic-Scale Friction in Frictional-Force Microscopy

Naruo Sasaki, Masaru Tsukada, Satoru Fujisawa, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

Tribology Letters　Vol. 4　p. 125-128　1998年2月　研究論文（学術雑誌）

Atomic Resolution Imaging of Si(111)&Ouml;3´&Ouml;3-Ag Surface and Metallic Ag(111)Surface by Noncontact Atomic Force Microscope

S.Orisaka, T.Minobe, T.Uchihashi, Y.Sugawara, S.Morita

1998年1月

Development of Noncontact UHV-AFM for Imaging of Biological Samples

M.Ashino, T.Uchihashi, M.Tanigawa, Y.Sugawara, T.Okada

1998年1月　研究論文（学術雑誌）

Development of Noncontact UHV-AFM for Imaging of Biological Samples

T.Uchihashi, M.Ashino, M.Tanigawa, Y.Sugawara, T.Okada

1998年1月

New computed tomography algorithm of electrostatic force microscopy based on the singular value decomposition combined with the discrete Fourier transform

R.Nishi, Y.Nakao, T.Ohta, Y.Sugawara, S.Morita, T.Okada

1998年1月　研究論文（学術雑誌）

非接触モード原子間力顕微鏡の現状と展望

森田清三, 菅原康弘

触媒, Vol. 39, No. 8, pp. 612-618　Vol. 39　No. 8　p. 612-618　1997年12月

Atomically-Resolved Imaging of n＋-GaAs(110) Cleaved Surfaces with Noncontact Atomic Force/Electrostatic Force Microscope

Seizo Morita, Yasuhiro Sugawara, Takayuki Uchihashi, Hitoshi Ueyama, Masayuki Abe, Masayuki Suzuki

Proceedings of Int. Symp. on Atomic Level Characterization for New Materials and Devices'97, pp. 193-198　1997年11月

True Atomic Resolution Imaging on Semiconductor Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy

Yasuhiro Sugawara, Hitoshi Ueyama, Takayuki Uchihashi, Masahiro Ohta, Yoshio Yanase, Takashi Shigematsu, Masayuki Suzuki, Seizo Morita

Material Research Society Fall Meeting Symposium Proceedings, Vol. 442, pp. 15-23　1997年11月

Role of a covalent bonding interaction in noncontact-mode atomic force microscopy on Si(111)7*7

T. UCHIHASHI, Y. SUGAARA

Phys.Rev.　Vol. 56　No. 15　p. 9834-9834　1997年10月　研究論文（学術雑誌）

Simulated Computed Tomography for the Reconstruction of Vacancies Using an Atomic Force Microscope Image.

Nishi Ryuji, Ohta Takayuki, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo, Okada Takao

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 36　No. 10　p. L1410-L1412　1997年10月　研究論文（学術雑誌）

原子間力顕微鏡によるエバネセント波の検出

菅原康弘, 阿部真之, 森田清三

光学, Vol. 26, No. 10, pp. 537-538　Vol. 26　No. 10　p. 537-538　1997年10月　研究論文（学術雑誌）

Growth of a Two-Dimensional Nucleus on a Cleaved (010) Surface of (NH 2CH 2COOH) 3&middot;H 2SO 4

Ohgami Junji, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo, Ozaki Tōru

Journal of the Physical Society of Japan　Vol. 66　No. 9　p. 2747-2750　1997年9月15日　研究論文（学術雑誌）

Analysis of frictional-force image patterns of a graphite surface

SASAKI N.

J. Vac. Sci. Technol. B　Vol. 15　p. 1479-1482　1997年7月　研究論文（学術雑誌）

Detection Mechanism of an Optical Evanescent Field using a Noncontact Mode Atomic Force Microscope with a Frequency Modulation Detection Method

Masayuki Abe, Takayuki Uchihashi, Masahiro Ohta, Hitoshi Ueyama, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

J. Vac. Sci. Technol. B　Vol. 15　No. 4　p. 1512-1515　1997年7月　研究論文（学術雑誌）

Development of Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscopy with Frequency Modulation Detection and its Application to Electrostatic Force Measurement

Takayuki Uchihashi, Masahiro Ohta, Yasuhiro Sugawara, Yoshio Yanase, Tatsuhiko Shigematsu, Mineharu Suzuki, Seizo Morita

J. Vac. Sci. Technol. B　Vol. 15　No. 4　p. 1543-1546　1997年7月　研究論文（学術雑誌）

力によるエバネッセント場の検出

菅原康弘, 安部真之, 原 康之, 澤田和良, 森田清三

近接場光学研究グループ第6回研究討論会予稿集, pp. 7-12　1997年7月

Charge Dissipation on Chemically Treated Thin Silicon Oxide in Air

Uchihashi Takayuki, Nakano Akihiko, Ida Tohru, Andoh Yasuko, Kaneko Reizo, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo

Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes　Vol. 36　No. 6　p. 3755-3758　1997年6月15日　研究論文（学術雑誌）

True atomic resolution imaging with noncontact atomic force microscopy

SUGAWARA Y.

Appl.Sur.Sci　Vol. 113　p. 364-364　1997年4月　研究論文（学術雑誌）

Measurement of the Evanescent Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscope

Masayuki Abe, Takayuki Uchihashi, Masahiro Ohta, Hitoshi Ueyama, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

Optical Review, Vol.4, No.1B, pp.232-235　Vol. 4　No. 1　p. 232-235　1997年1月　研究論文（学術雑誌）

Measurement of the Evanescent Field Using Noncontact Mode Atomic Fora Microscope

菅原康弘

4/1B,232　1997年　研究論文（学術雑誌）

原子間力顕微鏡による半導体表面の評価

菅原康弘, 上山仁司, 内橋貴之, 大田昌弘, 森田清三

電気学会 基礎・材料・共通部門（A部門）総合研究会プログラムシンポジウム（A/S-96-2）, pp.55-63　1996年12月

非接触モード原子間力顕微鏡の新展開

森田清三, 菅原康弘, 上山仁司, 大田昌弘, 内橋貴之

電気学会研究会資料・電子材料研究会EFM-96-28, pp.59-68　Vol. 33　No. 1　p. 22-26　1996年12月

大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (3)

森田 清三, 菅原 康弘, 大田 昌弘

表面科学　Vol. 17　No. 11　p. 698-700　1996年11月10日

Density Saturation of Densely Contact-Electrified Negative Charges on a Thin Silicon Oxide Due to the Coulomb Repulsive Force

Yasuhiro Sugawara, Takeshi Tsuyuguchi, Takayuki Uchihashi, Takahiro Okusako, Yoshinobu Fukano, Yoshiki Yamanishi, Sumitomo Metal, Industries, Lt, Takahiko Oasa, umitomo Metal, Industries, Seizo Morita

Philosophical Magazine A, Vol.74, No.5, pp.1339-1346　1996年11月　研究論文（学術雑誌）

Load Dependence of the Periodicity in Frictional Force Images on NaF(100) Surface

Satoru Fujisawa, Yasuhiro Sugawara, Seizo Morita

Philosophical Magazine A, Vol.74, No.5, pp.1329-1337　1996年11月　研究論文（学術雑誌）

Localized Fluctuation of a Two-Dimensional Atomic-Scale Friction.

Fujisawa Satoru, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 35　No. 11　p. 5909-5913　1996年11月　研究論文（学術雑誌）

Stability of Densely Contact-Electrified Charges on Thin Silicon Oxide in Air.

Morita Seizo, Uchihashi Takayuki, Okusako Takahiro, Yamanishi Yoshiki, Oasa Takahiko, Sugawara Yasuhiro

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 35　No. 11　p. 5811-5814　1996年11月　研究論文（学術雑誌）

大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (2)

森田 清三, 菅原 康弘, 大田 昌弘

表面科学　Vol. 17　No. 10　p. 617-618　1996年10月10日

極限空間分解能を持つ近接場単原子観察法

森田清三, 菅原康弘, 大田昌弘, 上山仁司, 内橋貴之

日本電子顕微鏡学会第41回シンポジウム論文集, pp.155-158　1996年10月

Time Evolution of Surface Topography around a Domain Wall in Ferroelectric (NH2CH2COOH)3&middot;H2SO4

Ohgami Junji, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo, Nakamura Eiji, Ozaki Tōru

Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes　Vol. 35　No. 9　p. 5174-5177　1996年9月30日　研究論文（学術雑誌）

Feasibility Study on a Novel Type of Computerized Tomography Based on Scanning Probe Microscope

Ohta Takayuki, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo

Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters　Vol. 35　No. 9　p. L1222-L1224　1996年9月15日　研究論文（学術雑誌）

大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (1)

森田 清三, 菅原 康弘, 大田 昌弘

表面科学　Vol. 17　No. 9　p. 559-561　1996年9月10日　研究論文（学術雑誌）

原子間力顕微鏡の新展開

森田清三, 菅原康弘, 大田昌弘, 上山仁司, 内橋貴之

日本学術振興会将来加工技術第136委員会第2部会（マイクロ電子デバイス生成加工技術）第10回研究会資料, pp.1-8　1996年8月

Determination of Sign of Surface Charges of Ferroelectric TGS Using Electrostatic Force Microscope Combined with the Voltage Modulation Technique

Ohgami Junji, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo, Nakamura Eiji, Ozaki Tōru

Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes　Vol. 35　No. 5　p. 2734-2739　1996年5月15日　研究論文（学術雑誌）

Phase Transition of Contact-Electrified Negative Charges on a Thin Silicon Oxide in Air

Fukano Yoshinobu, Sugawara Yasuhiro, Uchihashi Takayuki, Okusako Takahiro, Morita Seizo, Yamanishi Yoshiki, Oasa Takahiko

Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes　Vol. 35　No. 4　p. 2394-2401　1996年4月15日　研究論文（学術雑誌）

Proximity Effects of Negative Charge Groups Contact Electrified on Thin Silicon Oxide in Air

Takayuki Uchihashi, Takahiro Okusako, Yasuhiro Sugawara, Yoshiki Yamanishi, Sumitomo Metal, Industries, Lt, Takahiko Oasa, umitomo Metal, Industries, Seizo Morita

J. Appl. Phys.　Vol. 79　No. 8　p. 4171-4177　1996年4月　研究論文（学術雑誌）

Correlation between Contact-Electrified Charge Groups on a Thin Silicon Oxide

Takayuki Uchihashi, Takahiro Okusako, Yasuhiro Sugawara, Yoshiki Yamanishi, Sumitomo Metal, Industries, Lt, Takahiko Oasa, umitomo Metal, Industries, Seizo Morita

J.Vac.Sci.Technol.B　Vol. 14　No. 2　p. 1055-1059　1996年4月　研究論文（学術雑誌）

Atomic Resolution Imaging of InP(110) Surface Observed with Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope in Noncontact Mode

Yasuhiro Sugawara, Masahiro Ohta, Hitoshi Ueyama, Seizo Morita, Fukunobu Osaka, ctronics Technology Research Laboratory, Shunsuke Ohkouchi, Optoelectronics Technology Research Laboratory, Mineharu Suzuki (NTT, Shuzo Mishima, Olympus Optical Co

J.Vac.Sci.Technol.B　Vol. 14　No. 2　p. 953-956　1996年4月　研究論文（学術雑誌）

摩擦力顕微鏡 ミクロな摩擦力の解釈:ミクロな摩擦力の解釈

森田 清三, 菅原 康弘, 藤沢 悟, 大田 昌弘, 上山 仁司

表面科学　Vol. 17　No. 1　p. 22-26　1996年1月

Development of 3-D Atomic Force Computer Tomography Microscope

T.Ohta, Y.Sugawara, S.Morita, T.Okada

1996年1月

Load dependence of the periodicity in friction force images on the NaF(100) surface

S.Fujisawa, Y.Sugawara, S.Morita

1996年1月　研究論文（学術雑誌）

Spatially quantized friction with a lattice periodicity

S.Morita, S.Fujisawa, Y.Sugawara

1996年1月　研究論文（学術雑誌）

Contact and non-contact mode imaging by atomic force microscopy

菅原康弘

273/,138　1996年　研究論文（学術雑誌）

Time Evolution of Surface Topography around Domain Wall in Ferroelectric (NH┣D22┫D2CH┣D22┫D2COOH)┣D23┫D2・H┣D22┫D2SO┣D24┫D2

菅原康弘

35/9B,5174　1996年　研究論文（学術雑誌）

Density saturation of densely contact-electrified negative Charges on a thin silicon oxide sample due to the Coulomb upulsive force

菅原康弘

74/5,1339　1996年　研究論文（学術雑誌）

Covvelation between contact-electrified change groups on a thin silicon oxide

菅原康弘

14/2,1055　1996年　研究論文（学術雑誌）

Noncontact Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope Combined with Scanning Tunneling Microscope

Seizo Morita, Yasuhiro Sugawara, Masahiro Ohta, Hitoshi Ueyama, Takayuki Uchihashi

Proc. of Satellite Workshop of 9th International Conference on Solid Surfaces, pp.28-31　1995年10月

ATOMICALLY RESOLVED IMAGE OF CLEAVED SURFACES OF COMPOUND SEMICONDUCTORS OBSERVED WITH AN ULTRAHIGH-VACUUM ATOMIC-FORCE MICROSCOPE

M OHTA, Y SUGAWARA, F OSAKA, S OHKOUCHI, M SUZUKI, S MISHIMA, T OKADA, S MORITA

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B　Vol. 13　No. 3　p. 1265-1267　1995年5月　研究論文（学術雑誌）

Atomic-resolution image of GaAs(11O) surface with an ultrahigh-vacuum atomic force microscope (UHV-AFM)

Y Sugawara, H Ohta, K Hontani, S Morita, F Osaka, S Ohkouchi, M Suzuki, H Nagaoka, S Mishima, T Okada

FORCES IN SCANNING PROBE METHODS　Vol. 286　p. 507-512　1995年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

Time dependence and its spatial distribution of densely contact electrified electrons on a thin silicon oxide

Y Sugawara, S Morita, Y Fukano, T Uchihashi, T Okusako, A Chayahara, Y Yamanishi, T Oasa

FORCES IN SCANNING PROBE METHODS　Vol. 286　p. 501-506　1995年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

Two-dimensional atomic-scale friction observed with an AFM

S Fujisawa, E Kishi, Y Sugawara, S Morita

FORCES IN SCANNING PROBE METHODS　Vol. 286　p. 313-318　1995年　研究論文（国際会議プロシーディングス）

非接触モード原子間顕微鏡による化合物半導体表面の原子分解能観察

菅原康弘

真空　Vol. 38　No. 11　p. 943-943　1995年1月

2次元摩擦力顕微鏡による量子トライボロジーの研究

藤沢悟

日本物理学会誌　Vol. 50　No. 1　p. 36-36　1995年1月

Noncontact UHV-AFM Imaging of InP(110) Surface with Atomic Resolution

S.Morita, M.Ohta, H.Ueyama, Y.Sugawara

1995年1月

Contrast of Atomic-Resolution Images from a Noncontact Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscope.

Ohta Masahiro, Ueyama Hitoshi, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 34　No. 12　p. L1692-L1694　1995年1月　研究論文（学術雑誌）

Defect motion on an InP(110) surface observed with noncontact atomic force microscopy

SUGAWARA Y.

Science　Vol. 270　p. 1646-1648　1995年1月　研究論文（学術雑誌）

Atomically Resolved InP(110) Surface Observed with Noncontact Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope

H.Ueyama, M.Ohta, Y.Sugawara, S.Morita

1995年1月　研究論文（学術雑誌）

Two-dimensional quantized friction observed with two-dimensional frictional force microscope

S.Fujisawa, E.Kishi, Y.Sugawara, S.Morita

1995年1月　研究論文（学術雑誌）

Load dependence of two-dimensionally atomic-scale friction

S.Fujisawa, E.Kishi, Y.Sugawara, S.Morita

1995年1月　研究論文（学術雑誌）

Two-dimensionally discrete friction on NaF(100) surface with the lattice periodicity

S.Fujisawa, E.Kishi, Y.Sugawara, S.Morita

1995年1月　研究論文（学術雑誌）

超高真空原子間力顕微鏡による化合物半導体へき開面の接触および非接触原子分解能観察

大田 昌弘, 上山 仁司, 菅原 康弘, 森田 清三

応用物理　Vol. 64　No. 6　p. 583-587　1995年1月　研究論文（学術雑誌）

Atomic-scale friction observed with a two-dimentional friction-force microscope

FUJISAWA S.

Phys. Rev. B　Vol. 51　p. 7849-7849　1995年1月　研究論文（学術雑誌）

Atomic-Resolution Imaging of ZnSSe(110) Surface with Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscope(UHV-AFM).

Sugawara Yasuhiro, Ohta Masahiro, Ueyama Hitoshi, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 34　No. 4　p. L462-L464　1995年1月　研究論文（学術雑誌）

Lateral force curve for atomic force/lateral force microscope calibration

S.Fujisawa, E.Kishi, Y.Sugawara, S.Morita

1995年1月　研究論文（学術雑誌）

ULTRAHIGH-VACUUM ATOMIC-FORCE MICROSCOPE WITH SAMPLE CLEAVING MECHANISM

M OHTA, Y SUGAWARA, S MORITA, H NAGAOKA, S MISHIMA, T OKADA

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B　Vol. 12　No. 3　p. 1705-1707　1994年5月　研究論文（学術雑誌）

Time Evolution of Contact-Electrified Electron Dissipation on Silicon Oxide Surface Investigated Using Noncontact Atomic Force Microscope

Fukano Yoshinobu, Uchihashi Takayuki, Okusako Takahiro, Chayahara Ayumi, Sugawara Yasuhiro, Yamanishi Yoshiki, Oasa Takahiko, Morita Seizo

Jpn J Appl Phys　Vol. 33　No. 1　p. 379-382　1994年1月30日　研究論文（学術雑誌）

SURFACE STUDY WITH ATOMIC-FORCE MICROSCOPE

S MORITA, S FUJISAWA, E KISHI, Y SUGAWARA

JOURNAL OF JAPANESE SOCIETY OF TRIBOLOGISTS　Vol. 39　No. 11　p. 933-938　1994年　研究論文（学術雑誌）

「原子間力顕微鏡による表面の研究」

森田清三, 藤沢 悟, 岸 栄吾, 菅原康弘

日本トライボロジー学会誌『トライボロジスト』　1994年1月

「原子間力顕微鏡は何を見てる？」

森田清三, 菅原康弘

パリティ　1994年1月

「半導体表面のＡＦＭ／ＳＴＭ観察」

森田清三, 菅原康弘, 深野善信, 内橋貴之

ウルトラクリーンテクノロジー［半導体基盤技術研究会］　1994年1月

「ＦＦＭ」

森田清三, 菅原康弘, 藤沢 悟

「機械の研究」（養賢堂）１９９４年新年特集号　1994年1月

「ＡＦＭ／ＳＴＭ」

森田清三, 菅原康弘, 深野善信

「機械の研究」（養賢堂）　1994年1月

Charge Storage by Contact Electrification on Thin SrTiO3 Film

T.Uchihashi, T.Okusako, T.Tsuyuguchi, Y.Sugawara, M.Igarashi, R.Kaneko, S.Morita

1994年1月

Local Dielectric Breakdown of Thin Silicon Oxide by Dense Contact Electrification

Y.Fukano, T.Uchihashi, T.Okusako, Y.Sugawara, Y.Yamanishi, T.Oasa, S.Morita

1994年1月

Observation of Positively Charged Trap Site in Silicon Oxide Layer with an Atomic Force Microscope

Y.Fukano, T.Okusako, T.Uchihashi, Y.Sugawara, Y.Yamanishi, T.Oasa, S.Morita

1994年1月

Investigation of Trapped Charges in Silicon Oxide Layer with an Atomic Force Microscope

Y.Fukano, Y.Uchihashi, T.Okusako, K.Hontani, A.Chayahara, Y.Sugawara, Y.Yamanishi, T.Oasa, S.Morita

1994年1月

Parameter Dependence of Stable State of Densely Contact-Electrified Electrons on Thin Silicon Oxide

Parameter Dependence of, Stable State of, Densely Contact-Electrified Electrons on Thin, Silicon Oxide

Vol. 33　No. 12　p. 6739-6745　1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Potentiometry Combined with Atomic Force Microscope

T.Uchihashi, Y.Fukano, Y.Sugawara, S.Morita, A.Nakano, T.Ida, T.Okada

1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Charge Storage on Thin SrTiO3 Film by Contact Electrification

T.Uchihashi, T.Okusako, T.Tsuyuguchi, Y.Sugawara, M.Igarashi, R.Kaneko, S.Morita

1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Ultrahigh vacuum atomic force microscope with sample cleaving mechanism

Ultrahigh vacuum, atomic force microscope, with sample cleaving mechanism

1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Study on the Stick-slip Phenomenon on a Cleaved Surface of the Muscovite Mica using an Atomic Force/Lateral Force Microscope

FUJISAWA S.

J. Vac. Sci. Technol.　Vol. 12　p. 1635-1635　1994年　研究論文（学術雑誌）

Atomic force microscopy studies of contact-electrified charges on silicon oxide film

Y.Sugawara, Y.Fukano, T.Uchihashi, S.Morita, Y.Yamanishi, T.Oasa, T.Okada

1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Heat Treatment and Steaming Effects of Silicon Oxide upon Electron Dissipation on Silicon Oxide Surface.

Uchihashi Takayuki, Okusako Takahiro, Sugawara Yasuhiro, Yamanishi Yoshiki, Oasa Takahiko, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 33　No. 8　p. L1128-L1130　1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Dissipation of Contact Electrified Electrons on Dielectric Thin films with Silicon Substrate.

Okusako Takahiro, Uchihashi Takayuki, Nakano Akihiko, Ida Toru, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 33　No. 7　p. L959-L961　1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Contact Electrification on Thin Silicon Oxide in Vacuum.

Tsuyuguchi Takeshi, Uchihashi Takayuki, Okusako Takahiro, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo, Yamanishi Yoshiki, Oasa Takahiko

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 33　No. 7　p. L1046-L1048　1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Time Dependent Dielectric Breakdown of Thin Silicon Oxide Using Dense Contact Electrification.

Fukano Yoshinobu, Hontani Koji, Uchihashi Takayuki, Okusako Takahiro, Chayahara Ayumi, Sugawara Yasuhiro, Yamanishi Yoshiki, Oasa Takahiko, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 33　No. 6　p. 3756-3760　1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Fluctuation in Two-Dimensional Stick-Slip Phenomenon Observed with Two-Dimensional Frictional Force Microscope.

Fujisawa Satoru, Kishi Eigo, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 33　No. 6　p. 3752-3755　1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Observation of GaAs(110) Surface by an Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscope.

Sugawara Yasuhiro, Ohta Masahiro, Hontani Kouji, Morita Seizo, Osaka Fukunobu, Ohkouchi Shunsuke, Suzuki Mineharu, Nagaoka Hideki, Mishima Shuzo, Okada Takao

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 33　No. 6　p. 3739-3742　1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Contact Electrification on Thin SrTiO3 Film by Atomic Force Microscope

T.Uchihashi, T.Okusako, J.Yamada, Y.Fukano, Y.Sugawara, M.Igarashi, R.Kaneko, S.Morita

1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Dissipation of contact-electrified charge on thin Si-oxide studied by atomic force microscope

S.Morita, Y.Fukano, T.Uchihashi, Y.Sugawara, Y.Yamanishi, T.Oasa

1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Difference between the forces measured by an optical lever deflection and by an optical interferometer in atomic force microscope

S.Fujisawa, M.Ohta, T.Konishi, Y.Sugawara, S.Morita

1994年1月　研究論文（学術雑誌）

Spatial Distributions of Densely Contact-Electrified Charges on a Thin Silicon Oxide

Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo, Fukano Yoshinobu, Uchihashi Takayuki, Okusako Takahiro, Chayahara Ayumi, Yamanishi Yoshiki, Oasa Takahiko

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 33　No. 1　p. L74-L77　1994年1月1日　研究論文（学術雑誌）

Spatial Distribution and Its Phase Transition of Densely Contact-Electrified Electrons on a Thin Silicon Oxide

Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo, Fukano Yoshinobu, Uchihashi Takayuki, Okusako Takahiro, Chayahara Ayumi, Yamanishi Yoshiki, Oasa Takahiko

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 33　No. 1　p. L70-L73　1994年1月1日　研究論文（学術雑誌）

Atomically Resolved Image of Cleaved GaAs(110) Surface Observed with an Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope

Ohta Masahiro, Sugawara Yasuhiro, Hontani Kouji, Morita Seizo, Osaka Fukunobu, Suzuki Mineharu, Nagaoka Hideki, Mishima Shuzo, Okada Takao

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 33　No. 1　p. L52-L54　1994年1月1日　研究論文（学術雑誌）

Observation of Atomic Defects on LiF(100) Surface with Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope (UHV AFM)

Ohta Masahiro, Konishi Takefumi, Sugawara Yasuhiro, Morita Seizo, Suzuki Mineharu, Enomoto Yuji

Jpn J Appl Phys　Vol. 32　No. 6　p. 2980-2982　1993年6月20日　研究論文（学術雑誌）

Scanning Force/Tunneling Microscopy as a Novel Technique for the Study of Nanometer-Scale Dielectric Breakdown of Silicon Oxide Layer

Fukano Yoshinobu, Sugawara Yasuhiro, Yamanishi Yoshiki, Oasa Takahiko, Morita Seizo

Jpn J Appl Phys　Vol. 32　No. 1　p. 290-293　1993年1月20日　研究論文（学術雑誌）

「ＡＦＭ／ＳＴＭによる半導体の複合観察」

森田清三, 菅原康弘, 深野善信

日本結晶学会誌　1993年1月

Time Evolution of Electrostatic Force Induced by Contact-Electrified Charges on Thin Silicon Oxide Surface

Y.Fukano, T.Uchihashi, Y.Sugawara, Y.Yamanishi, T.Oasa, S.Morita

1993年1月　研究論文（学術雑誌）

Time-Evolution of Contact-Eelectrified Charges on Silicon Oxide Film Studied with AFM

Y.Sugawara, Y.Fukano, T.Uchihashi, T.Okusako, S.Morita, Y.Yamanishi, T.Oasa

1993年1月

Origin of the Force Measured by an Atomic Force/Lateral Force Microscope(AFM/LFM)

S.Fujisawa, Y.Sugawara, S.Morita

1993年1月　研究論文（学術雑誌）

The Two-Dimensional Stick-Slip Phenomenon with Atomic Resolution

FUJISAWA S.

Nanotechnology　Vol. 4　p. 138-138　1993年1月　研究論文（学術雑誌）

Stable-Unstable Phase Transition of Densely Contract-Electrified Electrons on Thin Silicon Oxide

Morita Seizo, Sugawara Yasuhiro, Fukano Yoshinobu, Uchihashi Takayuki, Okusako Takahiro, Chayahara Ayumi, Yamanishi Yoshiki, Oasa Takahiko

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 32　No. 12　p. L1852-L1854　1993年1月　研究論文（学術雑誌）

Reproducible and Controllable Contact Electrification on a Thin Insulator

MORITA S.

Jpn. J. Appl. Phys.　Vol. 32　p. L1701-L1701　1993年1月　研究論文（学術雑誌）

Effects of humidity and tip radius on the adhesive force measured with atomic force microscopy

Y.Sugawara, M.Ohta, T.Konishi, S.Morita, M.Suzuki, Y.Enomoto

1993年1月　研究論文（学術雑誌）

Atomic Force Microscope Combined with Scanning Tunneling Microscope [AFM/STM]

Morita Seizo, Sugawara Yasuhiro, Fukano Yoshinobu

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 32　No. 6　p. 2983-2988　1993年1月　研究論文（学術雑誌）

Observation of atomic defect on LiF(100) surface with UHV AFM

M.Ohta, T.Konishi, Y.Sugawara, S.Morita, M.Suzuki, Y.Enomoto

1993年1月　研究論文（学術雑誌）

Scanning Tunneling Microscopy II

WIESENDANGER R.

Springer Ser Surf. Sci　Vol. 28　p. 151-151　1992年1月

Scanning Force Microscopy in the UHV Environment

Y.Sugawara, M.Ohta, Y.Kamihara, S.Morita, M.Suzuki, Y.Enomoto

1992年1月

Observation of the Surface by Using AFM/STM

Y.Sugawara, S.Morita

1992年1月

AFM/STM Investigation of pn Junctions Formed by Ion Implantation

Y.Sugawara, Y.Fukano, S.Morita, A.Nakano, T.Ida

1992年1月

Nanometer Resolution Measurement of Dielectric Breakdown of Silicon Dioxide Films with AFM/STM

Y.Fukano, Y.Sugawara, S.Morita, Y.Yamanishi, d T, O

1992年1月

AFM/STM investigation of polycrystalline Si surface

Y.Sugawara, Y.Fukano, Y.Kamihara, S.Morita, A.Nakano, T.Ida, R.Kaneko

1992年1月　研究論文（学術雑誌）

Oxidation Site of Polycrystalline Silicon Surface Studied Using Scanning Force/Tunneling Microscope (AFM/STM) in Air

Sugawara Yasuhiro, Fukano Yoshinobu, Nakano Akihiko, Ida Tohru, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 31　No. 6　p. L725-L727　1992年1月　研究論文（学術雑誌）

In Situ Imaging of Electrochemical Deposition of Ag on Au(111)

K.Endo, Y.Sugawara, S.Mishima, T.Okada, S.Morita

Vol. 30　No. 10　p. 2592-2593　1991年1月　研究論文（学術雑誌）

Scanning force tunneling microscopy of a graphite surface in air

SUGAWARA Y.

J. Vac. Sci. Technol., B　Vol. 9　p. 1092-1095　1991年1月　研究論文（学術雑誌）

Simultaneous Observation of Atomically Resolved AFM/STM Images of a Graphite Surface

Sugawara Yasuhiro, Ishizaka Tatsuya, Morita Seizo, Imai Syozo, Mikoshiba Nobuo

Jpn J Appl Phys　Vol. 29　No. 1　p. L157-L159　1990年1月20日　研究論文（学術雑誌）

Origin of Anomalous Corrugation Height of STM Images of Graphite

Sugawara Yasuhiro, Ishizaka Tatsuya, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 29　No. 8　p. 1533-1538　1990年1月　研究論文（学術雑誌）

Simultaneous Imaging of a Graphite Surface with Atomic Force/Scanning Tunneling Microscope (AFM/STM)

Sugawara Yasuhiro, Ishizaka Tatsuya, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 29　No. 8　p. 1539-1543　1990年1月　研究論文（学術雑誌）

Anomalous Force Dependence of AFM Corrugation Height of a Graphite Surface in Air

Ishizaka Tatsuya, Sugawara Yasuhiro, Kumagai Kozo, Morita Seizo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 29　No. 7　p. L1196-L1198　1990年1月　研究論文（学術雑誌）

Anomalous Corrugation Height of Atomically Resolved AFM Images of a Graphite Surface

Sugawara Yasuhiro, Ishizaka Tatsuya, Morita Seizo, Imai Syozo, Mikoshiba Nobuo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 29　No. 3　p. L502-L504　1990年1月　研究論文（学術雑誌）

Surface Imaging in Air with a Force Microscope

T.Ishizaka, S.Morita, Y.Sugawara, T.Okada, S.Mishima, S.Imai, N.Mikoshiba

1990年1月　研究論文（学術雑誌）

Differential Conductance Imaging under AC Tunneling Bias

A.Yagi, S.Tsukada, Y.Takahashi, Y.Sugawara, S.Morita, T.Okada, S.Imai an, N.Mikoshiba

1990年1月　研究論文（学術雑誌）

Surface Conductance of Metal Surfaces in Air Studied with a Force Microscope

Morita Seizo, Ishizaka Tatsuya, Sugawara Yasuhiro, Okada Takao, Mishima Syuzo, Imai Syozo, Mikoshiba Nobuo

Japanese Journal of Applied Physics　Vol. 28　No. 9　p. L1634-L1636　1989年1月　研究論文（学術雑誌）

Performance of concave transducers in acoustic microscopy

櫛引 淳一

IEEE 1988 Ultrasonics Symposium proceedings　Vol. 1988　No. 2　p. 751-756　1988年1月

Theoretical analysis on acoustic fields formed by focusing devices in acoustic microscopy

櫛引 淳一

IEEE 1986 Ultrasonics Symposium　Vol. 1986　p. 783-788　1986年1月

Off-centric concave transducer for acoustic microscopy

CHUBACHI N., KUSHIBIKI Jun-ichi, SUGAWARA Yasuhiro

Jpn. J. Appl. Phys. Suppl.　Vol. 25　p. 203-205　1986年1月