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菅原 康弘

Sugawara Yasuhiro

工学研究科 物理学系専攻,教授

学歴

  • ~ 1987年03月,東北大学,工学研究科,電気及通信工学専攻

経歴

  • 2020年04月01日 ~ 継続中,大阪大学 工学研究科 物理学系専攻,教授
  • 2002年05月 ~ 継続中,大阪大学教授
  • 1996年07月 ~ 継続中,大阪大学助教授
  • 1990年01月 ~ 継続中,広島大学助手
  • 1988年01月 ~ 継続中,岩手大学助手
  • 1987年04月 ~ 継続中,東北大学助手
  • 2005年04月01日 ~ 2020年03月31日,大阪大学 工学研究科 精密科学・応用物理学専攻,教授
  • 2002年05月01日 ~ 2005年03月31日,大阪大学 工学研究科,教授
  • 1998年04月01日 ~ 2002年04月30日,大阪大学 工学研究科,助教授

研究内容・専門分野

  • ナノテク・材料,ナノ構造化学
  • ナノテク・材料,ナノ構造化学
  • ナノテク・材料,ナノ構造物理

所属学会

  • 真空協会
  • 日本表面科学会
  • 日本電子顕微鏡学会
  • 日本物理学会
  • 応用物理学会

論文

  • Exploring the nature of hydrogen of Rutile TiO2(110) at 78 K,Huan Fei Wen,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,SURFACES AND INTERFACES,ELSEVIER,Vol. 26,2021年10月,研究論文(学術雑誌)
  • Detection of sub-nanotesla magnetic fields by linewidth narrowing in high-density nitrogen vacancy magnetometry with pulsed ESR method,Yangang Zhang,Xiaocheng Wang,Junqi Wang,Doudou Zheng,Liumin Niu,Xiaohan Chai,Jun Tang,Hao Guo,Li Qin,Xiaoming Zhang,Zongmin Ma,Jun Liu,Yasuhiro Sugawara,Yanjun Li,JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,IOP PUBLISHING LTD,Vol. 60,No. 9,2021年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Optical force mapping at the single-nanometre scale,Junsuke Yamanishi,Hidemasa Yamane,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Nobuhiko Yokoshi,Tatsuya Kameyama,Seiya Koyama,Tsukasa Torimoto,Hajime Ishihara,Yasuhiro Sugawara,NATURE COMMUNICATIONS,NATURE RESEARCH,Vol. 12,No. 1,2021年06月,研究論文(学術雑誌)
  • Homogeneity of the negatively charged assembly of nitrogen vacancy centres in diamonds using the Quasi-finite-element optical scanning position method,Doudou Zheng,Zongmin Ma,Yangang Zhang,Yueping Fu,Jiuyan Wei,Hua Yuan,Li Qin,Yunbo Shi,Jun Tang,Jun Liu,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara,LASER PHYSICS,IOP PUBLISHING LTD,Vol. 31,No. 4,2021年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Single hydrogen atom manipulation for reversible deprotonation of water on a rutile TiO2 (110) surface,Yuuki Adachi,Hongqian Sang,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,Communications Chemistry,Vol. 4,2021年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Electrically-induced manipulation of the Au nanoclusters on oxidized rutile TiO2(110) surface by atomic force microscopy at 78K,Quanzhen Zhang,Huan Fei Wen,Rui Xu,Zhihai Cheng,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,The Journal of Physical Chemistry C,Vol. 124,No. 52,p. 28562-28568,2020年12月,研究論文(学術雑誌)
  • Oxygen Adsorb-induced Charge State Change of Pd Nanocluster on Al2O3/NiAl(110) Surface,Shanrong Zou,Y. Sugawara,Yan Jun Li,The Journal of Physical Chemistry C,Vol. 125,No. 1,p. 446-451,2020年12月,研究論文(学術雑誌)
  • Effects of subsurface charge on surface defect and adsorbate of rutile TiO2 (110),Wen Huan-Fei,Yasuhiro Sugawara,Li Yan-Jun,ACTA PHYSICA SINICA,CHINESE PHYSICAL SOC,Vol. 69,No. 21,2020年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Direct observation of Si (110)-(16×2) surface reconstruction by atomic force microscopy,Tatsuya Yamamoto,Ryo Izumi,Kazushi Miki,Takahiro Yamasaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,Beilstein Journal of Nanotechnology,Vol. 11,p. 1750-1756,2020年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Strain-Induced Hierarchical Ripples in MoS2 Layers Investigated by Atomic Force Microscopy,Sabir Hussain,Rui Xu,Kunqi Xu,Le Lei,Lan Meng,Zhiyue Zheng,Shuya Xing,Jianfeng Guo,Haoyu Dong,Adeel Liaqat,Muhammad Iqbal,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara,Fei Pang,Wei Ji,Liming Xie,Zhihai Cheng,Applied Physics Letters,Vol. 117,p. 153102-1-153102-7,2020年10月,研究論文(学術雑誌)
  • Theoretical Analysis of Optically Selective Imaging in Photoinduced Force Microscopy,Hidemasa Yamane,Junsuke Yamanishi,Nobuhiko Yokoshi,Yasuhiro Sugawara,Hajime Ishihara,Optics Express,Vol. 28,No. 23,p. 34787-34803,2020年10月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomically Asymmetric Inversion Scales up to Mesoscopic Single-Crystal Monolayer Flakes,Rui Xu,Fei Pang,Yuhao Pan,Lan Meng,Zhiyue Zheng,Kunqi Xu,Le Lei,Sabir Hussain,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Wei Ji,Zhihai Cheng,ACS Nano,Vol. 14,No. 10,p. 13834-13840,2020年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Size dependence of charge state of Pd nanoparticles on Al2O3/NiAl(110) surface determined by Kelvin probe force microscopy,Shanrong Zou,Hirotaka Yokoyama,Yasuhiro Sugawara,Yanjun Li,The Journal of Physical Chemistry C,Vol. 124,No. 39,p. 21641-21645,2020年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Imaging Oxygen Molecular Adsorption and Dissociation on TiO2(110) Surface with Real Configuration at 78 K by Atomic Force Microscopy,Huan Fei Wen,Hongqian Sang,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,Physical Chemistry Chemical Physics,Vol. 22,p. 19795-19801,2020年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic Scale Three Dimensional Au Nanocluster on Rutile TiO2 (110) Surface Resolved by Atomic Force Microscopy,Yuuki Adachi,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,The Journal of Physical Chemistry Letters,Vol. 11,p. 7153-7158,2020年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Dynamic Behavior of OH and Its Atomic Contrast with O adatom on Ti site of TiO2(110) at 78 K by Atomic Force Microscopy Imaging,Huan Fei Wen,Hongqian Sang,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,Appled Physics Letters,Vol. 117,p. 051602-1-051602-4,2020年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Multi-Channel Exploration of O Adatom on TiO2(110) Surface by Atomic Force Microscopy,HuanFei Wen,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,Nanomaterials,Vol. 10,p. 1506(1)-1506(9),2020年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Surface potential measurement by heterodyne frequency modulation Kelvin probe force microscopy in MHz range,Yasuhiro Sugawara,Masato Miyazaki,Yanjun Li,Journal of Physics Communications,Vol. 4,2020年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Remotely Controlling the Charge State of Oxygen Adatoms on Rutile TiO2(110) Surface using Atomic Force Microscopy,Yuuki Adachi,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,The Journal of Physical Chemistry Part C,Vol. 124,No. 22,p. 12010-12015,2020年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Contrast inversion of O adatom on rutile TiO2(110)-(1×1) surface by atomic force microscopy imaging,Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,Applied Surface Science,Vol. 505,p. 144623-144627,2020年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Elucidating Charge State of an Au Nanocluster on Oxidized/Reduced Rutile TiO2(110) Surfaces using non-contact atomic force microscopy and Kelvin probe force microscopy,Yuuki Adachi,Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,Nanoscale Advances,Vol. 2,p. 2371-2375,2020年03月,研究論文(学術雑誌)
  • A hand-held magnetometer based on an ensemble of nitrogen-vacancy centers in diamond,D. Zheng,Z. Ma,W. Guo,L. Niu,J. Wang,X. Chai,Y. J. Li,S. Yasuhiro,C. Yu,Y. Shi,X. Zhang,J. Tang,H. Guo,J. Liu,J. Phys. D: Appl. Phys.,Vol. 53,No. 15,p. 155004 (1)-155004(6),2020年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Single hydrogen atom manipulation for reversible deprotonation of water on a rutile TiO2 (110) surface,安達 有輝,菅原 康弘,李艶君,No. 4,p. 1-5,2020年01月,研究論文(学術雑誌)
  • AFM/KPFSによる二酸化チタン表面に吸着した酸素原子・分子の電荷状態の原子レベル解析と電荷,李 艶 君,安 達 有 輝,菅 原 康 弘,触媒,Vol. 62,No. 1,p. 9-14,2020年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Adhesion Effect on the Hyperfine Frequency Shift of an Alkali Metal Vapor Cell with Paraffin Coating Using Peak-Force Tapping AFM,Jiuyan Wei,Zongmin Ma,Huanfei Wen,Hao Guo,Jun Tang,Jun Liu,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara,Coatings,Vol. 10,No. 84,p. 1-11,2020年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Electrical Engineering of the Oxygen Adatom and Vacancy on Rutile TiO2(110) by Atomic Force Microscopy at 78 K,Quanzhen Zhang,Huan Fei Wen,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Rui Xu,Zhi Hai Cheng,Yan Jun Li,The Journal of Physical Chemistry C,Vol. 123,No. 47,p. 28852-28858,2019年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Identification of Atomic Defects and Adsorbates on Rutile TiO2(110)-(1×1) Surface by Atomic Force Microscopy.,Huan Fei Wen,Yuuki Adachi,Quanzhen Zhang,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,The Journal of Physical Chemistry C,Vol. 123,p. 25756-25760,2019年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Characterization and Reversible Migration of Subsurface Hydrogen on Rutile TiO2(110) by nc-AFM/STM/KPFM at 78 K,Quanzhen Zhang,Huan Fei Wen,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Rui Xu,Zhihai Cheng,Yan Jun Li,The Journal of Physical Chemistry,Vol. 123,No. 36,p. 22595-22602,2019年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Tip-induced Control of Charge and Molecular Bonding of Oxygen Atoms on the Rutile TiO2 (110) Surface with Atomic Force Microscopy,Yuuki Adachi,Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Hongqian Sang,Ján Brndiar,Lev Kantorovich,Ivan Štich,Yan Jun Li,ACS Nano,Vol. 16,p. 6917-6924,2019年06月,研究論文(学術雑誌)
  • Imaging of the surface potential at the steps on rutile TiO2(110) surface by Kelvin probe force microscopy,Masato Miyazaki,Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Yuuki Adachi,Jan Brndiar,Ivan Štich,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Beilstein Journal of Nanotechnology,Vol. 10,p. 1228-1236,2019年06月
  • Contrast inversion of O adatom on rutile TiO2(110)-(1×1) surface by atomic force microscopy imaging,Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Yan Jun Li,Applied Surface Science,Vol. 505,p. 144623-144627,2019年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Interfacial water intercalation-induced metal-insulator transition in NbS2/BN heterostructure,Rui Xu,Xinsheng Wang,Zhiyue Zheng,Shili Ye,Kunqi Xu,Le Lei,Sabir Hussain,Fei Pang,Xinmeng Liu,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Wei Ji,Liming Xie,Zhihai Cheng,NANOTECHNOLOGY,IOP PUBLISHING LTD,Vol. 30,No. 20,2019年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Subatomic-scale resolution with SPM: Co adatom on p(2 x 1)Cu(110):O,Robert Turansky,Krisztian Palotas,Jan Brndiar,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara,Ivan Stich,Nanotechnology,Vol. 30,p. 095703(1)-095703(7),2019年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Direct observation of atomic step edges on the rutile TiO2(110)-(1× 1) surface using atomic force microscopy,Huan Fei Wen,Masato Miyazaki,Quanzhen Zhang,Yuuki Adachi,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Phys. Chem. Chem. Phys.,Vol. 20,p. 28337-28337,2018年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Measurement and Manipulation of the Charge State of Adsorbed Oxygen Adatom on Rutile TiO2(110)-1×1 Surface by nc-AFM and KPFM,Quanzhen Zhang,Yan Jun Li,Huan Fei Wen,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Yasuhiro Sugawara,Rui Xu,Zhi Hai Cheng,Ján Brndiar,Lev Kantorovich,Ivan Štich,Journal of American Chemical Society,Vol. 140,No. 46,p. 15668-15674,2018年10月,研究論文(学術雑誌)
  • Direct visualization of Oxygen Reaction with Paired Hydroxyl on TiO2(110) Surface at 78 K by Atomic Force Microscopy,Huan Fei Wen,Quanzhen Zhang,Yuuki Adachi,Masato Miyazaki,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Direct visualization of Oxygen Reaction with Paired Hydroxyl on TiO2(110) Surface at 78 K by Atomic Force Microscopy,Vol. 122,p. 17395-17399,2018年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Stable Contrast Mode on TiO2(110) Surface with Metal-Coated Tips Using AFM,Yanjun Li,Huanfei Wen,Q. Zhang,Y. Adachi,Eiji Arima,Yukinori Kinoshita,Hikaru Nomura,Zongmin Ma,Lili Kou,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara,Rui Xu,Zhihai Cheng,Ultramicroscopy,Vol. 191,p. 51-55,2018年04月,研究論文(学術雑誌)
  • High harmonic exploring on different materials in dynamic atomic force microscopy,ZhiYue Zheng,Rui Xu,ShiLi Ye,Sabir Hussain,Wei Ji,Peng Cheng,YanJun Li,Yasuhiro Sugawara,ZhiHai Cheng,SCIENCE CHINA-TECHNOLOGICAL SCIENCES,SCIENCE PRESS,Vol. 61,No. 3,p. 446-452,2018年03月
  • KPFM/AFM imaging on TiO2(110) surface in O2 gas,Eiji Arima,Huanfei Wen,Yoshitaka Naitoh,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara,Nanotechnology,Vol. 29,p. 105504(1)-105504(8),2018年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Photoinduced Force Microscopy Imaging Using Heterodyne-FM Technique,Junsuke Yamanishi,Masaaki Tsujii,Yoshitaka Naitoh,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara,OPTICAL MANIPULATION CONFERENCE,SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING,Vol. 10712,2018年,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Magnetic resonance force microscopy using ferromagnetic resonance of a magnetic tip excited by microwave transmission via a coaxial resonator,Yukinori Kinoshita,Yan Jun Li,Satoru Yoshimura,Hitoshi Saito,Yasuhiro Sugawara,Nanotechnology,Vol. 28,p. 485709(1)-485709(6),2017年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Sub-atomic-scale tip-surface force vector mapping above a Ge(001) dimer using bimodal atomic force micorscopy,Yoshitaka Naitoh,Robert Turanský,Ján Brndiar,Yan Jun Li,Ivan Štich,Yasuhiro Sugawara,nature physics,Vol. 13,No. 7,p. 663-667,2017年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Investigation of the surface potential of TiO2(110) by frequency-modulation Kelvin probe force microscopy,Lili Kou,Yan Jun Li,Takeshi Kamijo,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara,Nanotechnology,2016年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Promoting atoms into delocalized long-living magnetically modified state using Atomic Force Microscopy,Y. Kinoshita,R. Turanský,J. Brndiar,Y. Naitoh,Y. J. Li,L. Kantorovich,Y. Sugawara,I. Štich,Nano Letters,Vol. 16,No. 12,p. 7490-7494,2016年10月,研究論文(学術雑誌)
  • Development of Low Temperature Atomic Force Microscopy with an Optical Beam Deflection System Capable of Simultaneously Detecting the Lateral and Vertical Forces,Eiji Arima,Huanfei Wen,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Rev. Sci. Instrum.,2016年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Growth models of coexisting p(2×1) and c(6×2) phases on an oxygen-terminated Cu(110) surface studied by noncontact atomic force microscopy at 78 K,Yan Jun Li,Seung Hwan Lee,Yukinori Kinoshita,Zong Min Ma,Huanfei Wen,Hikaru Nomura,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara,Nanotechnology,2016年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Distance dependence of atomic-resolution near-field Imaging on the α-Al2O3 surface with respect to surface photovoltage of a silicon probe tip,Junsuke Yamanishi,Takashi Tokuyama,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Nano Research,Vol. 9,No. 2,p. 530-536,2016年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic Force Microscopy identification of Al-sites on ultrathin aluminum oxide film on NiAl(110),Yan Jun Li,Jan Brndiar,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara,Ivan Stich,Nanotechnology,2015年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic-Resolution Imaging of the Optical Near Field Based on the Surface Photovoltage of a Silicon Probe Tip,Yasuhiro Sugawara,Junsuke Yamanishi,Takashi Tokuyama,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Phys. Rev. Appl.,2015年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Surface potential imaging with atomic resolution by frequency-modulation Kelvin probe force microscopy without bias voltage feedback,Lili Kou,Zongmin Ma,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masaharu Komiyama,Yasuhiro Sugawara,Nanotechnology,2015年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Magnetic force microscopy using tip magnetization modulated by ferromagnetic resonance,Eiji Arima,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Satoru Yoshimura,Hitoshi Saito,Hikaru Nomura,Ryoichi Nakatani,Yasuhiro Sugawara,Nanotechnology,2015年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Vertical atomic manipulation with dynamic atomic-force microscopy without tip change via a multi-step mechanism,J. Bamidele,Seung-Hwan Lee,Y. Kinoshita,R. Turanský,Y. Naitoh,Y. J. Li,Y. Sugawara,I. Štich,L. Kantorovich,Nature Communications,2014年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Image formation and contrast inversion in NC-AFM imaging of oxidized Cu(110) surfaces,Joseph Bamidele,Yukinori Kinoshita,Robert Turanský,Seung-Hwan Lee,Yoshitaka Naitoh,Yanjun Li,Yasuhiro Sugawara,Ivan Štich,Lev Kantorovich,Phys. Rev. B,2014年07月,研究論文(学術雑誌)
  • The stray capacitance effect in Kelvin probe force microscopy using FM, AM and heterodyne AM modes,Zong Min Ma,Lili Kou,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Nanotechnology,2013年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Complex design of dissipation signals in non-contact atomic force microscopy,Joseph Bamidele,Yan Jun Li,Samuel Jarvis,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara,Lev Kantorovich,Physical Chemistry Chemical Physics,2012年12月,研究論文(学術雑誌)
  • Quantification of Atomic-Scale Elasticity on Ge(001)-c(4×2) Surfaces via Noncontact Atomic Force Microscopy with a Tungsten-Coated Tip,Y. Naitoh,T. Kamijo,Y. J. Li,Y. Sugawara,Phys. Rev. Lett.,2012年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Chemical tip fingerprinting in scanning probe microscopy of an oxidized Cu(110) surface,J. Bamidele,Y. Kinoshita,R. Turanský,Seung-Hwan Lee,Y. Naitoh,Y. J. Li,Y. Sugawara,I. Štich,L. Kantorovich,Phys. Rev. B,2012年10月,研究論文(学術雑誌)
  • High potential sensitivity in heterodyne amplitude modulation Kelvin probe force microscopy,Yasuhiro Sugawara,Lili Kou,Zongmin Ma,Takeshi Kamijo,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Appled Physics Letters,2012年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Force Mapping on NaCl(100)/Cu(111) Surface by Atomic Force Microscopy at 78 K,Y. J. Li,Y. Kinoshita,K. Tenjin,Z. Ma,L. Kou,Y. Naitoh,M. Kageshima,Y. Sugawara,Japanese Journal of Applied Physics,2012年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Fabrication of Sharp Tungsten-coated Tip for Atomic Force Microscopy by Ion-beam Sputter deposition,Y. Kinoshita,Y. Naitoh,Y. J. Li,Y. Sugawara,Revew of Scientific Instrumunts,2011年10月,研究論文(学術雑誌)
  • Switching surface polarization of atomic force microscopy probe utilizing photoisomerization of photochromic molecules,Yoshihiro Aburaya,Hikaru Nomura,Masami Kageshima,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Journal of Applied Physics,2011年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Simultaneous observation of surface topography and elasticity at atomic scale by multifrequency frequency modulation atomic force microscopy,Yoshitaka Naitoh,Zongmin Ma,Yan Jun Li,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara,Journal of Vacuum Science and Technology B,2010年10月,研究論文(学術雑誌)
  • High force sensitivity in Q-controlled phase-modulation atomic force microscopy,Naritaka Kobayashi,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara,Applied Physics Letters,2010年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Multifrequency High-Speed Phase-Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids,Yan Jun Li,Kouhei Takahashi,Naritaka Kobayashi,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara,Ultramicroscopy,2010年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Step Response Measurement of AFM Cantilever for Analysis of Frequency-Resolved Viscoelasticity,Tatsuya Ogawa,Shinkichi Kurachi,Masami Kageshima,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Ultramicroscopy,2010年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Effect of Surface Stress around the SA Step of Si(001) on the Dimer Structure Induced by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5 K,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Hikaru Nomura,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara,Journal of Physical Society of Japan,2010年01月,研究論文(学術雑誌)
  • The influence of Si cantilever tip with/without tungsten coating on NC-AFM imaging of Ge(001) surface,Yoshitaka Naitoh,Yukinori Kinoshita,Yan Jun LI,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara,Nanotechnology,2009年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Development of atomic force microscope with wide-band magnetic excitation for study of soft matter dynamics,Masami Kageshima,Takuma Chikamoto,Tatsuya Ogawa,Yoshiki Hirata,Takahito Inoue,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Review of Scientific Instruments,2009年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic-Scale Imaging of B/Si(111) √3 x √3 Surface by Noncontact Aromic Force Microscopy,Masaharu KINOSHITA,Yoshitaka NAITOH,Yan Jun LI,Masami KAGESHIMA,Yasuhiro SUGAWARA,Jpn. J. Appl. Phys.,2008年10月,研究論文(学術雑誌)
  • High-speed Phase-Modulation Atomic Force Microscopy in Constant-Amplitude Mode Capable of Simultaneous Measurement of Topography and Energy Dissipation,Yan Jun Li,Noritaka Kobayashi,Hikaru Nomura,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara,Jpn. J. Appl. Phys.,Vol. 47,No. 7,p. 6121-6124,2008年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Study of Oxidized Cu(110) Surface Using Noncontact Atomic Force Microscopy,Shohei Kishimoto,Masami Kageshima,Yoshitaka Naitoh,Yan Jun Li,Yasuhiro Sugawara,Surf. Sci.,2008年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Theoretical investigation on force sensitivity in Q-controlled phasemodulationatomic force microscopy in constant-amplitude mode,Naritaka Kobayashi,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara,J. Appl. Phys.,2008年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Phase Modulation Atomic Force Microscopy in Constant Excitation Mode Capable of Simultaneous Imaging of Topography and Energy Dissipation,Yan Jun Li,Naritaka Kobayashi,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara,Appl. Phys. Lett.,2008年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Viscoelasticity and Dynamics of Single Biopolymer Chain Measured with Magnetically Modulated Atomic Force Microscopy,M. Kageshima,Y. Nishihara,Y. Hirata,T. Inoue,Y. Naitoh,Y. Sugawara,AIP Conference Proceedings,2008年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Q値制御法による位相変調方式原子間力顕微鏡の感度向上,小林成貴,李艶君,内藤賀公,影島賢巳,菅原康弘,表面科学,Vol. 28,No. 9,p. 532-535,2007年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Si(001)ステップからの表面応力によるダイマー構造変化のLT-NC-AFM測定,内藤賀公,野村光,影島賢巳,李艶君,菅原康弘,表面科学,Vol. 28,No. 8,p. 421-427,2007年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Elimination of instabilities in phase shift curves in phase-modulation atomic force microscopy in constant-amplitude mode,Yasuhiro Sugawara,Naritaka Kobayashi,Masayo Kawakami,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,APPLIED PHYSICS LETTERS,2007年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Force Microscopy Imaging of Rest Atom on Si(111)7×7 Surface under Strong Tip-Surface Interaction,Y. Naitoh,K. Momotani,H. Nomura,Y. J. Li,M. Kageshima,Y. Sugawara,J. Phys. Soc. Jpn.,2007年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Dissipative force modulation Kelvin probe force microscopy applying doubled frequency ac bias voltage,H. Nomura,K. Kawasaki,T. Chikamoto,Y. J. Li,Y. Naitoh,M. Kageshima,Y. Sugawara,Appl. Phys. Lett.,2007年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Wide-band and hysteresis-free regulation of piezoelectric actuator based on induced current for high-speed scanning probe microscopy,Masami Kageshima,Shinsuke Togo,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara,Review of Scientific Instruments,2006年10月,研究論文(学術雑誌)
  • High Sensitive Force Detection by Phase Modulation Atomic Force Microscopy (PM-AFM),Naritaka Kobayashi,Yan Jun Li,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara,Jpn. J. Appl. Phys. Lett.,2006年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Discrimination of individual atoms on Ge/Si(111)-(7×7) intermixed surface,Insook Yi,Ryuji Nishi,Yoshiaki Sugimoto,Masayuki Abe,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Surface Science,Elsevier B. V.,Vol. 600,No. 13,p. 2766-2770,2006年07月,研究論文(学術雑誌)
  • The Origin of p(2x1) Phase on Si(001) by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5 K,Yan Jun Li,Hikaru Nomura,Naoyuki Ozaki,Yoshitaka Naitoh,Masami Kageshima,Yasuhiro Sugawara,Chris Hobbs,Lev Kantorovich,Physical Review Letters,2006年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Phase detection method with a positive feedback control using a quartz resonator based atomic force microscope in liquid environment,Ryuji Nishi,Kouichi Kitano,Insook Yi,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Applied Surface Science,Elsevier B. V.,2004年10月,研究論文(学術雑誌)
  • Ground state of Si(001) surface revisited----Is seeing believing ?,T. Uda,H. Shigekawa,Y. Sugawara,S. Mizuno,Y. Yamashita,J. Yoshinobu,K. Nakatsuji,H. Kawai,F. Komori,Progress in Surface Science,2004年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Ground state of Si(001) surface revisited----Is seeing believing ?,T. Uda,H. Shigekawa,Y. Sugawara,S. Mizuno,Y. Yamashita,J. Yoshinobu,K. Nakatsuji,H. Kawai,F. Komori,Progress in Surface Science,2004年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Atom selective imaging and mechanical atom manipulation using noncontact atomic force microscope,Seizo Morita,Yoshiaki Sugimoto,Noriaki Oyabu,Ryuji Nishi,Oscar Custance,Yasuhiro Sugawara,Masayuki Abe,Journal of Electron Microscopy,Oxford University Press,2004年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Atom Selective Imaging and Mechanical Atom Manipulation base on Noncontact Atomic Force Microscope Method,Seizo Morita,Noriaki Oyabu,Ryuji Nishi,Kenji Okamoto,Masayuki Abe,Oscar Custance,Insook Yi,Yoshihide Seino,Yasuhiro Sugawara,e-Journal of Surface Science and Nanotechnology,The Surface Science Society of Japan,2003年12月,研究論文(学術雑誌)
  • Atom selective imaging by NC-AFM: Case of oxygen adsorbed on a Si(111)7×7 surface,Ryuji Nishi,Shinya Araragi,Kunihiro Shirai,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Applied Surface Science,Elsevier Science,2003年03月,研究論文(学術雑誌)
  • 原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察,森田清三,岡本憲二,内橋貴之,阿部真之,菅原康弘,静電気学会誌,Vol. 27,No. 2,p. 64-68,2003年02月
  • Atomically Resolved Imaging of Si(100)2x1, 2x1:H and 1x1:2H Surface with Nonconatct Atomic Force Microscopy,S. Morita,Y. Sugawara,Japanese J. Applied. Physics, vol41, part1, no.7B (2002) 4857-4862,2002年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic Resolution imaging of Si(100)1x1:2H digydride suraface with Noncontact Atomic Force Microscopy(NC-AFM),S. Araragi,A. Yoshimoto,N. Nakata,Y. Sugawara,S. Morita,Applied Surface Science, vol.188, nos.3-4, (2002) 272-278,Elsevier,2002年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Observation of Si(100) surface with noncontact atomic force microscpe at 5K,T. Uozumi,Y. Tomiyoshi,N. Nakata,Y. Sugawara,S. Morita,Applied Surface Science,Elsevier,2002年03月,研究論文(学術雑誌)
  • The Elimination of the 'Artifact' in the Electrostatic Force Measurement using a Novel Noncontact Atomic Force Microscope/electrostatic Force Microscope,K. Okamoto,Y. Sugawara,S. Morita,Applied Surface Science,Elsevier,2002年03月,研究論文(学術雑誌)
  • 「走査プローブ顕微鏡によるナノ加工と評価」,森田清三,菅原康弘,電子情報通信学会誌,2002年01月
  • 「走査型プローブ顕微鏡による複合極限場での原子イメージング」,森田清三,菅原康弘,表面金属学会、まてりあ,2002年01月
  • 「非接触原子間力顕微鏡で半導体の何がどこまで見えるのか?」,森田清三,菅原康弘,表面科学会、表面科学,2002年01月
  • Atomically Resolved Imaging of Si(100) 2´1, 2´1:H, 1´1:2H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy,S.Morita,Y.Sugawara,2002年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Noncontact Atomic Force Microscopy on Semiconductor Surfaces,S.Morita,Y.Sugawara,2002年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic Resolution Imaging of Si(100)1´1:2H Dihydride Surface with Noncontact Atomic Force Microscopy (NC-AFM),S.Araragi,A.Yoshimoto,N.Nakata,Y.Sugawara,S.Morota,2002年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Observation of Si(100) Surface with Noncontact Atomic Force Microscope at 5K,T.Uozumi,Y.Tomiyoshi,N.Suehira,Y.Sugawara,S.Morita,2002年01月,研究論文(学術雑誌)
  • The Elimination of the 'Artifact' in the Electrostatic Force Measurement Using a Novel Noncontact Atomic Force Microscope/Electrostatic Force Microscope,K.Okamoto,Y.Sugawara,S.Morita,2002年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atom Manipulation and Image Artifact on Si(111)7×7 Surface Using a Low Temperature Noncontact Atomic Force Microscope,Y.Sugawara,Y.Sano,N. Suehira,S.Morita,2002年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Mapping and Control of Atomic Force on Si(111)Ö3´Ö3-Ag Surface Using Noncontact Atomic Force Microscope,S.Morita,Y.Sugawara,2002年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Molecular Orbital Interpretation of Thymine/graphite Nc-AFM Images,M. Komiyama,T. Uchihashi,Y. Sugawara,S. Morita,Surface and Interface Analysis, vol32 (2002) 53-56,John Wiley & Sons, Ltd,2001年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Micoroscopic Contact Charging and Dissipation,S. Morita,Y. Sugawara,Thin Solid Films, vol.393 (2001) 310-318,2001年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Low-temperature Noncontact Atomic Force Microscope with Quick Sample and Cantilver Exchange Mechanism,N. Suehira,Y. Tomiyoshi,T. Sugawara,S. Morita,Review of Scientific Instruments, vol.72, no.7 (2001) 2971-2976,American Institute of Physics,2001年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic Resolution Noncontact Atomic Force and Scanning Tunneling Microscopy of TiO2[100]-[1x1] and -[1x2]: Simultaneous Imaging of Surface Structure and Electronic States,M. Ashino,Y. Sugawara,S. Morita,M. Ishikawa,Physical Review Letter, vol86. no.19 (2001) 4334-4337,2001年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Load Dependence of Sticking-domain Distribution in Two-dimensional Atomic Scale Friction of NaF(100) Surface,S. Fujisawa,K. Yokoyama,Y. Sugawara,S. Morita,Tribology Letters, no.9 (2001) 69-72,2001年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Artifact and Fact of Si(111)7x7 Suraface Images Observed with a Low Temperature Noncontact Atomic Force Microscope (LT-NC-AFM),N. Suehira,Y. Sugawara,S. Morita,Japanese Journal of Applied Physics, vol.40, no.3B (2001) L292-L294,2001年03月,研究論文(学術雑誌)
  • A Noncontact Atomic Force Microscope in Air using a Quartz Resonatorand the FM Detection Method,R. Nishi,I. Houda,K. Kitano,Y. Sugawara,S. Morita,Applied Physics A,Springer,2001年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Force Imaging of Optical Near Field Using Noncontact Atomic Force Microscopy,Yasuhiro Sugawara,Abstract of the 43rd Seminar on Science and Technology, Near Field Optics Techniques, pp.~141-147,2001年03月
  • Artifact and Fact of Si(111)7x7 Surface Images Observed with a Low Temperature Noncontact Atomic Force Microscope (LT-NC-AFM),Nobuhito Suehira,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Jpn.~J. Appl.~Phys., Vol.~40, No.~3B, pp.~L292-L294,2001年03月,研究論文(学術雑誌)
  • 「ノーベル賞と分光学 Ⅵ.走査型トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡」,菅原康弘,森田清三,日本分光学会、分光研究,2001年01月
  • 「走査型プローブ顕微鏡によるナノテクノロジー」,森田清三,菅原康弘,応用物理学会、応用物理,2001年01月
  • Mapping and Control of Atomic Force with Noncontact Atomic Force Microscopy,S.Morita,Y.Sugawara,2001年01月
  • Microscopic Contact Charging and Dissipation,S.Morita,Y.Sugawara,2001年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Molecular Orbital Interpretation of Thymine/Graphite nc-AFM Images”Surface and Interface Analysis,M.Komiyama,T.Uchihashi,Y.Sugawara,S.Morita,2001年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Low Temperature Noncontact Atomic Force Microscope with Quick Sample and cantilever Exchange Mechanism,N.Suehira,Y.Tomiyoshi,Y.Sugawara,S.Morita,2001年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic Resolution Noncontact Atomic Force and Scanning TunnelingMicroscopy of TiO2(110)-(1´1) and -(1´2): Simultaneous Imaging of SurfaceStructures and Electronic States,M.Ashino,Y.Sugawara,S.Morita,M.Ishikawa,2001年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Non-contact Atomic Force Microscope in Air with Quartz Resonator Using FM Detection Method,R.Nishi,I.Houda,K.Kitano,Y.Sugawara,S.Morita,2001年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Noncontact AFM Imaging on Si(111) 2×1-Sb Surface with Occupied Lone-Pair Orbitals,Y.Sugawara,S.Orisaka,E.Hidaka,S.Mo,2001年01月,研究論文(学術雑誌)
  • 非接触原子間力顕微鏡と原子分子のナノ力学,森田清三,菅原康弘,学術月報, Vol.~53, No.~12, pp.~1319-1324,2000年12月
  • Microscopic Contact Charging and Dissipation,Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Abstract of the 4th International Conference on Nano-Molecular Electronics, pp.~153-154,2000年12月
  • 3D-Mapping and Control of Atomic Force with Noncontact Atomic Force Microscopy,Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Abstract of 4th International Workshop on Quantum Functional Devices, pp.~89-92,2000年11月
  • Atomically Resolved Imaging of Semiconductor Surfaces using Noncontact Atomic Force Microscopy,Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Abstract of 25th International Conference on the Physics of Semiconductors, p.~430,2000年09月
  • Development of a Low Temperature Noncontact Atomic Force Microscope using Optical Fiber Interferometer,Nnobuto Suehira,Yasushige Tomiyoshi,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~39,2000年07月
  • Atomic Resolution Imaging of a Lone-pair using NC-AFM,Eiji Hidaka,Shigeki Orisaka,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~18,2000年07月
  • Noncontact Atomic Force Microscopy of Oxygen-Deficient TiO$_2$(110) Surfaces,Makoto Ashino,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Mitsuru Ishikawa,Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~9,2000年07月
  • Noncontact AFM Imaging Mechanism of Si(100)2x1 Surface Compared with Si(100)2x1:H Surface on Atomic Scale,Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Kousuke Yokoyama,Taketoshi Ochi,Akira Yoshimoto,Abstract of the 3rd International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~4,2000年07月
  • Applications of Noncontact AFM with True Atomic Resolution,Yasuhiro Sugawara,Kousuke Yokoyama,Seizo Morita,Abstract of the Third International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM 2000), p.~3,2000年07月
  • Atomic Force Mapping and Control of Atomic Force on a Si(111)√3x√3-Ag Surface using a Noncontact Atomic Force Microscopy,Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Microbeam Analysis 2000, pp.~371-372,2000年07月
  • Structures of an Oxygen-Deficient TiO(110) Surface Studied by Noncontact Atomic Force Microscopy,Makoto Ashino,Joi,Research Center,JRCAT,Takayuki Uchihashi (Join,Research Center,JRCAT,Kousuke Yokoyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Mitsuru Ishikawa (Joi,Research Center,JRCAT,Jpn.~J. Appl.~Phys., Vol.~39, No.~6B, pp.~3765-3768,2000年06月,研究論文(学術雑誌)
  • STM and Atomic-resolution Noncontact AFM of an Oxygen-deficient TiO$_2$(110) Surface,Makoto Ashino,Joi,Research Center,JRCAT,Takayuki Uchihashi (Join,Research Center,JRCAT,Kousuke Yokoyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Mitsuru Ishikawa (Joi,Research Center,JRCAT,Phys.~Rev.~B, Vol.~61, No.~20, pp.~13955-13959,Vol. 61,No. 20,p. 13955-13959,2000年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Correlation of Frequency Shift Discontinuity to Atomic Positions on a Si(111)7x7 Surface by Noncontact Atomic Force Microscopy,Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Kousuke Yokoyama,Takayuki Uchihashi,Nanotechnology, Vol.~11, pp.~343-348,2000年05月,研究論文(学術雑誌)
  • ナノ力学に基づいた原子分子技術,森田清三,菅原康弘,生産と技術, Vol.~52, No.~2, pp.~9-14,2000年04月
  • Development of Low Temperature Ultrahigh Vacuum Noncontact Atomic Force Microscope with PZT Cantilever,Nobuhito Suehira,Yasushige Tomiyoshi,Kenji Sugiyama,Syunji Watanabe,ikon Co,Touru Fujii,Nikon Cor,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Appl.~Surf.~Sci., Vol.~157, No.~4, pp.~343-348,2000年04月,研究論文(学術雑誌)
  • High-resolution Imaging of Organic Monolayers using Noncontact AFM,Takayuki Uchihashi (Join,Research Center,JRCAT,Takao Ishida (Join,Research Center,JRCAT,Masaharu Komiyama,Yamanashi University,Makoto Ashino,Joi,Research Center,JRCAT,Yasuhiro Sugawara,Wataru Mizutani,Join,Research Center,JRCAT,Kousuke Yokoyama,Seizo Morita,Hiroshi Tokumoto,Jo,esearch Center,JRCAT,Mitsuru Ishikawa (Joi,Research Center,JRCAT,Appl.~Surf.~Sci., Vol.~157, No.~4, pp.~244-250,Vol. 157,No. 4,p. 244-250,2000年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Noncontact AFM imaging on Al-adsorbed Si(111) Surface with an Empty Orbital,Yasuhiro Sugawara,Shigeki Orisaka,Seizo Morita,Appl.~Surf.~Sci., Vol.~157, No.~4, pp.~239-243,2000年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic-scale Structures on a Non-stoichiometric TiO$_2$(110) Surface Studied by Noncontact AFM,Makoto Ashino,Joi,Research Center,JRCAT,Takayuki Uchihashi (Join,Research Center,JRCAT,Kousuke Yokoyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Mitsuru Ishikawa (Joi,Research Center,JRCAT,Appl.~Surf.~Sci., Vol.~157, No.~4, pp.~212-217,2000年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Defects and Their Charge Imaging on Semiconductor Surfaces by Noncontact Atomic Force Microscopy and Spectroscopy,Seizo Morita,Masayuki Abe,Kosuke Yokoyama,Yasuhiro Sugawara,J. of Crystal Growth, Vol.~210, pp.~408-415,2000年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Identification of B-form DNA in an Ultrahigh Vacuum by Noncontact-Mode Atomic Force Microscopy,Takayuki Uchihashi (Join,Research Center for,Atom Technology,JRCAT,Masato Tanigawa,Joi,search Center for,Atom Technology,JRCAT,Makoto Ashino,Joi,Research Center for Atom Technology,JRCAT,Yasuhiro Sugawara,Kosuke Yokoyama,Seizo Morita,Mitsuru Ishikawa (Joi,Research Center for Atom Technology,JRCAT,Langmuir, Vol.~16, No.~3, pp.~1349-1353,2000年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic Resolution Imaging on Si(100)2x1 and Si(100)2x1:H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy,Kosuke Yokoyama,Takeshi Ochi,Akira Yoshimoto,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Jpn.~J. Appl.~Phys.~Vol.~39, No.~2A, pp.~L113 -L115,2000年02月,研究論文(学術雑誌)
  • 「非接触原子間力顕微鏡と原子分子のナノ力学」,森田清三,菅原康弘,学術月報、特集,2000年01月
  • Noncontact AFM Imaging of Si(100)2´1 and Si(100)2´1:H Surfaces,Y.Sugawara,K.Yokoyama,T.Ochi,A.Yoshimoto,S.Morita,2000年01月
  • Load Dependence of Sticking-Domain Distribution in Two-Dimensional Atomic Scale Friction on NaF(100) Surface,S.Fujiwaswa,K.Yokoyama,Y.Sugawara,S.Morita,2000年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Load Dependence of Sticking-Domain Distribution in Two-Dimensional Atomic Scale Friction on NaF(100) Surface,S.Fujiwaswa,K.Yokoyama,Y.Sugawara,S.Morita,2000年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atom-Resolved Images of Defect-Induced Structure on Non-stoichiometric TiO2 Surface by STM and Noncontact AFM,M.Ashino,T.Uchihashi,K.Yokoyama,Y.Sugawara,S.Morita,M.Ishikawa,2000年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Carbon-Nanotube Tip for the Highly-Reproducible Imaging of DNA Helical Turns by Noncontact AFM,T.Uchihashi,N.Choi,M.Tanigawa,M.Ashino,Y.Sugawara,H.Nishijima,S.Akita,Y.Nakayama,H.Tokumoto,K.Yokoyama,S.Morita,M.Ishikawa,2000年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Optical Beam Deflection Noncontact Atomic Force Microscope Optimized with Three-Dimensional Beam Adjustment Mechanism,K.Yokoyama,T.Ochi,T.Uchihashi,M.Ashino,Y.Sugawara,N.Suehira,S.Morita,2000年01月,研究論文(学術雑誌)
  • 原子間力顕微鏡による帯電素過程の研究,森田清三,菅原康弘,静電気学会誌, Vol.~24, No.~1, pp.~8-14,Vol. 24,No. 1,p. 8-14,2000年01月
  • Atomically Resolved Silver Imaging on Si(111) √3x√3-Ag Surface with Noncontact Atomic Force Microscope,Kosuke Yokoyama,Takeshi Ochi,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Phys.~Rev.~Lett.~Vol.~83, No.~24, pp.~5023-5026,1999年12月,研究論文(学術雑誌)
  • Missing Ag Atom on Si(111) √3x√3-Ag Surface Observed Noncontact Atomic Force Microscopy,Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Sigeki Orisaka,Takayuki Uchihashi (Join,Research Center for Atom Technology,JRCAT,Jpn.~J. Appl.~Phys., Vol.~38, No.~11B, pp.~L1342-1344,1999年11月,研究論文(学術雑誌)
  • 非接触原子間力顕微鏡による単一分子解析,菅原康弘,森田清三,タンパク質核酸酵素, Vol.~44, No.~14,1999年11月
  • 原子間力顕微鏡による原子レベルの物性評価と計測,森田清三,菅原康弘,電気学会論文誌C, Vol.~119-C, No.~10, pp.~1109-1112,Vol. 119,No. 10,p. 1109-1112,1999年10月
  • Imaging of Chemical Reactivity and Buckled Dimers on Si(100)2x1 Reconstructed Surface with Noncontact AFM,Takayuki Uchihashi (Join,Research Center for,Atom Technology,JRCAT,Yasuhiro Sugawara,Takayuki Tsukamoto,Tetsuya Minobe,Sigeki Orisaka,Takao Okada,J,search Center for,Atom Technology,JRCAT,Seizo Morita,Appl.~Surf.~Sci., Vol.~140, No.~3-4, pp.~304-308,1999年09月,研究論文(学術雑誌)
  • AFMの現状と展開,森田清三,菅原康弘,表面科学, Vol.~20, No.~5, pp.~352-357,Vol. 20,No. 5,p. 352-357,1999年05月
  • True atomic resolution imaging of surface structure and surface charge on the GaAs(110),Y. Sugawara,T. Uchihashi,M. Abe,S. Morita,Applied Surface Science,Vol. 140,No. 3,p. 371-375,1999年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Near-field optical imaging using force detection with tip-electrode geometry,M. Abe,Y. Sugawara,K. Sawada,Y. Andoh,S. Morita,Applied Surface Science,1999年03月,研究論文(学術雑誌)
  • 非接触原子間力顕微鏡でなにがみえるか?,森田清三,菅原康弘,応用物理学会薄膜・表面物理分科会NEWS LETTER, No.~105, pp.~8-17,1999年03月
  • Guidelines for the Achievement of True Atomic Resolution with Noncontact Atomic Force Microscopy,Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Appl.~Surf.~Sci., Vol.~140, No.~3-4, pp.~406-410,1999年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Near-field Optical Imaging Using Force Detection with New Tip-electrode Geometry,Masayuki Abe,Yasuhiro Sugawara,Kazuyoshi Sawada,Yoshitake Andoh,Seizo Morita,Appl.~Surf.~Sci., Vol.~140, No.~3-4, pp.~383-387,1999年02月,研究論文(学術雑誌)
  • True Atomic Resolution Imaging of Surface Structure and Surface Charge on the GaAs(110),Yasuhiro Sugawara,Takayuki Uchihashi (JRCAT,Masayuki Abe,Seizo Morita,Appl.~Surf.~Sci., Vol.~140, No.~3-4, pp.~371-375,Vol. 140,No. 3,p. 371-375,1999年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Imaging of Chemical Reactivity and Buckled Dimers on Si(100)2x1 Reconstructed Surface with Noncontact AFM,Takayuki Uchihashi (JRCAT,Yasuhiro Sugawara,Takahiro Tsukamoto,Tetsuya Minobe,Shigeki Orisaka,Takao Okada (JRCAT,Seizo Morita,Appl.~Surf.~Sci., Vol.~140, No.~3-4, pp.~304-308,1999年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Distance Dependence of Noncontact-AFM Image Contrast on Si(111)√3x√3-Ag Structure,Tetsuya Minobe,Takayuki Uchihashi (JRCAT,Takahiro Tsukamoto,Shigeki Orisaka,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Appl.~Surf.~Sci., Vol.~140, No.~3-4, pp.~298-303,1999年02月,研究論文(学術雑誌)
  • The Atomic Resolution Imaging of Metallic Ag(111) Surface by Noncontact Atomic Force Microscope,Shigeki Orisaka,Tetsuya Minobe,Takayuki Uchihashi (JRCAT,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Appl.~Surf.~Sci., Vol.~140, No.~3-4, pp.~243-246,Vol. 140,No. 3,p. 243-246,1999年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Defects and their charge imaging on semiconductor surfaces by noncontact atomic force microscopy and spectroscopy,S. Morita,M. Abe,K. Yokoyama,Y. Sugawara,1999年01月,研究論文(学術雑誌)
  • High resolution imaging of DNA and organic molecules using noncontact AFM in UHV,T.Uchihashi,M.Ashino,Y.Sugawara,M.Tanigawa,T.Ishida,N.Choi,K.Yokoyama,M.Komiyama,H.Nishijima,W.Mizutani,S.Akita,Y.Nakayama,S.Morita,H.Tokumoto,M.Ishikawa,1999年01月
  • Non-contact AFM study of TiO2 surfaces for adsorption of biomolecules,M.Ashino,T.Uchihashi,Y.Sugawara,M.Ishikawa,1999年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic Resolution Imaging of Al/Si(111) Surface by Noncontact Atomic Force Microscope,S.Orisaka,T.Minobe,K.Makimoto,Y.Sugawara,S.Morita,1999年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Non-contact AFM Images Measured on Si(111)Ö3´Ö3-Ag and Ag(111) Surfaces,Y.Sugawara,T.Minobe,S.Orisaka,T.Uchihashi,T.Tsukamoto,S.Morita,1999年01月,研究論文(学術雑誌)
  • The Atomic Resalution Imaging of Metallic Ag((]G0003[)) Surface by Noncontact Atomic Force Microscopy,菅原康弘,140/3-4,243,Applied Surface Science,1999年,研究論文(学術雑誌)
  • Distance Dependence of Noncontact AFM Image Contrast an Si((]G0003[))┣D83┫D8×┣D83┫D8-Ag Structure,菅原康弘,140/3-4,298,Applied Surface Science,1999年,研究論文(学術雑誌)
  • True Atomic Resolution Imaging of Surface Structure and Surface Charge on the GaAs(110),菅原康弘,140/3-4,383,Applied Surface Science,Vol. 140,No. 3,p. 371-375,1999年,研究論文(学術雑誌)
  • Self-Assembled Monolayer of Adenine Base on Graphite Studied by Noncontact Atomic Force Microscopy,菅原康弘,60/11,8309,Physical Review B,Vol. 60,No. 11,p. 8309-8313,1999年,研究論文(学術雑誌)
  • (2)極限空間分解能を持つ非接触原子間力顕微鏡法,森田清三,菅原康弘,応用物理《技術ノート(ナノメートル領域の評価技術の最前線)》, Vol.~67, No.~12, pp.~1402-1403,1998年12月
  • 非接触原子間力顕微鏡を用いた軌道の混成による力の原子レベル観察,菅原康弘,森田清三,真空, Vol.~41, No.~11, pp.~906-911,Vol. 41,No. 11,p. 906-911,1998年11月
  • 非接触AFMによる半導体表面の観察 ---化学的活性度と電荷の原子レベル観察---,菅原康弘,日本表面科学会主催第19回表面科学セミナー《走査型プローブ顕微鏡の最近の進歩》テキスト, pp.~109-122,1998年10月
  • Optical near-field imaging using Kelvin probe technique,M. Abe,Y. Sugawara,K. Sawada,Y. Andoh,S. Morita,Japanese Journal of Applied Physics,1998年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Optical Near-Field Imaging Using the Kelvin Probe Technique,Masayuki Abe,Yasuhiro Sugawara,Kazuyoshi Sawada,Yoshitake Andoh,Seizo Morita,Jpn.~J. Appl.~Phys., Vol.~37, No.~9A/B, pp.~L1074-L1077,1998年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Analysis of Experimental Load Dependence of Two-Dimensional Atomic-Scale Friction,Satoru Fujisawa(Mechanical Engineering Loboratory,Kousuke Yokoyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Phys.~Rev.~B, Vol.~58, No.~8, pp.~4909-4916,1998年08月,研究論文(学術雑誌)
  • 摩擦力顕微鏡を用いた原子スケールのトライボロジー,藤沢 悟,森田清三,菅原康弘,表面科学, Vol.~19, No.~6, pp.~374-378,Vol. 19,No. 6,p. 374-378,1998年06月
  • New Computed Tomography Algorithm of Electrostatic Force Microscopy Based on the Singular Value Decomposition Combined with the Discrete Fourier Transform,Ryuji Nishi,Yoshizumi Nakao,Takayuki Ohta,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Takao Okada,Jpn. J. Appl. Phys.,Japan Society of Applied Physics,1998年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Stable Operation Mode for Dynamic Noncontact Atomic Force Microscopy,Hitoshi Ueyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Appl. Phys., Vol. A66, pp. S295-S297,1998年03月,研究論文(学術雑誌)
  • 超高真空非接触モード原子間力顕微鏡の新展開,菅原康弘,森田清三,電子顕微鏡, Vol. 33, No. 1, pp. 22-26,Vol. 33,No. 1,p. 22-26,1998年03月
  • Force imaging of optical near-field using noncontact mode atomic force microscopy,M. Abe,Y. Sugawara,Y. Hara,K. Sawada,S. Morita,Japanese Journal of Applied Physics,1998年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Load Dependence of the Frictional-Force Microscopy Image Pattern of the Graphite Surface,Naruo Sasaki,Masaru Tsukada,Satoru Fujisawa,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Katsuyoshi Kobayashi,Phys. Rev. B, Vol. 57, No. 7, pp. 3785-3786,1998年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Theoretical Analysis of Atomic-Scale Friction in Frictional-Force Microscopy,Naruo Sasaki,Masaru Tsukada,Satoru Fujisawa,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Tribology Letters, Vol. 4, pp. 125-128,1998年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy,Masayuki Abe,Yasuhiro Sugawara,Yasuyuki Hara,Kazuyoshi Sawada,Seizo Morita,Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 37, Part.2, No. 2A, pp. L167-L169,1998年02月,研究論文(学術雑誌)
  • 「超高真空非接触モード原子間力顕微鏡の新展開」,菅原康弘,森田清三,日本電子顕微鏡学会、電子顕微鏡,1998年01月
  • Atomic Resolution Imaging of Si(111)Ö3´Ö3-Ag Surface and Metallic Ag(111)Surface by Noncontact Atomic Force Microscope,S.Orisaka,T.Minobe,T.Uchihashi,Y.Sugawara,S.Morita,1998年01月
  • Development of Low-Temperature Ultrahigh Vacuum Atomic Force/Scanning Tunneling Microscope,K.Sugiyama,N.Suehira,T.Fujii,S.Watanabe,Y.Sugawara,S.Morita,1998年01月
  • Development of Noncontact UHV-AFM for Imaging of Biological Samples,M.Ashino,T.Uchihashi,M.Tanigawa,Y.Sugawara,T.Okada,1998年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Development of Noncontact UHV-AFM for Imaging of Biological Samples,T.Uchihashi,M.Ashino,M.Tanigawa,Y.Sugawara,T.Okada,1998年01月
  • New computed tomography algorithm of electrostatic force microscopy based on the singular value decomposition combined with the discrete Fourier transform,R.Nishi,Y.Nakao,T.Ohta,Y.Sugawara,S.Morita,T.Okada,1998年01月,研究論文(学術雑誌)
  • 非接触モード原子間力顕微鏡の現状と展望,森田清三,菅原康弘,触媒, Vol. 39, No. 8, pp. 612-618,Vol. 39,No. 8,p. 612-618,1997年12月
  • Atomically-Resolved Imaging of n+-GaAs(110) Cleaved Surfaces with Noncontact Atomic Force/Electrostatic Force Microscope,Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Takayuki Uchihashi,Hitoshi Ueyama,Masayuki Abe,Masayuki Suzuki,Proceedings of Int. Symp. on Atomic Level Characterization for New Materials and Devices'97, pp. 193-198,1997年11月
  • True Atomic Resolution Imaging on Semiconductor Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy,Yasuhiro Sugawara,Hitoshi Ueyama,Takayuki Uchihashi,Masahiro Ohta,Yoshio Yanase,Takashi Shigematsu,Masayuki Suzuki,Seizo Morita,Material Research Society Fall Meeting Symposium Proceedings, Vol. 442, pp. 15-23,1997年11月
  • 原子間力顕微鏡によるエバネセント波の検出,菅原康弘,阿部真之,森田清三,光学,Vol. 26,No. 10,p. 537-538,1997年10月
  • Role of a Covalent Bonding Interaction in Noncontact-mode Atomic Force Microscopy on Si(111)7x7,Takayuki Uchihashi,Yasuhiro Sugawara,Takahiro Tsukamoto,Masahiro Ohta,Seizo Morita,Mineharu Suzuki,Phys. Rev.B, Vol. 56, No. 15, pp. 9834-9840,Vol. 56,No. 15,p. 9834-9840,1997年10月,研究論文(学術雑誌)
  • Simulated Computed Tomography for the Reconstruction of Vacancies Using an Atomic Force Microscope Image,Ryuji Nishi,Takayuki Ohta,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Takao Okada,Jpn. J. Appl. Phys.,The Japan Society of Applied Physics,1997年10月,研究論文(学術雑誌)
  • 原子間力顕微鏡によるエバネセント波の検出,菅原康弘,阿部真之,森田清三,光学, Vol. 26, No. 10, pp. 537-538,Vol. 26,No. 10,p. 537-538,1997年10月
  • Growth of a Two-Dimensional Nucleus on a Cleaved (010) Surface of (NH2CH2COOH)3・H2SO4,Junji Ohgami,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Toru Ozaki,Journal of the Physical Society of Japan, Vol. 66, No. 9, pp. 2747-2750,1997年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Analysis of Friction-Force Image Patterns of a Graphite Surface,Naruo Sasaki,Masaru Tsukada,Satoru Fujisawa,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Katsuyoshi Kobayashi,J. Vac. Sci. Technol. B, Vol. 15, No. 4, pp. 1479-1482,1997年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Detection Mechanism of an Optical Evanescent Field using a Noncontact Mode Atomic Force Microscope with a Frequency Modulation Detection Method,Masayuki Abe,Takayuki Uchihashi,Masahiro Ohta,Hitoshi Ueyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,J. Vac. Sci. Technol. B, Vol. 15, No. 4, pp. 1512-1515,1997年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Development of Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscopy with Frequency Modulation Detection and its Application to Electrostatic Force Measurement,Takayuki Uchihashi,Masahiro Ohta,Yasuhiro Sugawara,Yoshio Yanase,Tatsuhiko Shigematsu,Mineharu Suzuki,Seizo Morita,J. Vac. Sci. Technol. B, Vol. 15, No. 4, pp. 1543-1546,1997年07月,研究論文(学術雑誌)
  • 力によるエバネッセント場の検出,菅原康弘,安部真之,原 康之,澤田和良,森田清三,近接場光学研究グループ第6回研究討論会予稿集, pp. 7-12,1997年07月
  • Charge Dissipation on Chemically Treated Thin Silicon Oxide in Air,Takayuki Uchihashi,Akihiko Nakano,Tohru Ida,Yasuko Andoh,Reizo Kaneko,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 36, No. 6A, pp. 3755-3758,Vol. 36,No. 6,p. 3755-3758,1997年06月,研究論文(学術雑誌)
  • Detection mechanism of optical evanescent field by using noncontact mode atomic force microscope with frequency modulation detection method,M. Abe,T. Uchihashi,M. Ohta,H. Ueyama,Y. Sugawara,S. Morita,Journal of Vaccum Science & Technology B,1997年04月,研究論文(学術雑誌)
  • True Atomic Resolution Imaging with Noncontact Atomic Force Microscopy,Yasuhiro Sugawara,Hitoshi Ueyama,Takayuki Uchihashi,Masahiro Ohta,Seizo Morita,Mineharu Suzuki,Shuzo Mishima,Applied Surface Science, Vol. 113/114, pp. 364-370,1997年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Measurement of the evanescent field using noncontact mode atomic force microscope,M. Abe,T. Uchihashi,M. Ohta,H. Ueyama,Y. Sugawara,S. Morita,Optical Review,Vol. 4,No. 1,p. 232-235,1997年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Measurement of the Evanescent Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscope,Masayuki Abe,Takayuki Uchihashi,Masahiro Ohta,Hitoshi Ueyama,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Optical Review, Vol.4, No.1B, pp.232-235,Vol. 4,No. 1,p. 232-235,1997年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Role of a Covalent Bonding Interaction in Noncontact-mode Atomic Force Microscopy,菅原康弘,56/16,9834,Physical Revier B,1997年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Measurement of the Evanescent Field Using Noncontact Mode Atomic Fora Microscope,菅原康弘,4/1B,232,Optical Review,1997年,研究論文(学術雑誌)
  • 原子間力顕微鏡による半導体表面の評価,菅原康弘,上山仁司,内橋貴之,大田昌弘,森田清三,電気学会 基礎・材料・共通部門(A部門)総合研究会プログラムシンポジウム(A/S-96-2), pp.55-63,1996年12月
  • 非接触モード原子間力顕微鏡の新展開,森田清三,菅原康弘,上山仁司,大田昌弘,内橋貴之,電気学会研究会資料・電子材料研究会EFM-96-28, pp.59-68,Vol. 33,No. 1,p. 22-26,1996年12月
  • Density Saturation of Densely Contact-Electrified Negative Charges on a Thin Silicon Oxide Due to the Coulomb Repulsive Force,Yasuhiro Sugawara,Takeshi Tsuyuguchi,Takayuki Uchihashi,Takahiro Okusako,Yoshinobu Fukano,Yoshiki Yamanishi,Sumitomo Metal,Industries, Lt,Takahiko Oasa,umitomo Metal,Industries,Seizo Morita,Philosophical Magazine A, Vol.74, No.5, pp.1339-1346,1996年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Load Dependence of the Periodicity in Frictional Force Images on NaF(100) Surface,Satoru Fujisawa,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Philosophical Magazine A, Vol.74, No.5, pp.1329-1337,1996年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Localized Fluctuation of a Two-Dimensional Atomic-Scale Friction,Satoru Fujisawa,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Jpn.J.Appl.Phys., Vol.35, No.11, pp.5909-5913,Vol. 35,No. 11,p. 5909-5913,1996年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Stability of Densely Contact-Electrified Charges on Thin Silicon Oxide in Air,Seizo Morita,Takayuki Uchihashi,Takahiro Okusako,Yoshiki Yamanishi,Sumitomo Metal,Industries, Lt,Takahiko Oasa,umitomo Metal,Industries,Yasuhiro Sugawara,Jpn.J.Appl.Phys., Vol.35, No.11, pp.5811-5814,Vol. 35,No. 11,p. 5811-5814,1996年11月,研究論文(学術雑誌)
  • 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? -- 試作と像解釈のノウハウ(3) --,森田清三,菅原康弘,大田昌弘,表面科学, Vol.17, No.11, pp.698-700,1996年11月
  • 極限空間分解能を持つ近接場単原子観察法,森田清三,菅原康弘,大田昌弘,上山仁司,内橋貴之,日本電子顕微鏡学会第41回シンポジウム論文集, pp.155-158,1996年10月
  • 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? -- 試作と像解釈のノウハウ(2) --,森田清三,菅原康弘,大田昌弘,表面科学, Vol.17, No.10, pp.617-618,1996年10月
  • Time Evolution of Surface Topography Around a Domain Wall in Ferroelectric (NH2CH2COOH)3H2SO4,Junji Ohgami,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Eiji Nakamura,Hiroshima University,Toru Ozaki,Hiroshima University,Jpn.J.Appl.Phys., Vol.35, No.9B, pp.5174-5177,1996年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Feasibility Study on a Novel Type of Computerized Tomography Based on Scanning Probe Microscope,Takayuki Ohta,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Jpn.J.Appl.Phys., Vol.35, No.9B, pp.L1222-L1244,1996年09月,研究論文(学術雑誌)
  • 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? -- 試作と像解釈のノウハウ(1) --,森田清三,菅原康弘,大田昌弘,表面科学, Vol.17, No.9, pp.559-561,1996年09月
  • 原子間力顕微鏡の新展開,森田清三,菅原康弘,大田昌弘,上山仁司,内橋貴之,日本学術振興会将来加工技術第136委員会第2部会(マイクロ電子デバイス生成加工技術)第10回研究会資料, pp.1-8,1996年08月
  • Determination of Sign of Surface Charges of Ferroelectric TGS Using Electrostatic Force Microscope Combined with the Voltage Modulation Technique,Junji Ohgami,Yasuhiro Sugawara,Seizo Morita,Eiji Nakamura,Hiroshima University,Toru Ozaki,Hiroshima University,Jpn.J.Appl.Phys., Vol.35, Part.1, No.5A, pp.2734-2739,Vol. 35,No. 5,p. 2734-2739,1996年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Proximity Effects of Negative Charge Groups Contact Electrified on Thin Silicon Oxide in Air,Takayuki Uchihashi,Takahiro Okusako,Yasuhiro Sugawara,Yoshiki Yamanishi,Sumitomo Metal,Industries, Lt,Takahiko Oasa,umitomo Metal,Industries,Seizo Morita,J.Appl.Phys., Vol.79, No.8, pp.4174-4177,1996年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Correlation between Contact-Electrified Charge Groups on a Thin Silicon Oxide,Takayuki Uchihashi,Takahiro Okusako,Yasuhiro Sugawara,Yoshiki Yamanishi,Sumitomo Metal,Industries, Lt,Takahiko Oasa,umitomo Metal,Industries,Seizo Morita,J.Vac.Sci.Technol.B, Vol.14, No.2, pp.1055-1059,1996年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic Resolution Imaging of InP(110) Surface Observed with Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope in Noncontact Mode,Yasuhiro Sugawara,Masahiro Ohta,Hitoshi Ueyama,Seizo Morita,Fukunobu Osaka,ctronics Technology Research Laboratory,Shunsuke Ohkouchi,Optoelectronics Technology Research Laboratory,Mineharu Suzuki (NTT,Shuzo Mishima,Olympus Optical Co,J.Vac.Sci.Technol.B, Vol.14, No.2, pp.953-956,1996年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Phase Transition of Contact-Electrified Negative Charges on a Thin Silicon Oxide in Air,Yoshinobu Fukano,Yasuhiro Sugawara,Takayuki Uchihashi,Takahiro Okusako,Seizo Morita,Yoshiki Yamanishi,Sumitomo Metal,Industries,L,Takahiko Oasa,umitomo Metal,Industries,Jpn.J.Appl.Phys., Vol.35, Part.1, No.4A, pp.2394-2401,Vol. 35,No. 4,p. 2394-2401,1996年04月,研究論文(学術雑誌)
  • 「大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには?-試作と像解釈のノウハウ(3)-」,森田清三,菅原康弘,大田昌弘,表面科学会、表面科学,1996年01月
  • 「摩擦力顕微鏡 -ミクロな摩擦力の解釈-」,森田清三,菅原康弘,藤沢悟,大田昌弘,上山仁司,表面科学会、表面科学,1996年01月
  • Development of 3-D Atomic Force Computer Tomography Microscope,T.Ohta,Y.Sugawara,S.Morita,T.Okada,1996年01月
  • Load dependence of the periodicity in friction force images on the NaF(100) surface,S.Fujisawa,Y.Sugawara,S.Morita,1996年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Spatially quantized friction with a lattice periodicity,S.Morita,S.Fujisawa,Y.Sugawara,1996年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Feasibility Study on Novel Type of Computerized Tomography Based on Scanning Probe Microscope,菅原康弘,35/9B,L1222,Japanese Journal of Applied Physics,1996年,研究論文(学術雑誌)
  • Contact and non-contact mode imaging by atomic force microscopy,菅原康弘,273/,138,Thin Solid Films,1996年,研究論文(学術雑誌)
  • Time Evolution of Surface Topography around Domain Wall in Ferroelectric (NH┣D22┫D2CH┣D22┫D2COOH)┣D23┫D2・H┣D22┫D2SO┣D24┫D2,菅原康弘,35/9B,5174,Japanese Journal of Applied Physics,1996年,研究論文(学術雑誌)
  • Density saturation of densely contact-electrified negative Charges on a thin silicon oxide sample due to the Coulomb upulsive force,菅原康弘,74/5,1339,Philosophical Magazine A,1996年,研究論文(学術雑誌)
  • Determination of Sign of Surface Charges of Ferroelectric TGS Using Electrostatec Microscope Combined with the Voltage Modulation Technique,菅原康弘,35/5A,2734,Japanese Journal of Applied Physics,1996年,研究論文(学術雑誌)
  • Phase Transition of Contact-Electrified Negative Charges on Thin Silicon Oxide in Air,菅原康弘,35/4A,2394,Japanese Journal of Applied Physics,1996年,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic resolution imaging of IuP(110)surface observed with ultrahigh vacuum atomic force microscope in noncontact mode,菅原康弘,14/2,953,Journal of Vacuum Science & Technology B,1996年,研究論文(学術雑誌)
  • Covvelation between contact-electrified change groups on a thin silicon oxide,菅原康弘,14/2,1055,Jourmal of Vacuum Science & Technology B,1996年,研究論文(学術雑誌)
  • Proximity effects of negative chaige groups contact-electrified on thin silicon oxide in air,菅原康弘,79/8,4174,Journal of Applied Physics,1996年,研究論文(学術雑誌)
  • Noncontact Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope Combined with Scanning Tunneling Microscope,Seizo Morita,Yasuhiro Sugawara,Masahiro Ohta,Hitoshi Ueyama,Takayuki Uchihashi,Proc. of Satellite Workshop of 9th International Conference on Solid Surfaces, pp.28-31,1995年10月
  • 「非接触モード超高真空原子間力顕微鏡による化合物半導体表面の原子分解能観察」,菅原康弘,大田昌弘,上山仁司,森田清三,真空学会、真空,1995年01月
  • 「超高真空原子間力顕微鏡による化合物半導体へき開面の接触および非接触原子分解能観察」,大田昌弘,上山仁司,菅原康弘,森田清三,応用物理学会,1995年01月
  • 「2次元摩擦力顕微鏡による量子トライボロジー」,藤沢 悟,岸 栄吾,菅原康弘,森田清三,日本物理学会誌,1995年01月
  • Noncontact UHV-AFM Imaging of InP(110) Surface with Atomic Resolution,S.Morita,M.Ohta,H.Ueyama,Y.Sugawara,1995年01月
  • Contrast of Atomic-Resolution Images from a Noncontact Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscope,M.Ohta,H.Ueyama,Y.Sugawara,S.Morita,1995年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Defect Motion on an InP(110) Surface Observed with Noncontact Atomic Force Microscopy,Y.Sugawara,M.Ohta,H.Ueyama,S.Morita,1995年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomically Resolved InP(110) Surface Observed with Noncontact Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope,H.Ueyama,M.Ohta,Y.Sugawara,S.Morita,1995年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Two-dimensional quantized friction observed with two-dimensional frictional force microscope,S.Fujisawa,E.Kishi,Y.Sugawara,S.Morita,1995年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Load dependence of two-dimensionally atomic-scale friction,S.Fujisawa,E.Kishi,Y.Sugawara,S.Morita,1995年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Two-dimensionally discrete friction on NaF(100) surface with the lattice periodicity,S.Fujisawa,E.Kishi,Y.Sugawara,S.Morita,1995年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomically Resolved Image of Cleaved Surface of Compound Semiconductors Observed with an Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope,M.Ohta,Y.Sugawara,F.Osaka,S.Ohkouchi,M.Suzuki,S.Mishima,T.Okada,S.Morita,1995年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic-scale friction observed with two-dimensional frictional force microscope,S.Fujisawa,E.Kishi,Y.Sugawara,S.Morita,1995年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic-Resolution Image of ZnSSe(110) Surface with anUltrahigh-Vacuum Atomic Force Microscope (UHV-AFM),Y.Sugawara,M.Ohta,H.Ueyama,S.Morita,1995年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Lateral force curve for atomic force/lateral force microscope calibration,S.Fujisawa,E.Kishi,Y.Sugawara,S.Morita,1995年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Defect Motion on an Inp(110)Surface Observed with Noncontact Atomic Fora Microscopy,菅原康弘,270/,1949,Science,1995年,研究論文(学術雑誌)
  • 「原子間力顕微鏡による表面の研究」,森田清三,藤沢 悟,岸 栄吾,菅原康弘,日本トライボロジー学会誌『トライボロジスト』,1994年01月
  • 「原子間力顕微鏡は何を見てる?」,森田清三,菅原康弘,パリティ,1994年01月
  • 「半導体表面のAFM/STM観察」,森田清三,菅原康弘,深野善信,内橋貴之,ウルトラクリーンテクノロジー[半導体基盤技術研究会],1994年01月
  • 「FFM」,森田清三,菅原康弘,藤沢 悟,「機械の研究」(養賢堂)1994年新年特集号,1994年01月
  • 「AFM/STM」,森田清三,菅原康弘,深野善信,「機械の研究」(養賢堂),1994年01月
  • Charge Storage by Contact Electrification on Thin SrTiO3 Film,T.Uchihashi,T.Okusako,T.Tsuyuguchi,Y.Sugawara,M.Igarashi,R.Kaneko,S.Morita,1994年01月
  • Local Dielectric Breakdown of Thin Silicon Oxide by Dense Contact Electrification,Y.Fukano,T.Uchihashi,T.Okusako,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,S.Morita,1994年01月
  • Observation of Positively Charged Trap Site in Silicon Oxide Layer with an Atomic Force Microscope,Y.Fukano,T.Okusako,T.Uchihashi,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,S.Morita,1994年01月
  • Investigation of Trapped Charges in Silicon Oxide Layer with an Atomic Force Microscope,Y.Fukano,Y.Uchihashi,T.Okusako,K.Hontani,A.Chayahara,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,S.Morita,1994年01月
  • Parameter Dependence of Stable State of Densely Contact-Electrified Electrons on Thin Silicon Oxide,Parameter Dependence of,Stable State of,Densely Contact-Electrified Electrons on Thin,Silicon Oxide,Vol. 33,No. 12,p. 6739-6745,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Potentiometry Combined with Atomic Force Microscope,T.Uchihashi,Y.Fukano,Y.Sugawara,S.Morita,A.Nakano,T.Ida,T.Okada,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Charge Storage on Thin SrTiO3 Film by Contact Electrification,T.Uchihashi,T.Okusako,T.Tsuyuguchi,Y.Sugawara,M.Igarashi,R.Kaneko,S.Morita,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Ultrahigh vacuum atomic force microscope with sample cleaving mechanism,Ultrahigh vacuum,atomic force microscope,with sample cleaving mechanism,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic force microscopy studies of contact-electrified charges on silicon oxide film,Y.Sugawara,Y.Fukano,T.Uchihashi,S.Morita,Y.Yamanishi,T.Oasa,T.Okada,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Heat Treatment and Steaming Effects of Silicon Oxide upon Electron Dissipation on Silicon Oxide Surface,T.Uchihashi,T.Okusako,Y.Sugawara,Y.Yamanashi,T.Oasa,S,Morita,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Dissipation of Contact Electrified Electrons on Dielectric Thin Films with Silicon Substrate,T.Okusako,T.Uchihashi,A.Nakano,T.Ida,Y.Sugawara,S.Morita,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Contact Electrification on Thin Silicon Oxide in a Vacuum,T.Tsuyuguchi,T.Uchihashi,T.Okusako,Y.Sugawara,S.Morita,Y.Yamanishi,T.Oasa,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Time Evolution of Contact-Electrified Electron Dissipation on Silicon Oxide Surface Investigated Using Noncontact Atomic Force Microscope,Y.Fukano,T.Uchihashi,T.Okusako,A.Chayahara,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,S.Morita,Vol. 33,No. 1,p. 379-382,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Time Dependent Dielectric Breakdown of Thin Silicon Oxide Using Dense Contact Electrification,Y.Fukano,K.Hontani,Y.Uchihashi,T.Okusako,A.Chayahara,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,S.Morita,Vol. 33,No. 6,p. 3756-3760,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Fluctuation in Two-Dimensional Stick-Slip Phenomenon Observed with Two-Dimensional Frictional Force Microscope,S.Fujisawa,E.Kish,Y.Sugawara,S.Morita,Vol. 33,No. 6,p. 3752-3755,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Observation of GaAs(110) Surface by an Ultrahigh-Vacuum Atomic Force Microscope,Y.Sugawara,M.Ohta,K.Hontani,S.Morita,F.Osaka,S.Ohkouchi,M.Suzuki,H.Nagaoka,S.Mishima,T.Okada,Vol. 33,No. 6,p. 3739-3742,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Contact Electrification on Thin SrTiO3 Film by Atomic Force Microscope,T.Uchihashi,T.Okusako,J.Yamada,Y.Fukano,Y.Sugawara,M.Igarashi,R.Kaneko,S.Morita,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Dissipation of contact-electrified charge on thin Si-oxide studied by atomic force microscope,S.Morita,Y.Fukano,T.Uchihashi,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Difference between the forces measured by an optical lever deflection and by an optical interferometer in atomic force microscope,S.Fujisawa,M.Ohta,T.Konishi,Y.Sugawara,S.Morita,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Spatial distribution of densely contact-electrified charges on a thin silicon oxide,Y.Sugawara,S.Morita,Y.Fukano,T.Uchihashi,T.Okusako,A.Chayahara,Y.Yamanishi,T.Oasa,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Spatial distribution and its phase transition of densely contact-electrified electronson a thin silicon oxide,Y.Sugawara,S.Morita,Y.Fukano,T.Uchihashi,T.Okusako,A.Chayahara,Y.Yamanishi,T.Oasa,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomically Resolved Image of Cleaved GaAs(110) Surface Observed with an Ultrahigh Vacuum Atomic Force Microscope,M.Ohta,Y.Sugawara,K.Hontani,S.Morita,F.Osaka,M.Suzuki,H.Nagaoka,S.Mishima,T.Okada,1994年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Observation of Atomic Defects on LIF(100) Surface with Ultrahigh-Vacuum Atomic-Force Microscope (UHV AFM),M. Ohta,T. Konishi,Y. Sugawara,S. Morita,Japanese Journal of Applied Physics Part 1 - Regular Paers Short Notes & Review Papers,1993年06月,研究論文(学術雑誌)
  • Observation of Atomic Defects on LIF(100) Surface with Ultrahigh-Vacuum Atomic-Force Microscope (UHV AFM),M. Ohta,T. Konishi,Y. Sugawara,S. Morita,Japanese Journal of Applied Physics Part 1 - Regular Paers Short Notes & Review Papers,1993年06月,研究論文(学術雑誌)
  • 「AFM/STMによる半導体の複合観察」,森田清三,菅原康弘,深野善信,日本結晶学会誌,1993年01月
  • Time Evolution of Electrostatic Force Induced by Contact-Electrified Charges on Thin Silicon Oxide Surface,Y.Fukano,T.Uchihashi,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,S.Morita,1993年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Time-Evolution of Contact-Eelectrified Charges on Silicon Oxide Film Studied with AFM,Y.Sugawara,Y.Fukano,T.Uchihashi,T.Okusako,S.Morita,Y.Yamanishi,T.Oasa,1993年01月
  • Study on the Stick-slip Phenomenon on a Cleaved Surface of the Muscovite Mica Using an Atomic Force /Lateral Force Microscope,S.Fujisawa,Y.Sugawara,S.Morita,S.Ito,S.Mishima,T.Okada,1993年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Origin of the Force Measured by an Atomic Force/Lateral Force Microscope(AFM/LFM),S.Fujisawa,Y.Sugawara,S.Morita,1993年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Two-dimensional stick-slip phenomenon with atomic resolution,S.Fujisawa,Y.Sugawara,S.Itoh,S.Mishima,T.Okada,S.Morita,1993年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Stable-unstable phase transition of densely contact-electrified electrons on a thin silicon oxide,S.Morita,Y.Sugawara,Y.Fukano,T.Uchihashi,T.Okusako,A.Chayahara,Y.Yamanishi,T.Oasa,1993年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Reproducible and Controllable Contact Electrification on a Thin Insulator,S.Morita,Y.Fukano,T.Uchihashi,T.Okusako,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,1993年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Effects of humidity and tip radius on the adhesive force measured with atomic force microscopy,Y.Sugawara,M.Ohta,T.Konishi,S.Morita,M.Suzuki,Y.Enomoto,1993年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic Force Microscope Combined with Scanning Tunneling Microscope [AFM/STM],S.Morita,Y.Sugawara,Y.Fukano,Vol. 32,No. 6,p. 2983-2988,1993年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Observation of atomic defect on LiF(100) surface with UHV AFM,M.Ohta,T.Konishi,Y.Sugawara,S.Morita,M.Suzuki,Y.Enomoto,1993年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Scanning Force / Tunneling Microscopy as a Novel Technique for the Study of Nanometer-Scale Dielectric Breakdown of Silicon Oxide Layer,Y.Fukano,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.Oasa,S.Morita,Vol. 32,No. 1,p. 290-293,1993年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Scanning Force / Tunneling Microscopy (AFM/STM),S.Morita,Y.Sugawara,Y.Fukano,1992年01月
  • Scanning Force Microscopy in the UHV Environment,Y.Sugawara,M.Ohta,Y.Kamihara,S.Morita,M.Suzuki,Y.Enomoto,1992年01月
  • Observation of the Surface by Using AFM/STM,Y.Sugawara,S.Morita,1992年01月
  • AFM/STM Investigation of pn Junctions Formed by Ion Implantation,Y.Sugawara,Y.Fukano,S.Morita,A.Nakano,T.Ida,1992年01月
  • Nanometer Resolution Measurement of Dielectric Breakdown of Silicon Dioxide Films with AFM/STM,Y.Fukano,Y.Sugawara,S.Morita,Y.Yamanishi,d T,O,1992年01月
  • AFM/STM investigation of polycrystalline Si surface,Y.Sugawara,Y.Fukano,Y.Kamihara,S.Morita,A.Nakano,T.Ida,R.Kaneko,1992年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Oxidation Site of Polycrystalline Silicon Surface Studied Using Scanning Force/Tunneling Microscope (AFM/STM) in Air,Y.Sugawara,Y.Fukano,A.Nakano,T.Ida,S.Morita,1992年01月,研究論文(学術雑誌)
  • In Situ Imaging of Electrochemical Deposition of Ag on Au(111),K.Endo,Y.Sugawara,S.Mishima,T.Okada,S.Morita,Vol. 30,No. 10,p. 2592-2593,1991年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Scanning force/tunneling microscopy of a graphite surface in air,Y.Sugawara,T.Ishizaka,S.Morita,1991年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Origin of Anomalous Corrugation Height of STM Images of Graphite,Y.Sugawara,T.Ishizaka,S.Morita,Vol. 29,No. 8,p. 1533-1538,1990年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Simultaneous Imaging of a Graphite Surface with Atomic Force/Scanning Tunneling Microscope (AFM/STM),Y.Sugawara,T.Ishizaka,S.Morita,Vol. 29,No. 8,p. 1539-1543,1990年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Anomalous Force Dependence of AFM Corrugation Height of a Graphite Surface in Air,T.Ishizaka,Y.Sugawara,K.Kumagai,S.Morita,1990年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Anomalous Corrugation Height of Atomically Resolved AFM Images of a Graphite Surface,Y.Sugawara,T.Ishizaka,S.Morita,S.Imai,N.Mikoshiba,1990年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Simultaneous Observation of Atomically Resolved AFM/STM Images of a Graphite Surface,Y.Sugawara,T.Ishizaka,S.Morita,S.Imai,N.Mikoshiba,1990年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Surface Imaging in Air with a Force Microscope,T.Ishizaka,S.Morita,Y.Sugawara,T.Okada,S.Mishima,S.Imai,N.Mikoshiba,1990年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Differential Conductance Imaging under AC Tunneling Bias,A.Yagi,S.Tsukada,Y.Takahashi,Y.Sugawara,S.Morita,T.Okada,S.Imai an,N.Mikoshiba,1990年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Surface Conductance of Metal Surfaces in Air Studied with a Force Microscope,S.Morita,T.Ishizaka,Y.Sugawara,T.Okada,S.Mishima,S.Imai,N.Mikoshiba,1989年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Performance of Concave Transducers in Acoustic Microscopy,Y.Sugawara,J.Kushibiki,N.Chubachi,Vol. 1988,No. 2,p. 751-756,1988年01月
  • Theoretical Analysis on Acoustic Fields Formed by Focusing Devices in Acoustic Microscopy,Y.Sugawara,J.Kushibiki,N.Chubachi,1986年01月
  • Off-Centric Concave Transducer for Acoustic Microscopy,N.Chubachi,J.Kushibiki,Y.Sugawara,1986年01月

著書

  • 学術書,Kelvin Probe Force Microscopy From Single Charge Detection to Device Characterization,Yan Jun Li,Haunfei Wen,Zong Min Ma,Lili Kou,Yoshitaka Naitoh,Yasuhiro Sugawara,Springer Series in Surface Science,2018年03月
  • 学術書,新アクチュエータ開発の最前線,菅原康弘,李艶君,内藤賀公,エヌ・ティー・エヌ,2011年08月
  • 学術書,Next Generation Actuators Leading Breakthroughs,Y. Sugawara,Y. J. Li,Y. Naitoh,M. Kageshima,Springer,2010年01月
  • 学術書,走査プローブ顕微鏡,菅原 康弘,共立出版,2009年03月
  • 学術書,ナノイメージング,菅原 康弘,エヌ・ティー・エヌ,2008年05月
  • 学術書,ナノテクノロジー入門シリーズ ナノテクのための物理入門 極限微小系のナノ物性測定:AFM,菅原 康弘,共立出版,2007年04月
  • 学術書,表面物性工学ハンドブック 6.3AFM 6.3.2装置と測定法 6.3.3-1観察例1 6.4.2FFM(friction force microscopy)19.4 AFMマニピュレーション,菅原 康弘,丸善株式会社,2007年01月
  • 学術書,"Roadmap of Scanning Probe Microscopy" 3.Atomic Force Microscopy(AFM),Y.Sugawara,Springer,2006年08月
  • 学術書,"Noncontact Atomic Force Microscopy"Applied Scanning Probe Methods VI Characterization,Y.Sugawara,Springer,2006年07月
  • 学術書,「走査型プローブ顕微鏡―最新技術と未来予測―」2.2原子間力顕微鏡(AFM),菅原 康弘,丸善株式会社,2005年12月
  • 学術書,実践ナノテクノロジー「走査プローブ顕微鏡と局所分光」第7章:局所分光の実践例 1節:有機・バイオ分子の解析,松本卓也,川合知二,裳華房、総ページ数429(p.371-388) (2005.11.20),2005年11月
  • 学術書,光ナノテクノロジー―近接場光学・微細加工の原理から最先端研究まで―「光と半導体」,菅原 康弘,アドスリー,2005年04月
  • 学術書,Scanning Probe Microsocopy: Chracterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Part III Application of Scanning Techniques to Functional Materials "Microscale Contact Charging on a Silicon Oxide",S. Morita,T. Uchihashi,K. Okamoto,M. Abe,Y. Sugawara,Kluwer Academic Publishers,2004年12月
  • 学術書,Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Part II Fundamentals of Scanning Probe Techniques "Functions of NC-AFM on Atomic Scale",S. Morita,N. Oyabu,T. Nishimoto,R. Nishi,O. Custance,I. Yi,Y. Sugawara,Kluwer Academic Publishers,2004年12月
  • 学術書,「新改訂・表面科学基礎と応用」2編4章表面分析法、5節ナノプローブ法、4原子間力顕微鏡(AFM),菅原 康弘,(株)エヌ・ティー・エス,2004年06月
  • 学術書,「ナノ光工学ハンドブック」,菅原康弘,朝倉書店,2002年01月
  • 学術書,「ナノの光で原子を読む」,菅原康弘,㈱クバプロ,2002年01月
  • 学術書,「ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡」,菅原康弘,丸善,2002年01月
  • 学術書,「イオン工学ハンドブック」,菅原康弘,(株)イオン工学研究所,2002年01月
  • 学術書,Noncontact Atomic Force Microscopy,Y.Sugawara,Springer,2002年01月
  • 学術書,Noncontact Atomic Force Microscopy,S.Morita,Y.Sugawara,Springer,2002年01月
  • 学術書,Optical and Electronic Process of Nano-matters,S. Morita,Y. Sugawara,Kluwer Academic Publishers,2001年01月
  • 学術書,Fundamentals of Tribology and Bridging the Gap between Micro- and Micro/Nanoscales,S. Morita,Y. Sugawara,K. Yokoyama,S. T.Uchihashi,Kluwer Academic Publishers,2001年01月
  • 学術書,Fundamentals of Tribology and Bridging the Gap between Micro- and Micro/Nanoscales,S. Morita,Y. Sugawara,K. Yokoyama,S. Fujisawa,Kluwer Academic Publishers,2001年01月
  • 学術書,「近接場ナノフォトニクス入門」,大津元一,河田聡,(株)オプトロニクス社,2000年04月
  • 教科書・概説・概論,「走査型プローブ顕微鏡 -基礎と未来予測-」,菅原康弘,森田清三,丸善(株),2000年02月
  • 学術書,「電気・電子材料のトライボロジー」,森田清三,菅原康弘,(株)リアライズ社,1999年03月
  • 学術書,「近接場ナノフォトニクスハンドブック,大津元一,河田聡,(株)オプトロニクス社,1997年09月
  • 学術書,「近接場ナノフォトニクスハンドブック」,大津元一,河田聡,株)オプトロニクス社,1997年09月
  • 学術書,Forces in Scanning Probe Methods,S. Fujisawa,E. Kishi,Y. Sugawara,S. Morita,Kluwer Academic Publishers,1995年01月
  • 学術書,Forces in Scanning Probe Methods,Y. Sugawara,M. Ohta,K. Hontani,S. Morita,F. Osaka,S. Ohkouchi,M. Suzuki,H. Nagaoka,Kluwer Academic Publishers,1995年01月
  • 学術書,Forces in Scanning Probe Methods,Y. Sugawara,S. Morita,Y. Fukano,T. Uchihashi,T. Okusako,A. Chayahara,Y. Yamanishi,T. Oasa,Kluwer Academic Publishers,1995年01月
  • 学術書,「走査型トンネル顕微鏡/原子間力顕微鏡利用技術集成」,森田清三,菅原康弘,深野善信,(株)ティー・アイ・シィー,1994年07月

特許・実用新案・意匠

  • 高速でヒシテリシスのない圧電素子の高速制御,菅原康弘,影島賢巳,2006-205376,出願日:2006年07月
  • 走査型プローブ顕微鏡,菅原 康弘,特開平10-48224,出願日:1998年02月
  • 走査型プローブ顕微鏡,松山克宏,酒井信明,森田清三,菅原康弘,H10-48224,出願日:1996年08月
  • 走査型プローブ顕微測定法および走査型プローブ顕微鏡,菅原 康弘,特開平7-159155,出願日:1995年06月
  • 原子間力顕微鏡,菅原 康弘,特開平6-180222,出願日:1994年06月
  • 走査型プローブ顕微鏡,菅原 康弘,特開平04-212252,出願日:1992年08月
  • 走査型プローブ顕微鏡,菅原 康弘,特開平03-277903,出願日:1991年12月
  • 走査型プローブ顕微鏡,八木明,岡田孝夫,菅原康弘,H04-212252,出願日:1991年03月
  • 走査型プローブ顕微鏡,森田清三,菅原康弘,岡田孝夫,H03-277903,出願日:1990年03月

受賞

  • ナノプローブテクノロジー賞,菅原康弘,日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会,1999年05月
  • (財)安藤研究所第5回安藤博記念学術奨励賞,菅原 康弘,1992年
  • (財)金属研究助成会第30回金属研究助成金研究奨励賞,菅原 康弘,1990年

学術貢献

  • The 4th International Symposium on Ubiquitous Knowledge Network Environment,2007年03月 ~
  • 日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会企画,2006年03月 ~
  • CHINA-JAPAN SALC 2006,2006年03月 ~
  • 光メカトロニクス公開シンポジウム,2005年10月 ~
  • 日本学術振興会薄膜第131委員会基礎講座「薄幕評価技術」,2005年10月 ~
  • 全科展in大阪2005およびバイオフォーラム2005大阪,2005年10月 ~
  • 研究会「走査プローブ顕微鏡の最前線とシュミレータ」,2005年03月 ~
  • 有機バイオSPM研究会,2004年11月 ~
  • 日本物理学会2003年秋季大会,2003年09月 ~
  • 社団法人新化学発展協会、新素材技術部会,2003年09月 ~
  • IIP/ISPS Joint MIPE 2003,2003年06月 ~
  • 平成15年度春季応用物理学関連連合講演会,2003年03月 ~
  • 日本トライボロジー学界、マイクロマシンのトライボロジー研究会,2003年03月 ~
  • Japan-US Symposium on Tools and Metrology for NanoTechnology,2003年01月 ~
  • 電子情報通信学会東北支部学術講演会,2002年11月 ~
  • NC-AFM 2002,2002年08月 ~