顔写真

顔写真

毎田 修
Maida Osamu
毎田 修
Maida Osamu
工学研究科 電気電子情報通信工学専攻,助教

経歴 5

  1. 2007年4月1日 ~ 継続中
    大阪大学 工学研究科 電気電子情報工学専攻 助教

  2. 2006年4月 ~ 継続中
    大阪大学・大学院工学研究科・助手

  3. 2006年4月1日 ~ 2007年3月31日
    大阪大学 工学研究科 電気電子情報工学専攻 助手

  4. 2000年10月1日 ~ 2006年3月31日
    大阪大学 産業科学研究所 助手

  5. 2000年10月 ~ 2006年3月
    大阪大学・産業科学研究所・助手

所属学会 3

  1. 日本放射光学会

  2. 応用物理学会

  3. 日本物理学会

論文 101

  1. Compressed Sensing EEG Measurement Technique with Normally Distributed Sampling Series

    Yuki OKABE, Daisuke KANEMOTO, Osamu MAIDA, Tetsuya HIROSE

    IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences Vol. E105.A No. 10 p. 1429-1433 2022年10月1日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Institute of Electronics, Information and Communications Engineers (IEICE)
  2. Image Quality Improvement for Capsule Endoscopy Based on Compressed Sensing with K-SVD Dictionary Learning

    Yuuki HARADA, Daisuke KANEMOTO, Takahiro INOUE, Osamu MAIDA, Tetsuya HIROSE

    IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences Vol. E105.A No. 4 p. 743-747 2022年4月1日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Institute of Electronics, Information and Communications Engineers (IEICE)
  3. Characterization of deep interface states in SiO2/B-doped diamond using the transient photocapacitance method

    Osamu Maida, Daiskuke Kanemoto, Tetsuya Hirose

    Thin Solid Films Vol. 741 p. 139026-139026 2022年1月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier BV
  4. A self-bias NAND gate and its application to non-overlapping clock generator for extremely low-voltage CMOS LSIs

    Hikaru Sebe, Kaori Matsumoto, Ryo Matsuzuka, Osamu Maida, Daisuke Kanemoto, Tetsuya Hirose

    Japanese Journal of Applied Physics Vol. 60 No. SB p. SBBL06-SBBL06 2021年5月1日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:IOP Publishing
  5. A 35-mV supply ring oscillator consisting of stacked body bias inverters for extremely low-voltage LSIs

    Masaya Nishi, Kaori Matsumoto, Nobutaka Kuroki, Masahiro Numa, Hikaru Sebe, Ryo Matsuzuka, Osamu Maida, Daisuke Kanemoto, Tetsuya Hirose

    IEICE ELECTRONICS EXPRESS Vol. 18 No. 6 2021年3月 研究論文(学術雑誌)

  6. An 11.8 nA ultra-low power active diode using a hysteresis common gate comparator for low-power energy harvesting systems

    Kaori Matsumoto, Hiroki Asano, Yuichiro Nakazawa, Nobutaka Kuroki, Masahiro Numa, Osamu Maida, Daisuke Kanemoto, Tetsuya Hirose

    IEICE Electronics Express Vol. 17 No. 11 p. 20200103-20200103 2020年6月10日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Institute of Electronics, Information and Communications Engineers (IEICE)
  7. A 34-mV Startup Ring Oscillator Using Stacked Body Bias Inverters for Extremely Low-Voltage Thermoelectric Energy Harvesting

    Masaya Nishi, Kaori Matsumoto, Nobutaka Kuroki, Masahiro Numa, Hikaru Sebe, Ryo Matsuzuka, Osamu Maida, Daisuke Kanemoto, Tetsuya Hirose

    2020 18th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS) 2020年6月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

    出版者・発行元:IEEE
  8. Sub-0.1V Input, Low-Voltage CMOS driver circuit for multi-stage switched capacitor voltage boost converter

    Masaya Nishi, Yuichiro Nakazawa, Kaori Matsumoto, Nobutaka Kuroki, Masahiro Numa, Ryo Matsuzuka, Osamu Maida, Daisuke Kanemoto, Tetsuya Hirose

    2019 26th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, ICECS 2019 p. 530-533 2019年11月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  9. Transient photocapacitance measurement for characterization of deep defects in B-doped diamond films

    Osamu Maida, Ryosuke Yamashita

    2019年7月

  10. Development of Highly-Sensitive Transient Photocapacitance Mesurement System for Deep Defects in Boron-Doped Diamond (100) Films

    Kenta Miyawaki, Ryosuke Yamashita, Taishi Kodama, Osamu Maida

    2018 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK) 2018年6月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

    出版者・発行元:IEEE
  11. Characterization of the high-quality CVD diamond films for quantum information device

    Osamu Maida, Toshimichi Ito

    2018年2月

  12. Improvement on p-type CVD diamond semiconducting properties by fabricating thin heavily-boron-doped multi-layer clusters isolated each other in unintentionally boron-doped diamond layer

    Osamu Maida, Tomohiro Tabuchi, Toshimichi Ito

    Journal of Crystal Growth Vol. 480 p. 51-55 2017年12月15日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier B.V.
  13. Characterization of deep defects in boron-doped CVD diamond films using transient photocapacitance method

    Osamu Maida, Takanori Hori, Taishi Kodama, Toshimichi Ito

    Materials Science in Semiconductor Processing Vol. 70 p. 203-206 2017年11月1日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier Ltd
  14. Behavior of nitrogen-related luminescence centers in laser-cut single-crystalline diamond under irradiation with keV electron beam

    Kenji Maruoka, Taiki Naito, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    MRS Advances Vol. 2 No. 43 p. 2355-2360 2017年 研究論文(国際会議プロシーディングス)

    出版者・発行元:Materials Research Society
  15. Transient photocapacitance study of deep-level defects in boron-doped diamond films

    O. Maida, T. Hori, T. Kodama, T. Ito

    2016年9月

  16. Characterization of Deep Defects in Boron-Doped CVD Diamond Films Using Transient Photocapacitance Method

    O. Maida, T. Hori, T. Kodama, T. Ito

    2016年6月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  17. Substrate temperature optimization for heavily-phosphorus-doped diamond films grown on vicinal (001) surfaces using high-power-density microwave-plasma chemical-vapor-deposition

    Osamu Maida, Shuhei Tada, Haruki Nishio, Toshimichi Ito

    Journal of Crystal Growth Vol. 424 p. 33-37 2015年8月15日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  18. Characterization of boron-doped CVD diamond films using transient photocapasitance method

    O. Maida, T. Hori, T. Ito

    2015年5月

  19. Mutual relation among lattice distortion, Hall effect property and band edge cathodoluminescence of heavily-boron-doped microwave-plasma CVD diamond films homoepitaxially grown on vicinal (001) high-pressure/high-temperature-synthesized Ib substrates

    Reona Mori, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    Journal of Crystal Growth Vol. 415 p. 84-92 2015年4月1日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  20. 単結晶CVDダイヤモンド積層構造の半導体特性における高濃度ホウ素ドープ薄膜層の分散状態依存性

    田渕 智大, 毎田 修, 伊藤 利道

    表面科学学術講演会要旨集 Vol. 35 p. 127-127 2015年

    出版者・発行元:公益社団法人 日本表面科学会
  21. High growth rate deposition of phosphorus-doped homoepitaxial (001) diamond films for deep-ultraviolet light emitting device

    Osamu Maida, Shuhei Tada, Toshimichi Ito

    Thin Solid Films Vol. 557 p. 227-230 2014年4月30日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  22. ホモエピCVDダイヤモンドの研究動向

    伊藤 利道, 毎田 修

    2013年4月

  23. Growth and characterization of heavily phosphorus-doped homoepitaxial (001) diamond films for deep-ultraviolet light emitting device

    O. Maida, S. Tada, T. Ito

    2013年1月

  24. Microwave-plasma chemical-vapor-deposition homoepitaxial processes suitable for heavily p-doped diamond films on vicinal (001) surfaces

    S. Tada, H. Nishio, O. Maida, T. Ito

    2012年10月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  25. Carrier transport property of heavily boron-doped degenerate diamond single-crystalline thin layers etched with hydrogen plasma

    T. Kuki, O. Maida, T. Ito

    2012年9月

  26. Sensitivity improvement of γ-ray detector fabricated with self-standing CVD diamond by attaching heavy element film

    Hidenori Sato, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    Diamond and Related Materials Vol. 29 p. 2-7 2012年9月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  27. Survey meter combining CVD diamond and silicon detectors for wide range of dose rates and high accumulated doses

    Hidenori Sato, Akihito Yamaguchi, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    Radiation Measurements Vol. 47 No. 4 p. 266-271 2012年4月 研究論文(学術雑誌)

  28. Improvement of Crystalline Quality of CVD Diamond and Its Application to Electronic Devices

    Toshimichi Ito, Hidenori Sato, Osamu Maida

    2011年12月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  29. Improvement on p-type Performance of CVD Diamond by Isolating Thin Heavily-boron-doped Layer as Innumerable Islands

    Osamu Maida, Masayuki Aono, Toshimichi Ito

    2011年11月

  30. Performance of Radiation-Tolerant Diamond Detector Fabricated with Self-standing Single-crystalline CVD Film

    H. Sato, A. Yamaguchi, O. Maida, T. Ito

    2011年11月

  31. Growth of Phosphorus-Doped Homoepitaxial CVD Diamond on Vicinal (001) Substrates

    Haruki Nishio, Shuhei Tada, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    2011年11月

  32. Improvement on Device Performance of Lateral p-i-p Diamond Transistors with Underlain Thin Nitrogen-Doped Layer

    Takafumi Ukida, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    Vol. 2 p. 159-160 2011年11月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  33. Hall data analysis of heavily boron-doped CVD diamond films using a model considering an impurity band well separated from valence bands

    Masayuki Aono, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    Diamond and Related Materials Vol. 20 p. 1357-1362 2011年10月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  34. Structure optimization of diamond personal dosimeters based on Monte Carlo simulations

    Hidenori Sato, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    Diamond and Related Materials Vol. 20 No. 2 p. 140-144 2011年2月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  35. Reduced influences of the HPHT substrates on the electronic quality of homoepitaxial CVD diamond layers and on their ultraviolet detector performance

    Osamu Maida, Hidenori Sato, Masayuki Kanasugi, Shota Iguchi, Toshimichi Ito

    Diamond and Related Materials Vol. 20 No. 2 p. 242-245 2011年2月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  36. Structure optimization of diamond personal dosimeters based on Monte Carlo simulations

    Hidenori Sato, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    2010年9月

  37. Improvement in low-voltage performance of surface-electrode soft-X-ray detectors composed of undoped homoepitaxial CVD/HPHT Ib diamond layers

    M. Kanasugi, Y. Iwakaji, T. Yamamoto, O. Maida, Y. Takeda, Y. Saitoh, T. Ito

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment Vol. 621 No. 1-3 p. 650-655 2010年 研究論文(学術雑誌)

  38. Electron detection performance of diamond avalanche diode

    Hideo Morishita, Takashi Ohshima, Michio Hatano, Yoko Iwakaji, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    Journal of Vacuum Science and Technology B:Nanotechnology and Microelectronics Vol. 28 No. 6 p. 1169-1172 2010年 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:AVS Science and Technology Society
  39. Self-standing device-quality single-crystalline diamond films on vicinal (001) surfaces fabricated using microwave-plasma chemical-vapor-deposition method

    Shota Iguchi, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    Thin Solid Films Vol. 518 No. 21 p. S38-S41 2010年 研究論文(国際会議プロシーディングス)

    出版者・発行元:Elsevier
  40. Self-standing high-quality single-crystalline diamond films fabricated using high-power microwave-plasma CVD method

    Shota Iguchi, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    2009年7月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  41. Characterization of diamond ultraviolet detectors fabricated with high-quality single-crystalline chemical vapor deposition films

    Y. Iwakaji, M. Kanasugi, O. Maida, T. Ito

    Applied Physics Letters Vol. 94 No. 22 p. 223511-1-223511-3 2009年 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:American Institute of Physics
  42. Homoepitaxial diamond films grown on vicinal substrates

    S. Kawashima, O. Maida, T. Ito

    2008年10月

  43. Performance of stack-type soft-X-ray detectors fabricated with high-quality CVD diamond films

    O. Maida, Y. Iwakaji, M. Kanasugi, S. Iguchi, Y. Takeda, Y. Saitoh, T. Ito

    2008年10月

  44. Characterization of soft-X-ray detectors fabricated with high-quality CVD diamond thin films

    Y. Iwakaji, M. Kanasugi, O. Maida, Y. Takeda, Y. Saitoh, T. Ito

    Applied Surface Science Vol. 254 No. 19 p. 6277-6280 2008年7月30日 研究論文(学術雑誌)

  45. Characterization of phosphorus-doped homoepitaxial (1 0 0) diamond films grown using high-power-density MWPCVD method with a conventional quartz-tube chamber

    Takahiro Nakai, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    Applied Surface Science Vol. 254 No. 19 p. 6281-6284 2008年7月30日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  46. Applications of high quality diamond to radiation detectors

    H. Sato, O. Maida, T. Ito, T. Yamano, T. Kato, S. Matsubara

    2008年7月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  47. 高品質ダイヤモンドセンサ

    伊藤利道, 毎田 修, 寺地徳之

    ニューダイヤモンド Vol. 24 No. 3 2008年7月

    出版者・発行元:株式会社 オーム社
  48. Fabrication and characterization of ultra-violet detectors using high-quality CVD diamond films

    Y. Iwakaji, M. Kanasugi, O. Maida, T. Ito

    2008年5月

  49. Characterization of substrate off-angle effects for high-quality homoepitaxial CVD diamond films

    Osamu Maida, Hidetaka Miyatake, Tokuyuki Teraji, Toshimichi Ito

    Diamond and Related Materials Vol. 17 No. 4-5 p. 435-439 2008年4月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  50. Complete prevention of reaction at HfO2/Si interfaces by 1 nm silicon nitride layer

    H. Kobayashi, K. Imamura, K. Fukayama, S.-S. Im, O. Maida, Y.-B. Kim, H.-C. Kim, D.-K. Choi

    Surf. Sci. 2008年1月 研究論文(学術雑誌)

  51. Complete prevention of reaction at HfO2/Si interfaces by 1 nm silicon nitride layer

    Hikaru Kobayashi, Kentaro Imamura, Ken-ichi Fukayama, Sung-Soon Im, Osamu Maida, Young-Bae Kim, Hyun-Chul Kim, Duck-Kyun Choi

    Surface Science 2008年1月 研究論文(学術雑誌)

  52. High-quality diamond films grown at high deposition rates using high-power-density MWPCVD method with conventional quartz-type chamber

    Takahiro Nakai, Kazuya Arima, Osamu Maida, Toshimichi Ito

    Journal of Crystal Growth Vol. 309 No. 2 p. 134-139 2007年12月1日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  53. Room temperature growth of crystalline Si thin films on nano-scaled substrates using DC magnetron sputtering deposition method

    H. Yamaguchi, O. Maida, T. Ito

    2007年11月

  54. Diffusion control of soft-X-ray-excited carriers in high-quality CVD diamond layers to the HPHT substrate

    M. Kanasugi, Y. Iwakaji, T. Yamamoto, O. Maida, Y. Takeda, Y. Saitoh, T. Ito

    2007年11月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  55. Crystalline quality improvements of the homoepitaxial CVD diamond films on the vicinal substrates

    O. Maida, H. Miyatake, T. Teraji, T. Ito

    2007年11月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  56. Al2O3 微粒子を用いた光閉じ込め構造を有する a-Si 太陽電池の作製

    毎田 修, 岡藤 麻子, 小林 克稔, 小林 光

    真空 2007年8月 研究論文(学術雑誌)

  57. Further improvement in high crystalline quality of homoepitaxial CVD diamond

    H. Miyatake, K. Arima, O. Maida, T. Teraji, T. Ito

    Diamond and Related Materials Vol. 16 No. 4-7 p. 679-684 2007年4月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  58. High-performance diamond soft-X-ray detectors with internal amplification function

    H. Matsubara, Y. Saitoh, O. Maida, T. Teraji, K. Kobayashi, T. Ito

    Diamond and Related Materials Vol. 16 No. 4-7 p. 1044-1048 2007年4月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Elsevier
  59. Preparation of Fluorocarbon Thin Film Deposited by Soft X-Ray Ablation and its Electrical Characteristics and Thermal Stability

    Takeshi Kanashima, Osamu Maida, Norihiro Kohma, Masaki Okumoto, Masato Ueno, Satoshi Kitai, Masanori Okuyama, Haruhiko Ohashi, Yusuke Tamenori

    Applied Surface Science 2006年11月 研究論文(学術雑誌)

  60. A method of observation of low density interface states by means of X-ray photoelectron spectroscopy under bias and passivation by cyanide ions

    H. Kobayashi, T. Sakurai, Y. Yamashita, T. Kubota, O. Maida, M. Takahashi

    Applied Surface Science 2006年8月 研究論文(学術雑誌)

  61. Low temperature formation of SiO<inf>2</inf>/Si structure by nitric acid vapor

    Kentarou Imamura, Osamu Maida, Kensaku Hattori, Masao Takahashi, Hikaru Kobayashi

    Journal of Applied Physics Vol. 100 No. 11 2006年 研究論文(学術雑誌)

  62. Interface states for HfO 2/Si structure observed by x-ray photoelectron spectroscopy measurements under bias

    Osamu Maida, Ken-Ichi Fukayama, Masao Takahashi, Hikaru Kobayashi, Young-Bae Kim, Hyun-Chul Kim, Duck-Kyun Choi

    Applied Physics Letters Vol. 89 No. 12 2006年 研究論文(学術雑誌)

  63. Post-oxidation annealing treatments to improve Si/ultrathin SiO2 characteristics formed by nitric acid oxidation method

    Asuha, Y.-L. Liu, O. Maida, M. Takahashi, H. Kobayashi

    Journal of Electrochemical Society 2004年12月 研究論文(学術雑誌)

  64. Semiconductor surface and interface passivation by cyanide treatment

    H. Kobayashi, M. Takahashi, O. Maida, A. Asano, T. Kubota, J. Ivanco, A. Nakajima, K. Akimoto

    Applied Surface Science 2004年7月 研究論文(学術雑誌)

  65. Removal of copper and nickel contaminants from Si surface by use of cyanide solution

    N. Fujiwara, Y.-L. Liu, T. Nakamura, O. Maida, M. Takahashi, H. Kobayashi

    Applied Surface Science 2004年7月 研究論文(学術雑誌)

  66. Control of flat-band voltage of Si-based metal-oxide-semiconductor diodes by inclusion of cesium ions in silicon dioxide

    T. Kobayashi, K. Tanaka, O. Maida, H. Kobayashi

    Applied Physics Letters 2004年6月 研究論文(学術雑誌)

  67. Nitiric acid oxidation of Si to form ultrathin silicon dioxide layers with a low leakage current density

    H. Kobayashi, Asuha, O. Maida, M. Takahashi, H. Iwasa

    Journal of Applied Physics 2003年11月 研究論文(学術雑誌)

  68. Preparation and Characterization of High-$k$ Praseodymium and Lanthanoid Oxide Thin Films Prepared by Pulsed Laser Deposition

    Satoshi Kitai, Osamu Maida, Takeshi Kanashima, Masanori Okuyama

    Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 42, pages 247-253 Vol. 42 No. 1 p. 247-253 2003年4月 研究論文(学術雑誌)

  69. Preparation and characterization of fluorocarbon thin films deposited by soft X-ray ablation of polytetrafluoroethylene

    Takeshi Kanashima, Osamu Maida, Norinao Kohma, M. Okumoto, Masato Ueno, Satoshi Kitai, Masanori Okuyama, Haruhiko Ohashi

    Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 42, pages L603-L606 2003年4月 研究論文(学術雑誌)

  70. Experimental and theoretical studies of Si-CN bonds to eliminate interface states at Si/SiO2 interface

    O. Maida, A. Asano, M. Takahashi, H. Iwasa, H. Kobayashi

    Surface Science 2003年3月 研究論文(学術雑誌)

  71. Passivation of defect states in Si and Si/SiO2 interface states by cyanide treatment: improvement of characteristics of pin-junction amorphous Si and crystalline Si-based metal-oxide-semiconductor junction solar cells

    N. Fujiwara, T. Fujinaga, D. Niinobe, O. Maida, M. Takahashi, H. Kobayashi

    Acta Physica Slovaca 2003年3月 研究論文(学術雑誌)

  72. Ultrathin silicon dioxide layers with a low leakage current density formed by chemical oxidation of Si

    Asuha, Takuya Kobayashi, Osamu Maida, Morio Inoue, Masao Takahashi, Yoshihiro Todokoro, Hikaru Kobayashi

    Applied Physics Letters Vol. 81 No. 18 p. 3410-3412 2002年10月28日 研究論文(学術雑誌)

  73. シアン処理によるシリコン欠陥準位の消滅と太陽電池の高性能化

    高橋昌男, 毎田修, 小林光

    Materials Integration, vol. 15 No. 8 2002年10月 研究論文(学術雑誌)

  74. Decrease in the leakage current density of Si-based metal-oxide- semiconductor diodes by cyanide treatment

    Akira Asano, Asuha, Osamu Maida, Yoshihiro Todokoro, Hikaru Kobayashi

    Applied Physics Letters Vol. 80 No. 24 p. 4552-4554 2002年6月17日 研究論文(学術雑誌)

  75. Effects of postmetallization annealing on ultrathin SiO2 layer properties

    Asuha, Toshiro Yuasa, Osamu Maida, Hikaru Kobayashi

    Applied Physics Letters Vol. 80 No. 22 p. 4175-4177 2002年6月3日 研究論文(学術雑誌)

  76. Improvement of electrical characteristics of silicon oxynitride layers by a platinum method

    T. Mizokuro, M. Tamura, T. Yuasa, T. Kobayashi, O. Maida, M. Takahashi, H. Kobayashi

    Appl. Surf. Sci. 9397(2000)1-6 2002年6月 研究論文(学術雑誌)

  77. Improvement of Amorphous Silicon pin Junction Solar Cell Characteristics by Crown-Ether Cyanide Treatment

    Osamu Maida, Tetsushi Fujinaga, Masao Takahashi, Hikaru Kobayashi

    2002年4月

    出版者・発行元:WIP-Renewable Energies
  78. COMPLETE PREVENTION OF PHOTO-DEGRADATION OF AMORPHOUS Si FILMS BY CROWN-ETHER CYANIDE TREATMENT

    Hikaru KOBAYASHI, Naozumi FUJIWARA, Daisuke NIINOBE, Osamu MAIDA, Masao TAKAHASHI

    2002年4月

    出版者・発行元:WIP-Renewable Energies
  79. IMPROVEMENT OF POLYCRYSTALLINE Si-BASED SOLAR CELL CHARACTERISTICS BY CYANIDE TREATMENT

    Masao Takahashi, Akira Asano, Osamu Maida, Hikaru Kobayashi

    2002年4月

    出版者・発行元:WIP-Renewable energies
  80. Passivation of defect states in amorphous and crystalline Si by use of cyanide treatment and improvement of solar cell characteristics

    Hikaru Kobayashi, Naozumi Fujiwara, Tetsushi Fujinaga, Daisuke Niinobe, Osamu Maida, Masao Takahashi

    Materials Research Society Symposium - Proceedings Vol. 715 p. 441-452 2002年 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  81. Preparation and Characterization of High-k Lanthanoid Oxide Thin Films Deposited by Pulsed Laser Deposition

    Satoshi Kitai, Osamu Maida, Takeshi Kanashima, Masanori Okuyama

    2001年9月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  82. Zr, HfおよびLanthanoide High-kゲート絶縁膜の作製

    奥山, 金島, 北井, 上野, 毎田, 寒川, 神田

    日本表面学会2001年度第1回研究会ー次世代のゲート絶縁膜,2001,大阪 2001年9月

  83. Zr, HfおよびLanthanod酸化物High-kゲート絶縁膜の作製

    奥山雅則, 金島岳, 北井聡, 上野正人, 毎田 修, 寒川雅之, 神田浩文

    2001年6月

  84. Synchrotron Radiation-Induced Nitrization and Oxidation on Si Surface at Low Temperature

    T. Kanashima, O. Maida, N. Kohma, M. Agata, S. Yudate, M. Ueno, M. Okuyama, H. Ohashi

    Jpn. J. Appl. Phys., 40,6A, 4195-4196 Vol. 40 No. 6 p. 4195-4196 2001年6月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:公益社団法人 応用物理学会
  85. Evaporation and Expansion of Poly-tetra-fluoro-ethylene Induced by Irradiation of Soft X-Rays from a Figure-8 Undulator

    Osamu Maida, Norinao Kohma, Masato Ueno, Akira Shibuya, Takeshi Kanashima, Masanori Okuyama, Haruhiko Ohashi

    Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 40, pages 2435-2439 Vol. 40 No. 4 p. 2435-2439 2001年4月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:公益社団法人 応用物理学会
  86. Synchrotron Radiation-Induced Nitrization and Oxidation on Si Surface at Low Temperature

    Takeshi Kanashima, Osamu Maida, Norinao Kohma, Masashi Agata, Shinji Yudate, Masato Ueno, Masanori Okuyama, Haruhiko Ohashi

    Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 40, pages 4195-4196 Vol. 40 No. 6 p. 4195-4196 2001年4月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:公益社団法人 応用物理学会
  87. Evaporation and Expansion of Poly-tetra-fluoro-ethylene Induced by Irradiation of Soft X-ray from Figure-8 Undulator

    O. Maida, N. Kohma, M. Ueno, S. Yudate, A. Shibuya, T. Kanashima, M. Okuyama, H. Ohashi

    Jpn. J. Appl. Phys., 40, 4A, 2435-2439 Vol. 40 No. 4 p. 2435-2439 2001年4月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:公益社団法人 応用物理学会
  88. Optical Characterization of Antenna-Area-Dependent Gate Oxide Charging Damage in MOS Capacitors by Photoreflectance Spectroscopy

    Masashi Agata, Masayuki Sohgawa, Osamu Maida, Koji Eriguchi, Akira Fujimoto, Takeshi Kanashima, Masanori Okuyama

    2000年5月

  89. Optical Characterization of Antenna-Area-Dependent Gate Oxide Charging Damage in MOS Capacitors by Photoreflectance Spectroscopy

    Masashi Agata, Masayuki Sohgawa, Osamu Maida, Koji Eriguchi, Akira Fujimoto, Takeshi Kanashima, Masanori Okuyama

    2000年4月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  90. Optical Characterization of Gate Oxide Charging Damage by Photoreflectance Spectroscopy

    Masashi Agata, Hideo Wada, Osamu Maida, Koji Eriguchi, Akira Fujimoto, Takeshi Kanashima, Masanori Okuyama

    Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 39, pages 2040-2044 Vol. 39 No. 4 p. 2040-2044 2000年4月 研究論文(学術雑誌)

  91. Optical Characterization of Gate Oxide Charging Damage by Photoreflectance Spectroscopy

    M. Agata, H. Wada, O. Maida, K. Eriguchi, A. Fujimoto, T. Kanashima, M. Okuyama

    Jpn. J. Appl. Phys., 39, 4B, 2040-2044 Vol. 39 No. 4 p. 2040-2044 2000年4月 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:公益社団法人 応用物理学会
  92. SPring-8アンジュレータ光によるSiO2膜の軟X線エッチングとSiの酸化・窒化

    奥山 雅則, 毎田 修, 高馬 悟覚, 金島 岳, 大橋 治彦

    レーザー研究 Vol. 28 No. Supplement p. S7-S8 2000年

    出版者・発行元:一般社団法人 レーザー学会
  93. フォトレフレクタンス分光法によるゲート絶縁膜に導入されたチャージングダメージの光学的評価

    阿形眞司, 寒川雅之, 毎田修, 江利口浩二, 藤本晶, 金島岳, 奥山雅則

    1999年12月

  94. Optical Characterization of Gate Oxide Charging Damage by Photoreflectance Spectroscopy

    Masashi Agata, Hideo Wada, Osamu Maida, Koji Eriguchi, Akira Fujimoto, Takeshi Kanashima, Masanori Okuyama

    Vol. 39 No. 4 p. 2040-2044 1999年9月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  95. Evaluation of Interface SiOx Layer in Ultrathin SiOx Film by Oscillatory Tunneling Current-Voltage Characteristics in Photo-CVD SiOx-Si Diode

    Osamu Maida, Norio Okada, Takeshi Kanashima, Masanori Okuyama

    Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 38, pages 2341-2344 1999年4月 研究論文(学術雑誌)

  96. Evaluation of Interface SiOx Transition Layer by Oscillatory Tunneling Current-Voltage Characteristics in Photo-CVD SiO2-Si Diode

    O. Maida, N. Okada, T.Kanashima, M. Okuyama

    Jpn. J. Appl. Phys., 38, 4B, 2341-2344 1999年4月 研究論文(学術雑誌)

  97. Evaluation of Interface SiOx Transition Layer by Oscillatory Tunneling Current-Voltage Characteristics in Photo-CVD SiOx-Si Diode

    Osamu Maida, Norio Okada, Takeshi Kanashima, Masanori Okuyama

    1998年9月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  98. Electronic characterization of Si/SiO2 structure using photo-CVD SiO2 thin film on atomically flat Si substrate

    Osamu Maida, Hideaki Yamamoto, Norio Okada, Takeshi Kanashima, Masanori Okuyama

    Appl. Surf. Sci., Vol. 130-132, pages 214-220 1998年4月 研究論文(学術雑誌)

  99. Electronic Characterization of SiO2/Si Structure Using Photo-CVD SiO2 Thin Film on Atomically Flat Si Substrates

    O. Maida, H. Yamamoto, N. Okada, T. Kanashima, M. Okuyama

    Applied Surface Science,130-132,214-220 1998年4月 研究論文(学術雑誌)

  100. Electronic Characterization of SiO2/Si Structure Using Photo-CVD SiO2 Thin Film on Atomically Flat Si Substrates

    Osamu Maida, Hideaki Yamamoto, Norio Okada, Takeshi Kanashima, Masanori Okuyama

    1997年10月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

  101. Characterization of Photo-CVD SiO2 Thin Films and SiO2/Si Interface

    Masanori Okuyama, Hideaki Yamamoto, Takaaki Imai, Osamu Maida, Takeshi Kanashima

    1996年10月 研究論文(国際会議プロシーディングス)

MISC 2

  1. Fabrication of the a-Si solar cells with the light trapping structure by the Al 2O 3 fine particles

    Osamu Maida, Asako Okafuji, Katsutoshi Kobayashi, Hikaru Kobayashi

    Shinku/Journal of the Vacuum Society of Japan Vol. 50 No. 8 p. 534-536 2007年

  2. Preparation and characterization of high-k praseodymium and lanthanoid oxide thin films prepared by pulsed laser deposition

    S Kitai, O Maida, T Kanashima, M Okuyama

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS Vol. 42 No. 1 p. 247-253 2003年1月

講演・口頭発表等 49

  1. 直接遷移型半導体自立結晶における外部量子効率と自己吸収の関係

    佐野 昂志, 市川 修平, 毎田 修, 小島 一信

    第70回応用物理学会春季学術講演会 2023年3月17日

  2. スパッタアニールAlNテンプレート上AlGaN薄膜の局在発光特性の評価

    市川 修平, 上杉 謙次郎, 齊藤 一輝, 肖 世玉, 正直 花奈子, 中村 孝夫, 毎田 修, 三宅 秀人, 小島 一信

    2023年3月17日

  3. 時間分解二光子光電子分光法によるInGaN (0001)の表面キャリア寿命測定

    市川 修平, 松田 祥伸, 道上 平士郎, 毎田 修, 船戸 充, 川上 養一, 小島 一信

    第70回応用物理学会春季学術講演会 2023年3月17日

  4. ナノピラー型メタ表面を用いた円偏光InGaN発光素子の設計

    鈴木 恭平, 村田 雄生, 市川 修平, 戸田 晋太郎, 毎田 修, 小島 一信

    第70回応用物理学会春季学術講演会 2023年3月15日

  5. 二光子光電子分光による GaAs (110) における表面再結合寿命の評価

    市川修平, 毎田 修, 小島一信

    第42回ナノテスティングシンポジウム 2022年11月10日

  6. ホモエピタキシャル成長ホウ素ドープダイヤモンド半導体結晶の深い欠陥準位評価

    毎田 修, 市川修平, 小島一信

    第42回ナノテスティングシンポジウム 2022年11月10日

  7. Characterization of deep level defects in boron-doped (001) and (111) diamond

    O. Maida, S. Ichikawa, K. Kojima

    21th International Vacuum Congress 2022年9月12日

  8. 時間分解2光子光電子分光法を用いた表面再結合寿命の直接評価

    市川修平, 毎田 修, 小島一信

    第83回応用物理学会秋季学術講演会 2022年9月

  9. FVFを応用したPSRR帯域拡張回路を搭載した脳波計測ウェアラブルデバイス向け低消費LDO

    三井 健司, 兼本 大輔, 毎田 修, 廣瀬 哲也

    第196回システムとLSIの設計技術研究発表会 2021年12月1日

  10. 圧縮センシングを活用した心電図計測フレームワークの一設計法

    松村 侑紀, 兼本 大輔, 毎田 修, 廣瀬 哲也

    第196回システムとLSIの設計技術研究発表会 2021年12月1日

  11. Transient photocapacitance measurement for characterization of deep level defects in boron-doped (001) and (111) diamond films

    O. Maida, T. Kodama, D. Kanemoto, Tetsuya Hirose

    The 9th International Symposium on Surface Science

  12. SiO2/ホウ素添加CVDダイヤモンド界面の過渡光容量法を用いた界面準位評価

    毎田 修, 児玉 大志, 兼本 大輔, 廣瀬 哲也

    2021年日本表面真空学会学術講演会 2021年11月4日

  13. 過渡光容量分光法による (111)ホウ素ドープCVDダイヤモンド薄膜の結晶欠陥評価

    毎田 修, 児玉 大志, 兼本 大輔, 廣瀬 哲也

    第82回応用物理学会秋季学術講演会 2021年9月23日

  14. 高精度参照電流源回路を不要とする品質劣化モニタセンサLSI

    渥美 光真, 瀬部 光, 中野 太地, 池田 隆希, 毎田 修, 兼本 大輔, 廣瀬 哲也

    LSIとシステムのワークショップ2021 2021年5月10日

  15. 微小温度差発電のための極低電圧昇圧コンバータ用ドライバ回路

    三原 柊平, 瀬部 光, 毎田 修, 兼本 大輔, 廣瀬 哲也

    LSIとシステムのワークショップ2021 2021年5月10日

  16. 超低消費電力で動作するオンチップ電圧検知回路の設計

    笹谷 昌平, 中野 太地, 瀬部 光, 毎田 修, 兼本 大輔, 廣瀬 哲也

    LSIとシステムのワークショップ2021 2021年5月10日

  17. 圧縮センシングを用いた低消費電力脳波計測フレームワークのサンプリング間隔の検討

    岡部 勇樹, 兼本 大輔, 望月 智弥, 毎田 修, 廣瀬 哲也

    VLSI設計技術研究会 2021年1月25日

  18. OD-ICAを利用した圧縮センシング脳波計測フレームワークにおけるICAアルゴリズムの比較

    奥村 渡, 兼本 大輔, 毎田 修, 廣瀬 哲也

    VLSI設計技術研究会 2021年1月25日

  19. A Self-Bias NAND Gate and its Application to Non-Overlapping Clock Generator for Extremely Low-Voltage CMOS LSIs

    H. Sebe, K. Matsumoto, R. Matsuzuka, O. Maida, D. Kanemoto, T. Hirose

    2020 International Conference on Solid State Devices and Materials

  20. A 34-mV startup ring oscillator using stacked body bias inverters for extremely low-voltage thermoelectric energy harvesting

    M. Nishi, K. Matsumoto, N. Kuroki, M. Numa, H. Sebe, R. Matsuzuka, O. Maida, D. Kanemoto, T. Hirose

    18th IEEE international new circuits and systems conference

  21. 高出力マイクロ波プラズマCVD法によるホモエピタキシャルダイヤモンド薄膜の基板品質及びオフ角依存性

    川嶋慎也, 宮武秀宇, 有馬和也, 毎田修, 寺地徳之, 伊藤利道

    応用物理学関係連合講演会講演予稿集 2008年

  22. 高出力マイクロ波プラズマCVD法により高速成長した高品質ホモエピタキシャル(001)ダイヤモンド薄膜のオフ角依存性

    宮武秀宇, 有馬和也, 毎田修, 寺地徳之, 伊藤利道

    応用物理学関係連合講演会講演予稿集 2007年

  23. 高品質単結晶CVDダイヤモンド薄膜を用いた軟X線検出器の特性評価

    松原弘, 毎田修, 寺地徳之, 伊藤利道, 斎藤祐児, 小林啓介

    応用物理学会学術講演会講演予稿集 2006年

  24. 高品質単結晶CVDダイヤモンド薄膜を用いた軟X線および紫外線検出器の特性評価

    松原弘, 毎田修, 寺地徳之, 斎藤祐児, 小林啓介, 伊藤利道

    真空に関する連合講演会講演予稿集 2006年

  25. CVDダイヤモンド中の生成キャリアの制御とその紫外線検出器への応用

    山元貴, 松原弘, 毎田修, 寺地徳之, 伊藤利道

    真空に関する連合講演会講演予稿集 2006年

  26. M-I-M型薄膜電子エミッタの作製とその特性

    小久保勇志, 毎田修, 寺地徳之, 伊藤利道

    真空に関する連合講演会講演予稿集 2006年

  27. 高出力マイクロ波プラズマCVDによる高配向多結晶ダイヤモンド薄膜の高品質化の検討

    長谷川哲視, 野呂雅和, 毎田修, 寺地徳之, 伊藤利道

    真空に関する連合講演会講演予稿集 2006年

  28. 高品質CVDダイヤモンドにおけるキャリア拡散の制御とその応用

    山元貴, 松原弘, 毎田修, 寺地徳之, 伊藤利道

    応用物理学会学術講演会講演予稿集 2006年

  29. 高品質ホモエピタキシャルCVDダイヤモンド成長における成長前研磨処理及び基板表面ステップ密度依存性

    宮武秀宇, 有馬一也, 毎田修, 寺地徳之, 伊藤利道

    真空に関する連合講演会講演予稿集 2006年

  30. 15pXE-2 バイアス印加 XPS 法による極薄シリコンオキシナイトライド膜/シリコン界面の界面準位の観測(表面界面電子物性, 領域 9)

    田中 和樹, 小林 琢也, 岡藤 麻子, 毎田 修, 小林 光

    日本物理学会講演概要集 2004年8月25日

  31. 21aYD-1 バイアス XPS 法による極薄ゲート絶縁膜/シリコン界面の界面準位評価

    田中 和樹, 小林 琢也, 岡藤 麻子, 毎田 修, 小林 光

    日本物理学会講演概要集 2003年8月15日

  32. 28pPSB-19 化学的手法による極薄 SiO_2/Si 構造の低温形成とリーク電流密度の低減

    アスハ, Liu Yueh Ling, 井上 森雄, 毎田 修, 高橋 昌男, 小林 光

    日本物理学会講演概要集 2003年3月6日

  33. 6pPSB-25 シアン処理によるMOS構造のリーク電流密度の低減効果(表面界面結晶成長,領域9)

    毎田 修, 浅野 明, 長山, 小林 光

    日本物理学会講演概要集 2002年8月13日

  34. 8aSM-12 低速電子線衝撃で作製したシリコンオキシナイトライド膜中の化学種 : XPSと密度汎関数法による決定(表面界面構造・電子物性,領域9)

    高橋 昌男, 溝黒 登志子, 毎田 修, 小林 光

    日本物理学会講演概要集 2002年8月13日

  35. 19pPSB-14 化学的に形成した極薄SiO_2/Si構造の原子密度と価電子帯

    毎田 修, 長山, 湯浅 俊郎, 高橋 昌男, 小林 光

    日本物理学会講演概要集 2001年9月3日

  36. 29pPSA-7 化学的手法で形成した極薄SiO_2膜の物性とリーク電流低減

    アスハ(長山), 湯浅 俊郎, 米田 健司, 毎田 修, 小林 光

    日本物理学会講演概要集 2001年3月9日

  37. 27aXE-10 白金の触媒作用を用いたSi/SiO_2界面の平坦化とリーク電流の低減

    湯浅 俊郎, 長山, 毎田 修, 米田 健司, 小林 光

    日本物理学会講演概要集 2001年3月9日

  38. レーザーアブレーション法によるランタノイド酸化物ゲート膜の作製と評価

    北井聡, 上野正人, 毎田修, 金島岳, 奥山雅則

    応用物理学関係連合講演会講演予稿集 2001年

  39. PTFEの軟X線アブレーションによる低誘電率薄膜の評価

    高馬悟覚, 毎田修, 奥本雅規, 金島岳, 奥山雅則, 大橋治彦

    応用物理学関係連合講演会講演予稿集 2001年

  40. クラウンエーテルシアン処理によるSi/SiO2界面準位密度の低減

    浅野明, 毎田修, 毎田修, 高橋昌男, 高橋昌男, 西谷幹彦, 小林光, 小林光

    応用物理学会学術講演会講演予稿集 2001年

  41. レーザーアブレーション法による高誘電率ZrO2薄膜の作製とその評価

    上野正人, 毎田修, 北井聡, 金島岳, 奥山雅則

    電子情報通信学会技術研究報告 2000年

  42. 軟X線アブレーションによるPTFE低誘電率膜の作製

    高馬悟覚, 毎田修, 奥本雅規, 上野正人, 北井聡, 金島岳, 奥山雅則, 大橋治彦

    電子情報通信学会技術研究報告 2000年

  43. レーザーアブレーション法によるZrO2薄膜の製膜とその評価

    上野正人, 毎田修, 北井聡, 金島岳, 奥山雅則

    応用物理学会学術講演会講演予稿集 2000年

  44. PTFEの軟X線アブレーションによる低誘電率薄膜の作製と評価

    高馬悟覚, 毎田修, 上野正人, 金島岳, 奥山雅則

    応用物理学会学術講演会講演予稿集 2000年

  45. SPring-8アンジュレータを用いたSiO2膜の軟X線エッチング

    毎田修, 高馬悟覚, 金島岳, 和田秀夫, 阿形真司, 弓達新治, 奥山雅則, 大橋治彦

    応用物理学関係連合講演会講演予稿集 1999年

  46. 光CVD極薄SiO2膜の電気的特性

    毎田修, 金島岳, 奥山雅則

    応用物理学関係連合講演会講演予稿集 1998年

  47. 平坦なSi基板上の光CVD SiO2膜に関する電気的評価

    山本英明, 毎田修, 金島岳, 奥山雅則

    応用物理学関係連合講演会講演予稿集 1997年

  48. 水素終端Si表面の大気中経時変化のAFM観察

    岡田規男, 毎田修, 金島岳, 奥山雅則

    応用物理学会学術講演会講演予稿集 1997年

  49. Si(100)表面の微視的構造の表面処理効果とSi/SiO2界面準位

    山本英明, 毎田修, 金島岳, 奥山雅則

    応用物理学会学術講演会講演予稿集 1996年

機関リポジトリ 2

大阪大学の学術機関リポジトリ(OUKA)に掲載されているコンテンツ
  1. Compressed Sensing EEG Measurement Technique with Normally Distributed Sampling Series

    Okabe Yuki, Kanemoto Daisuke, Maida Osamu, Hirose Tetsuya

    IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences Vol. E105A No. 10 p. 1429-1433 2022年10月1日

  2. Image Quality Improvement for Capsule Endoscopy Based on Compressed Sensing with K-SVD Dictionary Learning

    Harada Yuuki, Kanemoto Daisuke, Inoue Takahiro, Maida Osamu, Hirose Tetsuya

    IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences Vol. E105A No. 4 p. 743-747 2022年4月1日