顔写真

顔写真

DIAO ZHUO
DIAO ZHUO
DIAO ZHUO
DIAO ZHUO
基礎工学研究科 システム創成専攻,助教

keyword self driven laboratory,システム開発,機械知能,計測インフォマティクス,ナノ構造解析,半導体評価,メモリスタ,ナノテクノロジー,走査プローブ顕微鏡

経歴 1

  1. 2024年4月 ~ 継続中
    大阪大学 大学院基礎工学研究科 助教

学歴 1

  1. 大阪大学 大学院基礎工学研究科 システム創成専攻 電子光科学領域, 博士後期課程

    2021年4月 ~ 2024年3月

研究内容・専門分野 3

  1. ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学) / 制御、システム工学 /

  2. ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学) / 計測工学 /

  3. ナノテク・材料 / ナノマイクロシステム / ナノテクノロジー

論文 12

  1. STM study of unusual link structure formation on rutile TiO2(110)-(1×2) surface induced by water adsorption and low-temperature annealing

    Fengxuan Li, Daiki Katsube, Zhuo Diao, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

    Physica Scripta 2025年7月1日 研究論文(学術雑誌)

  2. A metaverse laboratory setup for interactive atom visualization and manipulation with scanning probe microscopy

    Zhuo Diao, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

    Scientific Reports 2025年5月20日 研究論文(学術雑誌)

  3. Anchor point based image registration for absolute scale topographic structure detection in microscopy.

    Zhuo Diao, Zijie Meng, Fengxuan Li, Linfeng Hou, Hayato Yamashita, Tetsuya Tohei, Masayuki Abe, Akira Sakai

    Scientific reports Vol. 15 No. 1 p. 13486-13486 2025年4月18日 研究論文(学術雑誌)

  4. Leveraging Large Language Model and Social Network Service for Automation in Scanning Probe Microscopy

    ZHUO DIAO, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

    Measurement Science and Technology 2025年3月11日 研究論文(学術雑誌)

  5. Enhancing memristor multilevel resistance state with linearity potentiation via the feedforward pulse scheme

    Zhuo Diao, Ryohei Yamamoto, Zijie Meng, Tetsuya Tohei, Akira Sakai

    Nanoscale Horizons 2025年 研究論文(学術雑誌)

  6. AI‐Equipped Scanning Probe Microscopy for Autonomous Site‐Specific Atomic‐Level Characterization at Room Temperature

    Zhuo Diao, Keiichi Ueda, Linfeng Hou, Fengxuan Li, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

    Small Methods 2025年1月 研究論文(学術雑誌)

  7. Existence probabilities of single Si atoms diffusing in Si(111)-(7 × 7) half-unit cells at room temperature

    K. Ueda, Z. Diao, L. Hou, H. Yamashita, M. Abe

    Applied Physics Letters 2024年7月22日 研究論文(学術雑誌)

  8. Feature correlation method for image reconstruction evaluation in under-sampled scanning probe microscopy

    Keiichi Ueda, Zhuo Diao, Linfeng Hou, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

    Japanese Journal of Applied Physics 2024年4月1日 研究論文(学術雑誌)

  9. Time-reduction imaging method for scanning-probe microscopy using a compressed sensing algorithm based on sequential reconstruction method

    Keiichi Ueda, Diao Zhuo, Linfeng Hou, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

    Journal of the Ceramic Society of Japan Vol. 131 No. 10 p. 645-650 2023年10月1日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:Ceramic Society of Japan
  10. Probe conditioning via convolution neural network for scanning probe microscopy automation

    Zhuo Diao, Linfeng Hou, Masayuki Abe

    Applied Physics Express 2023年8月1日 研究論文(学術雑誌)

  11. Automatic drift compensation for nanoscale imaging using feature point matching

    Zhuo Diao, Keiichi Ueda, Linfeng Hou, Hayato Yamashita, Oscar Custance, Masayuki Abe

    Applied Physics Letters 2023年3月20日 研究論文(学術雑誌)

  12. Automated extraction of the short-range part of the interaction in non-contact atomic force microscopy

    Zhuo Diao, Daiki Katsube, Hayato Yamashita, Yoshiaki Sugimoto, Oscar Custance, Masayuki Abe

    Applied Physics Letters Vol. 117 No. 3 p. 033104-033104 2020年7月20日 研究論文(学術雑誌)

    出版者・発行元:{AIP} Publishing

講演・口頭発表等 20

  1. 走査型プローブ顕微鏡を用いたナノスケールの実空間可視化を補助する Mixed realityインタフェース

    Diao Zhuo, 山下 隼人, 阿部 真之

    第 71 回応用物理春季学術講演会 2024年3月

  2. AI 言語モデルを用いたSNS コマンド型走査型プローブ顕微鏡自動計測エージェントの開発

    Diao Zhuo, 山下 隼人, 阿部 真之

    第71回応用物理春季学術講演会 2024年3月

  3. Analysis of Si atom diffusion on Si(111)-(7×7) with multiple scanning tunneling microscopy images

    Keiichi Ueda, Zhuo Diao, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

    31st ICSPM 2023年12月

  4. Evaluation Methods for Under-Sampled Scanning Probe Microscopy with Feature Correlation

    Keiichi Ueda, Zhuo Diao, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

    MNC2023 2023年11月

  5. Surface information detection of scanning probe microscopy topography data via CompositeNetwork

    Zhuo Diao, Keiichi Ueda, Linfeng Hou, Masayuki Abe

    MNC2023 2023年10月

  6. Deep Learning-Assisted Room-Temperature Scanning Probe Microscopy for Autonomous Surface Characterization

    Zhuo Diao, Keiichi Ueda, Linfeng Hou, Masayuki Abe

    Nanocon 2023 2023年10月

  7. Under-sampled SPM に 関する評価手法の開発

    上田啓市, DIAO ZHUO, Hou Linfeng, 山下隼人, 阿部真之

    日本顕微鏡学会第 79 回学術講演会 2023年6月

  8. 特徴点マッチングを用いたナノスケールイメージングに向けた自動ドリフト補正システム

    Diao Zhuo, 上田 啓市, Hou Linfeng, 山下 隼人, ustance Oscar, 阿部 真之

    第 70 回応用物理春季学術講演会 2023年3月

  9. 畳み込みニューラルネットワーク を用いたSPM探針先端修復システム

    Diao Zhuo, Hou Linfeng, Oscar Custance, 阿部 真之

    第70回応用物理春季学術講演会 2023年3月

  10. 圧縮センシングを応用 した 時間短縮 SPM の開発

    上田啓市, DIAO ZHUO, Hou Linfeng, 山下隼人, 阿部真之

    第 70 回応用物理春季学術講演会 2023年3月

  11. Automatic thermal drift compensation for scanning probe microscopy using the feature point extraction

    Zhuo Diao, Keiichi Ueda, Linfeng Hou, Hayato Yamashita, Oscar Custance, Masayuki Abe

    ALC’22 2022年10月

  12. Unnder sampled imaging method of scanning tunneling microscopy

    Keiichi Ueda, Zhuo Diao, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

    29th ICSPM 2021年12月

  13. Separation of short and long range forces of force spectroscopy by Monte Carlo method

    Zhuo Diao, Daiki Katsube, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

    MNC 2020 2020年11月

  14. モンテカルロ法による NC-AFM の フォースカーブの解析

    DIAO ZHUO, 勝部 大樹, 山下 隼人, 阿部 真之

    第 81 回応用物理学会春季学術講演会 2020年9月

  15. ベイズ推定を用いたNC-AFM の短距離力の抽出および異なる探針のフォースカーブの比較

    DIAO ZHUO, 勝部 大樹, 山下 隼人, 阿部 真之

    第 67 回応用物理学会春季学術講演会 2020年3月

  16. Bayesian inference on non-contact atomic force microscopy force spectroscopy analysis

    Zhuo Diao, Daiki Katsube, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

    MLM2020 2020年1月

  17. 機械学習を用いたフォース マッピングの自動解析

    DIAO ZHUO, 勝部大樹, 山下隼人, 杉本宜昭, 阿部真之

    第 80 回応用物理学会秋季学術講演会 2019年9月

  18. 機械学習を用いた周波数シフトカーブ の自動解析

    DIAO ZHUO, 杉本宜昭, 勝部大樹, 阿部真之

    日本表面真空学会学術講演会 2018年11月

  19. Machine-learning Extraction of Short-Range Force Part with Non-contact Atomic Force Microscopy

    Zhuo Diao, Yoshiaki Sugimoto, Daiki Katsube, Masayuki Abe

    ACSIN-14 & ICSPM26 2018年10月

  20. 機械学習を用いた周波数シフトカーブの自動処理法

    DIAO ZHUO, 勝部 大樹, 阿部 真之

    第 79 回応用物理学会秋季学術講演会 2018年9月

機関リポジトリ 1

大阪大学の学術機関リポジトリ(OUKA)に掲載されているコンテンツ
  1. AI-Equipped Scanning Probe Microscopy for Autonomous Site-Specific Atomic-Level Characterization at Room Temperature

    Diao Zhuo, Ueda Keiichi, Hou Linfeng, Li Fengxuan, Yamashita Hayato, Abe Masayuki

    Small Methods Vol. 9 No. 1 2024年9月6日