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阿部 真之

Abe Masayuki

基礎工学研究科 附属極限科学センター,教授

keyword 電磁ノイズ,固体表面,非接触原子間力顕微鏡,走査プローブ顕微鏡,ナノテクノロジー

学歴

  • ~ 1999年,大阪大学,工学研究科,電子工学専攻
  • ~ 1994年,広島大学,教育学部,教科教育学科理科教育学専攻

経歴

  • 2014年03月 ~ 継続中,大阪大学,教授
  • 2012年04月 ~ 2014年03月,名古屋大学,准教授
  • 2003年 ~ 2011年,大阪大学,助教授(准教授)
  • 2005年 ~ 2009年,科学技術振興機構戦略的創造研究推進事業さきがけ研究員
  • 2005年 ~ 2009年,国立研究開発法人科学技術振興機構
  • 2002年 ~ 2003年,大阪大学 特任教員
  • 1999年 ~ 2002年,株式会社 東芝
  • 1998年 ~ 1999年,日本学術振興会特別研究員
  • 2007年 ~ ,- Osaka Universsity, Associate Professor
  • 2003年 ~ ,- 大阪大学 助教授

研究内容・専門分野

  • ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学),電気電子材料工学

所属学会

  • 日本表面科学界
  • 応用物理学会

論文

  • Automated extraction of the short-range part of the interaction in non-contact atomic force microscopy,Vol. 117,No. 3,p. 033104-033104,2020年07月20日,研究論文(学術雑誌)
  • Flexure structural scanner of tip scan type for high-speed scanning tunneling microscopy,Vol. 18,p. 146-151,2020年04月
  • Origin of common-mode noise in two-dimensional finite-size circuit and reduction of the noise using a symmetric three-line circuit,2020年04月
  • Atomic-resolution imaging of rutile TiO2(110)-(1 × 2) reconstructed surface by non-contact atomic force microscopy,Daiki Katsube,Shoki Ojima,Eiichi Inami,Masayuki Abe,Beilstein Journal of Nanotechnology,Vol. 11,p. 443-449,2020年03月10日,研究論文(学術雑誌)
  • Time-domain Formulation of a Multi-layer Plane Circuit Coupled with Lumped-parameter Circuits using Maxwell Equations,Scientific Reports,Vol. 9,2019年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Mechanism of Common-mode Noise Generation in Multi-conductor Transmission Lines,阿部 真之,Scientific Reports,Vol. 9,2019年11月
  • Enhancement of cell differentiation on surface potential-controlled nitrogen-doped TiO2 scale,阿部 真之,J. Ceramic Soc. Jpn.,Vol. 127,p. 636-641,2019年09月,研究論文(学術雑誌)
  • "Dual contrast mode" imaging of anatase TiO2(001) - (1 x 4) reconstructed surface using non-contact atomic force microscopy,Katsube Daiki,Abe Masayuki,JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,Vol. 58,2019年08月01日
  • Investigating ice surfaces formed near the freezing point in the vapor phase via atomic force microscopy,Miyato Yuji,Otani Katsuki,Maeda Motoyasu,Nagashima Ken,Abe Masayuki,JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,Vol. 58,2019年08月01日
  • Surface structure switching between (1 x 1) and (1 x 2) of rutile TiO2(110) with scanning tunneling microscopy and low energy electron diffraction,Ojima Shoki,Katsube Daiki,Yamashita Hayato,Miyato Yuji,Abo Satoshi,Abe Masayuki,JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,Vol. 58,2019年08月01日
  • Imaging patterns of anatase TiO2(001) with non-contact atomic force microscopy,Katsube Daiki,Abe Masayuki,NANOTECHNOLOGY,Vol. 30,No. 21,2019年05月24日
  • Theoretical Study of Lumped Parameter Circuits and Multiconductor Transmission Lines for Time-Domain Analysis of Electromagnetic Noise,M. abe,H. Toki,Scientific Reports,Vol. 9,2019年01月15日,研究論文(学術雑誌)
  • Measurement of the Lateral Charge Distribution in Silicon Generated by High-Energy Ion Incidence,Satoshi Abo,Kenichi Tani,Fujio Wakaya,Shinobu Onoda,Yuji Miyato,Hayato Yamashita,Masayuki Abe,Proceedings of the International Conference on Ion Implantation Technology,Vol. 2018-September,p. 156-159,2018年09月
  • Control of surface potential and hydroxyapatite formation on TiO2 scales containing nitrogen-related defects,Vol. 155,p. 379-385,2018年08月15日,研究論文(学術雑誌)
  • High-resolution imaging of LaAlO3 (100)-(1x4) reconstructed surface using non-contact atomic force microscopy,D. Katsube,M. Abe,Appl. Phys. Lett.,Vol. 113,No. 3,2018年07月16日,研究論文(学術雑誌)
  • Bifacial nucleobases for hexaplex formation in aqueous solution,H. Kashida,Y. Hattori,K. Tazoe,T. Inoue,K. Nishikawa,K. Ishii,S. Uchiyama,H. Yamashita,M. Abe,Y. Kamiya,H. Asanuma,J. Am. Chem. Soc.,2018年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Facile Synthesis Route of Au-Ag Nanostructures Soaked in PEG,E. K. Fodjo,A. Canlier,C. Kong,A. Yurtsever,P. L. A. Guillaume,F. T. Patrice,M. Abe,T. Tohei,A. Sakai,Advances in Nanoparticles,2018年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Control of surface potential and hydroxyapatite formation on TiO2 scales containing nitrogen-related defects,Masami Hashimoto,Takafumi Ogawa,Satoshi Kitaoka,Shunsuke Muto,Maiko Furuya,Hiroyasu Kanetaka,Masayuki Abe,Hayato Yamashita,2018年06月,研究論文(学術雑誌)
  • Combined pulsed laser deposition and non-contact atomic force microscopy system for studies of insulator metal oxide thin films,Vol. 9,No. 1,p. 686-692,2018年,研究論文(学術雑誌)
  • Combined pulsed laser deposition and non-contact atomic force microscopy system for studies of insulator metal oxide thin films,D. Katsube,H. Yamashita,S. Abo,M. Abe,Beilstein Journal of Nanotechnology,2018年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Atom manipulation method to substitute individual adsorbate atoms into a Si(111)-(7 × 7) substrate at room temperature,Vol. 111,No. 23,2017年12月04日,研究論文(学術雑誌)
  • Atom manipulation method to substitute individual adsorbate atoms into a Si(111)-(7 × 7) substrate at room temperature,Ayhan Yurtsever,Masayuki Abe,Seizo Morita,Yoshiaki Sugimoto,Applied Physics Letters,Vol. 111,No. 23,2017年12月,研究論文(学術雑誌)
  • Role of lateral forces on atom manipulation process on Si(111)-(7 x 7) surface in dynamic force microscopy,Vol. 96,No. 15,2017年10月,研究論文(学術雑誌)
  • 原子間力顕微鏡による二酸化チタン表面の研究,小野田穣,Ayhan YURTSEVER,阿部真之,杉本宜昭,表面科学,2017年08月
  • GO_UCSDプログラム,阿部真之,2017年07月
  • Mechanism of common-mode noise and heat generation in an electric circuit with grounding using multiconductor transmission-line theory,Vol. 55,No. 3,p. 904-915,2017年06月,研究論文(学術雑誌)
  • The local electronic properties of individual Pt atoms adsorbed on TiO2(110) studied by Kelvin probe force microscopy and first-principles simulations,Vol. 9,No. 18,p. 5812-5821,2017年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Titanium Dioxide Surfaces Investigated by Atomic Force Microscopy,アイハン,Journal of the surface science society of japan,Vol. 38,p. 413-418,2017年
  • Mechanism of common-mode noise and heat generation in an electric circuit with grounding using multiconductor transmission-line theory,S. Jinno,H. Toki,M. Abe,2017年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Local electronic properties of individual Pt atoms adsorbed on TiO2(110) studied with Kelvin probe force microscopy and first-principles simulations,Ayhan Yurtsever,Delia Fernández-Torre,Jo Onoda,Masayuki Abe,Seizo Morita,Yoshiaki Sugimoto,Ruben Perez,Nanoscalev,2017年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Configuration of Three Distributed Lines for Reducing Noise Due to the Coupling of the Common and Normal Modes,S. Jinno,H. Toki,M. Abe,Nuclear Instrumentation and Methods in Physics Research A,2016年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Effects of Pb Intercalation on the Structural and Electronic Properties of Epitaxial Graphene on SiC,Vol. 12,No. 29,p. 3956-3966,2016年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Effects of Pb Intercalation on the Structural and Electronic Properties of Epitaxial Graphene on SiC,Ayhan Yurtsever,Jo Onoda,Takushi Iimori,Kohei Niki,Toshio Miyamachi,Masayuki Abe,Seigi Mizuno,Satoru Tanaka,Fumio Komori,Yoshiaki Sugimoto,Small,2016年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Characterization of X-ray charge neutralizer using carbon-nanotube field emitter,Vol. 55,No. 6,2016年06月,研究論文(学術雑誌)
  • Characterization of X-ray charge neutralizer using carbon-nanotube field emitter,Shuhei Okawaki,Satoshi Abo,Fujio Wakaya,Hayato Yamashita,Masayuki Abe,Mikio Takai,Japanese Journal of Applied Physics,2016年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Multiconductor Transmission-Line Theory That Includes an Antenna Process with a Lumped-Parameter Circuit,Vol. 85,No. 3,2016年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Imaging the TiO2 (011)-(2×1) Surface using Noncontact Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy,Ayhan Yurtsever,Jo Onoda,Masayuki Abe,Chi Lun Pang,Yoshiaki Sugimoto,The Journal of Physical Chemistry C,2016年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Imaging the TiO2(011)-(2 x 1) Surface using Noncontact Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy,Vol. 120,No. 6,p. 3390-3395,2016年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Multiconductor transmission-line theory that includes an antenna process with a lumped-parameter circuit,Hiroshi Toki,Masayuki Abe,Journal of the Physical Society of Japan,2016年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Characterization of X-ray charge neutralizer using carbon-nanotube field emitter,Shuhei Okawaki,Satoshi Abo,Fujio Wakaya,Hayato Yamashita,Masayuki Abe,Mikio Takai,Japanese Journal of Applied Physics,2016年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Interplay between Switching Driven by the Tunneling Current and Atomic Force of a Bistable Four-Atom Si Quantum Dot,Vol. 15,No. 7,p. 4356-4363,2015年07月,研究論文(学術雑誌)
  • X-ray source using carbon-nanotube field emitter with side-gate electrode,Vol. 54,No. 6,2015年06月,研究論文(学術雑誌)
  • X-ray source using carbon-nanotube field emitter with side-gate electrode,S. Okawaki,S. Abo,F. Wakaya,M. Abe,M. Takai,Japanese Journal of Applied Physics,2015年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Interplay between switching driven by the tunneling current and atomic force of a four-atom Si quantum dot by means of scanning probe microscopy,S. Yamazaki,K. Maeda,Y. Sugimoto,M. Abe,V. Zobac,P. Pou,L. Rodrigo,P. Mutombo,R. Perez,P. Jelinek,S. Morita,2015年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Maskless laser processing of graphene,F. Wakaya,T. Kurihara,N. Yurugi,S. Abo,M. Abe,M. Takai,Microelectronic Engineering,2015年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Pt atoms adsorbed on TiO2(110)-(1 x 1) studied with noncontact atomic force microscopy and first-principles simulations,Vol. 91,No. 7,2015年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Room-temperature-concerted switch made of a binary atom cluster,Vol. 6,2015年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Pt atoms adsorbed on TiO2(110)-(1×1) studied with non-contact atomic force microscopy and first-principles simulations,Delia Fernández-Torre,Ayhan Yurtsever,Jo Onoda,Masayuki Abe,Seizo Morita,Yoshiaki Sugimoto,Rubén Pérez,Physical Review B,Vol. 91,No. 7,2015年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Manipulation and spectroscopy using afm/stm at room temperature,Vol. 97,p. 51-69,2015年,研究論文(学術雑誌)
  • Atom Manipulation Using Atomic Force Microscopy at Room Temperature,p. 49-62,2015年,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • A Preparation Method for Atomically Clean Sapphire Surfaces and High Resolution Topographic Method for Their Imaging by Non-Contact Atomic Force Microscopy,Vol. 56,No. 8,p. 1310-1313,2015年,研究論文(学術雑誌)
  • Room-temperature concerted switch of a binary atom cluster,Eiichi Inami,Ikutaro Hamada,Keiichi Ueda,Masayuki Abe,Seizo Morita,Yoshiaki Sugimoto,Nature Communications,2015年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Identifying the absolute orientation of a low-symmetry surface in real space,Vol. 90,No. 19,2014年11月05日,研究論文(学術雑誌)
  • Electromagnetic noise in electric circuits: Ringing and resonance phenomena in the common mode,Vol. 4,No. 11,2014年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Identifying the absolute orientation of a low-symmetry surface in real space,Vol. 90,No. 19,2014年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Investigation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy,Masataka Suzuki,Kohei Yamasue,Masayuki Abe,Yoshiaki Sugimoto,Yasuo Cho,ecoss30,2014年09月04日,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Improved study of electric dipoles on the Si(100)-2 x 1 surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy,Vol. 105,No. 10,2014年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic-dipole-moment induced local surface potential on Si(111)-(7 x 7) surface studied by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy,Vol. 105,No. 12,2014年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Mechanical gate control for atom-by-atom cluster assembly with scanning probe microscopy,Vol. 5,2014年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Electromagnetic Noise in Electric Circuits: Ringing and Resonance Phenomena in the Common Mode,Shuji Kitora,Masayuki Abe,Hiroshi Toki,AIP advances,2014年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Site-specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Surface Potential on Si(111)-(7×7) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy,Kohei Yamasue,Masayuki Abe,Yoshiaki Sugimoto,Yasuo Cho,ACSIN-12 & ICSPM21, ABSTRACTS,2013年11月05日,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Quantum Degeneracy in Atomic Point Contacts Revealed by Chemical Force and Conductance,Vol. 111,No. 10,2013年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Role of tip chemical reactivity on atom manipulation process in dynamic force microscopy,Vol. 7,No. 8,p. 7370-7376,2013年08月27日,研究論文(学術雑誌)
  • Site specific measurement of surface potential shift on Si(111)-(7x7) surface by noncontact scanning nonliear dielectric microscopy,Kohei Yamasue,Masayuki Abe,Yoshiaki Sugimoto,Yasuo Cho,NC-AFM 2013 ABSTRACTS,2013年08月08日,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Force mapping on a partially H-covered Si(111)-(7×7) surface: Influence of tip and surface reactivity,Vol. 87,No. 15,2013年04月04日,研究論文(学術雑誌)
  • Force mapping on a partially H-covered Si(111)-(7x7) surface: Influence of tip and surface reactivity,Vol. 87,No. 15,2013年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Simultaneous noncontact AFM and STM of Ag:Si(111)-(√3×√3) R30â̂̃,Vol. 87,No. 7,2013年02月13日,研究論文(学術雑誌)
  • Simultaneous noncontact AFM and STM of Ag:Si(111)-(root 3 x root 3)R30 degrees,Vol. 87,No. 7,2013年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Effect of tip polarity on Kelvin probe force microscopy images of thin insulator CaF2 films on Si(111),Vol. 101,No. 8,2012年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Understanding image contrast formation in TiO2 with force spectroscopy,Yurtsever Ayhan, Fernandez-Torre Delia,Gonzalez Cesar,Jelinek Pavel,Pou Pablo,Sugimoto Yoshiaki,Abe Masayuki,Perez Ruben,Morita Seizo,PHYSICAL REVIEW B,Vol. 85,No. 12,2012年03月13日
  • Understanding image contrast formation in TiO2 with force spectroscopy,Vol. 85,No. 12,2012年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Three-dimensional scanning force/tunneling spectroscopy at room temperature,Vol. 24,No. 8,2012年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Simultaneous Scanning Force/Tunneling Microscopy Using a Quartz Cantilever with a Tungsten Tip,Vol. 4,No. 11,2011年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Kelvin probe force microscopy characterization of TiO2 (110)-supported Au clusters,Vol. 99,No. 12,2011年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Alkali-metal adsorption and manipulation on a hydroxylated TiO2(110) surface using atomic force microscopy,Vol. 84,No. 8,2011年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Fabrication of Quartz Cantilevers for Small-Amplitude Dynamic Force Microscopy Using an Optical Deflection Sensor,Vol. 50,No. 8,2011年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Flexible drift-compensation system for precise 3D force mapping in severe drift environments,Vol. 82,No. 6,2011年06月,研究論文(学術雑誌)
  • Lateral Manipulation of Single Defect on Insulating Surface Using Noncontact Atomic Force Microscope,Vol. 50,No. 1,2011年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever with an optical interferometer,Vol. 21,No. 30,2010年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Simultaneous AFM and STM measurements on the Si(111)-(7x7) surface,Vol. 81,No. 24,2010年06月,研究論文(学術雑誌)
  • Simultaneous force and current mapping of the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy,Vol. 96,No. 26,2010年06月,研究論文(学術雑誌)
  • Simultaneous atomic force and scanning tunneling microscopy study of the Ge(111)-c(2x8) surface,Vol. 28,No. 3,2010年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Molecular resolution investigation of tetragonal lysozyme (110) face in liquid by frequency-modulation atomic force microscopy,Nagashima Ken,Abe Masayuki,Morita Seizo,Oyabu Noriaki,Kobayashi Kei,Yamada Hirofumi,Ohta Masahiro,Kokawa Ryohei,Murai Ryota,Matsumura Hiroyoshi,Adachi Hiroaki,Takano Kazufumi,Murakami Satoshi,Inoue Tsuyoshi,Mori Yusuke,JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B,Vol. 28,No. 3,2010年05月
  • Molecular resolution investigation of tetragonal lysozyme (110) face in liquid by FM-AFM,Ken Nagashima,Masayuki Abe,Seizo Morita,Noriaki Oyabu,Kei Kobayashi,Hirofumi Yamada,Masahiro Ohta,Ryohei Kokawa,Ryota Murai,Hiroyoshi Matsumura,Hiroaki Adachi,Kazufumi Takano,Satoshi Murakami,Tsuyoshi Inoue,Yusuke Mori,J. Vac. Sci. Technol. B,Vol. 28,No. 3,2010年05月
  • NC-AFM imaging of the TiO2(110)-(1 × 1) surface at low temperature,A. Yurtsever,Y. Sugimoto,M. Abe,S. Morita,Nanotechnology,Vol. 21,No. 16,2010年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Molecular resolution investigation of tetragonal lysozyme (110) face in liquid by frequency-modulation atomic force microscopy,Vol. 28,No. 3,p. C4-C14,2010年,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Simultaneous atomic force and scanning tunneling microscopy study of the Ge (111)-c (2×8) surface,Vol. 28,No. 3,p. C4-D4,2010年,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Observation of Subsurface Atoms of the Si(111)-(7x7) Surface by Atomic Force Microscopy,Vol. 3,No. 11,2010年,研究論文(学術雑誌)
  • New Insights on Atomic-Resolution Frequency-Modulation Kelvin-Probe Force-Microscopy Imaging of Semiconductors,Vol. 103,No. 26,2009年12月,研究論文(学術雑誌)
  • Simultaneous Atomic Imaging of Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy Using Metal Coated Cantilevers,Vol. 50,No. 5,p. 940-942,2009年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Simultaneous measurement of force and tunneling current at room temperature,Vol. 94,No. 17,2009年04月,研究論文(学術雑誌)
  • Mapping and imaging for rapid atom discrimination: A study of frequency modulation atomic force microscopy,Vol. 94,No. 2,2009年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Solution growth of rubrene single crystals using various organic solvents,Vol. 47,No. 12,p. 8950-8954,2008年12月19日,研究論文(学術雑誌)
  • Statistics of lateral atom manipulation by atomic force microscopy at room temperature,Vol. 78,No. 20,2008年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy,Vol. 322,No. 5900,p. 413-417,2008年10月,研究論文(学術雑誌)
  • Fabrication of high performance 3C-SiC vertical MOSFETs by reducing planar defects,Vol. 245,No. 7,p. 1272-1280,2008年07月,研究論文(学術雑誌)
  • High-spatial-resolution topographic imaging and dimer distance analysis of Si(100)-(2x1) using noncontact atomic force microscopy,Vol. 47,No. 7,p. 6085-6087,2008年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Vertical and lateral force mapping on the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy,Vol. 77,No. 19,2008年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Controlled release of a protein kinase inhibitor UCN-01 from liposomes influenced by the particle size,Vol. 351,No. 1-2,p. 250-258,2008年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Atom-by-Atom Chemical Coordination Effect Observed in Non-Contact AFM Topography of Pb/Si(111)-(√3×√3) Mosaic Phase,A. Ohiso,Y. Sugimoto,K. Mizuta,M. Abe,S. Morita,e-Journal of Surface Science and Nanotechnology,Vol. 6,p. 79-83,2008年02月29日,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Efficiency enhancement in organic photovoltaic cell with interpenetrating conducting polymer/C-60 heterojunction structure by substrate-heating treatment,Vol. 47,No. 2,p. 1094-1097,2008年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Tag-KEM/DEM: A new framework for hybrid encryption,Vol. 21,No. 1,p. 97-130,2008年01月,研究論文(学術雑誌)
  • On the definitions of anonymity for ring signatures,Vol. E91A,No. 1,p. 272-282,2008年01月,研究論文(学術雑誌)
  • Growth dynamics of insulating SrF2 films on Si(111),Vol. 19,No. 44,2007年11月,研究論文(学術雑誌)
  • Tip-induced local reconstruction on the Pb/Ge(111) surface using frequency modulation atomic force microscopy,Vol. 46,No. 8B,p. 5582-5585,2007年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Dynamic force spectroscopy using cantilever higher flexural modes,Vol. 91,No. 9,2007年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Drift-compensated data acquisition performed at room temperature with frequency modulation atomic force microscopy,Vol. 90,No. 20,2007年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Chemical identification of individual surface atoms by atomic force microscopy,Vol. 446,No. 7131,p. 64-67,2007年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Mechanism for room-temperature single-atom lateral manipulations on semiconductors using dynamic force microscopy,Vol. 98,No. 10,2007年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Non-contact atomic force microscopy investigation of the (1 × 1) and (√3 × √3) phases on the Pb/Si(111) surface,A. Ohiso,Y. Sugimoto,K. Mizuta,M. Abe,S. Morita,e-Journal of Surface Science and Nanotechnology,Vol. 5,p. 67-73,2007年02月20日,研究論文(学術雑誌)
  • Direct observation of the vacancy site of the iron silicide c(4x8) phase using frequency modulation atomic force microscopy,Vol. 18,No. 8,2007年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Atomic structure of Ge clusters on Si(111)-(7x7) by non-contact AFM,Vol. 18,No. 8,2007年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Toward atom-by-atom assembly of compound semiconductor nanostructures: Mechanical atomic discrimination and atomic manipulation at room temperature,Vol. 3,No. 1,p. 31-40,2007年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Binding activity by Saw palmetto extract of receptors in lower urinary tract,Vol. 127,p. 37-39,2007年,研究論文(学術雑誌)
  • Highly resolved non-contact atomic force microscopy images of the Sn/Si(111)-(2 root 3 x 2 root 3) surface,Vol. 17,No. 16,p. 4235-4239,2006年08月,研究論文(学術雑誌)
  • Discrimination of individual atoms on Ge/Si(111)-(7x7) intermixed surface,Vol. 600,No. 13,p. 2766-2770,2006年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Real topography, atomic relaxations, and short-range chemical interactions in atomic force microscopy: The case of the alpha-Sn/Si(111)-(root 3x root 3)R30 degrees surface,Vol. 73,No. 20,2006年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Real topography, atomic relaxations, and short-range chemical interactions in atomic force microscopy: The case of the alpha-Sn/Si(111)-(root 3x root 3)R30 degrees surface,Sugimoto Yoshiaki,Pou Pablo,Custance Oscar,Jelinek Pavel,Morita Seizo,Perez Ruben,Abe Masayuki,PHYSICAL REVIEW B,Vol. 73,No. 20,2006年05月
  • Site-specific force spectroscopy and atom interchange manipulation at room temperature,Vol. 4,p. 376-383,2006年04月16日,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Single atomic contact adhesion and dissipation in dynamic force microscopy,Vol. 96,No. 10,2006年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Mechanical atom manipulation and artificial nanostructuring at low temperature,Vol. 4,p. 1-8,2006年01月12日,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Mechanical Identification, Manipulation and Assembly of Atoms by Using AFM,Vol. 49,No. 11,p. 637-641,2006年,研究論文(学術雑誌)
  • Atom tracking for reproducible force spectroscopy at room temperature with non-contact atomic force microscopy,Vol. 16,No. 12,p. 3029-3034,2005年12月,研究論文(学術雑誌)
  • Room-temperature reproducible spatial force spectroscopy using atom-tracking technique,Vol. 87,No. 17,2005年10月,研究論文(学術雑誌)
  • Imaging the restatom of the Ge(111)-c(2 x 8) surface with noncontact atomic force microscopy at room temperature,Vol. 16,No. 3,p. S68-S72,2005年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Lateral manipulation of single atoms at semiconductor surfaces using atomic force microscopy,Vol. 16,No. 3,p. S112-S117,2005年03月,研究論文(学術雑誌)
  • Mechanical distinction and manipulation of atoms based on noncontact atomic force microscopy,Vol. 241,No. 1-2,p. 2-8,2005年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Non-contact atomic force microscopy study of the Sn/Si(111) mosaic phase,Vol. 241,No. 1-2,p. 23-27,2005年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Atom inlays performed at room temperature using atomic force microscopy,Vol. 4,No. 2,p. 156-159,2005年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Microscale contact charging on a silicon oxide,Vol. 186,p. 289-+,2005年,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • Measuring magnetic field saturation and its site dependence in a recording head with a magnetic force microscope,Vol. 40,No. 3,p. 1708-1711,2004年05月,研究論文(学術雑誌)
  • Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope,Vol. 53,No. 2,p. 163-168,2004年,研究論文(学術雑誌)
  • 磁気力顕微鏡による磁気再生ヘッドの破壊過程観察,電子情報通信学会論文誌C,2004年
  • Atom Selective Imaging and Mechanical Atom Manipulation based on Noncontact Atomic Force Microscope Method,Seizo Morita,Noriaki Oyabu,Ryuji Nishi,Kenji Okamoto,Masayuki Abe,Óscar Custance,Insook Yi,Yoshihide Seino,Yasuhiro Sugawara,e-Journal of Surface Science and Nanotechnology,Vol. 1,p. 158-170,2003年,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • A study of high-frequency characteristics of write heads with the ac-phase high-frequency magnetic force microscope,Vol. 38,No. 1 I,p. 45-49,2002年01月,研究論文(国際会議プロシーディングス)
  • High frequency write head measurement with the phase detection magnetic force microscope,Vol. 89,No. 11,p. 6766-6768,2001年06月01日,研究論文(学術雑誌)
  • Defects and their charge imaging on semiconductor surfaces by noncontact atomic force microscopy and spectroscopy,Vol. 210,No. 1-3,p. 408-415,2000年03月,研究論文(学術雑誌)
  • True atomic resolution imaging of surface structure and surface charge on the GaAs(110),Vol. 140,No. 3-4,p. 371-375,1999年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Near-field optical imaging using force detection with new tip-electrode geometry,Vol. 140,No. 3-4,p. 383-387,1999年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Optical near-field imaging using the Kelvin probe technique,Vol. 37,No. 9AB,p. L1074-L1077,1998年09月,研究論文(学術雑誌)
  • Force imaging of optical near-field using noncontact mode atomic force microscopy,Vol. 37,No. 2A,p. L167-L169,1998年02月,研究論文(学術雑誌)
  • Detection mechanism of an optical evanescent field using a noncontact mode atomic force microscope with a frequency modulation detection method,Vol. 15,No. 4,p. 1512-1515,1997年07月,研究論文(学術雑誌)
  • Measurement of the evanescent field using noncontact mode atomic force microscope,Vol. 4,No. 1B,p. 232-235,1997年01月,研究論文(学術雑誌)

MISC

  • Reactivity of rutile TiO2(110) surfaces studied by real-time photoelectron spectroscopy measurements,TAKAYANAGI Shuhei,OHNO Shinya,KATSUBE Daiki,YOSHIDA Hikaru,YOSHIGOE Akitaka,ABE Masayuki,Program/Abstracts of ISSS (CD-ROM),Vol. 8th,2017年
  • Defects of YBCO grain-boundaries grown on bicrystal,Vol. P-3, 65-66,2008年
  • Observation of grain-boundary on bicrystal,Vol. S-8, 179-180,2008年
  • Evaluation of Defects at Grain-boundaries on SrTiO3 Bicrystals,Vol. 2p-ZM-5, 238,2008年
  • Evaluation of Defects at Bicrystal Grain-boundary,Vol. FDP-19, 300,2008年
  • 原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察,森田 清三,岡本 憲二,内橋 貴之,阿部 真之,菅原 康弘,静電気学会誌,静電気学会,Vol. 27,No. 2,p. 64-68,2003年04月11日

著書

  • 学術書,Compendium of Surface and Interface Analysis,M. Abe,Springer,ISBN:9811061556,2018年04月
  • 電気回路と伝送線路の基礎,阿部 真之,土岐 博,丸善出版,ISBN:462130206X,2017年10月30日
  • 学術書,ナノ材料解析の実際,阿部真之,講談社,ISBN:9784061543928,2016年06月
  • 学術書,Imaging and Manipulation of Adsorbates Using Dynamic Force Microscopy, Advances in Atom and Single Molecule Machines,Y. Sugimoto,M. Abe,S. Morita,Springer,ISBN:3319174002,2015年04月
  • 学術書,Noncontact Atomic Force Microscopy vol.3,Masayuki. Abe,Yoshiaki Sugimoto,Seizo Morita,Springer,ISBN:3319155873,2015年03月
  • LabVIEW FPGAではじめる計測・制御,阿部 真之,日本ナショナルインスツルメンツ株式会社,オーム社,ISBN:4274503968,2012年07月04日
  • 学術書,Scanning Probe Microsocopy: Chracterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Part III Application of Scanning Techniques to Functional Materials "Microscale Contact Charging on a Silicon Oxide",S. Morita,T. Uchihashi,K. Okamoto,M. Abe,Y. Sugawara,Kluwer Academic Publishers,2004年12月

特許・実用新案・意匠

  • 電気回路,神野 崇馬,土岐 博,阿部 真之,特願2016-095138,出願日:2016年05月11日
  • 電気回路における電位、電流、及び周辺電磁界の計算方法、及びプログラム,阿部 真之,土岐 博,JP2016067767,出願日:2016年06月15日
  • 原子位置固定装置、原子位置固定方法及び原子操作方法,阿部 真之,杉本 宜昭,森田 清三,オスカル クスタンセ,大藪 範昭,特願2011-200611,出願日:2011年09月14日
  • 原子位置固定装置、原子位置固定方法及び原子操作方法,阿部 真之,杉本 宜昭,森田 清三,オスカル クスタンセ,大藪 範昭,特許第5354220号,特願2011-200611,出願日:2011年09月14日
  • 液中試料の分析方法,大田 昌弘,大藪 範昭,安達 宏昭,阿部 真之,森田 清三,森 勇介,佐々木 孝友,特願2007-223212,出願日:2007年08月29日
  • 液中試料の分析方法,大田 昌弘,大藪 範昭,安達 宏昭,阿部 真之,森田 清三,森 勇介,佐々木 孝友,特許第4910949号,特願2007-223212,出願日:2007年08月29日
  • 原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡を用いた相互作用力測定方法,大田 昌弘,大藪 範昭,阿部 真之,オスカル クスタンセ,杉本 宜昭,森田 清三,JP2008000001,出願日:2008年01月07日
  • 探針位置制御装置,阿部 真之,大田 昌弘,杉本 宜昭,森田 健一,大藪 範昭,森田 清三,オスカル クスタンセ,特願2006-145881,出願日:2006年05月25日
  • 探針位置制御装置,阿部 真之,大田 昌弘,杉本 宜昭,森田 健一,大藪 範昭,森田 清三,オスカル クスタンセ,特許第4873460号,特願2006-145881,出願日:2006年05月25日
  • 量子デバイス作成装置、量子デバイス作成方法及び量子デバイス,森田 清三,杉本 宜昭,阿部 真之,オスカル クスタンセ,大藪 範昭,特願2005-379825,出願日:2005年12月28日
  • 原子位置固定装置、原子位置固定方法及び原子操作方法,阿部 真之,杉本 宜昭,森田 清三,オスカル クスタンセ,大藪 範昭,特願2005-112342,出願日:2005年04月08日
  • 原子位置固定装置、原子位置固定方法、原子操作方法及び原子間力測定方法,阿部 真之,杉本 宜昭,森田 清三,オスカル クスタンセ,大藪 範昭,特許第4872074号,特願2005-112342,出願日:2005年04月08日
  • 原子操作方法、原子操作装置、及び識別体形成方法,森田 清三,杉本 宜昭,阿部 真之,オスカル クスタンセ,大藪 範昭,特願2005-127045,出願日:2005年04月25日
  • 磁気ヘッド測定装置及び同装置に適用する測定方法,阿部 真之,特願2002-050020,出願日:2002年02月26日
  • 磁気ヘッド測定装置及び同装置に適用する測定方法,阿部 真之,特許第3842669号,特願2002-050020,出願日:2002年02月26日
  • 磁気力顕微鏡用プローブ装置,阿部 真之,特願2002-011004,出願日:2002年01月21日
  • 磁気記録ヘッド測定装置及び同装置に適用する測定方法,阿部 真之,特願2001-280638,出願日:2001年09月14日
  • 磁気記録ヘッド測定装置及び同装置に適用する測定方法,阿部 真之,特許第3637297号,特願2001-280638,出願日:2001年09月14日
  • 磁気ヘッド検査装置及び磁気ヘッド検査方法,阿部 真之,特願2001-264357,出願日:2001年08月31日
  • 磁気ヘッド検査装置及び磁気ヘッド検査方法,阿部 真之,特許第3637295号,特願2001-264357,出願日:2001年08月31日
  • 高周波特性測定装置,阿部 真之,特願2001-085820,出願日:2001年03月23日
  • 磁気記録ヘッド測定装置及び磁気記録ヘッド測定方法,阿部 真之,特願2001-065247,出願日:2001年03月08日
  • 磁気記録ヘッド測定装置及び磁気記録ヘッド測定方法,阿部 真之,特許第3597787号,特願2001-065247,出願日:2001年03月08日
  • 磁気ヘッド測定装置及び同装置に適用する測定方法,阿部 真之,特願2001-028551,出願日:2001年02月05日
  • 磁気ヘッド測定装置及び同装置に適用する測定方法,阿部 真之,特許第3926990号,特願2001-028551,出願日:2001年02月05日
  • 磁気抵抗効果型素子の特性測定装置及び方法、磁気再生ヘッドの特性測定装置及び方法,阿部 真之,特願2000-249324,出願日:2000年08月21日
  • 磁界特性評価装置及び測定方法,阿部 真之,特願2000-087656,出願日:2000年03月27日
  • 磁界特性評価装置及び測定方法,阿部 真之,特願2000-087655,出願日:2000年03月27日
  • 磁気記録ヘッド測定装置及び同装置に適用する測定方法,阿部 真之,特願2000-082590,出願日:2000年03月23日
  • 窒素元素ドープ酸化チタンの製造方法,阿部真之,勝部大樹,吉越章隆,大野真也,2019-153049,出願日:2019年
  • ナノ微粒子、及びナノ微粒子の製造方法,一柳優子,橋本達哉,千本松孝明,田中秀吉,阿部真之,2018-038989,出願日:2018年
  • バンドパスフィルタ,阿部真之,土岐博,宮内清孝,2018-039408,出願日:2018年
  • 電気回路のシミュレーション方法、及びプログラム,阿部真之,土岐博,神野崇馬,木虎秀二,2018-05718,出願日:2018年
  • スキャナ及び走査型プローブ顕微鏡,山下隼人,阿部真之,2017-002183,出願日:2017年
  • 電気回路,神野崇馬,土岐博,阿部真之,2016-95138,出願日:2016年
  • 電気回路における電位、電流、及び周辺電磁界の計算方法、及びプログラム,阿部真之,土岐博,6516389,2017-542785,出願日:2015年
  • 原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡を用いた相互作用力測定方法,大田 昌弘,大藪 範昭,阿部 真之,オスカル クスタンセ,杉本 宜昭,森田 清三,特許第4834817号,特願2008-554000,出願日:2008年01月07日

作品

  • 個々の原子の観察・識別・操作による室温での多元素ナノ構造体組み立てに関する研究,2010年 ~
  • 表面機能元素の制御と原子構造解析,2010年 ~
  • Creation and Evaluation of Complex Nanostructures Comprising Multi-Atom Species at Room Temperature,2010年 ~

受賞

  • 2009 Feynman Prize(ファインマン賞),阿部 真之,Foresight Institute(米国),2010年01月
  • 文部科学大臣表彰(科学技術賞研究部門),阿部 真之,文部科学省,2009年04月
  • 計測自動制御学会賞(技術賞),阿部 真之,計測自動制御学会,2008年08月
  • ナノプローブ賞,阿部 真之,日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会,2008年04月
  • 近接場光学賞,日本光学会近接場光学研究グループ,1998年09月
  • 日本光学会研究奨励賞,日本光学会,1997年09月