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木村　吉秀

Kimura Yoshihide

工学研究科　物理学系専攻，准教授

keyword 電子回路技術，真空技術，表面物性

学歴

  • ～ 1989年，大阪大学，工学研究科，応用物理学
  • ～ 1989年，大阪大学
  • ～ 1986年，大阪大学，工学部，応用物理学
  • ～ 1986年，大阪大学

経歴

  • 1989年 ～ 1999年，大阪大学 助手
  • 1989年 ～ 1999年，Osaka University, Research Assistant

研究内容・専門分野

  • ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学），計測工学
  • 情報通信，計算科学
  • ナノテク・材料，薄膜、表面界面物性

所属学会

  • 日本電子顕微鏡学会
  • 応用物理学会

MISC

  • Aberration-free Phase Images of DNA Observed by Phase Transmission Electron Microscopy，8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy (8APEM)(Kanazawa, Japan, June 7-11, 2004), pp276-277.，Vol. pp276-277，2004年
  • Acceleration Voltage Dependences of Irradiation Damage and Image Contrast in Transmission Electron Microscopy，8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy(8APEM)(Kanazawa, Japan, June 7-11, 2004)pp724-725，Vol. pp724-725，2004年
  • Acceleration Voltage Dependences of Irradiation Damage and Image Contrast in Transmission Electron Microscopy，8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy(8APEM)(Kanazawa, Japan, June 7-11, 2004)pp724-725，Vol. pp724-725，2004年
  • Study on Zr-Si/W(100) Surface at High Temperatures by Reflection High Energy Electron Diffraction. (共著)，Japanese Jpurnal of Applied Physics，Vol. 38，No. 5A，p. 2951-2952，1999年
  • コインシデンス分光法の新しい展開 -分光法から分光顕微鏡法へ-，ぶんせき，No. 6，1998年
  • Preliminary Expreiments for Development of Real-Time Defocus-Image Modulation Processing Electron Microscope. (共著)，Journal of Electron Microscope，Vol. 47，No. 5，p. 419-426，1998年
  • Observation of Al Surface during Sputter-Cleaning and Annealing. (共著)，Journal of Electron Microscope，Vol. 47，No. 3，p. 223-226，1998年
  • Study on Zr-Si/W(100)Surface at High Temperatures by Combined Surface Analysys Techniques. (共著)，Japanese Journal of Applied Physics，Vol. 37，No. 8，p. 4561-4562，1998年
  • Development of coincidence transmission electron microscope，Proceedings of 15th Australian conference for Electron Microscopy，1998年
  • A new aproach with coincidence spectroscopy-from spectroscopy to microscopy，No. 6，1998年
  • A practical method for real-time active modulation electron microscopy - Optimization of driving-signal for active accelerating-voltage modulation，T Ando,H Utsuro,Y Kimura,Y Takai,R Shimizu,T Ikuta，OPTIK，WISSENSCHAFTLICHE VERLAG MBH，Vol. 104，No. 4，p. 163-165，1997年02月
  • Development of Accelerating-Voltage Modulator for Real-Time Defocus Image Modulation Processing Electron Microscope. (共著)，Optic，Vol. 106，No. 1，p. 147-54，1997年
  • Some Improvements for Coincidence Electron Microscope and Observation of Coincidence Image. (共著)，Optic，Vol. 106，No. 4，p. 19-27，1997年
  • Development of coincidence transmission electron microscope (II) Observation of coincidence electron microscopic image，J. Electron Microsc.，Vol. 46，1997年
  • Infrared Light Heating System for Precise Temperature Control of Specimen in Reflection Electron Microscope (共著)，Technol. Repts. Osaka Univ.，Vol. 46，No. 2247，1996年
  • Development of a Nanoprobe Cathodolumi-nescence Scanning Electron Microscope (共著)，J. Electron Microsc.，Vol. 45，1996年
  • RHEED study on the Zr-O/W(100) surface at high temperature (共著)，Surf. Sci.，Vol. 367，No. 1，p. 96-104，1996年
  • Surface Structure of Zr-O/W(100) System at 1700K (共著)，Jpn. J. Appl. Phys.，Vol. 35，1996年
  • Development of Coincidence Transmission Electron Microscope(I) Coincidence Image Construction System，J. Electron Microsc.，Vol. 44，No. 5，p. 295-300，1995年
  • DEVELOPMENT OF REAL-TIME DEFOCUS-MODULATION-TYPE ACTIVE IMAGE-PROCESSING (DMAIP) FOR SPHERICAL-ABERRATION-FREE TEM OBSERVATION，T ANDO,Y TANIGUCHI,Y TAKAI,Y KIMURA,R SHIMIZU,T IKUTA，ULTRAMICROSCOPY，ELSEVIER SCIENCE BV，Vol. 54，No. 2-4，p. 261-267，1994年06月
  • DYNAMIC OBSERVATION OF A MICROELECTRIC FIELD IN AN OXIDE SUPERCONDUCTING MATERIAL BY ELECTRON INTERFERENCE MICROSCOPY，K OGAI,Y KIMURA,R SHIMIZU，ULTRAMICROSCOPY，ELSEVIER SCIENCE BV，Vol. 54，No. 2-4，p. 345-350，1994年06月
  • A New Specimen Holder for UHV-Reflection Electron Microscopy(共著)，J. Electron Microsc.，Vol. 43，No. 5，p. 332-336，1994年
  • New Parallel Observation System for LEED-AES with CCD Detector(共著)，Technology Reports of The Osake University，Vol. 44，No. 2187，p. 223-227，1994年
  • A practicol method for modulation of accelerating voltage for activ modulation image processing electron microscopy，Optik，Vol. 94，No. 4，p. 185-186，1994年
  • Development of Coincidence Transmission Electron Microscope [II] Time Correlation between Characteristic X-ray and Transmitted Electron，Technol. Repts. Osaka Univ.，Vol. 44，p. 229-234，1994年
  • Active Image Processing as Applied to High Resolution Electron Microscopy [II] Real-time Phase-plateless Electron Phase Microscopy by Accelerating-voltage Modulation，J. Electron Microsc.，Vol. 43，p. 10-15，1994年
  • Coincidence Measurement of Characteristic X-ray Photon and Transmitted Electron for Coincidence Electron Microscopy，Proceedings of the 13th International Congress on Electron Microscopy，Vol. 1，p. 257-258，1994年
  • Construction of New LEED Optics for Intelligent LEED System，Technol. Reps. of OSAKA Univ.，Vol. 43，No. 2126，p. 17-24，1993年
  • An approach for nanolithography using electron microscop Holograpy(共著)，Jpn. J. Appl. Phys.，Vol. 32，No. 12B，p. 5988-5992，1993年
  • Development of Zr-O/W(100) thermal field emission transmission electron microscope (共著)，Optic，Vol. 92，No. 2，p. 83-88，1993年
  • Development of Coincidence Transmission Electron Microscope. I. Image Construction by Position Sensitive Multi-anode Photomultiplier，Technology Reports of the Osaka University，Vol. 43，No. 1，1992年
  • Microfabricated Submicron Al-Filament Biprism as Applied to Electron Holography，Japanese Journal of Applied Physics，Vol. 30，No. 11B，1991年
  • Computer Simulation Analysis of the Planar Channeling Effect in Practical Ion Implantation，Japanese Journal of Applied Physics，Vol. 27，No. 3，1988年

特許・実用新案・意匠

  • 特許 第2884077号「能動型画像処理機能を有するCCD型固体撮像装置およびそれを用いた能動的画像処理装置」
  • Patent, 2884077, "CCD type Imaging Device with a function of Active Image processing and Equipment with the Imaging Device"

作品

  • 次世代超電子顕微鏡の開発，1996年 ～ 2000年
  • Development of Super TEM，1996年 ～ 2000年
  • 革新的設計・生産方式の開発と次世代光・電子融合システムの創成，2004年 ～
  • 放射光-極微構造ナノスコープ，2001年 ～
  • Nanoscope of synchrotron radiation-nanostructure，2001年 ～

受賞

  • 日本電子顕微鏡学会論文賞，1999年